CN105044473A - 一种emc测试方法 - Google Patents

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张瑜
陈黛文
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Abstract

本发明公开了一种EMC测试方法，首先，将待测试产品设置于测试台上，接通电源；关闭EMC测试屏蔽室的门，保持屏蔽室密闭状态；其次，外部控制器控制测试台匀速顺时针旋转180度，然后逆时针旋转360度；控制测试台继续匀速顺时针旋转180度，回到初始位置停止；然后，间隔5至10秒后，控制测试台逆时针旋转90度，然后顺时针旋转180度；控制测试台继续匀速逆时针旋转90度，回到初始位置停止；最后，间隔5至10秒后，获取信号功率曲线并进行分析。该方法采用先顺时针再逆时针，或者先逆时针再顺时针交替的方式进行旋转测试台，使得测试过程中，信号捕获的充分。

Description

一种EMC测试方法
技术领域
本发明公开了一种EMC测试方法，属于电磁兼容测试设备领域。
背景技术
电磁兼容（EMC）是对电子产品在电磁场方面干扰大小（EMI）和抗干扰能力（EMS）的综合评定，是产品质量最重要的指标之一，电磁兼容的测量由测试场地和测试仪器组成。
测试场地主要包括：开阔场、半电波暗室、屏蔽室。测试设备主要包括：1、电波暗室2、接收机3、接收天线4、人工电源网络、6、转台、升降台7、转台、升降台控制器；其中，转台主要包括一个旋转台面和一个设置于旋转台面上的固定转台，测试时，只需将通电正常工作的产品放在固定转台上，通过旋转转台带动固定转台旋转，使得产品旋转，接收天线接收该工作产品发出的电磁波，进行测试。
这种转台在测试过程中，测试产品的电源均通过外部接入，电源线一般是随意搭放于固定桌面上，当转台旋转时，电源线跟随转台一起旋转，这样就引起以下问题：
（1）电源线裸露在外部，电流大时，可发出传到干扰，使得接收设备接收的电磁波不完全是测试产品发出的电磁波，对测试结果造成偏差。
（2）电源线跟随旋转台旋转，线太长容易造成线混乱，如果被卡住，容易是测试产品电源断开或者将测试产品拖拽到地上，存在安全隐患。
申请号为201310505383.3，申请日为2013年10月24日的发明公开了一种EMC测试台，包括第一台面、第二台面、电机，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与电机的驱动轴连接，所述电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。该装置设置走线槽，使得测试产品的电源线内置，避免安全隐患。走线槽内设置屏蔽层，避免了测试过程中电源线的传导干扰，增加了测试准确性。
上述专利的电源未设置于屏蔽盒中，会产生电源串绕，对信号造成一定的干扰，影响测试结果。
因此，现有测试转台还存在着亟待解决的问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种EMC测试方法，解决了现有技术中EMC测试过程中测试不充分的问题。
为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：
一种EMC测试方法，包括如下步骤：
步骤1、将待测试产品设置于测试台上，接通电源；
步骤2、关闭EMC测试屏蔽室的门，保持屏蔽室密闭状态；
步骤3、外部控制器控制测试台匀速顺时针旋转180度，然后逆时针旋转360度；
步骤4、控制测试台继续匀速顺时针旋转180度，回到初始位置停止；
步骤5、间隔5至10秒后，控制测试台逆时针旋转90度，然后顺时针旋转180度；
步骤6、控制测试台继续匀速逆时针旋转90度，回到初始位置停止；
步骤7、间隔5至10秒后，获取信号功率曲线并进行分析。
所述EMC测试屏蔽室内包括测试台、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述EMC测试屏蔽室外部设置控制器，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。
所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。
所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。
所述外部控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
所述FPGA芯片为Xilinx公司的Spartan-6系列芯片中的一种。
所述FPGA芯片为XC6SLX16。
与现有技术相比，本发明的有益效果为：
1、该方法采用先顺时针再逆时针，或者先逆时针再顺时针交替的方式进行旋转测试台，使得测试过程中，信号捕获的充分。
增加了屏蔽盒，将电源设置于屏蔽盒内，减少电源向外辐射，并设置走线槽，使得测试产品的电源线内置，避免安全隐患。
2、走线槽内设置屏蔽层，避免了测试过程中电源线的传导干扰，增加了测试准确性。
3、固定台面上设置电源输出端口固定装置，方便了测试产品的电源接入。
4、固定台面设置为不同形状，可有针对性的测试不同结构的产品，方便操作。
具体实施方式
下面对本发明的技术方案进行详细说明：
一种EMC测试方法，包括如下步骤：
步骤1、将待测试产品设置于测试台上，接通电源；
步骤2、关闭EMC测试屏蔽室的门，保持屏蔽室密闭状态；
步骤3、外部控制器控制测试台匀速顺时针旋转180度，然后逆时针旋转360度；
步骤4、控制测试台继续匀速顺时针旋转180度，回到初始位置停止；
步骤5、间隔5至10秒后，控制测试台逆时针旋转90度，然后顺时针旋转180度；
步骤6、控制测试台继续匀速逆时针旋转90度，回到初始位置停止；
步骤7、间隔5至10秒后，获取信号功率曲线并进行分析。
所述EMC测试屏蔽室内包括测试台、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述EMC测试屏蔽室外部设置控制器，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。
所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。
所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。
所述外部控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
所述FPGA芯片为Xilinx公司的Spartan-6系列芯片中的一种。
所述FPGA芯片为XC6SLX16。
所述控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片，一种EMC测试系统，包括测试台、控制器、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述控制器设置于EMC测试屏蔽室的外部，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。
所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。
所述第一台面上设置固定装置，用于固定电源输出端口。
所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。
所述走线槽内部设置屏蔽层。
所述屏蔽层为金属网、铝箔纸、金属镀层中的一种。
所述控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
1.Spartan-6FPGA逻辑单元评级充分体现了最新6输入LUT架构所具备的更强大的逻辑单元能力。
2.每个Spartan-6FPGASlice均包含4个LUT和8个触发器。
3.每个DSP48A1Slice内含一个18x18乘法器、一个加法器及一个累加器。
4.BlockRAM大小基本为18Kb。每个模块还可以作为两个独立的9Kb模块使用。
5.每个CMT内含两个DCM和一个PLL。
6.在-3N速度级别下不支持存储器控制器模块。
技术人员可根据涉及输入的需要选择适合项目的具体型号。

