CN105122588A - 非接触电力传输装置 - Google Patents

Abstract

一种非接触电力传输装置，包括：构成谐振电路的检测线圈(L1)和电容器(C1)；以及振荡电路(21,22)，用于利用高频电流对检测线圈进行励磁。振荡电路可以生成与进行电气设备和金属的存在检测所用的检测用频率相对应的高频电流。该非接触电力传输装置还包括：输出检测电路(24)，用于生成与流经检测线圈(L1)的励磁电流相对应的输出电压(Vs)；存在检测电路(12)，用于基于通过利用具有检测用频率的高频电流对检测线圈(L1)进行励磁所获得的输出电压(Vs)，来进行电气设备和金属的存在检测；以及检测条件改变电路(12)，其能够执行用于根据检测线圈(L1)和电容器(C1)所确定的谐振特性来改变存在检测电路的检测条件的初始值设置模式。

Description

非接触电力传输装置

技术领域

本发明涉及一种非接触电力传输装置。

背景技术

作为一种非接触电力传输装置，专利文献1公开了根据从初级侧谐振电路供给的电力的功率因数来检测作为供电对象的电气设备的位移的非接触型电力供给装置。该电力供给装置基于功率因数来调整初级侧谐振电路的特性，以抑制在发生位移的情况下的供电效率的下降。

在电力供给装置中，如果在存在异物的情况下进行供电操作，则异物可能会被加热。因而，期望检测到该异物以停止供电操作。

专利文献2公开了除供电所用的初级线圈外还包括用于检测金属的检测线圈的非接触型电力供给装置。该电力供给装置对初级线圈进行励磁驱动以向电气设备进行供电。此外，该电力供给装置对检测线圈进行励磁驱动，以基于该检测线圈的阻抗的变化来检测电气设备或诸如金属等的异物。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-130173

专利文献2：日本特开2006-230129

发明内容

发明要解决的问题

在包括检测线圈的非接触电力供给装置中，在检测线圈之间，电感发生改变。此外，在与检测线圈共同构成谐振电路的电容器之间，电容发生改变。这些变化是由于因产品差异(制造差异)而产生的个体差异、随时间经过劣化以及使用环境(温度)等所引起的。然而，在现有技术的非接触电力供给装置中没有考虑到这一点。

在检测线圈之间电感发生改变或者在电容器之间电容发生改变的情况下，谐振特性针对各非接触电力供给装置有所不同。因而，无法对所制造的所有非接触电力传输装置维持相同的检测精度。

在电感或电容因随时间经过劣化或使用环境而发生改变的情况下，谐振特性也发生改变。因而，在使用了很长时间的情况下或者在使用环境(温度等)发生改变的情况下，无法维持固定的检测精度。

特别地，存在放置面被划分成多个供电区域的非接触电力传输装置(电力供给装置)。各供电区域设置有检测线圈。电气设备放置在放置面上。在这种情况下，在检测线圈的电感或相应电容器的电容针对各供电区域发生改变的情况下，谐振特性针对各供电区域可能有所不同或发生改变。因而，针对多个供电区域无法维持相同的检测精度。

本发明提供使得能够与电路元件之间的个体差异、随时间经过劣化和使用环境的变化无关地维持金属或电气设备的检测精度相同的非接触电力传输装置。

用于解决问题的方案

本发明的一个方面是一种非接触电力传输装置，用于使用电磁感应现象对电气设备中所配置的受电装置进行非接触供电，所述非接触电力传输装置包括：检测线圈；电容器，其连同所述检测线圈一起构成谐振电路；振荡电路，其被配置为利用高频电流对所述检测线圈进行励磁，其中所述振荡电路能够生成与进行所述电气设备和金属的存在检测所用的检测用频率相对应的高频电流；输出检测电路，其被配置为生成与流经所述检测线圈的励磁电流相对应的输出电压；存在检测电路，其被配置为基于通过利用具有所述检测用频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压，来进行所述电气设备和所述金属的存在检测；以及检测条件改变电路，其能够执行用以根据所述检测线圈和所述电容器所确定的谐振特性改变所述存在检测电路的检测条件的初始值设置模式。

发明的效果

根据本发明的非接触电力传输装置使得能够与电路元件之间的个体差异、随时间经过劣化和使用环境的变化无关地维持金属或电气设备的检测精度相同。

附图说明

图1是示出非接触电力传输装置和电气设备的整体立体图。

图2是示出供电区域中所配置的初级线圈的排列状态的图。

图3是非接触电力传输装置和电气设备的电气框式电路图。

图4是电气设备的受电装置的电气框式电路图。

图5是说明基本供电单元电路的电气框式电路图。

图6是说明半桥电路的电气电路图。

图7是说明基本供电单元电路的操作的各信号波形图。

图8是示出说明存在检测的原理的输出相对于频率的特性图。

图9是说明初始值设置模式的处理操作的流程图。

图10是说明频率调整处理的流程图。

图11是说明读出时间调整处理的流程图。

图12(a)是说明检测用频率和第一目标电压的波形图，并且(b)是说明检测用读出时间和第二目标电压的波形图。

具体实施方式

现在将参考附图来说明非接触电力传输装置的一个实施例。

图1是示出非接触电力传输装置(以下称为供电装置)1和电气设备(以下称为设备)E的整体立体图，其中从供电装置1以非接触方式向设备E进行供电。

供电装置1包括呈四边形的大致板状的壳体2。壳体2包括放置设备E的放置面3。放置面3是平面。放置面3例如被划分成多个四边形的供电区域AR。在本实施例中，形成4列(横方向)、6行(纵方向)的24个供电区域AR。

如图2所示，在壳体2内与各供电区域AR相对应的位置配置初级线圈L1。将初级线圈L1缠绕成符合供电区域AR的外形的四边形形状。此外，在壳体2内针对各供电区域AR配置基本供电单元电路4(参考图3)。各供电区域AR的初级线圈L1连接至相应的基本供电单元电路4，并且基于从基本供电单元电路4供给的高频电流形成交变磁场。该高频电流具有预定频率(例如，供电时为供电用谐振频率fp)。

现在将参考图3来说明供电装置1和设备E的电气结构。

设备E

首先将说明设备E。如图3所示，设备E包括受电电路8和负载Z。受电电路8用作从供电装置1接收二次电力的受电装置。

如图4所示，受电电路8包括整流电路8a和通信电路8b。

整流电路8a连接至设备E的次级侧谐振电路。该次级侧谐振电路是包括次级线圈L2和谐振电容器C2的串联电路。次级线圈L2基于初级线圈L1所形成的交变磁场来生成二次电力并且将该二次电力输出至整流电路8a。该二次电力是次级线圈L2在被初级线圈L1励磁的情况下通过电磁感应所产生的。整流电路8a将该二次电力转换成无纹波的DC(直流)电压。整流电路8a将该DC电压供给至设备E的负载Z。在这种情况下，例如，可以在整流电路8a和负载Z之间配置DC/DC转换器，并且该DC/DC转换器可以将来自整流电路8a的DC电压转换成适用于针对设备E的负载Z的电源的DC电压。

负载Z可以是利用次级线圈L2所生成的二次电力进行驱动的任何装置。例如，负载Z可以是在放置面3上使用并且利用整流电路8a所生成的DC电力进行驱动的装置。可选地，负载Z可以是在放置面3上使用并且利用直接使用二次电力的AC(交流)电源进行驱动的装置。作为另一选择，负载Z可以是利用整流电路8a所生成的DC电力对内置充电电池(2次电池)进行充电的充电装置。

整流电路8a所生成的DC电压还用作通信电路8b的驱动源。在采用上述的DC/DC转换器的情况下，该DC/DC转换器可以将来自整流电路8a的DC电压转换成适用于通信电路8b的电源的DC电压。通信电路8b生成设备认证信号ID和励磁请求信号RQ并将这些信号经由次级线圈L2发送至供电装置1。设备认证信号ID表示设备E是允许接受来自供电装置1的供电的有效设备。励磁请求信号RQ是在请求供电装置1进行供电的情况下发送的。

在例如断开设备E的电源开关并且不驱动负载Z的情况下，通信电路8b不生成设备认证信号ID和励磁请求信号RQ。此外，在例如设备E的微计算机判断为暂停供电的情况下，通信电路8b不生成设备认证信号ID和励磁请求信号RQ。例如，在设备E是笔记本式计算机并且该笔记本以省电模式进行工作的情况下，可将通信电路8b配置为不生成设备认证信号ID和励磁请求信号RQ。

设备认证信号ID和励磁请求信号RQ各自是多位的二值信号。通信电路8b将该二值信号输出至连接谐振电容器C2和整流电路8a的受电线。在将二值信号输出至受电线的情况下，发生与利用供电用谐振频率fp进行励磁驱动的初级线圈L1的电磁感应。这样使流经次级线圈L2的次级电流的振幅根据二值信号而发生改变。

次级电流的振幅变化使穿过次级线圈L2的磁通量发生改变，并且改变后的磁通量通过电磁感应传播至初级线圈L1。这样使流经初级线圈L1的初级电流的振幅发生改变。

更具体地，二值信号(设备认证信号ID和励磁请求信号RQ)对具有供电用谐振频率fp并且流经次级线圈L2的次级电流进行振幅调制。基于振幅调制后的次级电流的磁通量变化传递至初级线圈L1。

供电装置1

现在将说明供电装置1。如图3所示，供电装置1包括共通单元部10和基本单元部20。基本单元部20包括多组(在本实施例中为24组)初级线圈L1、谐振电容器C1和基本供电单元电路4。初级线圈L1和谐振电容器C1构成谐振电路。

