CN101957427B - 可设定信号衰减参数的元件测试系统及其设定方法 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，该系统包含一信号衰减器，一信号收发器，一信号差值推算单元与一设定单元，信号差值推算单元，取得一受测元件的一元件发送信号强度值与一元件接收信号强度值，与信号收发器的一装置接收信号强度值以计算出一信号衰减值，以及根据该信号衰减值与该元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值。设定单元根据装置发送信号强度与信号衰减值以各别设定信号衰减器与信号收发器。本发明可有效的降低元件测试作业所需的设备成本，可应用在具流水产线特性、且受测元件为制式化的元件测试作业中，可藉由调整信号收发器的信号输出强度，以应用于测试不同规格的受测元件。

Description

可设定信号衰减参数的元件测试系统及其设定方法

技术领域

本发明涉及一种元件测试系统的环境参数设定方法，特别是涉及一种可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法。

背景技术

在先前技术中，厂商在制造受测元件后，对每一受测元件进行一测试作业。请参照图1，其为先前技术的元件测试系统的方框图，其是由一仪器驱动模块(NI，National Instruments)11、一测试主机12、一功率计(PowerMeter；PM)15与一信号收发器(AP-Golden Unit；AP-GUT)16组成。其中，测试主机12连接仪器驱动模块11，并透过耦合器14接连功率计15与信号收发器16。功率计15用以侦测受测元件发出的信号(如RadioFrequency Signal，射频信号)的信号强度与信号传送的数据稳定性。

在此说明，信号收发器16指一个具有标准的信号收发、调变、解调变能力的标准样本元件，用以根据接收信号，并根据信号收发器16是否能正确、完整、调变或解调变受测元件13发出的无线信号，测试受测元件13输出的信号的可调变性与受测元件13的传输效能，并将接收信号结果提供给测试主机12，供测试主机12判断受测元件13是否正常运行。

就上述得知，先前技术中，信号收发器16与受测元件13之间设置有一信号衰减器17。此信号衰减器17可为信号收发器所16包含或是额外配置，信号衰减器17用以对受测元件13与信号收发器16之间的传输的无线信号进行信号衰测行为，以同时检测受测元件13在受信号衰减器17进行信号衰减后是否可正确的进行信号收发。

先前技术中，为因应不同的元件测试，厂商配置具调变衰减信号强度能力的可调变信号衰减器于测试系统中，以使受测元件进行不同测试时，由信号衰减器提供不同的信号衰减数值。

然而，当前的元件测试系统为流水产线形态的测试模式，且受测元件的规格多为一致时，受测元件与信号收发器之间仅需要单一的信号衰减的规范即可，可调变信号衰减器的信号可调变能力即无用武之地。再者，可调变信号衰减器因结合信号可调变能力，造价不菲，使得厂商付出的设备成本难以缩减。因此，如何有效的将元件测试作业所需的设备成本有效降低，同时维持元件测试的效率乃厂商应思考的问题。

由此可见，上述现有的元件测试系统在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的元件测试系统存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型的可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，能够改进一般现有的元件测试系统，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明的主要目的在于，克服现有的元件测试系统存在的缺陷，而提供一种新型的可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，所要解决的技术问题是使其可藉由可降低硬件成本，维持受测元件与信号收发器之间的信号衰减作业并简化元件测试环境的信号衰减参数的设定方法，非常适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种元件测试系统的信号衰减参数设定方法，是应用于一信号衰减器连接于一受测元件与一信号收发器之间，该信号衰减参数设定方法包含：取得该受测元件的一元件发送信号强度值；取得该信号收发器的一装置接收信号强度值；根据该装置接收信号强度值与该元件发送信号强度值计算出一信号衰减值以设定该信号衰减器；取得该受测元件的一元件接收信号强度值；以及根据该元件接收信号强度值与该信号衰减值计算出该信号收发器的一装置发送信号强度值用以设定该信号收发器发送信号的强度。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其中所述的信号衰减器根据该信号衰减值调整该受测元件发送的一测试信号的信号强度。

前述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其中所述的信号衰减器根据该信号衰减值调整该信号收发器发送的一响应信号的信号强度。

