CN105301725A - 一种光纤微弯测试方法及专用光纤盘 - Google Patents

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唐成
朱坤
魏文涛
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Abstract

本发明提供了一种光纤微弯测试方法，在半径≥140mm的测试光纤盘表面包裹一层砂纸；恒温恒湿的条件下，将待测光纤以1±5％N张力、50m/min速度，复绕到上述测试光纤盘的砂纸外表面一层；复绕好待测光纤的测试光纤盘水平静置2小时以上；依据《传输特性和光学特性的试验方法和试验程序-衰减》GB/T？15972.40-2008中方法C进行光纤衰减测试。所述待测光纤复绕和测试时恒温恒湿的环境为：最佳温度23±2℃，最佳相对湿度45％～55％。本光纤微弯测试方法中光纤处于砂纸的粗糙面上，并且处于一定的张力下，模拟了外部因素对光纤造成的微弯，其附加衰减测试简单，有利于厂家选用合适的光纤。

Description

一种光纤微弯测试方法及专用光纤盘
技术领域
本发明属于光纤生产技术领域，尤其是涉及一种光纤微弯测试方法及专用光纤盘。
背景技术
随着光纤通信网络迅速发展，国内三大运营商的4G竞争已经进入白热化状态，对供应商产品的技术参数要求也越来越高，其中对光纤衰减系数也提出了更高的要求。为了适应不断发展光纤通信网络，光纤厂在衰减方面也在不断地技术创新，研制出了低损耗光纤，甚至超低损耗光纤；原本不受人们重视的微弯，也慢慢地进入研究议题。所谓微弯损耗是由于光纤轴线微小的畸变造成的损耗，这些轴线上微小的畸变是由于光纤受到不均匀的应力作用。本色光纤产生微弯由涂料配方、拉丝固化不良、拉丝PMD搓动、主牵引皮带等工艺特性决定的，而成缆后的光纤产生微弯则由组装光缆过程、铺设光缆安装过程及环境温度造成；而外部因素的随机性和不可避免性，进一步影响了光缆衰减测试的稳定性，因此，单纯提供光纤各波长的衰减值已经不能满足客户的需求。
发明内容
有鉴于此，本发明旨在提出一种光纤微弯测试方法，在光纤未成缆时，模拟外部因素对光纤产生不均匀的应力，测量光纤从自然状态到模拟状态所引起的附加衰减即微弯。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
一种光纤微弯测试方法：
①在半径≥140mm的测试光纤盘表面包裹一层砂纸；
②恒温恒湿的条件下，将待测光纤以1±5％N张力、50m/min速度，复绕到上述测试光纤盘的砂纸外表面一层；
③复绕好待测光纤的测试光纤盘水平静置2小时以上；
④依据《传输特性和光学特性的试验方法和试验程序-衰减》GB/T15972.40-2008中方法C进行光纤衰减测试。
进一步，所述待测光纤复绕和测试时恒温恒湿的环境为：最佳温度23±2℃，最佳相对湿度45％～55％。
进一步，所述待测光纤为静置7天以上的光纤。
进一步，所述测试光纤盘为石英光纤盘。
进一步，所述测试光纤盘上的砂纸平整的粘贴在其表面。
一种上述光纤微弯测试方法中的专用光纤盘，包括光纤盘本体以及光纤盘本体上设置的一层砂纸；所述砂纸平整的包裹在所述光纤盘本体上复绕光纤处的表面。
进一步，所述砂纸粘贴在所述光纤盘本体上。
进一步，所述砂纸细度规格为P320。
进一步，所述光纤盘本体采用石英一体成型。
相对于现有技术，本发明具有以下优势：
本光纤微弯测试方法中光纤处于砂纸的粗糙面上，并且处于一定的张力下，模拟了外部因素对光纤造成的微弯，其附加衰减测试简单，有利于厂家选用合适的光纤。
附图说明