共通单元部10包括：电源电路11，用于向基本单元部20供给电源；系统控制部12，用于控制基本单元部20；以及存储器13，用于存储各种数据。

包括整流电路和DC/DC转换器的电源电路11利用整流电路将商用电源电压整流为DC电压，然后利用DC/DC转换器将该DC电压转换成期望的DC电压Vdd。将该DC电压Vdd作为驱动电源供给至系统控制部12、存储器13和基本单元部20。

系统控制部12包括微计算机并且控制基本单元部20。系统控制部12根据微计算机的控制程序来控制24个基本供电单元电路4。

系统控制部12能够采用以下模式进行工作：初始值设置模式，用于进行初始值设置处理；存在检测模式，用于检测在供电区域AR其中之一上是否放置有设备E；以及供电模式，用于进行供电控制。

在初始值设置模式中，系统控制部12设置各基本供电单元电路4在存在检测模式中所使用的检测用频率fs和检测用读出时间ts。检测用频率fs是对初级线圈L1进行励磁的高频电流的频率。检测用读出时间ts在检测流经利用检测用频率fs进行励磁的初级线圈L1的初级电流(励磁电流)时使用。

在存在检测模式中，系统控制部12利用具有检测用频率fs的高频电流经由相应的基本供电单元电路4对各初级线圈L1进行励磁，以从基本供电单元电路4读出与流经初级线圈L1的初级电流相对应的输出电压Vs。该输出电压Vs的读出是基于检测用读出时间ts来进行的。基于从各基本供电单元电路4所获得的输出电压Vs，系统控制部12判断各供电区域AR中是否存在设备E或金属M(参考图1)。因此，系统控制部12用作存在检测电路。此外，在本实施例中，初级线圈L1除用作用于向设备E进行供电的供电线圈外，还用作用于进行诸如设备E或金属M等的物体的存在检测的检测线圈。

在供电模式中，系统控制部12基于存在检测模式中的存在检测结果来将各基本供电单元电路4控制为供电状态或暂停状态。

存储器13是存储系统控制部12在进行各种处理的情况下所使用的数据的非易失性存储器。此外，存储器13包括针对24个供电区域AR各自所分配的多个存储区域。将与各供电区域AR有关的信息存储在相应的存储区域中。

例如，将在初始值设置模式中针对各基本供电单元电路4所设置的检测用频率fs和检测用读出时间ts存储在分配至各供电区域AR(即，基本供电单元电路4)的存储区域中。

系统控制部12控制各基本供电单元电路4和系统控制部12之间的数据的传送。

现在将参考图5来说明各基本供电单元电路4的结构。基本供电单元电路4具有相同的结构。因而，为了简洁，将仅说明一个基本供电单元电路4。

如图5所示，基本供电单元电路4包括半桥电路21、驱动电路22、电流检测电路23、输出检测电路24和信号提取电路25。

半桥电路21

参考图6，可以使用已知的半桥电路作为半桥电路21。半桥电路21包括：分压电路，其包含串联连接的第一电容器Ca和第二电容器Cb；以及驱动电路，其包含串联连接的第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb。在本实施例中，第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb包括N沟道MOSFET。

初级线圈L1和谐振电路C1的串联电路(初级侧谐振电路)连接在第一电容器Ca和第二电容器Cb间的节点N1与第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb间的节点N2之间。

从驱动电路22向第一功率晶体管Qa的栅极端子供给驱动信号PSa。从驱动电路22向第二功率晶体管Qb的栅极端子供给驱动信号PSb。基于驱动信号PSa和PSb来交替地启用和停用第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb。结果，高频电流流经初级线圈L1并且产生交变磁场。

驱动电路22

从系统控制部12向驱动电路22提供励磁控制信号CT。励磁控制信号CT控制对初级线圈L1进行励磁的高频电流的频率。驱动电路22基于励磁控制信号CT生成驱动信号PSa和PSb。

驱动信号PSa和PSb指定没有同时启用第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb的死区时间。生成驱动信号PSb，以使得第二功率晶体管Qb的停用时间和启用时间大致相同。生成驱动信号PSa，以使得第一功率晶体管Qa的启用时间缩短并且其停用时间相应地延长。在本实施例中，半桥电路21和驱动电路22构成振荡电路。

来自系统控制部12的励磁控制信号CT是用于确定对初级线圈L1进行励磁的高频电流的频率的数据信号。

在初始值设置模式中，系统控制部12针对各供电区域AR利用调整频率fx来调整对初级线圈L1进行励磁的高频电流的频率，并且生成与该调整频率fx相对应的励磁控制信号CT。

因此，在初始值设置模式中，系统控制部12向各基本供电单元电路4(驱动电路22)提供用于以根据供电区域AR进行调整后的调整频率fx对初级线圈L1进行励磁的励磁控制信号CT。然后，系统控制部12基于调整频率fx来确定检测用频率fs，并且针对各供电区域AR使对初级线圈L1进行励磁的高频电流的频率最优化。

在存在检测模式中，系统控制部12从存储器13读出针对各基本供电单元电路4所设置的检测用频率fs的数据并且生成与该检测用频率fs相对应的励磁控制信号CT。各基本供电单元电路4以检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁驱动。

因此，在存在检测模式中，系统控制部12向各基本供电单元电路4(驱动电路22)提供用于以针对各供电区域AR最优化的频率(检测用频率fs)对初级线圈L1进行励磁的励磁控制信号CT。

在供电模式中，系统控制部12生成利用具有相同谐振频率(供电用谐振频率fp)的高频电流对各供电区域AR的初级线圈L1进行励磁的励磁控制信号CT。

更具体地，在供电模式中，系统控制部12向各基本供电单元电路4(驱动电路22)提供相同的励磁控制信号CT。

电流检测电路23

配置在初级线圈L1的其中一个端子和半桥电路21(节点N2)之间的电流检测电路23检测流经初级线圈L1的初级电流并且生成电流检测信号SG1。参考图7，在第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb被提供驱动信号PSa和PSb的情况下，电流检测电路23输出电流检测信号SG1。

输出检测电路24

输出检测电路24连接至电流检测电路23。输出检测电路24生成与从电流检测电路23输出的电流检测信号SG1相对应的输出电压Vs。参考图7，输出检测电路24包括包络线检波电路，其中该包络线检波电路对电流检测信号SG1进行检波并且生成包络线波形信号作为输出电压Vs。该包络线波形信号包络电流检测信号SG1的外侧。

此外，输出检测电路24包括AD转换器，其中该AD转换器将作为模拟值所获得的输出电压Vs转换成数字值。该AD转换器响应于来自系统控制部12的采样信号SP来将输出电压Vs的数字值输出至系统控制部12。

系统控制部12控制采样信号SP的输出时间、即从各基本供电单元电路4(输出检测电路24)读出输出电压Vs的时间。系统控制部12在初级线圈L1的励磁之后，将读出输出电压Vs的数字值的时间作为读出时间设置到各基本供电单元电路4。

更具体地，读出时间指定在系统控制部12将励磁控制信号CT输出至基本供电单元电路4(驱动电路22)之后、从基本供电单元电路4(输出检测电路24)读出输出电压Vs(数字值)的时间。

在本实施例中，系统控制部12在初始值设置模式中进行频率调整处理和读出时间调整处理。这里，系统控制部12将读出时间调整处理期间的输出电压Vs的读出时间设置为与频率调整处理期间的输出电压Vs的读出时间不同的值。

详细地，在频率调整处理中，系统控制部12针对各基本供电单元电路4设置相同的读出时间，并且基于相同的读出时间将采样信号SP输出至各基本供电单元电路4。在读出时间调整处理中，系统控制部12针对各基本供电单元电路4利用调整读出时间tx调整输出电压Vs的读出时间，并且基于与各基本供电单元电路4(即，供电区域AR)相对应的调整读出时间tx输出采样信号SP。这样，系统控制部12通过读出时间调整处理将读出时间(调整读出时间tx)调整为适合于各供电区域AR。这样使在存在检测模式中从各基本供电单元电路4读出输出电压Vs的时间最优化。也就是说，针对各供电区域AR使检测用读出时间ts最优化。

因此，在存在检测模式中，在控制各基本供电单元电路4的情况下，系统控制部12从存储器13的相应存储区域中读出针对各基本供电单元电路4(供电区域AR)专门设置的检测用读出时间ts的数据。

然后，系统控制部12基于与基本供电单元电路4相对应的检测用读出时间ts向各基本供电单元电路4(输出检测电路24)提供采样信号SP，以读出输出电压Vs。

信号提取电路25

信号提取电路25连接至电流检测电路23。在以供电用谐振频率fp对初级线圈L1进行励磁驱动期间，经由电流检测电路23向信号提取电路25供给初级线圈L1的初级电流。也就是说，信号提取电路25经由电流检测电路23从放置面3上所放置的设备E的次级线圈L2接收发送信号(振幅调制信号)。

信号提取电路25从所接收到的发送信号中提取设备认证信号ID和励磁请求信号RQ并且将许可信号EN输出至系统控制部12。信号提取电路25在接收到设备认证信号ID和励磁请求信号RQ中的仅一个的情况下或者在没有接收到这两个信号的情况下，不输出许可信号EN。

