CN105067507B - 一种腐蚀检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种腐蚀检测装置及方法，该装置包括：腐蚀检测模块、复杂可编程逻辑器件CPLD模块以及硫化模块，所述腐蚀检测模块与所述CPLD模块和所述硫化模块连接；其中，所述腐蚀检测模块检测到所述硫化模块被腐蚀时，向所述CPLD模块发送所述硫化模块被腐蚀的电信号；所述CPLD模块根据所述腐蚀检测模块发送的所述电信号生成相应的比特串，并将所述比特串发送给中央处理器CPU，以使所述CPU根据所述比特串确定被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置。本发明能够自动化的进行腐蚀检测并能够准确的判断被腐蚀的腐蚀检测装置在电子设备中的位置，并且，独立与软件判断腐蚀情况，不占用CPU资源，可靠稳定性高。

Description

一种腐蚀检测装置及方法

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种腐蚀检测装置及方法。

背景技术

众所周知，环境对各种电子设备的腐蚀无处不在，当电子设备因为受到环境腐蚀出现大面积故障时，会给用户带来很大的损失。因此，检测环境对电子设备的腐蚀情况，并根据电子设备被腐蚀的情况对电子设备进行维护保养是保证电子设备长期稳定运行的关键。

目前常采用的对电子设备进行腐蚀检测的方案为：

基于印刷板上表面金属抽样腐蚀检测方法，将金属样品固定到印刷板上，随着设备在环境中运行一段时间后，取出金属样品；对金属样品表面的锈蚀区进行着色；采用电子设备检测金属样品上硫化程度，从而判断环境的腐蚀程度。

这种腐蚀检测方案存在以下缺陷：不能自动化确定环境的腐蚀情况，需要通过人工取样才能判断环境的腐蚀情况。

发明内容

本发明提供一种腐蚀检测装置及方法，用于解决现有技术不能自动化确定环境的腐蚀情况，需要通过人工取样才能判断环境的腐蚀情况的问题。

一种腐蚀检测装置，安装于电子设备的不同位置，包括：

腐蚀检测模块、复杂可编程逻辑器件CPLD模块以及硫化模块，所述腐蚀检测模块与所述CPLD模块和所述硫化模块连接；其中，

所述腐蚀检测模块检测到所述硫化模块被腐蚀时，向所述CPLD模块发送所述硫化模块被腐蚀的电信号；

所述CPLD模块根据所述腐蚀检测模块发送的所述电信号生成相应的比特串，并将所述比特串发送给中央处理器CPU，以使所述CPU根据所述比特串确定被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置。

所述装置中，所述硫化模块包括暴露在环境中且无腐蚀防护能力的金属线。

本发明实施例中的金属线可以为铁线、铝线等金属线，当环境的腐蚀情况较严重时，可尽早发现环境的腐蚀情况，以尽早对电子设备进行维护。

所述装置中，所述腐蚀检测模块具体包括：

第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路与所述第二开关电路连接，所述第二开关电路与所述CPLD模块连接，所述金属线的一端与所述第一开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述腐蚀检测模块检测到所述金属线被腐蚀断开时，所述第一开关电路中的第一开关断开，所述第二开关电路中的第二开关导通。

所述装置中，所述第一开关电路具体包括：

第一三极管、第一电阻、第二电阻，其中，所述第一三极 管的基极与所述第一电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端外接第一电源的正极，所述第一三极管的发射极与所述金属线的一端连接，所述第一三极 管的集电极与所述第二电阻的一端连接，所述第二电阻另一端外接第二电源的正极，且所述第一三极管的集电极与所述第二开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述第一电源和第二电源的负极接地。

所述装置中，所述第二开关电路具体包括：

第二三极管、第三电阻、第四电阻、第五电阻，其中，所述第二三极 管的基极与所述第三电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端外接第一开关电路，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第四电阻的一端连接，所述第四电阻的另一端外接第三电源的正极，所述第二三级管的集电极通过所述第五电阻与所述CPLD模块连接。

所述装置中，所述第二开关电路还包括：

第六电阻、第一二极管，所述第二三级管的集电极通过所述第六电阻与所述二级管的正极连接，所述第一二极管的负极外接第四电源的正极。

本发明实施例中，当所述无腐蚀防护能力的金属线被腐蚀断开时，第二三极管的集电极的电平由高跳变为低，此时第一二极管D点亮，从而提示现场维护人员电子设备上的被腐蚀的腐蚀检测装置的在电子设备中的位置，以便现场维护人员能够迅速找到该被腐蚀的腐蚀检测装置。

