CN103487751A - 一种低压大电流旋转试验装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种低压大电流旋转试验装置，其特征在于，包括电波暗室，电波暗室内设有转台，转台上设有绝缘测试桌，被测试品设于绝缘测试桌上，转台中心设有转台中心孔，转台中心孔中设有铜排，铜排一端连接供电设备的供电端，另一端通过软连接线连接被测试品，供电设备设于屏蔽室中。本发明采用低压大电流供电设备放置在转台地下，通过铜排在转台空轴区的可控升降的方式与试品相连，转台旋转正负180°，完全满足辐射发射测试考核试品最大辐射骚扰面的实质要求;同时，定制的中心空轴转台与铜排的整体造价，远小于双层转台造价，在制造成本上有极大优势，同时供电设备的维修也极为便利。

Description

一种低压大电流旋转试验装置

技术领域

本发明涉及一种低压大电流旋转试验装置，用于低压断路器的辐射发射测试。

背景技术

万能式断路器的辐射发射测试依据的最新标准为国标GB14048.2-2008《低压开关设备和控制设备第2部分:断路器》及国际标准IEC60947-2:2006+A1:2009《Low-voltageswitchgearandcontrolgear-Part2:Circuit-breakers》的条款F.5.4。标准要求，进行辐射射频骚扰(30MHz～1GHz)时，应依据图1进行试验布置。

绝大部分的检测机构进行万能式断路器的辐射发射测试时，并不是完全符合标准要求。由于试品应放置在转台上，通过粗软连接线从供电设备处获得低压大电流供电，转台需要转360°，势必会发生粗软接线缠绕，从而容易短路，这样就必然带来了试品旋转时大尺寸的供电设备如何放置的问题。当前主要的几种解决方案为:1)通过经验判断试品的最大骚扰面，直接将最大辐射骚扰面朝向天线测试，即试品与供电设备固定放置在转台上，不进行旋转，缺点:只能凭经验，很难模拟实际情况;2)试品和供电设备同时放置在转台上，忽略供电设备造成的反射影响，进行旋转测试，缺点:由于供电设备自身庞大，除搬运不便外，还会因电磁波反射造成测试数据不精确;3)试品放置在转台上，供电设备放置在转台外，尽量延长软连接部分，在保证软连接线不缠绕的前提下尽可能最大限度地旋转转台，缺点:粗软接线需很长，转台正反转时要做到不相互缠绕不现实;4)使用双层转台方案，试品放置在第一层转台上，供电设备放置在第二层转台上，一同进行旋转测试，这一方案是少有的完全满足标准测试要求的布置，但双层转台的造价非常高，且供电设备维修极为不易，当前国内尚无这一成功方案。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于辐射发射测试场合的低压大电流试验装置，用于如万能式断路器的低压大电流设备的辐射骚扰测试，相对于双层转台方案，以较低的成本实现完全符合标准GB14048.2-2008及IEC60947-2:2006+A1:2009测试要求的配置方案。

为了实现上述目的，本发明提供了一种低压大电流旋转试验装置，其特征在于，包括电波暗室，电波暗室内设有转台，转台上设有绝缘测试桌，被测试品设于绝缘测试桌上，转台中心设有转台中心孔，转台中心孔中设有铜排，铜排一端连接供电设备的供电端，另一端通过软连接线连接被测试品，供电设备设于屏蔽室中。

优选地，所述的供电设备为低压大电流供电设备。

优选地，所述的软连接线为铜编织带。

优选地，所述的电波暗室内还设有接地平板。

优选地，所述的供电设备位于转台的正下方。

优选地，所述的屏蔽室位于地下。

优选地，所述的铜排具有不同大小的接线柱。

优选地，所述的铜排连接可带动铜排作升降运动的升降机构，升降机构由电机18驱动。

更优选地，所述的升降机构固定在三角支架上，三角支架固定于转台基座内侧壁上，电机固定在支架上，支架设于屏蔽室内。

优选地，所述的转台中心孔内设有接口板(CP板)，转台中心孔上设有盖板。

与现有技术相比，本发明的有益效果是:

1、本发明的低压大电流供电设备放置在电波暗室地下的屏蔽室内，避免了供电设备对辐射发射测试的影响;

2、本发明的被测试品通过铜编织带和铜排与地下供电设备相连，铜排处于转台中心位置处，故转台旋转正负180°不会引起缠绕，测试布置完全满足标准要求;

3、本发明的铜排可自动升降，测试时铜排可升至40cm处，再经由相对较短的铜编织带与试品连接，极大地减轻了试验操作人员的工作量和连接负担，缩短了试验布置所费时间;平时升降铜排降至转台中心的接口板下方，然后用盖板盖住，形成完整的模拟开阔场反射面，符合标准场地要求，不影响常规产品试验;

