CN105261317A - 数据线短接不良的检测方法和检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。所述数据线短接不良的检测方法用于检测相邻的数据线是否存在短接，以及确定短接发生的位置，所述检测方法包括：仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮；检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮；在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。上述检测方法可以检测数据线短接不良的位置，从而可以通过修复数据线不良，提供产品的良率。

Description

数据线短接不良的检测方法和检测装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种数据线短接不良的检测方法和检测装置。

背景技术

显示面板的制备需经过阵列(Array)工艺、成盒(Cell)工艺和模组(Moduel)工艺。其中，Array工艺一般包括栅线和数据线的制备、薄膜晶体管的制备、像素电极的制备等。图1为现有的显示面板的示意图。如图1所示，显示面板包括多行栅线和多列数据线，该多行栅线和多列数据线限定出多个像素。在Array工艺中，制备栅线时，在显示面板的边框(Fanout)区保留两条“栅线”(该栅线不与栅极驱动电路连接)作为数据线和源极驱动电路之间的连接线，如图1所示，奇数列数据线与其中一条连接线do连接，偶数列数据线与另一条连接线de连接，所述连接线do与源极驱动电路中用于向奇数列数据线提供数据信号的DO端连接，所述连接线de与源极驱动电路中用于向偶数列数据线提供数据信号的DE端连接，从而，源极驱动电路可以单独向奇数列和偶数列数据线输入数据信号。

在Array工艺中，由于工艺缺陷、操作失误及工艺精度等原因，相邻的数据线可能会短接在一起(即DDS不良，其会造成显示缺陷)，如图1中的左起第三列和第四列数据线；因此，在Array工艺完成后，需要进行检测(ArrayTest)，并在检测存在上述DDS不良时，对数据线进行修复，以提高显示面板的良品率。

现有检测DDS不良的方法主要是：利用ArrayTest设备向所有的数据线输入数据信号，将所有的像素点亮(图1中，圆形表示像素处于点亮状态)；根据各数据线中数据信号的变化确定是否存在DDS不良。其原理是：如果相邻的数据线短接在一起，DO端和DE端的负载会变大，进而，各列数据线上的信号发生变化，这样可以通过检测数据线上的数据信号变化确定是否存在DDS不良。

上述检测方法虽然可以确定是否存在DDS不良，但DO端和DE端的负载同时变大，相应地，各数据线上的信号均会发生变化，从而使得无法确定发生DDS不良的具体位置，也不能通过维修将显示面板修复，产品的良率并不能得到提高。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种数据线短接不良的检测方法和检测装置，其可以确定数据线短接不良的发生位置，从而通过将数据线发生不良的位置修复，可以提供产品的良率。

为实现本发明的目的而提供一种数据线短接不良的检测方法，用于检测相邻的数据线是否存在短接，以及确定短接发生的位置，所述检测方法包括：

仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮；

检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮；

在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。

其中，所述检测方法还包括在确定存在发生短接的数据线后进行的：

仅向偶数列数据线/奇数列数据线提供数据信号，将与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素点亮；

识别奇数列数据线/偶数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与所述被确定短接的偶数列数据线/奇数列数据线之间短接。

其中，通过人眼目视判断奇数列数据线或偶数列数据线所连接的像素的亮度。

其中，通过亮度检测装置判断奇数列数据线或偶数列数据线所连接的像素的亮度。

其中，通过奇数列数据线中的数据信号判断与奇数列数据线连接的像素的亮度，通过偶数列数据线中的数据信号判断与偶数列数据线连接的像素的亮度。

作为另一个技术方案，本发明还提供一种数据线短接不良的检测装置，所述检测装置按照上述数据线短接不良的检测方法检测相邻的数据线是否存在短接，以及短接发生的位置。

其中，所述数据线短接不良的检测装置包括：数据信号提供模块，用于向奇数列数据线或偶数列数据线提供数据信号；亮度检测模块，用于在数据信号提供模块仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号时，检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮，以及在被点亮的与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素中识别出亮度最高的像素；判断模块，用于判断数据线是否发生短接，以及根据亮度检测模块识别出的所述亮度最高的像素所连接的数据线，确定与相邻数据线发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线。

优选地，所述亮度检测模块还用于在所述判断模块确定发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线后，数据信号提供模块仅向偶数列数据线/奇数列数据线提供数据信号时，在被点亮的与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素中识别出亮度最高的像素；判断模块还用于根据亮度检测模块识别出的所述亮度最高的像素所连接的奇数列数据线/偶数列数据线，确定与所述被确定发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线短接在一起的奇数列数据线/偶数列数据线。