现在将说明供电装置1的操作。在说明该操作之前，将参考图8来说明存在检测的原理以便于理解该操作。

参考图8，在供电区域AR上没有放置任何物体的情况下，包括初级线圈L1和谐振电容器C1的串联电路的初级侧谐振电路中初级线圈L1相对于频率的输出特性示为第一谐振特性A1。

在将金属M放置在供电区域AR上的情况下，金属M和初级线圈L1之间初级线圈L1相对于频率的输出特性示为第二谐振特性A2。

在将设备E放置在供电区域AR上的情况下，包括次级线圈L2和谐振电容器C2的串联电路的次级侧谐振电路中、初级线圈L1相对于频率的输出特性示为第三谐振特性A3。

关于第一谐振特性A1～第三谐振特性A3，通过预先进行的实验和测试等已知谐振频率按第三谐振特性A3、第一谐振特性A1和第二谐振特性A2的顺序增大。另外，第一谐振特性A1～第三谐振特性A3的频带基于由于第二谐振特性A2和第三谐振特性A3中金属M或设备E而产生的电感的变化，因而彼此非常接近。

参考图8，如果在利用第一谐振特性A1的特定频率fk对初级线圈L1进行励磁的情况下供电区域AR上没有放置任何物体，则初级线圈L1的电感没有发生改变。因而，谐振特性相对于第一谐振特性A1没有发生改变。这里，初级线圈L1相对于特定频率fk的输出是中间值Vmid。

如果在利用第一谐振特性A1的特定频率fk对初级线圈L1进行励磁的情况下供电区域AR上放置有金属M，则初级线圈L1的电感因该金属M而发生改变。因而，谐振特性从第一谐振特性A1转变为第二谐振特性A2。结果，初级线圈L1相对于特定频率fk的输出改变为最大值Vmax。

此外，如果在利用一谐振特性A1的特定频率fk对初级线圈L1进行励磁的情况下供电区域AR上放置有设备E，则初级线圈L1的电感因该设备E而发生改变。因而，谐振特性从第一谐振特性A1转变为第三谐振特性A3。结果，初级线圈L1相对于特定频率fk的输出改变为最小值Vmin。

因此，将第一谐振特性A1的特定频率fk设置为存在检测所用的检测用频率fs并且将其用于对初级线圈L1进行励磁驱动。此外，通过预先掌握初级线圈L1相对于检测用频率fs的输出值，可以检测供电区域AR上是否存在设备E或金属M。

换句话说，为了进行存在检测，在供电区域AR上不存在任何物体的情况下，需要预先从第一谐振特性A1获得检测用频率fs。

这里，将检测用频率fs设置为以下频率：在供电区域AR(初级线圈L1)上放置有设备E的情况下，与设备E的位置或大小等无关地，使初级线圈L1相对于第一谐振特性A1的频率的输出减小。此外，将检测用频率fs设置为以下频率：在供电区域AR(初级线圈L1)上放置有金属M的情况下，与金属M的位置或大小等无关地，使初级线圈L1相对于第一谐振特性A1的频率的输出增大。

此外，单独或与其它初级线圈L1协作对各初级线圈L1进行励磁驱动，以向供电区域AR上所放置的设备E的次级线圈L2进行供电。基本供电单元电路4对初级线圈L1进行励磁驱动并且向设备E进行供电所使用的供电用谐振频率fp是按以下方式设置的。在设备E放置在供电区域AR上的情况下，初级线圈L1和次级线圈L2形成变压器。在该结构中，将供电用谐振频率fp设置为利用设备E的电感成分和电容成分所确定的谐振频率。

这样，在本实施例中，以设备E所确定的供电用谐振频率fp对初级线圈L1进行励磁驱动。这样使得能够在电力损失低的情况下从初级线圈L1向设备E供给电力。

如以下所述设置供电用谐振频率fp和检测用频率fs的间隔。

参考图8，第四谐振特性A4是在供电用谐振频率fp获得最大输出的情况下的谐振特性，并且示出在供电区域AR中放置有设备E的情况下的次级侧谐振电路中初级线圈L1相对于频率的输出特性。

在第四谐振特性中，初级线圈L1相对于检测用频率fs的输出为电压值Vn，其中该电压值Vn小于最小值Vmin并且接近0伏。电压值Vn随着供电用谐振频率fp和检测用频率fs之间的间隔的增大而减小。

最大值Vmax和最小值Vmin之间的差W1大于与第四谐振特性A4的检测用频率fs相对应的电压值Vn和0伏之间的差W2(即，W1>W2)。

因此，即使在以第四谐振特性A4的供电用谐振频率fp对某个供电区域AR的初级线圈L1进行励磁驱动并且进行供电、而利用具有检测用频率fs的高频电流对邻接的供电区域AR的初级线圈L1进行励磁驱动以进行存在检测的情况下，也满足W1>W2的关系。因而，使用检测用频率fs的存在检测操作受到使用供电用谐振频率fp的供电操作的影响不大。

换句话说，将利用设备E的电感成分和电容成分所确定的谐振特性设置为具有图8所示的第四谐振特性A4，以使得供电用谐振频率fp和检测用频率fs的间隔为W1>W2。

在本实施例中，将检测用频率fs设置为约70kHz，并且将供电用谐振频率fp设置为约140kHz。例如在出厂之前、按固定的使用周期或者在对供电装置1的调整开关(未示出)进行操作的情况下，可以调整该检测用频率fs。

初始值设置模式

由于因制造差异而产生的个体差异或随时间经过劣化，因此在各供电区域AR(基本供电单元电路4)中，初级线圈L1的电感和谐振电容器C1的电容未必相同。因而，由初级线圈L1和谐振电容器C1所确定的第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同。

因而，在以相同的检测用频率fs对各初级线圈L1均进行励磁以进行存在检测的情况下，基于检测用频率fs所获得的输出电压Vs针对各供电区域AR而不同。

结果，系统控制部12从各基本供电单元电路4的输出检测电路24无法获得相同的输出电压Vs，并且无法以高精度进行存在检测。因而，为了在所有的供电区域AR(基本供电单元电路4)中维持相同的输出电压Vs并且正确地进行设备E和金属M等物体的存在检测，系统控制部12在初始值设置模式中针对各供电区域AR改变存在检测条件。因此，系统控制部12用作改变物体的存在检测条件的检测条件改变电路。在本实施例中，针对各供电区域AR将检测用频率fs和检测用读出时间ts设置为存在检测条件。

在这种情况下，系统控制部12(检测条件改变电路)用作改变检测用频率fs的检测用频率改变电路。在本实施例中，例如，检测用频率改变电路被配置为从功能上包括频率调整电路、第一比较电路和第一设置电路。频率调整电路使用调整频率fx来调整检测用频率fs。第一比较电路将基于调整频率fx所获得的输出电压Vs与预定目标电压进行比较。第一设置电路基于第一比较电路的比较结果来确定检测用频率fs。

此外，系统控制部12(检测条件改变电路)用作改变检测用读出时间ts的检测用读出时间改变电路。在本实施例中，例如，检测用读出时间改变电路被配置为从功能上包括读出时间调整电路、第二比较电路和第二设置电路。读出时间调整电路使用调整读出时间tx来调整检测用读出时间ts。第二比较电路将基于调整读出时间tx所读出的输出电压Vs与预定目标电压进行比较。第二设置电路基于第二比较电路的比较结果来确定检测用读出时间ts。

在放置面3上的24个供电区域AR中没有放置任何物体的状态下，系统控制部12进行初始值设置模式。例如，在对调整开关(未示出)进行操作并且系统控制部12从调整开关接收到ON(接通)信号的情况下，系统控制部12根据图9所示的流程图进行初始值设置模式。

首先，在步骤S1中，系统控制部12对存储器13中所存储的数据进行初始化以清除针对各基本供电单元电路4所设置的检测用频率fs和检测用读出时间ts。此外，系统控制部12将系统控制部12中所内置的地址计数器CNT的计数值设置为“1”。

在步骤S2中，系统控制部12基于地址计数器CNT的计数值“1”来选择第一个供电区域AR。

在步骤S3中，系统控制部12执行频率调整处理，并且设置第一个供电区域AR中的初级线圈L1所用的检测用频率fs。

频率调整处理

参考图12(a)，在频率调整处理中，系统控制部12确定检测用频率fs、即作为第一目标电压Vp1所获得的频率，其中该第一目标电压Vp1是预先利用在对初级线圈L1进行励磁的情况下输出检测电路24所生成的输出电压Vs而确定的。

第一目标电压Vp1是与第一谐振特性A1的谐振频率fr以外的频率(检测用频率fs)相对应的电压，并且是预先通过实验、测试和计算等获得的。第一目标电压Vp1是从不受噪声等影响并且频率的变化所引起的输出电压的变化小的频率范围中所选择的。

如图12(a)所示，在第一谐振特性A1的谐振频率fr的两侧存在与第一目标电压Vp1相对应的两个频率。在本实施例中，选择谐振频率fr的较高侧的频率作为检测用频率fs。

参考图8，在以第一谐振特性A1的谐振频率fr对初级线圈L1进行励磁的情况下，输出电压Vs为最大值Vmax。然而，在谐振频率fr的附近，略微的频率变化会导致输出电压大幅改变。因而，在谐振频率fr的附近，难以获得不受噪声等影响的稳定的输出电压。考虑到该情况，将检测用频率fs设置为谐振频率fr以外的频率，作为获得不受噪声等影响并且在频率发生改变的情况下不会大幅改变的输出电压所用的频率。

