CN105190359A - 放射线测定装置 - Google Patents

Abstract

在从光电倍增管输出的单极性脉冲上进行预处理，以由此产生双极性信号(双极性脉冲)。在双极性信号中，初始峰值波形的下降波形部分(后坡)是陡峭的，并且还横切削基线，由此能够精确地识别出下降点为过零点。脉冲宽度“t”的识别精度能够由此提高。当确定线类型时，除了脉冲宽度以外，还可以进一步参考单极性脉冲的峰值、双极性信号的峰值等。

Description

放射线测定装置

技术领域

本发明涉及一种放射线测定装置，并且更具体地，涉及一种用于检测α射线和β射线同时区分α射线和β射线的放射线测定装置。

背景技术

用于测量α射线和β射线的放射线测定装置利用由α射线产生的检测脉冲(α射线检测脉冲)和由β射线产生的检测脉冲(β射线检测脉冲)之间的频率特性和峰值的差异来区分从检测器输出的α射线检测脉冲和β射线检测脉冲。例如，专利文献1和2公开了一种包括α射线分向滤波器和峰值判别电路的放射线测定装置。专利文献3公开了一种放射线测定装置，其将同时计数处理应用于从两个光电倍增管输出的脉冲以供切削噪声，并且，基于已经经受同时计数处理的脉冲的脉冲宽度，来区分α射线检测脉冲和β射线检测脉冲。

引用列表

专利文献

专利文献1：JPH5-19061A

专利文献2：JPH9-304538A

专利文献3：JPH9-230052A

发明内容

技术问题

例如，从由闪烁器和光电倍增管组成的检测器输出的检测脉冲为呈现在负极性侧(或正极性侧)上的单极性脉冲。单极性脉冲一般包括从上升点到峰值点的急剧上升部分(还被称作前沿)，以及从峰值点到基线的相对平缓的下降部分(还被称作后沿)。这样的检测脉冲的脉冲宽度(接近基线的时间宽度)取决于放射线类型。一般，α射线检测脉冲的脉冲宽度大于β射线检测脉冲的脉冲宽度。因此有可能使用脉冲宽度作为区分放射线类型的标准。例如，将检测脉冲的波形与阈值做比较，将上升点和下降点指定为穿过阈值的点，并且将这些点之间的间隔指定为脉冲宽度。在本申请的说明书中，远离基线的振幅的变化将被称作“上升”以及接近基线的振幅的变化将被称作“下降”，与极性无关。“上升点”一般指在紧邻峰值点之前存在的斜线的起始点或前端点(包括其对应点)，而“下降点”一般指在紧邻峰值点之后存在的斜线的终止点或后端点(包括其对应点)。

由于当脉冲宽度用于区分核素时脉冲宽度的识别精度显著影响放射线类型的判别精度，因此有必要构成电路，使得能够尽可能精确地识别出脉冲宽度。然而，由于检测脉冲的下降部分具有平缓的形状，特别接近基线，因此产生问题：此部分的形状的轻微变化可以很容易引起穿过阈值电平的点朝向时间轴方向的偏移。

这里，在判别精度方面，理想的是，除了脉冲宽度以外，还使用脉冲峰值作为判别标准，这是因为检测脉冲的脉冲宽度取决于峰值并且特别在小振幅的情况下大误差的趋势能够被确认。在确定放射线类型过程中，还可能要考虑噪声叠加、放大之后的信号饱和、相邻脉冲等的影响。由于α射线检测脉冲的峰值的可能的范围和β射线检测脉冲的峰值的可能的范围一般彼此部分重叠，因此很难仅仅基于峰值来区分α射线检测脉冲和β射线检测脉冲。所以理想的是使用峰值标准和脉冲宽度标准两者来进行放射线类型的判别。

因此本发明的优点在于增大α射线检测脉冲和β射线检测脉冲的判别精度，并且特别在于消除或减轻由检测脉冲中的下降部分的形状的变化而引起的判别精度降低的问题。

解决问题的方案

根据本发明的方案的放射线测定装置包括：检测器，其被配置为检测α射线和β射线并且输出单极性脉冲；预处理电路，其被配置为通过将波形处理应用于从检测器输出的单极性脉冲来产生双极性脉冲；脉冲宽度信号产生电路，其被配置为产生表示从双极性脉冲的上升点到下降点的脉冲宽度的脉冲宽度信号；以及放射线类型确定电路，其被配置为至少基于脉冲宽度信号来确定从其中产生单极性脉冲的放射线的放射线类型。

