CN104833332A - 物体表面积测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种物体表面积测量方法。该方法包括如下步骤:将质量均匀的覆膜贴覆于物体的被测量表面;取下贴覆于物体表面的覆膜,并确定所取下覆膜的质量;将所取下的覆膜质量与已预先确定的覆膜单位面积的质量的商值,确定为物体的被测量表面的面积。本发明只将覆膜贴覆于物体的表面,然后通过贴覆在物体表面上的覆膜的质量和单位面积的覆膜的质量,即可计算得到物体的表面积,测量方法较为简单,不需要网格的填补,大大地减小了工作量,提高了测量结果的准确性;此外,该方法可以对质量不均一的物体的表面积进行测量,应用范围较广。
Description
技术领域
本发明涉及测量技术领域,具体而言,涉及一种物体表面积测量方法。
背景技术
目前,测量不规则物体表面积的方法主要有割补法、方格法和体积换算法。其中,割补法和方格法需要对不规则物体的表面积的边缘进行填补估算,具体为:测量时,先对不规则物体的表面积进行网格化,然后再对不规则表面积的边缘不足一个网格的位置,用其余网格不足一个网格的位置进行填补,将不规则的图形变成规则的图形,通过计算规则图像的表面积,最后实现对不规则物体的表面积的测量;可以看出,由于割补法和方格法需要对不规则物体的表面积的边缘进行网格的填补,所以使用该方法测量的工作量较大,过程较为繁琐,尤其对于多曲线边弧面的不规则物体,工作量更为巨大,此外,由于对于不规则表面积的边缘不足一个网格的位置,用其余网格不足一个网格的位置进行填补表,所以测量结果的误差也较大。体积换算法主要是针对厚度及密度均一的物体,利用M=ρV,导出S=M/(ρS)进行计算,其中,M为不规则物体的质量,ρ为不规则物体的密度,V为不规则物体的体积,S为不规则物体的表面积;可以看出,体积换算法只能对质量均匀的物体进行测量,无法对厚度与密度不均一的物体的表面积进行测量,使用局限性较大。
发明内容
鉴于此,本发明提出了一种方法简单、应用范围广的测量物体表面积的方法。
一个方面,本发明提出了一种物体表面积测量方法,该方法包括如下步骤:贴覆步骤,将质量均匀的覆膜贴覆于物体的被测表面;质量确定步骤,取下贴覆于所述物体被测表面的覆膜,并确定所取下覆膜的质量;表面积确定步骤,将所取下的覆膜质量与已预先确定的所述覆膜单位面积的质量的商值,确定为所述物体的被测表面的面积。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所述贴覆步骤中的质量均匀的覆膜按如下方法确定:在所述覆膜的相互间隔的不同部分剪裁至少两块测试膜;确定所剪裁的各块测试膜的质量和面积;将各块测试膜的质量和面积的商值确定为所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量,当所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量的差值均满足预设条件时,确定所述覆膜为质量均匀的覆膜。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所述覆膜为防护膜。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所述覆膜为一面设置有粘贴胶的覆膜;所述贴覆步骤进一步为:将所述覆膜带有粘结胶的一面贴覆于物体的整个表面。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所述贴覆步骤进一步为:所述覆膜通过静电接触贴覆于物体的整个表面。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,在所述贴覆步骤之前还包括:清洗步骤,清洗所述物体的被测量表面。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所述表面积确定步骤中,覆膜的单位面积的质量按如下方法进行确定:从所述质量均匀的覆膜上剪裁一块测试膜;确定所剪裁的测试膜的质量和面积;将所剪裁的测试膜的质量和面积的商值确定为所述质量均匀的覆膜的单位面积的质量。