CN101277129A - 基带epcn系统中下行通道的衰减检测方法和设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法和设备。该方法包括：CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；所述CLT根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减。通过使用本发明，能够获得基带EPCN系统中从CLT到任意指定CNU的下行信道物理衰减，便于工程维护人员定位问题和解决网上故障。

Description

基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法和设备
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法和设备。
背景技术
基带EPCN(Ethernet Over Coax Network)系统是指在同轴网络中运行的以太网，其使用点到多点的同轴分配网络作为物理层传输介质，同轴分配网络可以是星型，树型等任意拓扑结构。
基带EPCN系统的结构示意图如图1所示。一个典型的基带EPCN系统由CLT(Coax Line Terminal，同轴电缆线路终端)、CNU(Coax Network Unit，同轴网络单元)、同轴分配网等部分组成。CLT位于楼道或者小区光节点位置，CNU位于用户所在地充当家庭CPE(Customer Premises Equipment，用户驻地设备)设备接入用户终端，或者与楼道交换机等产品集成在一起，充当楼道交换机的上行接口。同轴分配网络就是从CATV光节点位置到用户家里的网络，除了同轴线缆以外，还包括有源放大器，分支/分配器等设备。
目前的基带EPCN系统中，一个CLT可以下挂若干(比如24)个CNU，从CLT到每个CNU的下行物理线路的衰减情况可能不同，这样造成每个CNU的信噪比不同，数据信号的误码率不同。而运营商希望基带EPCN系统能够自动显示从运营商侧设备CLT到用户侧设备CNU的线路衰减，这样当用户设备出现误码的时候，能够快速判断是由于线路连接问题，还是由于其它问题产生的通信误码。现有技术中无法实现CLT到用户侧设备CNU的线路衰减的自动测量。
发明内容
本发明提供一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法和设备，用于检测基带EPCN系统中CLT到用户侧设备CNU的线路衰减。
为达到上述目的，本发明提供一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，包括：
CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；
所述CLT根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
其中，所述CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量具体包括：
所述CLT生成控制消息，并在所述控制消息中携带要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
所述CLT在下行时段向所述CNU发送所述控制消息。
其中，所述CLT根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减具体包括：
所述CLT接收所述CNU在上行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的测量结果；
所述CLT获取向所述CNU发送信号的信号质量；
所述CLT比较所述CNU发送的测量结果以及所述发送信号的信号质量，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
其中，所述CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量后，还包括：
所述CNU的MAC层芯片接收所述CLT在下行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
所述CNU的PHY芯片根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量，并将所述测量结果提供给所述MAC层芯片。
所述CNU的MAC层芯片将所述测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向所述CLT发送。
本发明还提供一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，包括：
CNU接收CLT在下行时段发送的指示；
所述CNU根据所述指示对从所述CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果；
所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送。
其中，所述CNU接收CLT在下行时段发送的指示具体包括：
所述CNU的MAC层芯片接收所述CLT在下行时段发送的控制消息；
所述CNU的MAC层芯片获取所述控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示。
其中，所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送具体包括：
所述CNU的PHY芯片根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量；
所述CNU的PHY芯片存储测量结果，并将所述测量结果提供给所述MAC层芯片。
其中，所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送具体包括：
所述CNU的MAC层芯片获取所述PHY芯片存储的测量结果；
所述CNU的MAC层芯片将所述测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向所述CLT发送。
其中，所述CNU接收CLT在下行时段发送的指示前，还包括：
所述CLT生成控制消息，并在所述控制消息中携带要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
所述CLT在下行时段向所述CNU发送所述控制消息。
其中，所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送后，包括：
所述CLT接收所述CNU在上行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的测量结果；
所述CLT获取向所述CNU发送信号的信号质量；
所述CLT比较所述CNU发送的测量结果以及所述发送信号的信号质量，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
本发明还提供一种CLT设备，其特征在于，包括：
指示发送单元，用于在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；
衰减获取单元，用于根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
其中，所述指示发送单元具体包括：
控制消息生成子单元，用于生成控制消息，并在所述控制消息中携带要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
控制消息发送子单元，用于在下行时段向所述CNU发送所述控制消息。
其中，所述衰减获取单元具体包括：
测量结果获取子单元，用于接收所述CNU在上行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的测量结果；
发送信号质量获取子单元，用于获取向所述CNU发送信号的信号质量；