使用上述结构，由于在识别脉冲宽度之前将单极性脉冲转换成双极性脉冲(即，双极性信号)，则能够增大脉冲宽度的识别精度。更具体地，由于双极性脉冲具有比单极性脉冲的下降部分更急剧地接近基线的第一下降部分，并且此外，不同于单极性脉冲的下降部分，双极性脉冲的下降部分横穿基线，则可以增大下降点的识别精度。能够将下降点识别为在所述点处下降部分穿过预定阈值的点，并且在这种情况下，如果预定阈值在基线上，将下降点定义为易于识别的穿过基线的相交点。基线可以处于偏离0电势电平的电平处，在该情况下，穿过基线的点同样能够称作相交点。还能够指定上升点为与基线分离的点或者穿过基线的点。用于指定上升点和下降点的电平可以不一定相同。换而言之，脉冲宽度信号产生电路可以具有滞后特性。预处理电路可以由串联的微分电路和积分电路来形成。总之，上述结构的特性在于从单极性脉冲中产生双极性脉冲。

优选地，双极性脉冲包括从基线朝向一侧伸出的第一部分和从基线朝向另一侧伸出的第二部分，且第二部分至第一部分是连续的。上升点为第一部分的前端点而下降点为第一部分的后端点。

优选地，检测器包括一个或多个光电倍增管。特别优选地，检测器包括单个光电倍增管。理想的是配置该装置使得α射线检测和β射线检测能够仅仅基于来自这样的单个电倍增管的输出信号被综合确定。

优选地，脉冲宽度信号产生电路包括：基准信号产生电路，其被配置为通过平滑双极性脉冲来产生基准信号；以及比较电路，其被配置为比较双极性脉冲和基准信号以识别出上升点和相交点。使用该结构，为了从双极性脉冲中产生脉冲宽度信号，使用从双极性脉冲自身产生的基准信号。基准信号通过平滑双极性脉冲来产生，并且对应于双极性脉冲的基线。因而，由于在双极性脉冲的基线中产生的偏移将引起在基准信号中类似的偏移，则有可能实现不受这样的偏移影响的比较处理。换而言之，上述结构能够提供以下优点：处理不敏感于或几乎不敏感于基线中的电平变化的影响。当将双极性脉冲与基准信号做比较时，为了更精确地识别出上升点，理想的是沿与上升方向相反的方向给双极性脉冲增加一些偏移量。

优选地，除了双极性脉冲的脉冲宽度以外，放射线类型确定电路还基于双极性脉冲的峰值和单极性脉冲的峰值来确定放射线类型。由于该结构能够实现多层面并且综合的确定，因此能够增大确定精度。具体地，由于未曾受到预处理影响的信号的评估结果，则从其中产生双极性脉冲的单极性脉冲的评估能够实现核素的确定。

优选地，放射线测定装置进一步包括大脉冲检测信号产生电路，其被配置为产生大脉冲检测信号，且输出大脉冲检测信号至放射线类型确定电路，所述大脉冲检测信号指示单极性脉冲为具有比大脉冲判别电平更高的电平的大脉冲，而超过大脉冲判别电平的脉冲被认为是由α射线检测而获得的脉冲。

优选地，放射线测定装置进一步包括有效脉冲判别信号产生电路，其被配置为产生有效脉冲判别信号，且输出有效脉冲判别信号至放射线类型确定电路，所述有效脉冲判别信号指示双极性脉冲为具有比噪声切削电平更高的电平的有效脉冲，而噪声切削电平为用于区分噪声和有效脉冲的电平。

优选地，放射线测定装置进一步包括高电平判别信号产生电路，其被配置为产生表示双极性脉冲是高于还是低于中间电平的高电平判别信号，且输出高电平判别信号至放射线类型确定电路，而中间电平为用于区分能够由α射线检测和β射线检测产生的高峰值和能够仅仅由β射线检测产生的低峰值的电平。

附图说明

[图1]示出根据本发明的优选实施例的放射线测定装置的电路图。

[图2]示出β射线检测脉冲和α射线检测脉冲每个均为单极性脉冲的示意图。

[图3]示出双极性脉冲(双极性信号)的示意图。

[图4]用于解释产生脉冲宽度信号的示意图。

[图5]示出大脉冲判别电平、噪声切削电平，以及中间电平的示意图。

[图6]用于解释确定电路中的确定规则的示意图。

具体实施方式

将参照附图来描述本发明的优选实施例。

图1示出了根据本发明的放射线测定装置的优选实施例，并且为其电路图。本实施例中的放射线测定装置例如为放射线测量仪。当然能够将其他放射线测定装置应用于本发明。

图1中示出的放射线测定装置包括起检测器作用的闪烁器，以及光电倍增管。当α射线和β射线进入时，闪烁器发射光。光接着进入光电倍增管，在光电倍增管中，将光转换成电脉冲。在本实施例中，仅仅设置单个光电倍增管。在本实施例中，来自光电倍增管的输出脉冲100为在负(-)极性侧产生的单极性脉冲。这里，可以设置多个光电倍增管。