构成本发明的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明实施例中光纤微弯衰减示意图；
图2为本发明创造的结构示意图；
图3为图2中A处结构的放大图。
附图标记说明：
1-光纤盘本体，2-砂纸，3-卡线槽，4-弹性压块。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
一种光纤微弯测试方法，
①在半径≥140mm的测试光纤盘表面包裹一层砂纸；
②恒温恒湿的条件下，将待测光纤以1±5％N张力、50m/min速度，复绕到上述测试光纤盘的砂纸外表面一层；待测光纤的长度通常选取450m-500m，能够保证实验结果的准确，满足实验要求，需要注意，施加在待测光纤的张力最好不要超过1.05N。
③待复绕完毕后，关闭筛选机电源，复绕好待测光纤的测试光纤盘水平静置2小时以上；使光纤充分释放绕线过程中产生的残余应力；
④依据《传输特性和光学特性的试验方法和试验程序-衰减》GB/T15972.40-2008中方法C进行光纤衰减测试。
需要说明的是，测试光纤盘半径≥140mm，避免了光纤产生宏弯衰减，保证测试结果的准确性。另外，测试光纤盘表面的砂纸上只需复绕一层待测光纤，这样可以保证被测试的光纤均能受到砂纸的作用力，最大限度贴近实际的情况模拟了外部因素对光纤造成的微弯。
需要指出的是，待测光纤只有在恒温恒湿的条件下进行复绕和测试，才能保证测试结果的准确。复绕和测试时，最佳温度为23±2℃，最佳相对湿度45％～55％，此温度和湿度比较适中，实验易于实施，可最大程度的保证实验结果的准确性。
其中，所述待测光纤为静置7天以上的光纤样本。
其中，所述测试光纤盘为石英材质的光纤盘，不易受力变形，保证了测试结果的准确性。
其中，所述测试光纤盘上的砂纸平整的粘贴在其表面。复绕的光纤以1±5％N的张力作用在砂纸上，由于力是相互的，光纤也受到了砂纸上不均匀的应力作用，模拟了光纤成缆或施工时外部因素造成的微弯。
一种上述光纤微弯测试方法中的专用光纤盘，如图2所示，包括光纤盘本体1以及光纤盘本体1上设置的一层砂纸2；所述砂纸2平整的包裹在所述光纤盘本体1上复绕光纤处的表面，需要注意的是，为保证光纤微弯测试结果准确，砂纸2只在光纤盘本体1圆周外表面设置一层，并且，砂纸2接缝处应平整、对齐。复绕的光纤以一定张力作用在砂纸2上，由于力是相互的，光纤也受到了砂纸2上不均匀的应力作用，模拟了光纤成缆或施工时外部因素造成的微弯。
在多次使用之后，砂纸2上砂粒逐渐被摩擦掉，因此，所述光纤盘本体1上的砂纸2采用胶水粘贴的方式固定，当砂纸2变旧，可以进行更换，使得光纤盘本体1能重复利用，节约材料。
其中，所述光纤盘本体1的半径≥140mm，光纤复绕在光纤盘本体1时，不会损坏光纤，保证测试结果准确。需要说明的是，光纤盘本体1虽然优选为半径≥140mm，但是不意味着该半径可以无限的大，应遵循本领域或日常生活常识的合理范围。
为保证更贴近真实的模拟外部因素对光纤造成的微弯，所述砂纸2优选规格为P320的砂纸，粗糙程度与实际的工况接近。
如图3所示，所述光纤盘本体1上还可以设置卡线槽3以及与卡线槽3匹配的弹性压块4；所述弹性压块4塞入卡线槽3内，可以用弹性压块4将复绕在本专用光纤盘上的待测光纤端头压在卡线槽3内，避免松散脱落。
因此，当进行微弯测试时，可以由一组人员将待测光纤复绕在光纤盘上，将固定有待测光纤的光纤盘运送到另一组人员进行实验的区域，工作效率更高，转运过程，待测光纤不会从光纤盘脱落。需要指出的是，弹性压块4可以是海绵块、橡胶块或是软布块，能够将光纤端头压在卡线槽3内固定即可。
其中，所述光纤盘本体1采用石英一体成型，不易受力变形，保证了测试结果的准确性。