比较子单元，用于比较所述测量结果获取子单元获取的测量结果、以及所述发送信号质量获取子单元获取的发送信号的信号质量，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
本发明还提供一种CNU设备，其特征在于，包括：
MAC层芯片，用于接收CLT在下行时段发送的指示时，指示PHY芯片进行接收信号的测量；并将PHY芯片获取的测量结果向所述CLT发送；
PHY芯片，用于根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果。
其中，所述MAC层芯片具体包括：
接收单元，用于接收所述CLT在下行时段发送的控制消息；
指示获取单元，用于获取所述接收单元接收的控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
指示发送单元，用于根据所述指示获取单元获取的指示，指示PHY芯片进行接收信号的测量；
测量结果发送单元，用于将所述PHY芯片获取的测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向所述CLT发送。
其中，所述PHY芯片具体包括：
测量单元，用于根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量；
测量结果存储单元，用于存储所述测量单元获得的测量结果，并将所述测量结果提供给所述MAC层芯片。
与现有技术相比，本发明具有以下优点：
通过使用本发明，能够获得基带EPCN系统中从CLT到任意指定CNU的下行信道物理衰减，便于工程维护人员定位问题和解决网上故障。
附图说明
图1是现有技术中的基带EPCN系统的结构示意图；
图2是本发明中的基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法的流程图；
图3是本发明中的基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法的另一流程图；
图4是本发明中CLT设备的结构示意图；
图5是本发明中CNU设备的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。
基带EPCN系统中，下行信号和上行信号共享同一个物理信道。即下行时CLT向CNU发送的信号、以及上行时CNU向OLT发送的信号，是对同一个信道的分时使用。目前的EPCN系统中，所有CNU的接收窗口在自身设备不发送数据时一直打开。对于CNU来说，通过接收窗口除了可以接收到来自CLT的信号以外，还可以接收到来自其它CNU的信号。因此CNU无法确定当前接收到的信号是来自CLT还是来自其它CNU，从而无法确定信号的采样点。
基带EPCN系统中，下行发送时间片和所有CNU的上行发送时间片都是由CLT进行分配的，因此CLT可以确定CNU对接收信号进行采样的时间点。
基于上述分析，本发明提供一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法和设备，其核心思想在于：由CLT确定对接收信号进行采样的时间点，并指示CNU进行接收信号的测量。CNU对接收信号进行测量后将测量结果发送到CLT，CLT根据该测量结果获取到该CNU的下行通道的衰减。
具体的，本发明提供的基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法如图2所示，包括：
步骤s101、CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量。
步骤s102、CNU根据该指示，测量接收信号并获得测量结果。
步骤s103、CNU将测量结果向CLT发送。
步骤s104、CLT根据CNU发送的测量结果，获取到该CNU的下行通道的衰减。
在本发明的一个具体应用场景中，提供一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，如图3所示，包括：
步骤s201、在CLT的下行时段，CLT通过控制消息通知CNU对接收信号的电平参数进行测量。
具体的，CLT必须在下行时段通知CNU测量接收信号的电平。这时因为如果在上行时段CNU可能接收到来自其它CNU的信号，如果在上行时段通知CNU测量接收信号的电平参数，该CNU测量的可能是来自其它CNU的信号。即测量的是从某个CNU到该CNU的物理信道衰减，而不是从CLT到该CNU的物理信道衰减。
步骤s202、CNU的MAC层芯片解析该控制消息后，通知CNU的PHY芯片进行接收信号电平参数的测量。
具体的，CNU的MAC芯片接收到来自CLT的测量控制消息后，马上通知CNU的MAC芯片进行测量。
步骤s203、CNU的PHY芯片进行接收信号电平参数的测量，并保存接收信号电平参数的测量结果。
具体的，CNU的PHY芯片在下行时段结束之前完成接收信号的测量，并将测量结果保存在相应的测量寄存器。
步骤s204、CNU的MAC层芯片读取接收信号电平参数的测量结果，在该CNU的上行发送时隙中，将接收信号电平参数的测量结果上报给CLT。
步骤s205、CLT获取CLT到该CNU的下行信道衰减。
具体的，CLT在发送信号时，预先存储发送信号的电平参数，而CNU测量了该CLT的发送信号经过从CLT到该CNU的下行物理信道衰减后，接收到的信号的电平参数。CLT根据这两个参数，可以获取到从CLT到该CNU的下行信道物理衰减。
本发明还提供一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测系统，包括CLT和CNU。其中，CLT用于在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；并根据CNU发送的测量结果，获取到CNU的下行通道的衰减。CNU用于接收CLT在下行时段发送的指示时，对从CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果；并将测量结果向CLT发送。
具体的，如图4所示，CLT设备中具体包括：
指示发送单元10，用于在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；
衰减获取单元20，用于根据CNU发送的测量结果，获取到CNU的下行通道的衰减。
上述指示发送单元10具体包括：
控制消息生成子单元11，用于生成控制消息，并在控制消息中携带要求CNU进行接收信号的测量的指示；
控制消息发送子单元12，用于在下行时段向CNU发送控制消息生成子单元11生成的控制消息。
上述衰减获取单元20具体包括：
测量结果获取子单元21，用于接收CNU在上行时段发送的控制消息，获取控制消息中携带的测量结果；
发送信号质量获取子单元22，用于获取向CNU发送信号的信号质量；
比较子单元23，用于比较测量结果获取子单元21获取的测量结果、以及发送信号质量获取子单元22获取的发送信号的信号质量，获取到CNU的下行通道的衰减。
具体的，如图5所示，CNU设备中具体包括：
MAC层芯片30，用于接收CLT在下行时段发送的指示时，指示PHY芯片40进行接收信号的测量；并将PHY芯片40获取的测量结果向CLT发送；
PHY芯片40，用于根据MAC层芯片30接收的指示，对从CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果。
上述MAC层芯片30具体包括：
接收单元31，用于接收CLT在下行时段发送的控制消息；
指示获取单元32，用于获取接收单元31接收的控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
指示发送单元33，用于根据指示获取单元32获取的指示，指示PHY芯片40进行接收信号的测量；
测量结果发送单元34，用于将PHY芯片40获取的测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向CLT发送。
上述PHY芯片40具体包括：
测量单元41，用于根据MAC层芯片接收的指示，对从CLT接收的接收信号进行测量。
测量结果存储单元42，用于存储测量单元41获得的测量结果，并将测量结果提供给MAC层芯片30的测量结果发送单元34。