前述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其中所述的受测元件是为一受测网络卡或一测试电路板。

本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种可设定信号衰减参数的元件测试系统，其包括：一信号衰减器；一信号收发器；一信号差值推算单元，是取得一受测元件的一元件发送信号强度值，与该信号收发器的一装置接收信号强度值以计算出一信号衰减值，以及取得该受测元件的一元件接收信号强度值，以根据该信号衰减值与该元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值；以及一设定单元，用以根据该信号衰减值设定该信号衰减器，以及根据该装置发送信号强度值设定该信号收发器发送信号的强度。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一信号强度侦测器，该信号强度侦测器用以侦测该受测元件的该元件发送信号强度值，并传输该元件发送信号强度值至该信号差值推算单元。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一信号强度侦测器，该信号强度侦测器用以侦测该受测元件的该元件接收信号强度值，并传输该元件接收信号强度值至该信号差值推算单元。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一信号强度侦测器，该信号强度侦测器用以侦测该信号收发器的该装置接收信号强度值，并传输该装置接收信号强度值至该信号差值推算单元。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一数据库与一控制接口，该控制接口是供输入该受测元件与该信号收发器的规格参数，以从该数据库取得对应该受测元件的规格参数的该元件发送信号强度值与该元件接收信号强度值，及该信号收发器的规格参数的该装置接收信号强度值，并传送至该信号差值推算单元。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其更包含一控制接口，该控制接口用以供输入该元件发送信号强度值、该元件接收信号强度值与该装置接收信号强度值，并传送至该信号差值推算单元。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其中所述的信号衰减器根据该信号衰减值调整该受测元件发送的一测试信号的信号强度。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其中所述的信号衰减器根据该信号衰减值调整该信号收发器发送的一响应信号的信号强度。

前述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其中所述的受测元件是为一受测网络卡、一测试电路板或一半导体的受测芯片。

本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本发明提供了一种元件测试系统的信号衰减参数设定方法，应用于一信号衰减器连接于一受测元件与一信号收发器之间。此方法包含：取得一受测元件的一元件发送信号强度值，取得一信号收发器的一装置接收信号强度值，根据元件发送信号强度值与装置接收信号强度值推算出一信号衰减值以设定一信号衰减器，此信号衰减器连接在受测元件与信号收发器之间。取得受测元件的一元件接收信号强度值，根据元件接收信号强度值与信号衰减值计算出信号收发器的一装置发送信号强度值用以设定信号收发器发送信号的强度。

本发明揭露一种可设定信号衰减参数的元件测试系统，其包含一信号衰减器、一信号收发器、一信号差值推算单元与一设定单元。

信号差值推算单元取得一受测元件的一发送信号强度值与一元件接收信号强度值，及信号收发器的一接收信号强度值。信号差值推算单元用以根据元件发送信号强度值与接收信号强度值计算出一信号衰减值，以及根据信号衰减值与元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值。

设定单元用以根据信号衰减值设定信号衰减器，以及根据装置发送信号强度值设定信号收发器发送信号的强度。

借由上述技术方案，本发明可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法至少具有下列优点及有益效果：本发明所揭露的系统与方法，信号衰减器不需要可调变能力，只需要具有衰减信号的基本能力即可，而仅具衰减信号的基本能力的信号衰减器的造价较低，可有效的降低元件测试作业所需的设备成本。其次，当信号衰减器完成调整后即自动运行制式化的信号衰减作业，不再需要额外的测试主机来控制信号衰减器的运行，可应用在具流水产线特性、且受测元件为制式化的元件测试作业中。再者，本发明所揭露的系统与方法，可在不改变各厂商的元件测试架构下，使用在原有的元件测试系统，且可立即的进行元件测试作业，缩短厂商更动元件测试架构的停机时间。其四，信号衰减器虽不具有信号可调变能力，且信号衰减值为固定，乃可藉由调整信号收发器的信号输出强度，以应用于测试不同规格的受测元件。而且，信号差值推算单元与设定单元可为软件形式而建构在测试设备中，对厂商而言极具相当的实用性。

综上所述，本发明是有关于一种可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法，该系统包含一信号衰减器，一信号收发器，一信号差值推算单元与一设定单元，信号差值推算单元，取得一受测元件的一元件发送信号强度值与一元件接收信号强度值，与信号收发器的一装置接收信号强度值以计算出一信号衰减值，以及根据该信号衰减值与该元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值。设定单元根据装置发送信号强度与信号衰减值以各别设定信号衰减器与信号收发器。