所述装置中，所述金属线为铜线。

所述装置中，所述硫化模块还包括印刷电路板PCB，所述铜线以由细到粗的蛇形走线方式布局在所述PCB上。

本发明实施例中，铜线由细到粗设计可表示不同的腐蚀程度，通过观察铜线被腐蚀断开的位置，可在一定程度上判断该腐蚀检测装置所处环境的腐蚀情况，其中，铜线越粗的部分越不容易被腐蚀断开，越细的部分越容易被腐蚀断开。蛇形走线的方式可节省PCB电路板，减小PCB电路板的面积

当所述电子设备为机架式交换机，所述腐蚀检测装置安装在机架式交换机的每个槽位上。

进一步地，所述机架式交换机的每个槽位包括出风口、入风口以及风道盲区，所述腐蚀检测装置分别安装在所述出风口、入风口以及风道盲区。

本发明还提供一种腐蚀检测方法，包括：

接收腐蚀检测装置的复杂可编程逻辑器件CPLD模块发送的比特串；

确定所述比特串中的预设比特位的取值与默认值不同时，确定所述腐蚀检测装置被腐蚀；并根据预先设置的比特串与腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系，确定所述被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置。

本发明实施例能够自动化的获知电子设备上被腐蚀的腐蚀检测装置的位置，从而使运维人员根据该位置的腐蚀情况对该电子设备进行维护。

所述方法中，所述电子设备为机架式交换机，所述腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置包括所述腐蚀检测装置在所述机架式交换机中的槽位信息。

所述方法中，所述机架式交换机上的每个槽位的位置信息包括出风口、入风口和风道盲区，则所述腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置还包括所述腐蚀检测装置在所述每个槽位中的位置信息。

利用本发明实施例提供的腐蚀检测装置及方法，具有以下有益效果：检测装置的设计与CPLD模块结合，不同的比特串代表腐蚀检测装置在电子设备中的不同位置信息，从而能够实现自动化的进行腐蚀检测并能够准确的判断被腐蚀的腐蚀检测装置在电子设备中的位置，并且，独立与软件判断腐蚀情况，不占用CPU资源，可靠稳定性高。

附图说明

图1为本发明实施例提供的腐蚀检测装置示意图；

图2为本发明实施例提供的铜线在PCB电路板上的布线方式示意图；

图3为本发明实施例提供的第一开关电路对应的电路示意图；

图4为本发明实施例提供的第二开关电路对应的电路示意图；

图5为本发明实施例提供的另一第二开关电路对应的电路示意图；

图6为本发明实施例提供的腐蚀检测方法流程图；

图7为本发明实施例提供的腐蚀检测装置对应的电路图；

图8为本发明实施例提供的腐蚀检测装置安装在机架式交换机上的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明提供的腐蚀检测装置及方法进行更详细地说明。

如图1所示，为本发明实施例提供的腐蚀检测装置，包括：

腐蚀检测模块100、复杂可编程逻辑器件CPLD模块200以及硫化模块300，所述腐蚀检测模块100与所述CPLD模块200和所述硫化模块300连接；其中，所述腐蚀检测模块100检测到所述硫化模块300被腐蚀时，向所述CPLD模块 200发送所述硫化模块300被腐蚀的电信号；所述CPLD模块200根据所述腐蚀检测模块100发送的所述电信号生成相应的比特串，并将所述比特串发送给中央处理器CPU，以使所述CPU根据所述比特串确定被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置。

具体的，电子设备的不同位置可能会有不同的腐蚀程度，因此优选地，所述腐蚀检测装置设置在电子设备的不同位置。具体的，电子设备的每个位置设置一腐蚀检测装置，从而判断该电子设备的不同位置的腐蚀情况。

其中，预先设置的比特串与腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系，CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)模块针对电子设备的不同位置的腐蚀检测装置生成不同的比特串，即不同的比特串表示不同的电子设备的位置，并根据比特串中预设比特位的值确定该位置的腐蚀检测装置被腐蚀，比如，预设比特位的值为1时，确定腐蚀检测装置未被腐蚀，预设比特位的值为0时，确定腐蚀检测装置已被腐蚀。腐蚀检测装置被腐蚀指腐蚀检测装置中的硫化模块300被腐蚀。