其中，所述亮度检测模块为亮度计。

本发明具有以下有益效果：

本发明提供的数据线短接不良的检测方法，其通过仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供信号时，检测偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮，以及所述像素的亮度，可以确定偶数列数据线/奇数列数据线是否发生短接，以及确定与相邻数据线短接的数据线，即短接发生的位置，从而可以将发生短接的数据线修复，提高产品的良率。

本发明提供的数据线短接不良的检测装置，其采用上述数据线短接不良的检测方法检测显示面板的数据线是否存在不良，以及不良存在的位置，可以在获知不良位置的基础上，对不良位置的数据线进行修复，从而提高产品的良率。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为发生DDS不良的显示面板的示意图；

图2为本发明提供的数据线短接不良的检测方法在第一实施方式中的流程图；

图3为显示面板中的各数据线的示意图；

图4为本发明提供的数据线短接不良的检测方法在第二实施方式中的流程图；

图5为本发明提供的数据线短接不良的检测装置的示意图。

其中，附图标记：

do、de：连接线；DO、DE：源极驱动电路中分别向奇数列数据线和偶数列数据线提供数据信号的端；

1：数据信号提供模块；2：亮度检测模块；3：判断模块。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

本发明提供一种数据线短接不良的检测方法的多个实施方式，所述数据线短接不良的检测方法用于检测相邻的数据线是否存在短接，以及确定短接发生的位置。

图2为本发明提供的数据线短接不良的检测方法在第一实施方式中的流程图。在本实施方式中，所述数据线短接不良的检测方法包括以下步骤S1～S3：

S1，仅向奇数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线连接的像素点亮。

参看图3，如背景技术部分所述的，源极驱动电路可以通过DO端单独向奇数列数据线输入数据信号，使与奇数列数据线连接的像素点亮(图3中，与奇数列数据线连接的像素为与其相邻的奇数列像素，圆形表示像素处于点亮状态)，与偶数列数据线连接的像素关闭(图3中，与偶数列数据线连接的像素为与其相邻的偶数列像素，三角形表示像素处于关闭状态)。并且，从DO端输入到各奇数列数据线中的数据信号相同，且所述数据信号的电压保持不变，从而使与奇数列数据线连接的所有像素的亮度相同。

图3中，与奇数列数据线连接的像素为与其相邻的奇数列像素，但这仅是本发明的一种具体实施例；除该实施例外，与同一奇数列数据线连接的像素还可以包括位于不同列的像素。

S2，检测与偶数列数据线连接的像素是否被点亮。

可以理解的是，如果相邻的数据线短接，即：发生DDS不良时，发生短接的奇数列数据线中的数据信号会从短接发生处输入到与其短接的偶数列数据线，以及其他各偶数列数据线中，从而将与所有偶数列数据线连接的像素点亮。而如果显示面板中的各数据线没有发生DDS不良，则偶数列数据线中不会被输入数据信号，从而与偶数列数据线连接的像素会保持关闭。因此，通过检测与偶数列数据线连接的像素是否被点亮可以确定显示面板中的各数据线是否发生DDS不良。具体地，当与偶数列数据线连接的像素点亮时，说明有相邻的数据线短接在一起，发生了DDS不良；反之，当与偶数列数据线连接的像素没有被点亮时，说明没有数据线短接在一起，显示面板中没有出现DDS不良。

在步骤S2中，检测与偶数列数据线连接的像素是否被点亮的方法可以是已知可行的各种方法。例如，可以通过人眼目视观测与偶数列数据线连接的像素是否被点亮；具体地，对于像素密度较高的显示面板，直接通过人眼目视难以察觉像素是否被点亮，在此情况下，可以借助放大镜等光学放大装置，将显示面板中的像素放大后再进行观测，其也属于使用人眼目视观测的范畴。又例如，还可以通过亮度计等亮度检测装置判断偶数列数据线所连接的像素的亮度，从而确定与偶数列数据线连接的像素是否被点亮。此外，当与偶数列数据线连接的像素被点亮时，所述偶数列数据线中存在从短接处输入的数据信号，从而，还可以通过偶数列数据线中的数据信号判断与偶数列数据线连接的像素的亮度，确定与偶数列数据线连接的像素是否被点亮。