根据本实施例的放射线测定装置包括第一放大器12、第二放大器14、脉冲宽度信号产生电路16、有效脉冲判别信号产生电路18、大脉冲确定信号产生电路20、高电平判别信号产生电路22、确定电路24，以及微电脑26。以下将具体描述每个电路。

第一放大器12接收来自输入到其的光电倍增管的输出脉冲100。输出脉冲100具有从基线朝向负极性投射的形状。电容器C1和电阻器R1设置在第一放大器12的输入侧上。第一放大器12为执行反相放大的电路，并且包括具有反相放大功能的运算放大器28。将上述输出脉冲100输入至运算放大器28的负(-)端子，并且将基准信号(REF1)输入至运算放大器28的正(+)端子。基准信号指的是表示基准电势的信号。

运算放大器28的工作特性是通过由电阻器R2和电容器C2形成的RC电路来设定。第一放大器12输出反相-放大的信号102至第二放大器14。

在本实施例中，第二放大器14为执行用于将作为单极性脉冲的信号102转换成双极性脉冲(双极性信号)的预处理的电路。第二放大器14包括串联的微分电路14A和积分电路14B。微分电路14A包括彼此并联的两个电容器C3和C4和彼此并联的电阻器R3和R4。积分电路14B包括运算放大器30。将来自微分电路14A的输出信号供应给运算放大器30的负(-)端子并且将基准信号(REF2)供应给运算放大器30的正(+)端子。基准信号表示基准电势。运算放大器30的工作特性是通过具体由电阻器R5和电容器C5形成的RC电路来确定。

在图1中未示出设置在第一放大器12之前的保护电路。每个基准信号的电势能够由未示出的控制电路可变地设定。

利用第二放大器14的操作，从单极性脉冲中产生双极性脉冲(也就是，双极性信号)。图1示出了由附图标记104指代的双极性信号。将双极性信号104并行输出至设置在第二放大器14之后的脉冲宽度信号产生电路16、有效脉冲判别信号产生电路18，以及高电平判别信号产生电路22。这里，将第一放大器12的输出信号102输出至第二放大器14或者不经由第二放大器14输出至大脉冲确定信号产生电路20。

脉冲宽度信号产生电路16基于双极性信号104来产生脉冲宽度信号P(W)。脉冲宽度信号产生电路16包括起比较器作用的运算放大器32。将双极性信号104经由电阻器R6输入至运算放大器32的正(+)端子106，并且将该信号称作注目信号106。将基准信号108输入至运算放大器32的负(-)端子。

在本实施例中，基于双极性信号104自身来产生基准信号108。具体地，通过将平滑处理应用于双极性信号104来产生基准信号108。该结构能够在不受双极性信号104的基线的电平的变化的影响下实现脉冲宽度信号P(W)的产生。设置电阻器R7和电容器C6用于平滑双极性信号104的目的。设置电阻器R8以确定电势。

起反馈电阻器作用的电阻器R9将注目信号106的电平从基线朝向正极性侧略微升高，以由此提供偏置给注目信号106。应用这样的偏移处理能够实现注目信号106的上升点的可靠检测。在本实施例中，将具有基线的过零点检测为上升点。换而言之，脉冲宽度信号产生电路16具有滞后特性。

将来自脉冲宽度信号产生电路16的输出信号110作为脉冲宽度信号P(W)经由电阻器R10供应给确定电路24。如以下将详细描述的，脉冲宽度信号P(W)为表示双极性信号104中从第一上升点到随后的过零点的周期(脉冲宽度)的信号。当检测到α射线时，例如产生具有1.0μs到3.0μs的脉冲宽度的信号，而当检测到β射线时，产生具有小于1.0μs的脉冲宽度的信号。

有效脉冲判别信号产生电路18包括起比较器作用的运算放大器34。将双极性信号104经由电阻器R11作为注目信号112施加给有效脉冲判别信号产生电路18的正(+)端子。电阻器R13设置在电阻器R11的输出侧和地之间。电阻器R14为反馈电阻器。