图10是说明频率调整处理的流程图。首先，在步骤S3-1中，系统控制部12设置对第一个供电区域AR(步骤S2中所选择的供电区域AR)的初级线圈L1进行励磁驱动所用的调整频率fx的初始值。调整频率fx的初始值是预先通过实验、测试和计算等获得的，并且被设置为在基于调整频率fx的初始值对初级线圈L1进行励磁驱动的情况下输出电压Vs不会变为第一目标电压Vp1以上的值。

更具体地，第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同。考虑到该情况，将调整频率fx的初始值设置成包括一定余量，以使得在各供电区域AR中基于调整频率fx的初始值所生成的输出电压Vs没有变为第一目标电压Vp1以上。

在步骤S3-2中，系统控制部12向驱动电路22提供具有调整频率fx(这里为初始值)的励磁控制信号CT，并且以调整频率fx对第一个供电区域AR的初级线圈L1进行励磁驱动。

在步骤S3-3中，系统控制部12输出采样信号SP并且从第一个供电区域AR的输出检测电路24获得输出电压Vs。

在频率调整处理中，在其它供电区域AR获得输出电压Vs的情况下，系统控制部12在相同时间输出采样信号SF。换句话说，将频率调整处理中的输出电压Vs的读出时间针对所有供电区域AR均设置为相同的时间。

例如，参考图7，在输出检测电路24所生成的输出电压Vs的波形从不饱和区域Z1改变为饱和区域Z2的情况下，设置频率调整处理中的输出电压Vs的读出时间。详细地，在第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同的情况下、即在电感针对各初级线圈L1而改变并且电容针对各谐振电容器C1而改变的情况下，输出电压Vs的波形改变为饱和区域Z2的时间针对各供电区域AR而不同。考虑到该情况，频率调整处理中的读出时间是预先以具有余量的方式而设置的。这样使得即使在第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同并且在根据调整频率fx所获得的输出电压Vs的波形中产生差异的情况下，也能够精确地检测到输出电压Vs。

在步骤S3-4中，系统控制部12进行比较以判断利用调整频率fx所获得的输出电压Vs是否是第一目标电压Vp1。在输出电压Vs不是第一目标电压Vp1的情况下(步骤S3-4中为“否”)，系统控制部12进入步骤S3-5。

在步骤S3-5中，系统控制部12使当前的调整频率fx下降了预定的单位频率Δf以设置新的调整频率fx，并且返回至步骤S3-2。

然后，系统控制部12以新的调整频率fx再次对第一个供电区域AR的初级线圈L1进行励磁驱动(步骤S3-2)。此外，系统控制部12从第一个供电区域AR的输出检测电路24获得与该新的调整频率fx相对应的输出电压Vs(步骤S3-3)。

系统控制部12再次进行比较以判断与该新的调整频率fx相对应的输出电压Vs是否是第一目标电压Vp1(步骤S3-4)。在输出电压Vs不是第一目标电压Vp1的情况下(步骤S3-4中为“否”)，系统控制部12进入步骤S3-5。然后，系统控制部12进一步使当前的调整频率fx下降了预定的单位频率Δf以设置新的调整频率fx，并且返回至步骤S3-2。

随后，系统控制部12重复步骤S3-2～S3-5的处理，直到与新的调整频率fx相对应的输出电压Vs达到第一目标电压Vp1为止。

在步骤S3-4中，在与新的调整频率fx相对应的输出电压Vs达到第一目标电压Vp1的情况下(步骤S3-4中为“是”)，系统控制部12进入步骤S3-6。

在步骤S3-6中，系统控制部12将当前的调整频率fx作为第一个供电区域AR(基本供电单元电路4)的检测用频率fs存储在存储器13中并且进入接下来的读出时间调整处理(图9的步骤S4)。

在步骤S3-4中，在与当前的调整频率fx相对应的输出电压Vs超过第一目标电压Vp1但在预定容许范围内的情况下，系统控制部12可以进入步骤S3-6。可选地，在与当前的调整频率fx相对应的输出电压Vs超过第一目标电压Vp1并且还超过预定容许范围的情况下，系统控制部12可以进入步骤S3-6并将前一调整频率fx设置为检测用频率fs。

读出时间调整处理

在读出时间调整处理中，系统控制部12以频率调整处理中所设置的检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁驱动。然后，参考图12(b)，系统控制部12获得从初级线圈L1的励磁开始起直到输出检测电路24所获得的输出电压Vs达到预定的第二目标电压Vp2为止的时间。也就是说，系统控制部12获得检测用读出时间ts。

参考图7，第二目标电压Vp2是在输出电压Vs达到饱和区域Z2之前的不饱和区域Z1中所包括的电压。因此，即使在第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同的情况下，随着时间的经过，输出电压Vs也达到第二目标电压Vp2。

换句话说，掌握在各供电区域AR中输出电压Vs达到第二目标电压Vp2的时间，并且使用在该时间从输出检测电路24读出的输出电压Vs作为第二目标电压Vp2。

在先前的频率调整处理中，获得输出第一目标电压Vp1所用的检测用频率fs。然而，在图7所示的输出电压Vs的波形中，不饱和区域Z1到达饱和区域Z2(第一目标电压Vp1)的倾斜度(时间)不同。这是因为第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同、即电感针对各初级线圈L1而改变并且电容针对各谐振电容器C1而改变。在不饱和区域Z1中，差异大。

因此，在第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同的情况下，达到第二目标电压Vp2的时间也针对各供电区域AR而不同。换句话说，通过在各供电区域AR中达到第二目标电压Vp2的时间从输出检测电路24读出输出电压Vs，在所有供电区域AR中，输出电压Vs变为第二目标电压Vp2。第二目标电压Vp2是预先通过测试、实验和计算等所获得的。

图11是说明读出时间调整处理(图9的步骤S4)的流程图。在步骤S4-1中，系统控制部12设置从第一个供电区域AR(步骤S2中所选择的供电区域AR)的输出检测电路24读出输出电压Vs所用的调整读出时间tx的初始值。

调整读出时间tx的初始值是预先通过实验、测试和计算所获得的，并且将其设置为基于调整读出时间tx的初始值从输出检测电路24读出的输出电压Vs没有变为第二目标电压Vp2以上的值。

更具体地，第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同。考虑到该情况，将调整读出时间tx的初始值设置成包括余量，以使得在各供电区域AR中基于调整读出时间tx的初始值所读出的输出电压Vs没有变为第二目标电压Vp2以上。

在步骤S4-2中，系统控制部12向驱动电路22提供具有针对第一个供电区域AR所设置的检测用频率fs的励磁控制信号CT，以检测用频率fs对第一个供电区域AR的初级线圈L1进行励磁驱动。

在步骤S4-3中，系统控制部12基于调整读出时间tx(这里为初始值)输出采样信号SP，并且从第一个供电区域AR的输出检测电路24读出输出电压Vs。也就是说，系统控制部12在以检测用频率fs开始初级线圈L1的励磁驱动之后经过了调整读出时间tx的情况下，从输出检测电路24读出输出电压Vs。

在步骤S4-4中，系统控制部12进行比较以判断在调整读出时间tx所读出的输出电压Vs是否是第二目标电压Vp2。在输出电压Vs不是第二目标电压Vp2的情况下(步骤S4-4中为“否”)，系统控制部12进入步骤S4-5。

在步骤S4-5中，系统控制部12使当前的调整读出时间tx延迟了预定的单位时间Δt以设置新的调整读出时间tx，并且返回至步骤S4-2。

然后，系统控制部12以检测用频率fs再次对第一个供电区域AR的初级线圈L1进行励磁驱动(步骤S4-2)。然后，系统控制部12基于新的调整读出时间tx输出采样信号SP并且再次从第一个供电区域AR的输出检测电路24读出输出电压Vs(步骤S4-3)。

系统控制部12再次进行比较以判断在新的调整读出时间tx所读出的输出电压Vs是否是第二目标电压Vp2(步骤S4-4)。在输出电压Vs不是第二目标电压Vp2的情况下(步骤S4-4中为“否”)，系统控制部12进入步骤S4-5。然后，系统控制部12进一步使当前的调整读出时间tx延迟了预定的单位时间Δt以设置新的调整读出时间tx，并且返回至步骤S4-2。

随后，系统控制部12重复步骤S4-2～S4-4的处理，直到与新的调整读出时间tx相对应的输出电压Vs达到第二目标电压Vp2为止。

在步骤S4-4中，在与调整读出时间tx相对应的输出电压Vs是第二目标电压Vp2的情况下(步骤S4-4中为“是”)，系统控制部12进入步骤S4-6。

在步骤S4-6中，系统控制部12将当前的调整读出时间tx作为第一个供电区域AR(基本供电单元电路4)的检测用读出时间ts存储在存储器13中。然后，系统控制部12结束该读出时间调整处理并且进入图9的步骤S5。

在步骤S4-4中，在与当前的调整读出时间tx相对应的输出电压Vs超过第二目标电压Vp2但在预定容许范围内的情况下，系统控制部12可以进入步骤S4-6。可选地，在与当前的调整读出时间tx相对应的输出电压Vs超过第二目标电压Vp2并且还超过预定容许范围的情况下，系统控制部12可以进入步骤S4-6并将前一调整读出时间tx设置为检测用读出时间ts。

参考图9，在设置针对第一个供电区域AR的检测用频率fs和检测用读出时间ts之后，在步骤S5中，系统控制部12使地址计数器CNT递增并且将地址计数器CNT的计数值改变为“2”。也就是说，系统控制部12指定第二个供电区域AR。