S3，在与偶数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线短接。

如上所述，在发生DDS不良时，偶数列数据线中会具有数据信号。所述数据信号自短接发生处首先输入到与奇数列数据线短接在一起的偶数列数据线中，而后从该偶数列数据线依次输入到其他的数据线中；可以理解，在上述传输过程中，依偶数列数据线被输入数据信号的次序，负载逐步变大，数据信号的强度会随之衰减，从而使与偶数列数据线连接的像素的亮度也会衰减。以图3为例，左起第三列数据线(奇数列数据线)和第四列数据线(偶数列数据线)短接在一起，第三列数据线中的数据信号会沿短接发生处输入到第四列数据线，而后，第四列数据线会向位于其左右两侧的偶数列数据线中输入数据信号，且输入的次序按照距离第四列数据线的远近依次输入；即：第四列数据线中的数据信号会首先输入到左起第二列数据线和左起第六列数据线中，而后，依次输入到左起第八列、第十列、第十二列……数据线中。在上述过程中，以第六列数据线和第十列数据线为例，数据信号传输至第十列数据线时所经历的负载大于传输至第六列数据线时所经历的负载，从而，输入至第十列数据线中的数据信号小于输入至第六列数据线中的数据信号，与第十列数据线连接的像素的亮度低于与第六列数据线连接的像素的亮度。

根据上述可知，在发生短接时，与不同偶数列数据线连接的像素的亮度是不同的，且发生短接的偶数列数据线所连接的像素的亮度最高。因此，在步骤S3中，在与各偶数列数据线连接的像素中，识别出亮度最高的像素，即可确定：与该亮度最高的像素连接的数据线即为发生短接的偶数列数据线，该偶数列数据线与相邻的奇数列数据线短接在一起。

具体地，识别亮度最高的像素可以采用已知可行的任何方法，例如，可以采用上述步骤S2中采用的通过目视识别、通过亮度计等亮度检测装置识别、通过数据线中的数据信号识别等多种方式。

需要说明的是，在本实施方式中，奇数列数据线和偶数列数据线还可以相互对换，即：步骤S1中，仅向偶数列数据线提供数据信号，将与偶数列数据线连接的像素点亮，在步骤S2中，检测与奇数列数据线连接的像素是否被点亮，而后在步骤S3中确定奇数列数据线是否发生短接；这样也是可以的。

本实施方式提供的数据线短接不良的检测方法，其通过仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供信号时，检测偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮，以及所述像素的亮度，可以确定偶数列数据线/奇数列数据线是否发生短接，以及确定与相邻数据线短接的数据线，即短接发生的位置，从而可以将发生短接的数据线修复，提高产品的良率。

图4为本发明提供的数据线短接不良的检测方法在第二实施方式中的流程图。如图4所示，在本实施方式中，所述数据线短接不良的检测方法包括以下步骤S1～S5：

S1，仅向奇数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线连接的像素点亮。

S2，检测与偶数列数据线连接的像素是否被点亮。

S3，在与偶数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线短接。

上述步骤S1～S3与第一实施方式相同，在此不再赘述。而根据第一实施方式中的内容可知，如果显示面板中的数据线发生短接不良，经过上述步骤S1～S3，已经可以确定发生短接的偶数列数据线。具体地，如图4所示，在所述显示面板中的数据线没有发生短接不良时，检测结束，确定所述显示面板不存在DDS不良；而在确定存在偶数列数据线发生短接后，进行下述步骤S4。

S4，仅向偶数列数据线提供数据信号，将与偶数列数据线连接的像素点亮。

在步骤S4中，将输入向奇数列数据线的数据信号截止，并向偶数列数据线提供数据信号；由于有偶数列数据线发生短接，因此，所述数据信号会输入到各奇数列数据线中，将与奇数列数据线连接的像素点亮；且与奇数列数据线连接的像素具有不同的亮度，其缘由与上述第一实施方式中已描述的与偶数列数据线连接的像素具有不同亮度的原因相同，在此不再赘述。

S5，识别奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与所述被确定短接的偶数列数据线之间短接。

在步骤S5中，识别像素亮度的方法可以是已知可行的任何方法，例如，可以通过人眼目视观测识别像素的亮度；又例如，还可以通过亮度计等亮度检测装置判断偶数列数据线所连接的像素的亮度，从而确定与偶数列数据线连接的像素是否被点亮。此外，当与奇数列数据线连接的像素被点亮时，所述奇数列数据线中存在从短接处输入的数据信号，从而，还可以通过奇数列数据线中的数据信号判断与奇数列数据线连接的像素的亮度，确定与奇数列数据线连接的像素是否被点亮。

在与各奇数列数据线连接的像素中，亮度越高的像素所连接的数据线距离短接处的距离越近，而亮度最高的像素所连接的奇数列数据线即为发生短接的奇数列数据线，该奇数列数据线与步骤S1～S3确定的发生短接的偶数列数据线之间发生短接。

在本实施方式中，除通过步骤S1～S3确定发生短接的一条数据线，还通过步骤S4～S5将与上述数据线短接的其他数据线识别出来，从而可以直接地确定发生短接的数据线，这样就便于对所述发生短接的数据线进行维修，提高产品的良率。