本发明在技术上有显著的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。

附图说明

图1是先前技术的元件测试系统的方框图。

图2是本发明元件测试系统的第一种参数设定架构方框图。

图3是本发明元件测试系统的第二种参数设定架构方框图。

图4是本发明元件测试系统的第三种参数设定架构方框图。

图5是本发明元件测试系统的第一种设备架构示意图。

图6是本发明元件测试系统的第二种设备架构示意图。

图7是本发明实施例的信号衰减参数设定方法流程图。

11：仪器驱动模块

12：测试主机

13：受测元件

131：元件发送信号端

132：元件接收信号端

14：耦合器

15：功率计

16：信号收发器

161：装置发送信号端

162：装置接收信号端

17：信号衰减器

18：载具

20：设定主机

21：控制接口

22：信号差值推算单元

23：设定单元

24：数据库

25：信号强度侦测器

31：第一主机

32：第二主机

具体实施方式

为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的可设定信号衰减参数的元件测试系统及信号衰减参数设定方法其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。

有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚的呈现。为了方便说明，在以下的实施例中，相同的元件以相同的编号表示。

请参照图2，图2为本发明元件测试系统的第一种参数设定架构方框图。本实施例的参数设定架构包含一设定主机20、一受测元件(device undertest，dut)13、一信号衰减器(attenuator)17与一信号收发器(GoldenUnit-Access Point；AP-GUT)16。设定主机20个别连接受测元件13与信号衰减器17，信号衰减器17连接于受测元件13与信号收发器16之间。受测元件13与信号收发器16经由无线方式进行信号传输，并由信号衰减器17对传输的信号进行信号强度调整行为(包含信号衰减与信号增幅)，以令传输的信号经信号强度调整后，形成可由信号收发器16或受测元件13可接收的信号强度。

设定主机20包含一信号差值推算单元22、一设定单元23与一控制接口21。此控制接口21用以提供测试人员输入受测元件13的信号传输与接收规格与信号收发器16的信号传输与接收规格。本实施例中，测试人员输入受测元件13输出信号的一元件发送信号强度值与受测元件13接收信号的一元件接收信号强度值，及信号收发器16的装置接收信号强度值。

信号差值推算单元22根据元件发送信号强度值与装置接收信号强度值，计算出一信号衰减值以传送至设定单元23。设定单元23即根据信号衰减值对信号衰减器17进行参数设定，信号衰减器17在后续的元件测试作业中，会根据信号衰减值对接收到的信号进行信号强度调整。

信号差值推算单元22在推算出信号衰减值后，会根据信号衰减值与装置接收信号强度值推算出一装置发送信号强度值以传送至设定单元23，设定单元23即根据装置发送信号强度值对信号收发器16进行参数设定，信号收发器16在后续的元件测试作业中，调整欲发出信号的信号强度，使信号收发器16发出信号的强度符合装置发送信号强度值。

请参照图3，图3为本发明元件测试系统的第二种参数设定架构方框图。与图2所示的实施例不同处在于，本实施例的设定主机20更包含一数据库24，此数据库24储存有不同受测元件13与信号收发器16的信号传输与接收的规格参数，以及各受测元件13与信号收发器16的装置编码或装置名称。

测试人员透过控制接口21输入受测元件13与所使用的信号收发器16的装置编码或装置名称，控制接口21从数据库24中取得与元件编码或元件名称相匹配的信号传输与接收规格参数。本实施例中，控制接口21取得的信号传输与接收规格包含有对应受测元件13的规格参数的元件发送信号强度值与元件接收信号强度值，及对应信号收发器16的规格参数的装置接收信号强度值。控制接口21会将此等元件发送信号强度值、元件接收信号强度值与装置接收信号强度值传送至信号差值推算单元22。

信号差值推算单元22根据元件发送信号强度值与装置接收信号强度值，计算出一信号衰减值以传送至设定单元23。设定单元23即根据信号衰减值对信号衰减器17进行参数设定，信号衰减器17在后续的元件测试作业中，会根据信号衰减值对接收到的信号进行信号强度调整。