通过使用本发明提供的方法和设备，能够获得基带EPCN系统中从CLT到任意指定CNU的下行信道物理衰减，便于工程维护人员定位问题和解决网上故障。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台网络设备执行本发明各个实施例所述的方法。
以上公开的仅为本发明的几个具体实施例，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。

Claims (16)

1、一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，包括：
CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；
所述CLT根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
2、如权利要求1所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量具体包括：
所述CLT生成控制消息，并在所述控制消息中携带要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
所述CLT在下行时段向所述CNU发送所述控制消息。
3、如权利要求1所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CLT根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减具体包括：
所述CLT接收所述CNU在上行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的测量结果；
所述CLT获取向所述CNU发送信号的信号质量；
所述CLT比较所述CNU发送的测量结果以及所述发送信号的信号质量，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
4、如权利要求1或2所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CLT在下行时段指示CNU进行接收信号的测量后，还包括：
所述CNU的MAC层芯片接收所述CLT在下行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
所述CNU的PHY芯片根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量，并将所述测量结果提供给所述MAC层芯片。
所述CNU的MAC层芯片将所述测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向所述CLT发送。
5、一种基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，包括：
CNU接收CLT在下行时段发送的指示；
所述CNU根据所述指示对从所述CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果；
所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送。
6、如权利要求5所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CNU接收CLT在下行时段发送的指示具体包括：
所述CNU的MAC层芯片接收所述CLT在下行时段发送的控制消息；
所述CNU的MAC层芯片获取所述控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示。
7、如权利要求5或6所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CNU根据所述指示对从所述CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果具体包括：
所述CNU的PHY芯片根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量；
所述CNU的PHY芯片存储测量结果，并将所述测量结果提供给所述MAC层芯片。
8、如权利要求7所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送具体包括：
所述CNU的MAC层芯片获取所述PHY芯片存储的测量结果；
所述CNU的MAC层芯片将所述测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向所述CLT发送。
9、如权利要求5所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CNU接收CLT在下行时段发送的指示前，还包括：
所述CLT生成控制消息，并在所述控制消息中携带要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
所述CLT在下行时段向所述CNU发送所述控制消息。
10、如权利要求5所述基带EPCN系统中下行通道的衰减检测方法，其特征在于，所述CNU将所述测量结果向所述CLT发送后，包括：
所述CLT接收所述CNU在上行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的测量结果；
所述CLT获取向所述CNU发送信号的信号质量；
所述CLT比较所述CNU发送的测量结果以及所述发送信号的信号质量，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
11、一种CLT设备，其特征在于，包括：
指示发送单元，用于在下行时段指示CNU进行接收信号的测量；
衰减获取单元，用于根据所述CNU发送的测量结果，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
12、如权利要求11所述CLT设备，其特征在于，所述指示发送单元具体包括：
控制消息生成子单元，用于生成控制消息，并在所述控制消息中携带要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
控制消息发送子单元，用于在下行时段向所述CNU发送所述控制消息。
13、如权利要求11所述CLT设备，其特征在于，所述衰减获取单元具体包括：
测量结果获取子单元，用于接收所述CNU在上行时段发送的控制消息，获取所述控制消息中携带的测量结果；
发送信号质量获取子单元，用于获取向所述CNU发送信号的信号质量；
比较子单元，用于比较所述测量结果获取子单元获取的测量结果、以及所述发送信号质量获取子单元获取的发送信号的信号质量，获取到所述CNU的下行通道的衰减。
14、一种CNU设备，其特征在于，包括：
MAC层芯片，用于接收CLT在下行时段发送的指示时，指示PHY芯片进行接收信号的测量；并将PHY芯片获取的测量结果向所述CLT发送；
PHY芯片，用于根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量并获得测量结果。
15、如权利要求14所述CNU设备，其特征在于，所述MAC层芯片具体包括：
接收单元，用于接收所述CLT在下行时段发送的控制消息；
指示获取单元，用于获取所述接收单元接收的控制消息中携带的要求所述CNU进行接收信号的测量的指示；
指示发送单元，用于根据所述指示获取单元获取的指示，指示PHY芯片进行接收信号的测量；
测量结果发送单元，用于将所述PHY芯片获取的测量结果添加在控制消息中，并在上行时段向所述CLT发送。
16、如权利要求14所述CNU设备，其特征在于，所述PHY芯片具体包括：
测量单元，用于根据所述MAC层芯片接收的指示，对从所述CLT接收的接收信号进行测量；
测量结果存储单元，用于存储所述测量单元获得的测量结果，并将所述测量结果提供给所述MAC层芯片。
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