需要说明的是，在本实施方式中，奇数列数据线和偶数列数据线还可以相互对换，这样首先通过步骤S1～S3确定发生短接的奇数列数据线，而后通过步骤S4～S5确定与上述奇数列数据线短接在一起的偶数列数据线，这样也是可以的。

本发明还提供一种数据线短接不良的检测装置的实施方式。在本实施方式中，所述数据线短接不良的检测装置按照本发明上述实施方式提供的数据线短接不良的检测方法检测相邻的数据线是否存在短接，以及短接发生的位置。

具体地，所述数据线短接不良的检测装置可以如图5所示，具体包括：数据信号提供模块1，其用于向奇数列数据线或偶数列数据线提供数据信号；亮度检测模块2，用于在数据信号提供模块1仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号时，检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮，以及在被点亮的与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素中识别出亮度最高的像素；判断模块3，用于判断数据线是否发生短接，以及根据亮度检测模块2识别出的所述亮度最高的像素所连接的数据线，确定与相邻数据线发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线。具体地，所述亮度检测模块2可以为亮度计。

进一步地，所述亮度检测模块2还用于在所述判断模块3确定发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线后，数据信号提供模块1仅向偶数列数据线/奇数列数据线提供数据信号时，在被点亮的与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素中识别出亮度最高的像素；判断模块3还用于根据亮度检测模块2识别出的所述亮度最高的像素所连接的奇数列数据线/偶数列数据线，确定与所述被确定发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线短接在一起的奇数列数据线/偶数列数据线。

本发明实施方式提供的数据线短接不良的检测装置，其采用上述数据线短接不良的检测方法检测显示面板的数据线是否存在不良，以及不良存在的位置，可以在获知不良位置的基础上，对不良位置的数据线进行修复，从而提高产品的良率。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种数据线短接不良的检测方法，用于检测相邻的数据线是否存在短接，以及确定短接发生的位置，其特征在于，所述检测方法包括：

仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号，将与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素点亮；

检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮；

在与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素被点亮时，识别偶数列数据线/奇数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与相邻的奇数列数据线/偶数列数据线短接。

2.根据权利要求1所述的数据线短接不良的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括在确定存在发生短接的数据线后进行的：

仅向偶数列数据线/奇数列数据线提供数据信号，将与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素点亮；

识别奇数列数据线/偶数列数据线所连接的像素中亮度最高的像素，并确定所述亮度最高的像素所连接的数据线，该数据线与所述被确定短接的偶数列数据线/奇数列数据线之间短接。

3.根据权利要求1所述的数据线短接不良的检测方法，其特征在于，通过人眼目视判断奇数列数据线或偶数列数据线所连接的像素的亮度。

4.根据权利要求1所述的数据线短接不良的检测方法，其特征在于，通过亮度检测装置判断奇数列数据线或偶数列数据线所连接的像素的亮度。

5.根据权利要求1所述的数据线短接不良的检测方法，其特征在于，通过奇数列数据线中的数据信号判断与奇数列数据线连接的像素的亮度，通过偶数列数据线中的数据信号判断与偶数列数据线连接的像素的亮度。

6.一种数据线短接不良的检测装置，其特征在于，所述检测装置按照权利要求1或2所述的数据线短接不良的检测方法检测相邻的数据线是否存在短接，以及短接发生的位置。

7.根据权利要求6所述的数据线短接不良的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：

数据信号提供模块，用于向奇数列数据线或偶数列数据线提供数据信号；

亮度检测模块，用于在数据信号提供模块仅向奇数列数据线/偶数列数据线提供数据信号时，检测与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素是否被点亮，以及在被点亮的与偶数列数据线/奇数列数据线连接的像素中识别出亮度最高的像素；

判断模块，用于判断数据线是否发生短接，以及根据亮度检测模块识别出的所述亮度最高的像素所连接的数据线，确定与相邻数据线发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线。

8.根据权利要求7所述的数据线短接不良的检测装置，其特征在于，所述亮度检测模块还用于在所述判断模块确定发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线后，数据信号提供模块仅向偶数列数据线/奇数列数据线提供数据信号时，在被点亮的与奇数列数据线/偶数列数据线连接的像素中识别出亮度最高的像素；

判断模块还用于根据亮度检测模块识别出的所述亮度最高的像素所连接的奇数列数据线/偶数列数据线，确定与所述被确定发生短接的偶数列数据线/奇数列数据线短接在一起的奇数列数据线/偶数列数据线。

9.根据权利要求7或8所述的数据线短接不良的检测装置，其特征在于，所述亮度检测模块为亮度计。