然后，系统控制部12进入步骤S6并且判断地址计数器CNT的计数值是否为“0”。在该时间点时，计数值不为“0”(步骤S6中为“否”)。因而，系统控制部12返回至步骤S2。系统控制部12通过与第一个供电区域AR相同的处理获得针对第二个供电区域AR的检测用频率fs和检测用读出时间ts。

随后，重复步骤S2～S6的处理，以使得针对24个供电区域AR各自设置检测用频率fs和检测用读出时间ts并且将这两者存储在存储器13中。

在将针对24个供电区域AR的检测用频率fs和检测用读出时间ts存储在存储器13中的情况下，在步骤S5中，系统控制部12将地址计数器CNT的计数值即“24”重置为“0”。

在判断为地址计数器CNT的计数值为“0”的情况下(步骤S6中为“是”)，系统控制部12结束针对所有供电区域Ar的检测用频率fs和检测用读出时间ts的设置。也就是说，初始值设置模式完成。

进行初始值设置模式，以使得通过在供电区域AR上没有放置任何物体的状态下以检测用频率fs和检测用读出时间ts控制各个供电区域AR的基本供电单元电路4，各个基本供电单元电路4的输出电压Vs可以具有相同的输出电压Vs即第二目标电压Vp2。

存在检测模式

系统控制部12在固定时间段内顺次重复访问24个供电区域AR的基本供电单元电路4。

首先，系统控制部12向第一个供电区域AR中的基本供电单元电路4的驱动电路22提供励磁控制信号CT并且进行第一个供电区域AR上的物体的存在检测。

更具体地，系统控制部12向驱动电路22提供具有针对第一个供电区域AR所设置的检测用频率fs的励磁控制信号CT。响应于该励磁控制信号CT，驱动电路22以检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁驱动。

然后，系统控制部12输出基于针对第一个供电区域AR所设置的检测用读出时间ts的采样信号SP，并且从第一个供电区域AR的输出检测电路24获得输出电压Vs(数字值)。系统控制部12根据输出电压Vs(数字值)来进行物体的存在检测。该存在检测是通过将输出电压Vs与下侧基准值和上侧基准值这两个基准值进行比较来进行的。在第一个供电区域AR上不存在任何物体的情况下，输出电压Vs是第二目标电压Vp2。在第一个供电区域AR上存在设备E的情况下，输出电压Vs小于第二目标电压Vp2并且还为下侧基准值以下。在第一个供电区域AR上存在金属M的情况下，输出电压Vs大于第二目标电压Vp2并且还为上侧基准值以上。

基于参考图8所述的存在检测的原理，在放置有设备E的情况下，第一谐振特性A1转变为第三谐振特性A3。也就是说，基于检测用频率fs和检测用读出时间ts所获得的输出电压Vs变得低于第二目标电压Vp2。因而，将下侧基准值设置得小于第二目标电压Vp2并且设置为使得能够检测到设备E的值。下侧基准值是预先通过测试等所获得的。

此外，在存在金属M的情况下，第一谐振特性A1转变为第二谐振特性A2。也就是说，基于检测用频率fs和检测用读出时间ts所获得的输出电压Vs变得高于第二目标电压Vp2。因而，将上侧基准值设置得大于第二目标电压Vp2并且设置为使得能够检测到金属M的值。上侧基准值是预先通过测试等所获得的。

因此，在输出电压Vs在下侧基准值和上侧基准值之间的情况下，系统控制部12判断为在供电区域AR上不存在任何物体。

在对第一个供电区域AR进行存在检测之后，系统控制部12对第二个供电区域AR进行存在检测。

在对第二个供电区域AR进行存在检测之前，系统控制部12将第一个供电区域AR的存在检测结果存储在针对第一个供电区域AR所分配的存储器13的存储区域中。

为了判断在第二个供电区域AR上是否存在物体，系统控制部12向第二个供电区域AR的驱动电路22提供具有针对第二个供电区域AR所设置的检测用频率fs的励磁控制信号CT。响应于该励磁控制信号CT，驱动电路22以检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁驱动。

然后，系统控制部12输出基于针对第二个供电区域AR所设置的检测用读出时间ts的采样信号SP，并且从第二个供电区域AR的输出检测电路24获得输出电压Vs(数字值)。

以与第一个供电区域AR相同的方式，系统控制部12基于第二个供电区域AR的输出电压Vs(数字值)来进行存在检测。

系统控制部12将第二个供电区域AR的存在检测结果存储在针对第二个供电区域AR所分配的存储器13的存储区域中。然后，系统控制部12对第三个供电区域AR进行存在检测。

随后，以相同方式对24个供电区域AR顺次进行存在检测。在这24个供电区域AR中的存在检测结束的情况下，系统控制部12再次返回至第一个供电区域AR并且开始第二轮控制。从第二轮控制起，系统控制部12基于存储器13中所存储的存在检测结果来如以下所述选择性地进行存在检测处理和供电处理。

即使针对被判断为没有放置任何物体的供电区域AR，从第二轮控制起，系统控制部12也进行与上述处理相同的存在检测处理。

在判断为供电区域AR上放置有设备E的情况下，从第二轮控制起，系统控制部12对该供电区域AR的基本供电单元电路4进行供电处理(供电模式)。

供电模式

在将表示存在设备E的存在检测结果存储在存储器13中的情况下，系统控制部12向该供电区域AR的驱动电路22提供具有供电用谐振频率fp的励磁控制信号CT。响应于该励磁控制信号CT，驱动电路22以供电用谐振频率fp对初级线圈L1进行励磁驱动。

在以供电用谐振频率fp对初级线圈L1进行励磁的情况下，穿过初级线圈L1的磁通量传播至供电区域AR上所放置的设备E。

结果，在初级线圈L1和供电区域AR上的设备E的次级线圈L2之间发生谐振，并且向设备E进行高效率的供电。设备E的通信电路8b在被供电的情况下进行工作，并且输出二值信号(设备认证信号ID和励磁请求信号RQ)。这样对流经次级线圈L2的供电用谐振频率fp的次级电流进行振幅调制，并且振幅调制后的供电用谐振频率fp的次级电流的磁通量作为发送信号传播至初级线圈L1。

信号提取电路25经由电流检测电路23接收传播至初级线圈L1的发送信号(振幅调制信号)。信号提取电路25判断该发送信号是否包括设备认证信号ID和励磁请求信号RQ。在包括了设备认证信号ID和励磁请求信号RQ的情况下，信号提取电路25向系统控制部12提供许可信号EN。响应于该许可信号EN，系统控制部12将具有供电用谐振频率fp的励磁控制信号CT发送至驱动电路22。响应于该励磁控制信号CT，驱动电路22以供电用谐振频率fp对初级线圈L1进行励磁驱动。因此，在一定时间段内向设备E进行供电。

在该一定时间段结束之后，系统控制部12在继续对初级线圈L1进行励磁驱动并且定期确认来自设备E的设备认证信号ID(许可信号EN)的同时，进入针对下一供电区域AR中的基本供电单元电路4的控制。

在进入针对下一供电区域AR中的基本供电单元电路4的控制之前，关于当前的供电区域AR，系统控制部12将表示在当前的供电区域AR中存在设备E的信息存储在存储器13的相应存储区域中。基于该信息，在下次对当前的供电区域AR进行控制的情况下，系统控制部12向驱动电路22提供具有供电用谐振频率fp的励磁控制信号CT并且继续向供电区域AR上的设备E进行供电。

如果在继续对初级线圈L1进行励磁驱动的情况下设备认证信号ID(许可信号EN)消失，则系统控制部12停止对初级线圈L1进行励磁驱动、即停止供电。

此外，在设备认证信号ID和励磁请求信号RQ的其中一个或这两者不存在的情况下，信号提取电路25不向系统控制部12提供许可信号EN。在这种情况下，系统控制部12不向驱动电路22提供具有供电用谐振频率fp的励磁控制信号CT。结果，驱动电路22停止对初级线圈L1进行励磁驱动、即停止供电。

关于被判断为放置有金属M的供电区域AR，从第二轮控制起，系统控制部12不向驱动电路22提供励磁控制信号CT。也就是说，在存储器13中所存储的存在检测结果表示存在金属M的情况下，系统控制部12使相应的供电区域AR转变为暂停状态。然后，系统控制部12进入针对下一供电区域AR的基本供电单元电路4的控制。

在进入针对下一供电区域AR的基本供电单元电路4的控制之前，系统控制部12将表示在当前的供电区域AR中检测到金属M的信息存储在存储器13的相应存储区域中。这样使系统控制部12准备好进行下一控制。

关于基于检测到表示检测到金属M的信息而转变为暂停状态的供电区域AR，系统控制部12在从最初检测到金属起经过了预定时间之后或者在针对同一供电区域重复预定次数的控制之后，再次进行存在检测模式。

上述实施例具有以下所述的优点。

(1)即使在初级线圈L1的第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同的情况下，系统控制部12也针对各供电区域AR控制基本供电单元电路4的操作，以使得在相同的条件下进行物体(设备E或金属M)的存在检测。

因此，即使在由于制造差异等所引起的个体差异或者随时间经过劣化而导致电感针对各初级线圈L1而改变或者电容针对各谐振电容器C1而改变的情况下、也就是说即使在第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同的情况下，各供电区域AR中的存在检测条件也相同，并且可以精确地进行存在检测。