以下进一步说明本发明的实施例：
1、定制石英测试光纤盘：轴向的长度为280mm，直径为280mm；
2、准备细度规格P320的砂纸；
3、将砂纸均匀且平整的包裹在石英测试光纤盘上；
4、随机挑选4盘G652D单模光纤，进行外端500m衰减测试；
测试结果如下表1：
表1样品纤外端500m衰减测试结果
衰减系数 样品1 样品2 样品3 样品4
1310nm(dB/km) 0.334 0.327 0.333 0.333
1550nm(dB/km) 0.187 0.189 0.200 0.192
1625nm(dB/km) 0.240 0.216 0.203 0.215
5、将上述4盘光纤逐个以1±5％N张力、50m/min速度复绕到直径280mm的测试光纤盘上；
6、待复绕完毕后，关闭筛选机电源，将复绕好的测试光纤盘水平静置时间为2h以上，使光纤充分释放绕线过程中产生的残余应力，然后进行衰减测试，测试结果如下表2：
表2样品纤复绕后衰减测试结果
衰减系数 样品1 样品2 样品3 样品4
1310nm(dB/km) 0.477 0.468 0.453 0.460
1550nm(dB/km) 0.604 0.572 0.548 0.580
1625nm(dB/km) 0.896 0.849 0.776 0.842
7、即而得出4盘样品纤的微弯，结果如下表3：
表3样品纤微弯
衰减系数 样品1 样品2 样品3 样品4
1310nm(dB/km) 0.143 0.141 0.120 0.127
1550nm(dB/km) 0.417 0.383 0.348 0.388
1625nm(dB/km) 0.656 0.633 0.573 0.627
即得到了如图1所示的光纤微弯衰减示意图。
本光纤微弯测试方法中光纤处于砂纸的粗糙面上，并且处于一定的张力下，模拟了外部因素对光纤造成的微弯，其附加衰减测试简单，有利于厂家选用合适的光纤。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种光纤微弯测试方法，其特征在于：
①在半径≥140mm的测试光纤盘表面包裹一层砂纸；
②恒温恒湿的条件下，将待测光纤以1±5％N张力、50m/min速度，复绕到上述测试光纤盘的砂纸外表面一层；
③复绕好待测光纤的测试光纤盘水平静置2小时以上；
④依据《传输特性和光学特性的试验方法和试验程序-衰减》GB/T15972.40-2008中方法C进行光纤衰减测试。
2.根据权利要求1所述的一种光纤微弯测试方法，其特征在于，所述待测光纤复绕和测试时恒温恒湿的环境为：最佳温度23±2℃，最佳相对湿度45％～55％。
3.根据权利要求1所述的一种光纤微弯测试方法，其特征在于：所述待测光纤为静置7天以上的光纤。
4.根据权利要求1所述的一种光纤微弯测试方法，其特征在于：所述测试光纤盘为石英光纤盘。
5.根据权利要求1所述的一种光纤微弯测试方法，其特征在于：所述测试光纤盘上的砂纸平整的粘贴在其表面。
6.一种权利要求1所述光纤微弯测试方法中的专用光纤盘，其特征在于：包括光纤盘本体以及光纤盘本体上设置的一层砂纸；所述砂纸平整的包裹在所述光纤盘本体上复绕光纤处的表面。
7.根据权利要求6所述的一种光纤微弯测试专用光纤盘，其特征在于：所述砂纸粘贴在所述光纤盘本体上。
8.根据权利要求6所述的一种光纤微弯测试专用光纤盘，其特征在于：所述砂纸细度规格为P320。
9.根据权利要求6所述的一种光纤微弯测试专用光纤盘，其特征在于：所述光纤盘本体采用石英一体成型。
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