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所述表面积确定步骤中,覆膜的单位面积的质量按如下方法进行确定:从所述质量均匀的覆膜上的相互间隔的不同部分剪裁至少两块测试膜;确定所剪裁的各块测试膜的质量和面积;将各块测试膜的质量和面积的商值确定为所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量,并将所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量的均值确定为所述质量均匀的覆膜的单位面积的质量。
进一步地,上述物体表面积测量方法中,所剪裁的测试膜的形状为长方形或正方形。
本发明采用厚度及密度均一的覆膜作为测量材料,将该覆膜贴覆在物体的被测量表面,并将其随形剪下多余部分,然后取下贴覆在物体的被测量表面的覆膜,并称量所取下覆膜的质量,最后通过所取下覆膜的质量和该覆膜单位面积的质量计算出该物体的被测量面的面积。与现有技术中的割补法和方格法相比,本发明只是将覆膜贴覆于物体的表面,然后通过贴覆在物体表面上的覆膜的质量和单位面积的覆膜的质量,计算得到物体的表面积,测量方法较为简单,不需要网格的填补,大大地减小了工作量;另外,由于该方法不需要进行网格的填补,也大大地降低了测量误差,提高了测量结果的准确性;此外,与体积换算法相比,本发明对物体的厚度和密度没有要求,可以对质量不均一的任何物体的表面积进行测量,应用范围较广泛,易于普及和应用。
附图说明
通过阅读下文优选实施方式的详细描述,各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的,而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中,用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中:
图1为本发明实施例提供的物体表面积测量方法的流程图;
图2为本发明实施例提供的物体表面积测量方法中,质量均匀的覆膜确定方法的流程图;
图3为本发明实施例提供的物体表面积测量方法中,覆膜的单位面积的质量的确定方法的流程图;
图4为本发明实施例提供的物体表面积测量方法中,覆膜的单位面积的质量的确定方法的又一流程图;
图5为本发明实施例提供的物体表面积测量方法的又一流程图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例,然而应当理解,可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反,提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开,并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
参见图1,图中示出了本发明实施例提供的物体表面积测量方法的流程图。如图所示,该方法包括如下步骤:
贴覆步骤S1,用质量均匀的覆膜贴覆物体的被测量表面。具体地,先选择厚度和密度均一的覆膜,以保证覆膜的质量均匀;再用所选择的覆膜贴覆物体的被测量表面,然后用剪刀将多余的覆膜随形剪下。具体实施时,覆膜可以为一面设置有粘贴胶的覆膜,用覆膜带有粘结胶的一面贴覆于物体的被测表面;覆膜也可以通过静电接触的方式帖覆在物体的表面。
需要说明的是,本实施例中的质量均匀是指在单位面积的覆膜的质量相同,即覆膜的各个部分的厚度和密度相同。
需要说明的是,覆膜通过粘贴胶贴服在物体表面时,该粘贴胶是能够贴服于物体表面,也比较容易从物体表面取下,并且,该粘贴胶应该尽可能的薄,以减小对测量精度的影响。
质量确定步骤S2,取下贴覆于物体表面的覆膜,并确定所取下覆膜的质量;具体地,取下贴覆于物体表面的覆膜,并且,称量所取下覆膜的质量。
表面积确定步骤S3,将所取下的覆膜质量与已预先确定的该覆膜单位面积的质量的商值,确定为物体的表面积。具体地,用所取下的覆膜的质量,除以已预先确定的该覆膜单位面积的质量,并且将所得商值确定为该物体的被测量表面的面积。