信号差值推算单元22在推算出信号衰减值后，会根据信号衰减值与装置接收信号强度值推算出一装置发送信号强度值以传送至设定单元23，设定单元23即根据装置发送信号强度值对信号收发器16进行参数设定，信号收发器16在后续的元件测试作业中，调整欲发出信号的信号强度，使信号收发器16发出信号的强度符合装置发送信号强度值。

请参照图4，图4为本发明元件测试系统的第三种参数设定架构方框图。本实施例配置有一信号强度侦测器25，此信号强度侦测器25各别连接受测元件13的元件发送信号端131(Dutsignal Tx；dut：device under test)、受测元件13的元件接收信号端132(Dut signal Rx)、与信号收发器16的装置接收信号端162(AP-GUT signal Rx)。信号强度侦测器25用以侦测元件发送信号端131所发出信号的强度，以记录为一元件发送信号强度值，侦测元件接收信号端132所接收信号的强度，以记录为一元件接收信号强度值，以及侦测装置接收信号端162所接收信号的强度，以记录为一装置接收信号强度值。信号强度侦测器25会将此装置接收信号强度值、元件接收信号强度值与元件发送信号强度值传送至信号差值推算单元22。

信号差值推算单元22根据元件发送信号强度值与装置接收信号强度值，计算出一信号衰减值以传送至设定单元23。设定单元23即根据信号衰减值对信号衰减器17进行参数设定，信号衰减器17在后续的元件测试作业中，会根据信号衰减值对接收到的信号进行信号强度调整。

信号差值推算单元22在推算出信号衰减值后，会根据信号衰减值与装置接收信号强度值推算出一装置发送信号强度值以传送至设定单元23，设定单元23即根据装置发送信号强度值对信号收发器16进行参数设定，信号收发器16在后续的元件测试作业中，调整欲发出信号的信号强度，使信号收发器16发出信号的强度符合装置发送信号强度值。本实施例中虽以单一信号强度侦测器25侦测装置接收信号强度值、元件接收信号强度值与元件发送信号强度值，但也可利用多个信号强度侦测器以一对一，或一对二的侦测方式来取得上述的信号强度值。如：利用二个信号强度侦测器，一者侦测装置接收信号强度值，另一者侦测元件接收信号强度值与元件发送信号强度值；亦如利用三个信号强度侦测器，第一者侦测装置接收信号强度值，第二者侦测元件接收信号强度值，第三者侦测元件发送信号强度值，并不以单一信号强度侦测器侦测各信号强度值为限。

请参照图5，其为本发明元件测试系统的第一种设备架构示意图。本实施例可结合图2所示的第一种参数设定架构或图3所示的第二种参数设定架构。元件测试系统包含有一第一主机31、一第二主机32、一仪器驱动模块11(NI，National Instruments)、一功率计15(Power Meter；PM)与一信号收发器16(AP-Golden Unit；AP-GUT)。

本实施例中，第一主机31与第二主机32相连接而形成主从关系(Server-Client)，第二主机32视为第一主机31的客端(Client)，第一主机31为第二主机32的伺服端(Server)。第一主机31连接(或本身配置)一载具18以供装载受测元件13，如受测元件13为一半导体类型的受测芯片时，载具18为配置有芯片插槽(Socket)的测试电路板；亦如，受测元件13为一受测网络卡时，载具18为配置有卡片插槽(Slot)；亦或，受测元件13为一测试电路板时，载具18为配置连接器(connector)的配线座。仪器驱动模块11储存有受测元件13的驱动程序码，提供给第一主机31来控制受测元件13，以进行元件测试作业。

第二主机32连接信号衰减器17，以令第一主机31间接透过第二主机32来设定信号衰减器17。或者，第一主机31可直接联机至信号衰减器17以直接设定信号衰减器17。

本实施例中，第一主机31视为图2或图3所述的设定主机20。在进行元件测试作业前，测试人员利用第一主机31的输入上述的装置接收信号强度值、元件接收信号强度值与元件发送信号强度值，计算出信号衰减值与装置发送信号强度值，再根据信号衰减值透过第二主机32设定信号衰减器17以及调整信号收发器16的发送信号端所发出信号的强度。