本发明实施例中，硫化模块300无腐蚀防护能力，裸露在环境中，当环境中含硫的化学物质浓度到达一定程度时，会将硫化模块300腐蚀掉。当硫化模块300被腐蚀时，腐蚀检测模块100检测到该硫化模块300被腐蚀掉时，向 CPLD模块200发送相应的该硫化模块300被腐蚀的电信号，CPLD模块200 根据该电信号生成相应的比特串发送给中央处理器CPU。CPU根据收到的比特串判断腐蚀检测装置在电子设备中的位置，从而实现了自动化判断电子设备所处环境的腐蚀情况，并且能够确定电子设备不同位置的腐蚀情况。关于CPU 根据收到的比特串判断腐蚀检测装置在电子设备中的位置的具体实施方式将在下文详细介绍。本发明实施例中硫化模块300主要被环境中的含硫物质腐蚀，也可能被其它物质腐蚀，这里不做限定。

优选地，腐蚀检测装置中的硫化模块300包括暴露在环境中且无腐蚀防护能力的金属线。该金属线可以铁线、铝线等，优选地，该金属线为铜线，当环境的腐蚀情况较严重时，可尽早发现环境的腐蚀情况，以尽早对电子设备进行维护。

具体的，当腐蚀检测模块100检测到该金属线被腐蚀断开时，向CPLD模块200发送相应的电信号。

进一步优选地，所述硫化模块300还包括印刷电路板PCB，如图2所示，所述铜线以由细到粗的蛇形走线方式布局在所述PCB(Printed Circuit Board，印刷电路板)上，图2中的白色线条部分为铜线，黑色部分为PCB电路板。

本发明实施例中，无腐蚀防护能力的铜线上不覆盖绿油，直接裸露在环境中，铜线由细到粗设计可表示不同的腐蚀程度，通过观察铜线被腐蚀断开的位置，可在一定程度上判断该腐蚀检测装置所处环境的腐蚀情况，其中，铜线越粗的部分越不容易被腐蚀断开，越细的部分越容易被腐蚀断开。蛇形走线的方式可节省PCB电路板，减小PCB电路板的面积。

优选地，腐蚀检测模块100具体包括：第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路与所述第二开关电路连接，所述第二开关电路与所述CPLD模块200连接，所述金属线的一端与所述第一开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述腐蚀检测模块100检测到所述金属线被腐蚀断开时，所述第一开关电路中的第一开关断开，所述第二开关电路中的第二开关导通。

具体的，金属线被腐蚀断开时，导致第一开关电路中的第一开关断开，第一开关电路的第一开关断开后，第二开关电路的第二开关导通，从而将金属线被腐蚀的电信号发送给CPLD模块200。第一开关电路中的第一开关以及第二开关电路中的第二开关可以为NPN三极管，还可以为MOS (Metal-Oxide-Semiconductor，金属-氧化物-半导体)管，这里不做限定。

进一步优选地，如图3所示，第一开关电路具体包括：第一三极管Q1、第一电阻R1、第二电阻R2，其中，所述第一三极 管的基极B与所述第一电阻 R1的一端连接，所述第一电阻R1的另一端外接第一电源的正极，所述第一三极管Q1的发射极E与所述金属线的一端连接，所述第一三极 管的集电极C与所述第二电阻R2的一端连接，所述第二电阻R2另一端外接第二电源的正极，且所述第一三极管Q1的集电极C与所述第二开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述第一电源和第二电源的负极接地。

具体的，金属线未被腐蚀的情况下，第一三极管Q1导通，金属线被腐蚀断开时，第一三极管Q1截止。

进一步优选地，如图4所示，第二开关电路具体包括：第二三极管Q2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5，其中，所述第二三极 管的基极B 与所述第三电阻R3的一端连接，所述第三电阻R3的另一端外接第一开关电路，所述第二三极管Q2的发射极E接地，所述第二三极管Q2的集电极C与所述第四电阻R4的一端连接，所述第四电阻R4的另一端外接第三电源的正极，所述第二三级管的集电极C通过所述第五电阻R5与所述CPLD模块200 连接。