(2)由于初级线圈L1之间以及谐振电容器C1之间的个体差异等而导致第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同。因而，针对各供电区域AR设置为了进行存在检测而对初级线圈L1进行励磁的检测用频率fs，以使得存在检测时的操作条件相同。因此，即使在第一谐振特性A1针对各供电区域AR而不同的情况下，存在检测条件也针对各供电区域AR相同，并且可以精确地进行存在检测。

另外，针对各供电区域AR设置检测用读出时间ts并且基于检测用读出时间ts读出初级线圈L1的输出电压Vs，以使得存在检测条件更加统一。因此，即使在由于初级线圈L1之间和谐振电容器C1之间的个体差异等而导致第一谐振特性A1针对各供电区域AR不同的情况下，各供电区域AR中的存在检测条件也变得更加统一，并且可以以更高的精度进行存在检测。

(3)将各供电区域AR的第一目标电压Vp1设置为比与第一谐振特性A1的谐振频率fr相对应的电压小的值。在初始值设置模式中，系统控制部12从调整频率fx中减去单位频率Δf以设置新的调整频率fx，并且判断与该新的调整频率fx相对应的输出电压Vs是否符合第一目标电压Vp1(或者在容许范围内)以确定各供电区域AR的检测用频率fs。

这样，仅通过使调整频率fx基于各供电区域AR的第一谐振特性A1单调递减，可以容易地设置适合各供电区域AR的第一谐振特性A1的检测用频率fs。

另外，系统控制部12从调整频率fx中减去单位频率Δf以设置新的调整频率fx，并且使与该新的调整频率fx相对应的输出电压Vs相对于与先前的调整频率fx相对应的输出电压Vs增加，以使得输出电压Vs逐渐接近第一目标电压Vp1。这样，系统控制部12在监视输出电压Vs的增加值的同时更新调整频率fx。因此，限制了各供电区域AR的基本供电单元电路4在不同条件下的操作。这样限制了贯通电流流向第一功率晶体管Qa和第二功率晶体管Qb。

(4)在初始值设置模式中，系统控制部12将单位时间Δt与调整读出时间tx相加以设置新的调整读出时间tx。在基于该新的调整读出时间tx所读出的输出电压Vs达到第二目标电压Vp2的情况下，系统控制部12将该调整读出时间tx设置为检测用读出时间ts。

因此，仅通过使调整读出时间tx基于各供电区域AR的第一谐振特性A1单调递增，可以容易地设置适合各供电区域AR的第一谐振特性A1的检测用读出时间ts。

可以如以下所述对上述实施例进行修改。

·在上述实施例中，系统控制部12在供电装置1出厂之前对调整开关(未示出)进行操作的情况下，进行初始值设置模式。作为代替，例如，系统控制部12可以在对供电装置1的电源开关进行操作的情况下进行初始值设置模式。可选地，系统控制部12可以在从对电源开关(未示出)进行操作以接通供电装置1的电源起经过了预定时间的情况下，进行初始值设置模式。作为另一选择，在接通供电装置1的电源之后，系统控制部12可以定期进行初始值设置模式并且定期更新检测用频率fs和检测用读出时间ts。

结果，例如，在使用环境改变的情况下，设置最佳的检测用频率fs和最佳的检测用读出时间ts。这样维持了精度较高的存在检测。

·在上述实施例中，在基于图9～11所示的流程图进行初始值设置模式的处理的情况下，每当针对各供电区域AR设置检测用频率fs和检测用读出时间ts时，将检测用频率fs和检测用读出时间ts存储在存储器13中。

例如，在已将先前的检测用频率fs和先前的检测用读出时间ts存储在存储器13中的情况下，系统控制部12可以将先前的检测用频率fs和先前的检测用读出时间ts与新的检测用频率fs和新的检测用读出时间ts进行比较。在比较差值(先前结果和新结果之间的差)没有超过预定范围(噪声量)的情况下，系统控制部12代替利用新结果对先前结果(先前检测用频率fs和先前读出时间ts)进行重写，可以利用先前结果进行存在检测。

该预定范围与由于电路操作或电路基板布局等而在基本供电单元电路4中可能产生的噪声量相对应。该噪声量可以是预先获得的。更具体地，在上述比较差值在预先可以假定的噪声量的范围内的情况下，系统控制部12判断为新的检测用频率fs和新的检测用读出时间ts是由于噪声而产生的并且不进行重写。

这样消除了向存储器13的不必要重写并且减少了进行重写的次数。因而，减少了不必要操作，并且由于限制了重写次数因此延长了存储器13的寿命。

·在根据图9～11所示的流程图进行初始值设置模式的处理的情况下，针对各供电区域AR确定检测用频率fs和检测用读出时间ts。

然而，在频率调整处理和读出时间调整处理中，无论调整频率fx和调整读出时间tx的变化有多频繁，检测用频率fs和检测用读出时间ts也可能不被最终确定。在这种情况下，系统控制部12判断为包括供电区域AR中的初级线圈L1和谐振电容器C1的基本供电单元电路4是有缺陷的，并且可以使用该判断结果来进行供电装置1的产品检查。

在这种情况下，例如，在图10的步骤S3-5中所设置的新的调整频率fx达到预定频率的情况下、或者在调整次数(步骤S3-5的重复次数)达到预定次数的情况下，系统控制部12可以停止检测用频率fs的设置。

此外，例如，在图11的步骤S4-5中所设置的新的调整读出时间tx达到预定时间的情况下、或者在调整次数(步骤S4-5的重复次数)达到预定次数的情况下，系统控制部12可以停止检测用读出时间ts的设置。

在这种变形实施例中，在判断为基本供电单元电路4有缺陷的情况下，系统控制部12可以在供电装置1的显示装置(未示出)上显示警告或者显示有缺陷的供电区域AR的编号。

·在上述实施例中，系统控制部12在存在检测模式中使用针对各供电区域AR所设置的检测用读出时间ts作为读出输出电压Vs的时间。作为代替，系统控制部12可以使用检测用读出时间ts作为在以检测用频率fs对初级线圈L1进行连续励磁的情况下的励磁通电时间。在这种情况下，例如，系统控制部12可以通过检测通过在励磁通电时间对初级线圈L1进行励磁所获得的输出电压Vs的峰值来进行存在检测。

·在上述实施例中，如图7所示，在初始值设置模式中所进行的读出时间调整处理中，系统控制部12在固定时间段内从驱动电路22输出驱动信号PSa和PSb，并且通过获取饱和区域Z2中上升的输出电压Vs来获得检测用读出时间ts。作为代替，系统控制部12可以通过例如在驱动信号PSa和PSb的输出时间段内逐渐增加驱动信号PSa和PSb的脉冲数量来控制驱动电路22。在这种情况下，系统控制部12可以将输出电压Vs达到第二目标电压Vp2的情况下的驱动信号PSa和PSb的输出时间段、即驱动电路22的振荡时间段设置为针对各供电区域AR(初级线圈L1)的励磁通电时间。在该结构中，在存在检测模式中，系统控制部12在针对各供电区域AR最优化的励磁通电时间内以检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁。因此，可以获得与上述实施例相同的优点。

·在上述实施例中，系统控制部12在初始值设置模式中进行频率调整处理和读出时间调整处理这两者。作为代替，系统控制部12可以省略读出时间调整处理并且在初始值设置模式中仅进行频率调整处理。在这种情况下，将针对各供电区域AR的检测用频率fs的信息存储在存储器13中，并且省略检测用读出时间ts的信息。此外，在这种情况下，例如，使用上述实施例中的频率调整处理的步骤S3-3中所使用的读出时间作为读出以检测用频率fs进行励磁驱动的初级线圈L1的输出电压Vs的时间(读出时间)。

·在上述实施例中，在初始值设置模式中所进行的频率调整处理中，将以调整频率fx所获得的输出电压Vs的读出时间设置为输出电压Vs的波形改变为饱和区域Z2的时间。

作为代替，可以在输出电压Vs的波形在到达饱和区域Z2之前的不饱和区域Z1内的情况下，设置输出电压Vs的读出时间。以下将本变形实施例中的读出时间称为不饱和区域读出时间。

在电感针对各初级线圈L1发生改变并且电容针对各谐振电容器C1发生改变的情况下，输出电压Vs的不饱和区域Z1中的波形发生改变。这样使到达饱和区域Z2的时间发生改变。因此，不饱和区域读出时间是通过考虑到各供电区域AR的输出电压Vs的波形存在于不饱和区域Z1内的时间预先以具有余量的方式设置的。

在该变形实施例中，系统控制部12在与供电区域AR相对应的不饱和区域读出时间对初级线圈L1的输出电压Vs进行采样并且读出。此外，系统控制部12调整符合第一目标电压Vp1的调整频率fx以获得检测用频率fs。

即使在调整频率fx的变化微小的情况下，不饱和区域Z1中的输出电压Vs也大幅改变。因而，代替第一目标电压Vp1，可以使用具有预定的容许宽度的目标电压范围。在这种情况下，只要在不饱和区域读出时间进行采样的输出电压Vs处于包括第一目标电压Vp1的目标电压范围内即可，可以将此时的调整频率fx设置为检测用频率fs。

然后，在读出时间调整处理中，系统控制部12使用上述处理中所获得的检测用频率fs来获得检测用读出时间ts。在上述实施例中，在步骤S4-1中设置通过实验等预先准备的调整读出时间tx的初始值。作为代替，在本变形实施例中，系统控制部12将不饱和区域读出时间设置为调整读出时间tx的初始值并且基于该不饱和区域读出时间来读出最初的输出电压Vs。