元件测试系统进行元件测试时，第一主机31从仪器驱动模块11取得受测元件13的驱动程序以驱动、设定与控制受测元件13。第一主机31控制受测元件13发出一功率测试信号，此功率测试信号由功率计15所接收，功率计15分析功率测试信号的信号强度，以产生一信号强度数据，并传输信号强度数据至仪器驱动模块11。仪器驱动模块11根据信号强度数据提供一修正程序给第一主机31，第一主机31根据修正程序调整受测元件13的至少一工作参数。受测元件13的工作参数选自于由受测元件13输出第一信号的电路的至少一控制设定值、一工作电压、一工作电流与一运作功率所组成的群组。

接着，第一主机31控制受测元件13发出一测试信号，此测试信号由无线方式传输至信号衰减器17。信号衰减器17根据前述计算出的信号衰减值以调整测试信号的信号强度，信号强度被调整后的测试信号，其强度符合信号收发器16的装置接收信号端162所能接收信号的强度值。同时，第一主机31会以实体接线方式传输相同的测试信号的内容给予第二主机32，供第二主机32比对受测元件13发出的测试信号的数据准确性。

第二主机32产生一响应信号，由信号收发器16的装置发送信号端161所发出，此响应信号的信号强度符合前述的装置发送信号强度值。此响应信号会由信号衰减器17所接收并调整其信号强度，使其符合受测元件13的元件接收信号端132可接收信号的强度值，即符合上述的元件接收信号强度值。同时，第二主机32会以实体接线方式传输相同的响应信号的内容给予第一主机31，供第一主机31比对受测元件13所接收的响应信号的数据准确性。

在此说明，信号收发器16为一元件标准样本，具有标准化的工作参数与信号收发模式。信号收发器16接收测试数据后，即将测试数据的接收情形形成上述响应数据以回传至第一主机31，第一主机31即根据此响应数据决定受测元件13运作是否正常。至此，元件测试系统即完成测试受测元件13的测试。

请参照图6，其为本发明元件测试系统的第二种设备架构示意图。本实施例可结合图4所示的第三种参数设定架构。如图4与图6所示，此系统包含前述的信号强度侦测器25，用以连接信号收发器16的装置接收信号端162、受测元件13的元件发送信号端131及元件接收信号端132。元件侦测系统在对受测元件13进行元件测试作业前，透过信号强度侦测器25侦测上述的信号收发器16的装置接收信号端162、受测元件13的元件发送信号端131及元件接收信号端132的信号收发强度，以取得上述的装置接收信号强度值、元件接收信号强度值与元件发送信号强度值，并传送至第一主机31。第一主机31计算出信号衰减值以设定信号衰减器17，以及计算出装置发送信号强度值对信号收发器16进行参数设定。

请参照图7，其为本发明实施例的信号衰减参数设定方法流程图，请同时参照图2、图3或图4以利于了解。本实施例中，令受测元件13的元件发送信号端131所发出信号的元件发送信号强度值为+15dbm，受测元件13的元件接收信号端132可接收信号的元件接收信号强度值为-70dbm。信号收发器16的装置接收信号端162其可接收信号的装置接收信号强度值为-65dbm。但受测元件13与信号收发器16的信号收发规格并不以上述的数值为限，在此仅是作为说明。以下说明信号衰减参数设定方法的流程：

取得受测元件13的一元件发送信号强度值(步骤S110)，取得信号收发器16的一装置接收信号强度值(步骤S120)。如图2，测试人员透过设定主机20的控制接口21直接输入元件发送信号强度值+15dbm与装置接收信号强度值-65dbm。或如图3，测试人员透过设定主机20的控制接口21直接输入受测元件13与信号收发器16的规格，以从数据库24中取得相关的元件发送信号强度值+15dbm与装置接收信号强度值-65dbm。或如图4，由信号强度侦测器25侦测受测元件13发送信号的信号强度以形成元件发送信号强度值+15dbm，及侦测信号收发器16可接收信号的信号强度以形成装置接收信号强度值-65dbm。