Claims (7)

1.一种EMC测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤1、将待测试产品设置于测试台上，接通电源；
步骤2、关闭EMC测试屏蔽室的门，保持屏蔽室密闭状态；
步骤3、外部控制器控制测试台匀速顺时针旋转180度，然后逆时针旋转360度；
步骤4、控制测试台继续匀速顺时针旋转180度，回到初始位置停止；
步骤5、间隔5至10秒后，控制测试台逆时针旋转90度，然后顺时针旋转180度；
步骤6、控制测试台继续匀速逆时针旋转90度，回到初始位置停止；
步骤7、间隔5至10秒后，获取信号功率曲线并进行分析。
2.根据权利要求1所述的EMC测试方法，其特征在于：所述EMC测试屏蔽室内包括测试台、驱动电机、电源、屏蔽盒、信号采集装置，所述EMC测试屏蔽室外部设置控制器，测试台位于屏蔽室的中央，测试台下侧设置屏蔽盒，驱动电机和电源设置于屏蔽盒内，测试产品放置于测试台上，驱动电机驱动测试台旋转，信号采集装置位于测试台前方或上方，用于检测测试产品发出的信号频率及强度，并将检测到的信号发送至外部控制器，外部控制器对接收的信号进行处理，并将处理结果输出。
3.根据权利要求2所述的EMC测试方法，其特征在于：所述测试台包括第一台面、第二台面，所述第二台面水平设置，第一台面平行设置于第二台面上部，所述第二台面通过旋转轴与驱动电机的驱动轴连接，所述驱动电机设置于第二台面下部，所述第一台面中心与第二台面中心分别开孔，两个开孔之间设置走线槽，所述走线槽的两端分别与两个开孔连接。
4.根据权利要求3所述的EMC测试方法，其特征在于：所述第一台面为规则几何形状，所述第二台面为圆形。
5.根据权利要求1所述的EMC测试方法，其特征在于：所述外部控制器的中央处理器为FPGA系列芯片、DSP系列芯片或ARM系列芯片。
6.根据权利要求5所述的EMC测试方法，其特征在于：所述FPGA芯片为Xilinx公司的Spartan-6系列芯片中的一种。
7.根据权利要求6所述的EMC测试方法，其特征在于：所述FPGA芯片为XC6SLX16。
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