将基准信号114输入至运算放大器34的负(-)端子。基于双极性信号104自身来产生基准信号114。更具体地，通过平滑双极性信号来产生基准信号114。设置电阻器R12和电容器C7用于平滑。该结构还能够在不受双极性信号104中的基线的电平的变化的影响下实现信号的比较处理。此外，将控制信号116施加给运算放大器34的负(-)端子的输入线。控制信号116能够从外部控制基准信号114的电势，使得能够可变地设定噪声切削电平。设置电阻器R15、R16，以及电容器C8用于通过控制信号116的电势的操作。

有效脉冲判别信号产生电路18判别超过噪声切削电平的脉冲作为有效脉冲，并且输出表示有效脉冲的有效脉冲判别信号P(D)。具体地，将来自运算放大器34的输出信号118作为有效脉冲判别信号P(D)经由电阻器R17施加给确定电路24。

高电平判别信号产生电路22为产生指示有效脉冲具有高峰值的高电平判别信号P(A)的电路。更具体地，高电平判别信号产生电路22包括起比较器作用的运算放大器38。将双极性信号104经由电阻器R20输入至运算放大器38的正(+)端子，并且将基准信号(REF4)施加给运算放大器38的负(-)端子。基准信号提供表示用于区分峰峰值的中间电平的基准电势。当输入高于中间电平的峰值时，运算放大器38输出高电平判别信号P(A)。更具体地，将来自运算放大器38的输出信号122作为高电平判别信号P(A)经由电阻器R21施加给确定电路24。

大脉冲确定信号产生电路20评估来自第一放大器12的输出信号。具体地，大脉冲确定信号产生电路20，指的是未经第二放大器14中预处理的信号102，参考原始脉冲波形来执行更可靠的确定。使用该结构，即使信号在第二放大器14中达到饱和，也能够在饱和之前评估信号。大脉冲确定信号产生电路20包括起比较器作用的运算放大器36，并且将来自第一放大器12的输出信号102经由电阻器R18输入至运算放大器36的正(+)端子。输出信号102为在正极性侧产生的单极性脉冲。将指示用于确定大脉冲的电势的基准信号(REF3)施加给运算放大器36的负(-)端子。当将高于此电势的脉冲输入至运算放大器36时，运算放大器36输出大脉冲确定信号P(L)。具体地，将来自运算放大器36的输出信号120作为大脉冲确定信号P(L)经由电阻器R19施加给确定电路24。

基于输入的脉冲宽度信号P(W)、有效脉冲判别信号P(D)、大脉冲确定信号P(L)，以及高电平判别信号P(A)，确定电路24以多层面并且综合的方式来确定放射线类型。确定电路24在确定α射线的检测时输出α检测脉冲124并且在确定β射线的检测时输出β检测脉冲126。微电脑26对这些脉冲124和126各自计数，由此单独地获得α射线计数的结果和β计数的结果。基于这些结果，计算诸如剂量、剂量率、剂量当量等的各种测量值并且将其显示在指示器上。此外，如上所述地，微电脑26控制着控制信号116的电势。

将描述图1中示出的电路的操作。图2示出了作为光电倍增管的输出脉冲的上述单极性脉冲。具体地，图2(A)示出了由β射线的检测产生的β射线检测脉冲100a，以及图2(B)示出了由α射线的检测产生的α射线检测脉冲100b。在β射线检测脉冲100a中，a1指示脉冲峰值(从基线到波峰的高度)且t1指示脉冲宽度(时间轴上的范围)。在α射线检测脉冲100b中，a2指示脉冲峰值且t2指示脉冲宽度。一般，满足a1<a2的关系和t1<t2的关系。这里，应该注意脉冲宽度t1和t2。在单极性脉冲中，随着其接近基线，下降波形部分变得平缓，这使得难于精确地指定脉冲宽度。

在本实施例中，为了更高精度地指定脉冲宽度，如图3中所示的，将单极性脉冲转换成双极性信号。具体地，双极性信号为从单极性脉冲中产生的双极性脉冲，并且在图1中示出的结构中，通过将微分处理和积分处理逐步应用于来自第一放大器12的输出信号来产生双极性信号104。双极性信号104包括从基线朝向一侧(负极性侧)伸出的凸形的第一部分和从基线朝向另一侧(正极性侧)伸出的凸形的第二部分。第二部分紧邻第一部分之后开始，并且这些部分彼此是相连的。