根据装置接收信号强度值与元件发送信号强度值计算出一信号衰减值以设定信号衰减器17(步骤S130)。如前述，信号差值推算单元22根据装置接收信号强度值与元件发送信号强度值之间的信号差值：(-65dbm)-(+15dbm)＝-80db，得知受测元件13与信号收发器16之间的信号衰减值应为-80db，设定单元23即根据此-80db以设定信号衰减器17。在元件测试期间，信号衰减器17将受测元件13发出的无线信号进行信号衰减行为，令其由+15dbm衰减至-65dbm，再由信号收发器16的装置接收信号端162接收被衰减后的无线信号。

取得受测元件13的一元件接收信号强度值(步骤S140)。如图2，测试人员透过设定主机20的控制接口21直接输入元件接收信号强度值-70dbm。或如图3，测试人员透过设定主机20的控制接口21直接输入受测元件13的规格，以从数据库24中取得相关的元件接收信号强度值-70dbm。或如图4，由信号强度侦测器25侦测受测元件13可接收信号的信号强度，以形成元件接收信号强度值-70dbm。此元件接收信号强度值-70dbm会被传送至信号差值推算单元22，信号差值推算单元22根据元件接收信号强度值与信号衰减值计算出信号收发器16的一装置发送信号强度值(步骤S150)：即(-70dbm)-(-80db)＝+10dbm。

根据装置发送信号强度值设定信号收发器16发送信号的强度(步骤S160)。设定单元23根据装置发送信号强度值+10dbm设定信号收发器16，令信号收发器16的装置信号发送端所发出的无线信号的信号强度即符合+10dbm。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种元件测试系统的信号衰减参数设定方法，是应用于一不具可调变能力的信号衰减器连接于一受测元件与一信号收发器之间，其特征在于该信号衰减参数设定方法包含：

取得该受测元件的一元件发送信号强度值；

取得该信号收发器的一装置接收信号强度值；

根据该装置接收信号强度值与该元件发送信号强度值计算出一信号衰减值，并依据该信号衰减值，对该信号衰减器进行参数设定，使该信号衰减器依据该信号衰减值对接收到的信号进行信号强度调整；

取得该受测元件的一元件接收信号强度值；以及

根据该元件接收信号强度值与该信号衰减值计算出该信号收发器的一装置发送信号强度值用以设定该信号收发器发送信号的强度。

2.根据权利要求1所述的元件测试系统的信号衰减参数设定方法，其特征在于其中所述的受测元件是为一受测网络卡或一测试电路板。

3.一种可设定信号衰减参数的元件测试系统，其特征在于其包括：

一不具可调变能力的信号衰减器；

一信号收发器；

一信号差值推算单元，是取得一受测元件的一元件发送信号强度值，与该信号收发器的一装置接收信号强度值以计算出一信号衰减值，以及取得该受测元件的一元件接收信号强度值，以根据该信号衰减值与该元件接收信号强度值推算一装置发送信号强度值；以及

一设定单元，用以根据该信号衰减值设定该信号衰减器，以及根据该装置发送信号强度值设定该信号收发器发送信号的强度，

其中，该信号衰减器根据该信号衰减值对接收到的信号进行信号强度调整。

4.根据权利要求3所述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其特征在于其更包含一信号强度侦测器，该信号强度侦测器用以侦测该受测元件的该元件发送信号强度值与该元件接收信号强度值，并传输该元件发送信号强度值与该元件接收信号强度值至该信号差值推算单元。

5.根据权利要求3所述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其特征在于其更包含一信号强度侦测器，该信号强度侦测器用以侦测该信号收发器的该装置接收信号强度值，并传输该装置接收信号强度值至该信号差值推算单元。

6.根据权利要求3所述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其特征在于其更包含一数据库与一控制接口，该控制接口是供输入该受测元件与该信号收发器的规格参数，以从该数据库取得对应该受测元件的规格参数的该元件发送信号强度值与该元件接收信号强度值，及该信号收发器的规格参数的该装置接收信号强度值，并传送至该信号差值推算单元。

7.根据权利要求3所述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其特征在于其更包含一控制接口，该控制接口用以供输入该元件发送信号强度值、该元件接收信号强度值与该装置接收信号强度值，并传送至该信号差值推算单元。

8.根据权利要求3所述的可设定信号衰减参数的元件测试系统，其特征在于其中所述的受测元件是为一受测网络卡、一测试电路板或一半导体的受测芯片。

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