具体的，第一开关电路中的第一三极管Q1截止时，第二开关电路中的第二三极管Q2导通，此时第二三极管Q2的集电极C的电平由高(1)跳变为低 (0)，该电平跳变的电信号传输给CPLD模块200，CPLD模块200中与第二开关电路连接的引脚的电信号默认为高电平1，由于该电信号的由高跳变为低，此时CPLD模块200与该第二开关电路连接的引脚对应的比特位由1变为0， CPLD模块200根据变化后的比特位生成与该腐蚀检测装置对应的比特串并发送给中央处理器CPU，以使中央处理器CPU根据该比特串确定该被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置，具体的，不同的比特串标识被腐蚀的腐蚀检测装置在电子设备中的不同位置。

第一开关电路和第二开关电路中的三极管还可以替换为MOS管，或其他与三极管功能类似的元件。

具体的，如图5所示，第二开关电路还包括：第六电阻R6、第一二极管D，所述第二三级管Q2的集电极C通过所述第六电阻R6与所述二级管的正极连接，所述第一二极管D的负极外接第四电源的正极。

当所述无腐蚀防护能力的金属线被腐蚀断开时，第二三极管Q2的集电极 C的电平由高跳变为低，此时第一二极管D点亮，从而提示现场维护人员电子设备上的被腐蚀的腐蚀检测装置的在电子设备中的位置，以便现场维护人员能够迅速找到该被腐蚀的腐蚀检测装置。

上述各实施例中，第一电源等于12V，第二电源等于12V，第三电源等于 3.3V，第四电源等于3.3V。

当所述电子设备为机架式交换机时，腐蚀检测装置安装在机架式交换机的每个槽位上，机架式交换机包括：多个业务模块、一个主管理模块和一个从管理模块，每个模块对应一个槽位，优选地，每个模块所在的槽位上设置至少一个腐蚀检测装置，即每个模块对应至少一个腐蚀检测装置。所述二级管设置在每个业务模块和管理模块的面板上，以便维护人员观察第一二极管D的开关状态，其中，管理模块(包括主从管理模块)用于管理所有的业务模块，优选地，管理模块面板上设置一第二二极管，该第二二极管分别与各业务模块和管理模块上的腐蚀检测装置中的第二三极管Q2的集电极C连接，这样当业务模块和管理模块中任一腐蚀检测装置被腐蚀时，管理模块面板上的第二二极管都会被点亮，这样维护人员可先通过观察管理模块面板上的第二二极管的开关状态来确定机架式交换机中的腐蚀检测装置是否被腐蚀。

机架式交换机的每个槽位包括：出风口、入风口以及风道盲区，则所述腐蚀检测装置分别安装在每个槽位的出风口、入风口以及风道盲区。一个机架式交换机的不同位置的腐蚀情况可能不同，这样可以方便检测机架式交换机的不同位置的腐蚀情况，从而能够根据腐蚀情况对机架式交换机进行维护，保证机架式交换机的正常使用。

优选地，腐蚀检测装置为扣板式设计，从而方便腐蚀检测装置的安装和拆卸，可移植性好。

本发明实施例还提供一种腐蚀检测方法，如图6所示，包括：

步骤101，接收腐蚀检测装置的CPLD模块发送的比特串。

步骤102，确定所述比特串中的预设比特位的取值与默认值不同时，确定所述腐蚀检测装置被腐蚀。

具体的，预设比特位的默认值为高电平1，当预设比特位的取值变为低电平0时，确定预设比特位与默认值不同。

步骤103，根据预先设置的比特串与所述腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系，确定所述被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置。

具体的，预先设置的比特串与腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系并保存该对应关系，CPU接收到CPLD模块发送的比特串后，查找该对应关系中该比特串对应的位置，并将查找到的位置通知给用户，从而使用户获知电子设备上被腐蚀的腐蚀检测装置的位置，从而根据该位置的腐蚀情况对该电子设备进行维护，本发明实施例能够自动化进行腐蚀检测并能够准确的判断被腐蚀的腐蚀检测装置在电子设备中的位置。

优选地，在确定所述被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置后， CPU发出告警。比如确定腐蚀检测装置被腐蚀时，打印出相应的被腐蚀的腐蚀检测装置的日志，以提醒用户腐蚀检测装置被腐蚀。