在双极性信号104中，紧邻波峰之前存在的第一上升部分(作为前沿的斜线)是显著陡峭的，使得能够清晰地指定第一上升点204。第一上升点对应于上升部分(或以上描述的第一部分)的起始点或前端点。紧邻第一波峰之后存在的下降部分(作为后沿的斜线)比单极性脉冲中的下降部分更陡峭，并且穿过基线。因此，能够清楚地指定下降点或过零点206。下降点对应于下降部分(或者第一部分)的终止点或后端点。如上所述，能够基于双极性信号来高精度地指定脉冲宽度“t”，使得能够提高α射线检测和β射线检测之间的判别精度。

图4示出了图1中示出的脉冲宽度信号产生电路的操作。图4(A)示出了将输入的双极性信号。更具体地，附图标记104(β)指代由β射线的检测产生的双极性信号，且附图标记104(α)指代由α射线的检测产生的双极性信号。在该示例中，这些信号的峰值的电平由“a”表示。图4(B)示出了脉冲宽度信号P(W)，其中t(β)表示由β射线的检测产生的双极性信号104(β)的脉冲宽度，且t(α)表示由α射线的检测产生的双极性信号104(α)的脉冲宽度。能够利用当检测到β射线时的脉冲宽度和当检测到α射线时的脉冲宽度之间这种显著差异来识别放射线类型。在本实施例中，将利用脉冲宽度是否超过1μs来识别放射线类型。

此外，图4(C)示出了从上升点的定时T1起的确定门周期，其例如被定义为0.5秒的周期。在确定门周期内，做出关于是否产生有效脉冲判别信号P(D)、大脉冲确定信号P(L)，以及高电平判别信号P(A)的确定。

图5示出了待比作波形的各种判别电平。图5(A)示出了图1中示出的第一放大器的输出信号。在图5中，水平轴表示时间轴且垂直轴表示振幅。附图标记208指代基线，且附图标记a5指代对应于以上所述的REF3的大脉冲判别电平。如图5(A)中所示，当输出信号的峰值a0超过大脉冲判别电平a5时，输出大脉冲确定信号P(L)。

图5(B)示出了以上所述的双极性信号。在图5(B)中，垂直轴表示振幅且水平轴为时间轴。附图标记208指代基线，且附图标记a3指代噪声切削电平，其对应于图1中示出的信号114。附图标记a4指代对应于以上所述的REF4的中间电平。当峰值“a”超过噪声切削电平a3时，脉冲被确定为有效脉冲。换而言之，当峰值“a”没有达到噪声切削电平a3时，信号被认为是噪声。

因此，超过噪声切削电平“a3”的信号被认为是有效脉冲。为了评估脉冲的大小，定义中间电平“a4”。在本实施例中，当峰值“a”超过中间电平“a4”时，证实了β射线检测和α射线检测的可能性，并且输出高电平判别信号P(A)。当峰值“a”未超过中间电平a4时，信号被认为是β射线检测脉冲。

图6示出了图1中示出的确定电路中的示例确定规则。确定电路首先确定P(D)是否存在。如果如附图标记212所指示那样没有获得P(D)，则不管其他信号的内容是什么，均如附图标记214和216所指示那样，该信号都被认为是噪声。换而言之，在该情况下，既未确定为α射线检测也未确定为β射线检测。另一方面，如果如附图标记210所指示那样获得了P(D)，则确定结果可以根据其他信号的内容而变化。

在这样的情况下，如果如附图标记218所指示那样确定获得了P(L)；也就是，如果确定获得显著大的脉冲，则不管其他信号的内容是什么，均如附图标记234和236所指示的那样，确定为α射线检测。另一方面，如果获得了P(D)但没有获得P(L)，确定结果可以根据P(A)的存在与否和P(W)的大小来变化。

在该情况下，如果没有获得P(A)，则如附图标记224所指示的那样，确定为β射线检测。更具体地，由于脉冲的峰值小，所以无法假定为α射线检测。此外，由于在β射线检测的情况下脉冲宽度始终应该为等于或小于1μs，所以在该情况下确定为β射线检测。如果在该情况下脉冲宽度为等于或大于1μs，则如附图标记226所指示的那样，确定为误差。

另一方面，如果如附图标记228所指示那样获得了P(A)，则当检测的P(W)的脉冲宽度为等于或小于1μs时，如附图标记230所指示的那样确定为β射线检测，而当脉冲宽度为等于或大于1μs时，如附图标记232所指示的那样确定为α射线检测。