4、大电流供电设备放置在转台正下方，以最短距离实现试品与供电设备的连接，避免了电能功率的大量损耗;

5、铜排具有不同大小的接线柱，更方便不同产品所使用不同接口的可操作性。

6、本发明的可升降装置在不使用情况下用匹配大小的盖板来盖住，防止不慎操作引起的安全事故。以及装置可以远程操控，实时监视。对抗扰度测试其脱扣时间带来极大便利。

7、相对于造价昂贵且供电设备维修不易的双层转台方案，本发明在满足标准测试要求的基础上极大降低了建造成本，同时供电设备放置在地下屏蔽室内，维修极为便利。

附图说明

图1为辐射射频骚扰实验图;

图2为低压大电流旋转试验装置结构示意图;

图3为转台结构示意图;

图4为铜排部分的剖面图。

附图说明:

1-电波暗室，2-被测试品，3-软连接线，4-绝缘测试桌，5-铜排，6-三相大电流供电设备，7-转台，8-屏蔽室，9-接地平板，10-转台中心孔，11-支架，12-三角支架，15-转台基座，16-转台主体，17-铜排，18，电机，21-接收天线，22-天线塔，23-接地平板，24-被测试品，25-软连接线，26-绝缘支架，27-转台，28-吸波材料。

具体实施方式

为使本发明更明显易懂，兹以优选实施例，并配合附图作详细说明如下。

实施例

如图2所示，为低压大电流旋转试验装置结构示意图，所述的低压大电流旋转试验装置，包括电波暗室1，电波暗室1内设有接地平板9以及嵌入接地平板9内的转台7，转台7位于电波暗室1的一侧，转台7上设有绝缘测试桌4，被测试品2设于绝缘测试桌4上，转台7中心设有转台中心孔10，转台中心孔10中设有铜排5，铜排5一端连接低压大电流供电设备6的供电端，另一端通过软连接线3连接被测试品2，低压大电流供电设备6设于屏蔽室8中位于转台7的正下方。屏蔽室8位于地下。所述的软连接线3为铜编织带。

如图3所示，为转台结构示意图，所述的转台7包括转台基座15，转台基座15为正方形固定支架，转台基座15上设有转台主体16，转台主体16中空，由若干均分的扇形结构组成，所述的转台中心孔10位于转台主体16的中间，所述的转台中心孔10内设有接口板(即用于电缆连接的带若干连接器的钢板)，转台中心孔10上设有盖板(即转台中心孔上所盖的钢板)。

如图4所示，为铜排部分的剖面图，所述的铜排共有三个，三个铜排17具有不同大小的接线柱。铜排17连接升降机构，升降机构由电机18驱动以带动铜排17作升降运动，升降机构固定在三角支架12上，三角支架12固定于转台基座15内侧壁上，电机18固定在支架11上，支架11设于屏蔽室8内，电机18连接减速器。

本发明优化设计了电波暗室内的转台和地下低压大电流供电设备的衔接部分，转台中心预留直径50cm的圆柱形空轴区，转台正下方设置用于低压大电流供电设备放置的屏蔽室，供电设备供电端连接到可自动升降的铜排;当电波暗室内进行断路器的辐射发射测试时，控制升降铜排升至超过暗室高架地板约30～40cm处，用铜编织带连接铜排和放置在0.8m高桌子上的被测试品，预留一定长度以保证能够控制转台旋转正负180°;当电波暗室内进行其余无需低压大电流供电的试品测试时，铜排降至转台中心的接口板下方，不影响常规试验。

Claims (10)

1.一种低压大电流旋转试验装置，其特征在于，包括电波暗室(1)，电波暗室(1)内设有转台(7)，转台(7)上设有绝缘测试桌(4)，被测试品(2)设于绝缘测试桌(4)上，转台(7)中心设有转台中心孔(10)，转台中心孔(10)中设有铜排(5)，铜排(5)一端连接供电设备的供电端，另一端通过软连接线(3)连接被测试品(2)，供电设备设于屏蔽室(8)中。

2.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的供电设备为低压大电流供电设备(6)。

3.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的软连接线(3)为铜编织带。

4.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的电波暗室(1)内还设有接地平板(9)。

5.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的供电设备位于转台(7)的正下方。

6.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的屏蔽室(8)位于地下。

7.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的铜排(5)具有不同大小的接线柱。

8.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的铜排(17)连接可带动铜排(47)作升降运动的升降机构，升降机构由电机(18)驱动。

9.如权利要求8所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的升降机构固定在三角支架(12)上，三角支架(12)固定于转台基座(15)内侧壁上，电机(18)固定在支架(11)上，支架(11)设于屏蔽室(8)内。

10.如权利要求1所述的低压大电流旋转试验装置，其特征在于，所述的转台中心孔内设有接口板，转台中心孔上设有盖板。

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