具体的，所述电子设备为机架式交换机时，所述腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置包括所述腐蚀检测装置在所述机架式交换机中的槽位信息。机架式交换机包括多个业务模块、一个主管理模块和一个从管理模块，每个模块对应一个槽位信息，假如：主管理模块安装在第12个槽位上。比特串中不同的比特位的取值的组合可表示各槽位信息，比如：比特串中一共有16个比特位，将第11-12个比特位用于表示机架式交换机的主从管理模块所在的槽位信息，第7-10个比特位用于表示各个业务模块所在的槽位信息。

具体的，所述机架式交换机上的每个槽位的位置信息包括出风口、入风口和风道盲区，则所述腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置还包括所述腐蚀检测装置在所述每个槽位中的位置信息。

具体的，比特串中除了预留位、表示管理模块和业务模块所在槽位的比特位，其余比特位用于表示被腐蚀的腐蚀检测装置的位置，该其余比特位的默认比特值均为1，即高电平，该其余比特位中的比特值为1的比特位表示该比特位对应的位置的腐蚀检测装置未被腐蚀，否则，表示该比特位对应的位置的腐蚀检测装置已被腐蚀。比如，比特串中的第1-3个比特位分别表示管理模块所在槽位的风道盲区、入风口和出风口的腐蚀检测装置的腐蚀状态，比如比特位 1-3对应的比特值为101，表示管理模块入风口的腐蚀检测装置被腐蚀，出风口和风道盲区的腐蚀检测装置未被腐蚀；用比特串表示业务模块所在槽位的风道盲区、入风口和出风口的腐蚀检测装置的腐蚀状态与管理模块类似，对应的比特位不同，比如比特串中的第4-6个比特位表示业务模块所在槽位的风道盲区、入风口和出风口的腐蚀检测装置的腐蚀状态。

当电子设备为机架式交换机时，每个业务模块对应一个业务模块CPU，每个管理模块对应一个CPU，管理模块上的腐蚀检测装置生成的比特串可直接发送给管理模块CPU；业务模块上的腐蚀检测装置生成的比特串经业务模块CPU 发送给管理模块CPU，以使管理模块CPU判断被腐蚀的腐蚀检测装置在机架式交换机上的位置，以使管理模块CPU通知维护人员该被腐蚀的腐蚀检测装置的位置；或者，业务模块CPU根据腐蚀检测装置生成的比特串判断被腐蚀的腐蚀检测装置在机架式交换机上的位置，并将该位置发送给管理模块CPU，以使管理模块CPU通知维护人员该被腐蚀的腐蚀检测装置的位置；或者，业务模块CPU根据腐蚀检测装置生成的比特串判断被腐蚀的腐蚀检测装置在机架式交换机上的位置，以使管理模块CPU通知维护人员该被腐蚀的腐蚀检测装置的位置。

本发明实施例中，CPU通过解析CPLD模块发送的比特串确定电子设备中被腐蚀的腐蚀检测装置在电子设备中的位置，实现了自动化判断电子设备所处环境的腐蚀情况，并且能够确定电子设备不同位置的腐蚀情况。

具体的，当电子设备为机架式交换机时，机架式交换机包括多个槽位，机架式交换机的多个业务模块，一个主管理模块和一个从管理模块分别对应一个槽位，预先设置的比特串与所述腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系，如表1所示。

表1

该表中，Bit0表示管理模块所在槽位的风道盲区的腐蚀检测装置的状态， Bit1表示管理模块所在槽位的入风口的腐蚀检测装置的状态，Bit2表示管理模块所在槽位的出风口的腐蚀检测装置的状态；Bit3表示业务模块所在槽位的风道盲区的腐蚀检测装置的状态，Bit4表示业务模块所在槽位的入风口的腐蚀检测装置的状态，Bit5表示业务模块所在槽位的出风口的腐蚀检测装置的状态。