如上所述，在存在具有等于或大于噪声切削电平的有效信号的前提下，确定电路首先执行确定。在该情况下，如果在由第二放大器执行的处理之前第一放大器的输出的大小巨大，则无条件地确定为α射线检测，然而如果不是这样，则在综合考虑了与中间电平和脉冲宽度的比较结果的情况下，确定为β射线检测或α射线检测。因此，能够获得以下优点：能够根据各种条件精确地确定放射线类型。

具体地，在本实施例中，由于在将单极性脉冲转换成双极性信号之后测量了脉冲宽度，所以特别有可能获得以下优点：在指定下降点处能够减小误差；也就是，能够增大识别精度。同时在上述实施例中，下降部分和基线的相交点被假定为过零点，还能够设定从基线偏移的电平并且指定下降点为穿过设定电平的点。类似地，能够基于与偏离基线的阈值的比较结果来指定上升点。除了如上所述用于确定电路中以外，双极性信号还一般能够用于脉冲宽度的评估。在上述实施例中，由于为了脉冲宽度信号的产生，基于双极性信号自身来产生基准信号，所以能够获得以下优点：双极性信号中的基线的电平的变化的影响降低。对于在有效脉冲判别信号产生电路中的基准信号的产生，这也是事实。

利用上述结构，由于能够仅使用从单个光电倍增管输出的输出脉冲来区分α射线检测和β射线检测，所以能够获得以下优点：在放射线测定装置的整体结构被简化的情况下，仍能够精确地区分α射线和β射线。因此，能够提供实用的放射线测量仪等。

Claims (10)

1.一种放射线测定装置，包括：

检测器，其被配置为检测α射线和β射线并且输出单极性脉冲；

预处理电路，其被配置为通过将波形处理应用于从所述检测器输出的所述单极性脉冲来产生双极性脉冲；

脉冲宽度信号产生电路，其被配置为产生表示从所述双极性脉冲的上升点到下降点的脉冲宽度的脉冲宽度信号；以及

放射线类型确定电路，其被配置为至少基于所述脉冲宽度信号来确定从其中产生所述单极性脉冲的放射线的放射线类型。

2.根据权利要求1所述的放射线测定装置，其中

所述双极性脉冲包括从基线朝向一侧伸出的第一部分和从所述基线朝向另一侧伸出的第二部分，所述第二部分至所述第一部分是连续的，

所述上升点为所述第一部分的前端点，以及

所述下降点为所述第一部分的后端点。

3.根据权利要求2所述的放射线测定装置，其中

所述下降点为穿过所述基线的相交点。

4.根据权利要求3所述的放射线测定装置，其中

所述脉冲宽度信号产生电路包括：

基准信号产生电路，其被配置为通过平滑所述双极性脉冲来产生基准信号；以及

比较电路，其被配置为比较所述双极性脉冲和所述基准信号以识别出所述上升点和所述相交点。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的放射线测定装置，其中

所述放射线类型确定电路基于所述双极性脉冲的脉冲宽度、所述双极性脉冲的峰值，以及所述单极性脉冲的峰值来确定所述放射线类型。

6.根据权利要求5所述的放射线测定装置，进一步包括：

大脉冲检测信号产生电路，其被配置为产生大脉冲检测信号，且输出所述大脉冲检测信号至所述放射线类型确定电路，所述大脉冲检测信号指示所述单极性脉冲为具有比大脉冲判别电平更高的电平的大脉冲，

超过所述大脉冲判别电平的脉冲被认为是由α射线检测产生的脉冲。

7.根据权利要求5所述的放射线测定装置，进一步包括：

有效脉冲判别信号产生电路，其被配置为产生有效脉冲判别信号，且输出所述有效脉冲判别信号至所述放射线类型确定电路，所述有效脉冲判别信号指示所述双极性脉冲为具有比噪声切削电平更高的电平的有效脉冲，

所述噪声切削电平为用于区分噪声和所述有效脉冲的电平。

8.根据权利要求5所述的放射线测定装置，进一步包括：

高电平判别信号产生电路，其被配置为产生表示所述双极性脉冲是高于还是低于中间电平的高电平判别信号，且输出所述高电平判别信号至所述放射线类型确定电路，

所述中间电平为用于区分能够由α射线检测和β射线检测产生的高峰值和能够仅仅由β射线检测产生的低峰值的电平。

9.根据权利要求1所述的放射线测定装置，其中

所述预处理电路包括微分电路和积分电路。

10.根据权利要求1所述的放射线测定装置，其中

所述检测器包括单个光电倍增管。