然后，以与上述实施例相同的方式，系统控制部12顺次更新调整读出时间tx，并且将此时读出的输出电压Vs与第二目标电压Vp2进行比较。

因此，将频率调整处理中所使用的不饱和区域读出时间设置为调整读出时间tx的初始值。因此，在从频率调整处理向读出时间调整处理转变时，读出时间具有连续性。

在将不饱和区域读出时间设置为调整读出时间tx的初始值、并且在先前的频率调整处理中代替第一目标电压Vp1而使用预定的目标电压范围的情况下，生成在调整读出时间tx所读出的输出电压Vs作为相比第二目标电压Vp2更大或更小的值。因此，在设置新的调整读出时间tx时，期望系统控制部12相对于当前的调整读出时间tx减去或加上单位时间Δt以使得输出电压Vs接近第二目标电压Vp2。结果，可以以高精度缩小能够读出第二目标电压Vp2的检测用读出时间ts。

这样，使用频率调整处理中所设置的不饱和区域读出时间作为读出时间调整处理中的调整读出时间tx的初始值。因此，在从频率调整处理向读出时间调整处理转变时，维持读出时间的连续性。这样便于进行初始值设置模式中的控制并且缩短了初始值设置模式中的调整处理时间。

在这种情况下还可以省略读出时间调整处理，以使得仅进行频率调整处理。

·在上述实施例中，各供电区域AR中的初级线圈L1之间以及谐振电容器C1之间的个体差异引起输出电压Vs的不饱和区域Z1中的波形的差异。通过关注不饱和区域Z1中的波形的差异，使用检测用频率fs和调整读出时间tx来获得检测用读出时间ts，以使得在读出时间调整处理中各供电区域AR的输出电压Vs全部变为第二目标电压Vp2。

作为代替，例如，系统控制部12可以调整提供至半桥电路21的驱动信号PSa和PSb(脉冲驱动信号)的占空比(即，脉冲宽度)。这样使得即使在输出电压Vs的波形由于供电区域AR中的初级线圈L1之间以及谐振电容器C1之间的个体差异而不同的情况下，也能够检测到相同的输出电压Vs。

例如，系统控制部12使用在上述实施例的频率调整处理中所获得的不饱和区域读出时间来获得针对各供电区域AR的检测用频率fs。然后，系统控制部12以预定的单位占空比来调整驱动各供电区域AR的半桥电路21的驱动信号PSa和PSb的占空比(调整占空比)。例如，系统控制部12向基本供电单元电路4的驱动电路22提供控制调整占空比的励磁控制信号CT。系统控制部12例如基于不饱和区域读出时间来读出使用调整占空比所获得的输出电压Vs以将该输出电压Vs与第二目标电压Vp2进行比较。系统控制部12将检测用占空比设置为在输出电压Vs达到第二目标电压Vp2的情况下所使用的驱动信号PSa和PSb的占空比。系统控制部12针对各供电区域AR获得这种检测用占空比并且将该占空比存储在存储器13的相应存储区域中。在该变形实施例中，系统控制部12(检测条件改变电路)用作检测用占空比改变电路。更具体地，检测用占空比改变电路从功能上包括：占空比调整电路，用于使用调整占空比来调整检测用占空比；比较电路，用于将根据调整占空比和检测用频率fs所获得的输出电压Vs与预定目标电压进行比较；以及设置电路，用于基于比较电路的比较结果来确定检测用占空比。

在存在检测模式中，系统控制部12基于不饱和区域读出时间来读出通过使用与供电区域AR相对应的检测用频率fs和检测用占空比对初级线圈L1进行励磁所获得的输出电压Vs。结果，在存在检测期间，各供电区域AR在相同的条件下进行工作。因此，即使在诸如制造差异等的个体差异或随时间经过劣化导致初级线圈L1的电感或谐振电容器C1的电容发生改变、即导致第一谐振特性A1针对各供电区域AR有所不同的情况下，各供电区域AR中的存在检测条件也相同，并且可以精确地进行存在检测。

系统控制部12在获得针对各供电区域AR的检测用占空比之后，可以进一步进行上述读出时间调整处理。在这种情况下，系统控制部12将通过使用检测用频率fs和检测用占空比对初级线圈L1进行励磁所获得的输出电压Vs与目标电压(可以是第二目标电压Vp2)进行比较，并且将输出电压Vs达到目标电压的情况下所使用的读出时间(即，调整读出时间tx)设置为检测用读出时间ts。

例如，以与上述相同的方式，系统控制部12将不饱和区域读出时间设置为调整读出时间tx的初始值，然后顺次改变调整读出时间tx。然后，系统控制部12将在输出电压Vs达到目标电压的情况下所使用的调整读出时间tx作为检测用读出时间ts存储在存储器13中。

在该变形实施例中，针对各供电区域AR，基于具有检测用占空比的驱动信号PSa和PSb来驱动半桥电路21。利用半桥电路21所生成的检测用频率fs的高频电流对初级线圈L1进行励磁。此外，基于检测用读出时间ts来读出输出电压Vs。这样使得能够以更高的精度进行存在检测。

如上所述，可以定期重复初始值设置模式。在这种情况下，系统控制部12针对各供电区域AR更新存储器13中所存储的检测用占空比。这里，以与上述相同的方式，在更新所要使用的新的检测用占空比与存储器13中所存储的先前的检测用占空比之间的比较差值处于预定范围(噪声量)内的情况下，系统控制部12代替使用新的检测用占空比对存储器13进行重写，可以利用先前的检测用占空比来进行存在检测。

如上所述，这样消除了向存储器13的不必要写入并且减少了进行重写的次数。因而，减少了不必要操作，并且由于限制了重写次数因此延长了存储器13的寿命。

此外，系统控制部12可以调整施加至半桥电路21的DC电压Vdd。这样使得即使在输出电压Vs的波形因各供电区域AR中的初级线圈L1之间以及谐振电容器C1之间的个体差异而有所不同的情况下，也能够检测到相同的输出电压Vs。

例如，系统控制部12使用在上述实施例的频率调整处理中所获得的不饱和区域读出时间来获得针对各供电区域AR的检测用频率fs。然后，系统控制部12以预定的单位DC电压来调整施加至各供电区域AR的半桥电路21的DC电压Vdd(调整DC电压)。系统控制部12例如基于不饱和区域读出时间来读出使用调整DC电压所获得的输出电压Vs，以将该输出电压Vs与第二目标电压Vp2进行比较。系统控制部12将在输出电压Vs达到第二目标电压Vp2的情况下所使用的调整DC电压设置为检测用DC电压。系统控制部12针对各供电区域AR获得这种检测用DC电压并且将该检测用DC电压存储在存储器13的相应存储区域中。在该变形实施例中，系统控制部12(检测条件改变电路)用作检测用DC电压改变电路。更具体地，该检测用DC电压改变电路从功能上包括：DC电压调整电路，用于使用调整DC电压来调整检测用DC电压；比较电路，用于将根据调整DC电压和检测用频率fs所获得的输出电压Vs与预定目标电压进行比较；以及设置电路，用于基于比较电路的比较结果来确定检测用DC电压。

在存在检测模式中，系统控制部12基于不饱和区域读出时间来读出通过使用与供电区域AR相对应的检测用DC电压和检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁所获得的输出电压Vs。结果，在存在检测期间，各供电区域AR在相同的条件下进行工作。因此，即使在诸如制造差异等的个体差异或随时间经过劣化导致初级线圈L1的电感或谐振电容器C1的电容发生改变、即导致第一谐振特性A1针对各供电区域AR有所不同的情况下，各供电区域AR中的存在检测条件也相同，并且可以精确地进行存在检测。

作为用于改变DC电压Vdd(调整DC电压)的部件，例如，可以在电源电路11与各基本供电单元电路4的半桥电路21之间配置诸如降压转换器等的电压转换电路。在该结构中，系统控制部12向各电压转换电路提供电压控制信号并且控制调整DC电压。

在获得针对各供电区域AR的检测用DC电压之后，系统控制部12可以进一步进行上述读出时间调整处理。在这种情况下，系统控制部12将通过使用检测用DC电压和检测用频率fs对初级线圈L1进行励磁所获得的输出电压Vs与目标电压(即，第二目标电压Vp2)进行比较，以将在输出电压Vs达到目标电压的情况下所使用的读出时间(即，调整读出时间tx)设置为检测用读出时间ts。

例如，以与上述相同的方式，系统控制部12将不饱和区域读出时间设置为调整读出时间tx的初始值，然后顺次改变调整读出时间tx。此外，系统控制部12将在输出电压Vs达到目标电压的情况下所使用的调整读出时间tx作为检测用读出时间ts存储至存储器13。

在该变形实施例中，针对各供电区域AR向半桥电路21施加检测用DC电压，并且利用半桥电路21所生成的检测用频率fs的高频电流对初级线圈L1进行励磁。此外，基于检测用读出时间ts来读出输出电压Vs。结果，可以以更高的精度进行存在检测。

如上所述，定期重复初始值设置模式的处理。在这种情况下，系统控制部12针对各供电区域AR更新存储器13中所存储的检测用DC电压。这里，以与上述相同的方式，在更新所要使用的新的检测用DC电压与存储器13中所存储的先前的检测用DC电压之间的比较差值处于预定范围(噪声量)内的情况下，系统控制部12代替使用新的检测用DC电压对存储器13进行重写，可以利用先前的检测用DC电压来进行存在检测。