下面结合详细实施例说明本发明提供的腐蚀检测装置及方法的详细实施方式。

以电子设备为机架式交换机为例，如图7为腐蚀检测装置示意图，其中，第一电源和第二电源的电压值分别为12V，第三电源和第四电源的电压值分别为3.3V。

假设该腐蚀检测装置预先安装在管理模块的入风口处，比特串与腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系详见表1。当该腐蚀检测装置中的硫化模块未被腐蚀断开时，第一三级管Q1导通，第二三极管Q2截止，此时第二三极管Q2的集电极C处为高电平信号，此时CPLD模块的电平不会发生跳变；当该腐蚀检测装置中的硫化模块被腐蚀断开时，第一三级管Q1截止，第二三极管Q2导通，此时第二三极管Q2的集电极C处的电平信号由高跳变为低， CPLD模块检测到电平跳变信号时，生成对应的比特串0011010000111101(该比特串从左到右依次为Bit15-bit 0)发送给CPU。

CPU根据预先设置的比特串与腐蚀检测装置的电子设备中的位置的对应关系，确定该被腐蚀的腐蚀检测装置的位置，具体为，CPU首先根据表1中的对应关系，分析接收到的比特串的第一预留比特位和第二预留比特位的值，该比特串中第一预留比特位的值为00第二预留比特位的值为11，说明该比特串来自管理模块；其次，CPU根据该比特串中的管理模块对应的槽位地址分析该比特串来自主管理模块还是从管理模块，该比特串中的管理模块对应的槽位地址为01，因此确定该比特串来自主管理模块；最后，CPU根据管理模块所在槽位的腐蚀检测装置对应的地址，判断被腐蚀的腐蚀检测装置被腐蚀的位置，该比特串中管理模块所在槽位的腐蚀检测装置对应的地址的比特值为101，因此确定主管理模块的入风口的腐蚀检测装置被腐蚀。此时，CPU即可确定机架式交换机的主管理模块的入风口处的腐蚀检测装置被腐蚀。

本发明实施例在实施过程中，确定比特串来自管理模块后，不再分析该比特串中的业务模块对应的比特位，此时，不管业务模块对应的比特位的取值是什么，都不影响对管理模块的腐蚀检测装置的腐蚀检测；同样，确定比特串来自业务模块后，不再分析该比特串中的管理模块对应的比特位，此时，不管管理模块对应的比特位的取值是什么，都不影响对业务模块的腐蚀检测装置的腐蚀检测。本发明实施例中，比特串来自管理模块或者来自业务模块，其中，当第一预留比特位的取值为00时，说明该比特串来自管理模块，当第二预留比特位的取值为00时，说明该比特串来自业务模块，比如，当比特串中 Bit15～Bit12为1100时，该比特串来自业务模块，当比特串中Bit15～Bit12为 0011时，该比特串来自管理模块。

为了便于理解本发明实施例，如图8所示为本发明实施例提供的腐蚀检测装置安装在机架式交换机的管理模块所在槽位的出风口、入风口以及风道盲区，各个业务模块所在槽位的出风口、入风口以及风道盲区的框架示意图。其中，由于机架式交换机上的业务模块和管理模块自身带有CPLD模块，此时，任意一个业务模块或管理模块所在槽位的出风口、入风口以及风道盲区的腐蚀检测装置中的CPLD为该业务模块或管理模块自身带有的CPLD模块，即任意一个业务模块或管理模块所在槽位的出风口、入风口以及风道盲区的腐蚀检测装置中硫化模块与腐蚀检测模块连接，腐蚀检测模块与该业务模块或管理模块自身带有的CPLD模块连接，具体如图8所示，其中，Slot1～Slotn为业务模块所在的槽位对应的编号，M1为主管理模块所在槽位对应的编号，M2为从管理模块所在槽位对应的编号。

利用本发明实施例提供的腐蚀检测装置及方法，具有以下有益效果：检测装置的设计与CPLD模块结合，不同的比特串代表腐蚀检测装置在电子设备中的不同位置信息，从而能够实现自动化的进行腐蚀检测并能够准确的判断被腐蚀的腐蚀检测装置在电子设备中的位置，并且，独立与软件判断腐蚀情况，不占用CPU资源，可靠稳定性高。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和 /或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/ 或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (7)

1.一种腐蚀检测装置，安装于电子设备的不同位置，其特征在于，包括：

腐蚀检测模块、复杂可编程逻辑器件CPLD模块以及硫化模块，所述腐蚀检测模块与所述CPLD模块和所述硫化模块连接；其中，

所述腐蚀检测模块检测到所述硫化模块被腐蚀时，向所述CPLD模块发送所述硫化模块被腐蚀的电信号；

所述CPLD模块根据所述腐蚀检测模块发送的所述电信号生成相应的比特串，并将所述比特串发送给中央处理器CPU，以使所述CPU根据所述比特串确定被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置；