需要说明的是,预先确定的覆膜单位面积的质量的方法多样,例如,对于确定的覆膜,出厂参数中可能已经包括单位面积的质量;如若不包括,也可以通过计算得到,例如对于确定质量和面积的覆膜,用选取的覆膜的质量除以该覆膜的面积,所得的商值即为单位面积覆膜的质量。
需要说明的是,具体实施时,本实施例中的覆膜可以为任何质量均匀的片状结构,例如防护膜等,本发明实施例对覆膜的具体类型不做任何限定。
可以看出,本实施例可以对规则或不规则物体的表面积进行测量。
本发明实施例采用厚度及密度均一的覆膜作为测量材料,将该覆膜贴覆在物体的被测量表面,并将其随形剪下多余部分,然后取下贴覆在物体的被测量表面的覆膜,并称量所取下覆膜的质量,最后通过所取下覆膜的质量和该覆膜单位面积的质量计算出该物体的被测量面的面积。与现有技术中的割补法和方格法相比,本发明实施例只是将覆膜贴覆于物体的表面,然后通过贴覆在物体表面上的覆膜的质量和单位面积的覆膜的质量,计算得到物体的表面积,测量方法较为简单,不需要网格的填补,大大地减小了工作量;另外,由于该方法不需要进行网格的填补,也大大地降低了测量误差,提高了测量结果的准确性;此外,与体积换算法相比,本发明实施例对物体的厚度和密度没有要求,可以对质量不均一的任何物体的表面积进行测量,应用范围较广。
参见图2,上述实施例中,贴覆步骤S1中,按如下方法确定覆膜为质量均匀的覆膜:
步骤S11,在该覆膜的相互间隔的不同部分上剪裁至少两块测试膜;具体地,应在覆膜的相互间隔有一定距离的至少两个位置,分别剪裁一块覆膜作为测试膜,以提高测试的准确性。为了便于面积的计算,所剪裁的覆膜优选为长方形或正方形,当然,也可以为圆形等其他形状。
步骤S12,确定所剪裁的各块测试膜的质量和面积。
步骤S13,将各块测试膜的质量和面积的商值,即用所剪裁的测试膜的质量除以该测试膜的面积,所得商值即为所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量,当所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量的差值均满足预设条件时,确定该覆膜为质量均匀的覆膜。
具体地,在相互之间均间隔有一定距离的三个不同位置,分别剪下一块宽度相同长度相当的测试膜,并算出各块测试膜的面积分别为S1、S2、S3,同时称量各块测试膜的质量分别为M1、M2、M3;其中,计算得到的所剪裁的第一块测试膜的单位面积的质量D1=M1/S1,所剪裁的第二块测试膜的单位面积的质量D2=M2/S3,所剪裁的第三块测试膜的单位面积的质量D3=M3/S3,当D1与D2、D2与D3以及D1与D3之间的差值,均小于等于预设值时,确定该覆膜为质量均匀的覆膜。
需要说明的是,具体实施时预设值可以根据实际需要来确定,本发明实施例对此不做任何限定。预设值的数值越小,覆膜的质量越均匀。
参见图3,在本发明的一种实施方式中,表面积确定步骤S3中的覆膜的单位面积的质量可以按照如下方法确定:
步骤S11,从上述质量均匀的覆膜上剪裁一块测试膜。为了便于面积的计算,所剪裁的测试膜的形状优选为长方形或正方形,当然,具体实施时,所剪裁的测试膜的形状也可以为圆形等其他形状;
步骤S12,确定所剪裁的测试膜的质量和面积。具体地,称量所剪裁的测试膜的质量,并计算所剪裁的长方形或正方形的测试膜的面积;
步骤S13,将所剪裁的测试膜的质量和面积的商值,即所剪裁的测试膜的质量除以该测试膜的面积,所得商值即为上述质量均匀的覆膜的单位面积的质量。
可以看出,该方法较为简单,易于实现。
参见图4,在本发明的又一种实施方式中,表面积确定步骤S3中的覆膜的单位面积的质量可以按照如下方法确定:
步骤S11,从上述质量均匀的覆膜上的相互间隔的不同部分剪裁至少两块测试膜;具体地,应在覆膜的相互间隔有一定距离的至少两个位置,分别剪裁一块覆膜作为测试膜,以提高测试的准确性。为了便于面积的计算,所剪裁的测试膜的形状优选为长方形或正方形,当然,具体实施时,所剪裁的测试膜的形状也可以为圆形等其他形状;
步骤S12,确定所剪裁的各块测试膜的质量和面积;