如上所述，这样消除了向存储器13的不必要写入并且减少了进行重写的次数。因而，减少了不必要操作，并且由于限制了重写次数因此延长了存储器13的寿命。

·在上述实施例中，连接至电流检测电路23的输出检测电路24从电流检测电路23获得流经初级线圈L1的一次电流的电流检测信号SG1。代替电流检测电路23，可以使用电压检测电路来检测初级线圈L1的电压，并且该电压检测电路可以向输出检测电路24提供检测电压。

·在上述实施例中，供电装置1中的供电区域AR(基本供电单元电路4)的数量为24个，但还可以是任何数量。也就是说，供电装置1的放置面1可以仅包括一个供电区域AR。在这种情况下，供电装置1还可以具有高的检测灵敏度以及具有同一标准的存在检测功能。也就是说，多个供电装置1之间的谐振特性的变化减少，并且各供电装置1具有相同的存在检测精度。

·在上述实施例中，初级线圈L1和次级线圈L2的形状为四边形，但不必如此，并且可以具有诸如除四边形以外的多边形或者圆形等的任何其它形状。此外，没有特别限制初级线圈L1和次级线圈L2的大小。例如，初级线圈L1的大小可以不同于次级线圈L2的大小。

·在上述实施例中，各初级线圈L1除用作用于进行存在检测的检测线圈外，还用作用于向设备E进行供电的供电线圈。然而，初级线圈L1可以用作仅用于进行存在检测的检测线圈。换句话说，可以设置单独的供电线圈以向设备E进行供电。

Claims (20)

1.一种非接触电力传输装置，用于使用电磁感应现象对电气设备中所配置的受电装置进行非接触供电，所述非接触电力传输装置包括：

检测线圈；

电容器，其连同所述检测线圈一起构成谐振电路；

振荡电路，其被配置为利用高频电流对所述检测线圈进行励磁，其中所述振荡电路能够生成与进行所述电气设备和金属的存在检测所用的检测用频率相对应的高频电流；

输出检测电路，其被配置为生成与流经所述检测线圈的励磁电流相对应的输出电压；

存在检测电路，其被配置为基于通过利用具有所述检测用频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压，来进行所述电气设备和所述金属的存在检测；以及

检测条件改变电路，其能够执行用以根据所述检测线圈和所述电容器所确定的谐振特性改变所述存在检测电路的检测条件的初始值设置模式。

2.根据权利要求1所述的非接触电力传输装置，其中，

所述检测线圈是初级线圈，以及

所述振荡电路还能够生成与不同于所述检测用频率的供电用谐振频率相对应的高频电流，并且使用电磁感应现象从利用具有所述供电用谐振频率的高频电流进行励磁的所述初级线圈向所述受电装置的次级线圈进行非接触供电。

3.根据权利要求1或2所述的非接触电力传输装置，其中，

还包括放置所述电气设备的放置面，

所述放置面被划分成一个或多个区域，以及

所述检测线圈配置在各区域中。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的非接触电力传输装置，其中，所述检测条件改变电路包括检测用频率改变电路，所述检测用频率改变电路被配置为根据所述谐振特性来改变所述检测用频率。

5.根据权利要求4所述的非接触电力传输装置，其中，所述检测用频率改变电路包括：

频率调整电路，其被配置为向所述振荡电路提供用以对调整所述检测用频率所用的调整频率进行控制的控制信号；

第一比较电路，其被配置为将通过利用所述振荡电路所生成的具有所述调整频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压与第一目标电压进行比较；以及

第一设置电路，其被配置为基于来自所述第一比较电路的比较结果，来将所述输出电压达到所述第一目标电压的情况下所使用的所述调整频率设置成所述检测用频率。

6.根据权利要求5所述的非接触电力传输装置，其中，所述频率调整电路被配置为以使得所述调整频率从比具有所述谐振特性的谐振频率高的频率起逐步下降的方式来改变所述调整频率。

7.根据权利要求5或6所述的非接触电力传输装置，其中，

还包括存储器，所述存储器被配置为存储所述检测用频率，以及

所述检测用频率改变电路被配置为更新所述存储器中所存储的所述检测用频率，其中在更新所要使用的新的检测用频率与所述存储器中所存储的先前的检测用频率的比较差值处于预定范围内的情况下，所述检测用频率改变电路不使用所述新的检测用频率对所述先前的检测用频率进行重写。

8.根据权利要求4至7中任一项所述的非接触电力传输装置，其中，

所述存在检测电路被配置为基于检测用读出时间，来从所述输出检测电路中读出通过利用具有所述检测用频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压，以及

所述检测条件改变电路还包括检测用读出时间改变电路，所述检测用读出时间改变电路被配置为根据所述谐振特性来改变所述检测用读出时间。

9.根据权利要求8所述的非接触电力传输装置，其中，所述检测用读出时间改变电路包括：

读出时间调整电路，其被配置为基于调整所述检测用读出时间所用的调整读出时间来向所述输出检测电路提供采样信号；

第二比较电路，其被配置为响应于所述采样信号来读出通过利用具有所述检测用频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压，并且将所述输出电压与第二目标电压进行比较；以及

第二设置电路，其被配置为基于来自所述第二比较电路的比较结果，来将所述输出电压达到所述第二目标电压的情况下所使用的所述调整读出时间设置成所述检测用读出时间。

10.根据权利要求9所述的非接触电力传输装置，其中，所述读出时间调整电路被配置为以使得所述输出电压逐步接近所述第二目标电压的方式来改变所述调整读出时间。

11.根据权利要求9或10所述的非接触电力传输装置，其中，

还包括存储器，所述存储器被配置为存储所述检测用读出时间，以及

所述检测用读出时间改变电路被配置为更新所述存储器中所存储的所述检测用读出时间，其中在更新所要使用的新的检测用读出时间与所述存储器中所存储的先前的检测用读出时间的比较差值处于预定范围内的情况下，所述检测用读出时间改变电路不使用所述新的检测用读出时间对所述先前的检测用读出时间进行重写。

12.根据权利要求4至7中任一项所述的非接触电力传输装置，其中，

所述存在检测电路被配置为利用与检测用占空比相对应的脉冲驱动信号来对所述振荡电路进行驱动，并且生成具有所述检测用频率的高频电流，以及

所述检测条件改变电路还包括检测用占空比改变电路，所述检测用占空比改变电路根据所述谐振特性来改变所述检测用占空比。

13.根据权利要求12所述的非接触电力传输装置，其中，所述检测用占空比改变电路包括：

占空比调整电路，其被配置为向所述振荡电路提供用以对调整所述检测用占空比所用的调整占空比进行控制的励磁控制信号；

第二比较电路，其被配置为读出通过利用使用所述调整占空比所生成的具有所述检测用频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压，并且将所述输出电压与第二目标电压进行比较；以及

第二设置电路，其被配置为基于来自所述第二比较电路的比较结果，来将所述输出电压达到所述第二目标电压的情况下所使用的所述调整占空比设置成所述检测用占空比。

14.根据权利要求13所述的非接触电力传输装置，其中，所述占空比调整电路被配置为以使得所述输出电压逐步接近所述第二目标电压的方式来改变所述调整占空比。

15.根据权利要求13或14所述的非接触电力传输装置，其中，

还包括存储器，所述存储器被配置为存储所述检测用占空比，以及

所述检测用占空比改变电路被配置为更新所述存储器中所存储的所述检测用占空比，其中在更新所要使用的新的检测用占空比与所述存储器中所存储的先前的检测用占空比的比较差值处于预定范围内的情况下，所述检测用占空比改变电路不使用所述新的检测用占空比对所述先前的检测用占空比进行重写。

16.根据权利要求4至7中任一项所述的非接触电力传输装置，其中，

所述存在检测电路被配置为向所述振荡电路施加检测用直流电压，并且生成具有所述检测用频率的高频电流，以及

所述检测条件改变电路包括检测用直流电压改变电路，所述检测用直流电压改变电路被配置为根据所述谐振特性来改变所述检测用直流电压。

17.根据权利要求16所述的非接触电力传输装置，其中，所述检测用直流电压改变电路包括：

直流电压调整电路，其被配置为对调整所述检测用直流电压所用的调整直流电压进行控制；

第二比较电路，其被配置为读出通过利用使用所述调整直流电压所生成的具有所述检测用频率的高频电流对所述检测线圈进行励磁所获得的所述输出电压，并且将所述输出电压与第二目标电压进行比较；以及

第二设置电路，其被配置为基于来自所述第二比较电路的比较结果，来将所述输出电压达到所述第二目标电压的情况下所使用的所述调整直流电压设置成所述检测用直流电压。

18.根据权利要求17所述的非接触电力传输装置，其中，所述直流电压调整电路被配置为以使得所述输出电压逐步接近所述第二目标电压的方式来改变所述调整直流电压。

19.根据权利要求17或18所述的非接触电力传输装置，其中，

还包括存储器，所述存储器被配置为存储所述检测用直流电压，以及

所述检测用直流电压改变电路被配置为更新所述存储器中所存储的所述检测用直流电压，其中在更新所要使用的新的检测用直流电压与所述存储器中所存储的先前的检测用直流电压的比较差值处于预定范围内的情况下，所述检测用直流电压改变电路不使用所述新的检测用直流电压对所述先前的检测用直流电压进行重写。

20.根据权利要求1至19中任一项所述的非接触电力传输装置，其中，所述存在检测电路被配置为在对所述非接触电力传输装置的电源开关进行操作的情况下、在对不同于所述电源开关的调整开关进行操作的情况下、或者在接通所述非接触电力传输装置的电源后经过预定时间的情况下，进行所述初始值设置模式。