所述硫化模块包括暴露在环境中且无腐蚀防护能力的金属线；

所述腐蚀检测模块具体包括：

第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路与所述第二开关电路连接，所述第二开关电路与所述CPLD模块连接，所述金属线的一端与所述第一开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述腐蚀检测模块检测到所述金属线被腐蚀断开时，所述第一开关电路中的第一开关断开，所述第二开关电路中的第二开关导通；

所述第一开关电路具体包括：

第一三极管、第一电阻、第二电阻，其中，所述第一三极 管的基极与所述第一电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端外接第一电源的正极，所述第一三极管的发射极与所述金属线的一端连接，所述第一三极 管的集电极与所述第二电阻的一端连接，所述第二电阻另一端外接第二电源的正极，且所述第一三极管的集电极与所述第二开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述第一电源和第二电源的负极接地；

所述第二开关电路具体包括：

第二三极管、第三电阻、第四电阻、第五电阻，其中，所述第二三极 管的基极与所述第三电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端外接第一开关电路，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第四电阻的一端连接，所述第四电阻的另一端外接第三电源的正极，所述第二三极管的集电极通过所述第五电阻与所述CPLD模块连接。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第二开关电路还包括：

第六电阻、第一二极管，所述第二三极管的集电极通过所述第六电阻与所述第一 二极管的正极连接，所述第一二极管的负极外接第四电源的正极。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述金属线为铜线；所述硫化模块还包括印刷电路板PCB，所述铜线以由细到粗的蛇形走线方式布局在所述PCB上。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电子设备为机架式交换机，所述腐蚀检测装置安装在机架式交换机的每个槽位上；

所述机架式交换机的每个槽位包括出风口、入风口以及风道盲区，所述腐蚀检测装置分别安装在所述出风口、入风口以及风道盲区。

5.一种腐蚀检测方法，其特征在于，包括：

接收腐蚀检测装置的复杂可编程逻辑器件CPLD模块发送的比特串；

确定所述比特串中的预设比特位的取值与默认值不同时，确定所述腐蚀检测装置被腐蚀；并根据预先设置的比特串与腐蚀检测装置在电子设备中的位置的对应关系，确定所述被腐蚀的腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置；其中，所述腐蚀检测装置包括：腐蚀检测模块、复杂可编程逻辑器件CPLD模块以及硫化模块，所述腐蚀检测模块与所述CPLD模块和所述硫化模块连接；

所述硫化模块包括暴露在环境中且无腐蚀防护能力的金属线；

所述腐蚀检测模块具体包括：

第一开关电路、第二开关电路，所述第一开关电路与所述第二开关电路连接，所述第二开关电路与所述CPLD模块连接，所述金属线的一端与所述第一开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述腐蚀检测模块检测到所述金属线被腐蚀断开时，所述第一开关电路中的第一开关断开，所述第二开关电路中的第二开关导通；

所述第一开关电路具体包括：

第一三极管、第一电阻、第二电阻，其中，所述第一三极 管的基极与所述第一电阻的一端连接，所述第一电阻的另一端外接第一电源的正极，所述第一三极管的发射极与所述金属线的一端连接，所述第一三极 管的集电极与所述第二电阻的一端连接，所述第二电阻另一端外接第二电源的正极，且所述第一三极管的集电极与所述第二开关电路连接，所述金属线的另一端接地，所述第一电源和第二电源的负极接地；

所述第二开关电路具体包括：

第二三极管、第三电阻、第四电阻、第五电阻，其中，所述第二三极 管的基极与所述第三电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端外接第一开关电路，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与所述第四电阻的一端连接，所述第四电阻的另一端外接第三电源的正极，所述第二三极管的集电极通过所述第五电阻与所述CPLD模块连接。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电子设备为机架式交换机，所述腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置包括所述腐蚀检测装置在所述机架式交换机中的槽位信息。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述机架式交换机上的每个槽位的位置信息包括出风口、入风口和风道盲区，则所述腐蚀检测装置在所述电子设备中的位置还包括所述腐蚀检测装置在所述每个槽位中的位置信息。