步骤S13,将各块测试膜的质量和面积的商值,即所剪裁的测试膜的质量除以该测试膜的面积,所得商值即为所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量,并将所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量的均值确定为该质量均匀的覆膜的单位面积的质量。
具体地,在相互之间均间隔有一定距离的三个不同位置,分别剪下一块宽度相同长度相当的测试膜,并算出每块的面积分别为S4、S5、S6,同时每块的质量分别为M4、M5、M6;其中,计算得到的所剪裁的第一块测试膜的单位面积的质量D4=M4/S4,所剪裁的第二块测试膜的单位面积的质量D5=M5/S5,所剪裁的第三块测试膜的单位面积的质量D6=M6/S6;则上述质量均匀的覆膜的单位面积的质量D=(D4+D5+D6)/3。
参见图5,优选地,上述实施例中,在贴覆步骤S1之前还可以包括:清洗步骤S4,清洗该物体的被测量表面,以使覆膜可以更好地与物体表面的贴合。
综上,本发明将物体表面积转换为对覆膜面积的测量,然后利用覆膜的厚度与密度均一性的特点,对覆膜的面积进行计算,进而得到物体的表面积。本发明有效地消除了割补法的误差,减小了工作量,同时不受物体厚度及密度的影响,有效地消除了割补法的误差,减小了工作量,同时不受物体厚度及密度影响,有效地解决了多曲面厚度不均物体表面积的难于测量的问题。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种物体表面积测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
贴覆步骤,将质量均匀的覆膜贴覆于物体的被测表面;
质量确定步骤,取下贴覆于所述物体被测表面的覆膜,并确定所取下覆膜的质量;
表面积确定步骤,将所取下的覆膜质量与已预先确定的所述覆膜单位面积的质量的商值,确定为所述物体的被测表面的面积。
2.根据权利要求1所述的物体表面积测量方法,其特征在于,所述贴覆步骤中的质量均匀的覆膜按如下方法确定:
在所述覆膜的相互间隔的不同部分剪裁至少两块测试膜;
确定所剪裁的各块测试膜的质量和面积;
将各块测试膜的质量和面积的商值确定为所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量,当所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量的差值均满足预设条件时,确定所述覆膜为质量均匀的覆膜。
3.根据权利要求1所述的物体表面积测量方法,其特征在于,所述覆膜为防护膜。
4.根据权利要求1所述的物体表面积测量方法,其特征在于,
所述覆膜为一面设置有粘贴胶的覆膜;
所述贴覆步骤进一步为:所述覆膜带有粘结胶的一面贴覆于物体的整个表面。
5.根据权利要求1所述的物体表面积测量方法,其特征在于,
所述贴覆步骤进一步为:所述覆膜通过静电接触贴覆于物体的整个表面。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的物体表面积测量方法,其特征在于,在所述贴覆步骤之前还包括:
清洗步骤,清洗所述物体的被测量表面。
7.根据权利要求1所述的物体表面积测量方法,其特征在于,所述表面积确定步骤中,覆膜的单位面积的质量按如下方法进行确定:
从所述质量均匀的覆膜上剪裁一块测试膜;
确定所剪裁的测试膜的质量和面积;
将所剪裁的测试膜的质量和面积的商值确定为所述质量均匀的覆膜的单位面积的质量。
8.根据权利要求1所述的物体表面积测量方法,其特征在于,所述表面积确定步骤中,覆膜的单位面积的质量按如下方法进行确定:
从所述质量均匀的覆膜上的相互间隔的不同部分剪裁至少两块测试膜;
确定所剪裁的各块测试膜的质量和面积;
将各块测试膜的质量和面积的商值确定为所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量,并将所剪裁的各块测试膜的单位面积的质量的均值确定为所述质量均匀的覆膜的单位面积的质量。
9.根据权利要求7或权利要求8所述的物体表面积测量方法,其特征在于,所剪裁的覆膜的形状为长方形或正方形。
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