CN104831344A - 一种半导体晶棒的拉晶方法 - Google Patents

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陈磊
刘栓红
赵丽萍
张文涛
蔡水占
郭晶晶
张会超
陈永平
王东胜
惠小青
辛世明
田红丽
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Abstract

本发明涉及半导体生产技术领域,名称是一种半导体晶棒的拉晶方法,晶棒是在拉晶炉中进行的,包括以下步骤:a、将晶棒在280—320℃时进行第一次拉晶;b、将晶棒冷却到30—40℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300—340℃;c、将晶棒冷却到30—40℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是280—320℃,上述的拉晶步骤是在振幅1毫米、频率30赫兹情况下进行的,这样的半导体晶棒的拉晶方法具有生产出的晶棒品质更好,进一步生产的半导体致冷件致冷效率更高的优点。

Description

一种半导体晶棒的拉晶方法
技术领域
本发明涉及半导体生产技术领域,具体地说是涉及半导体晶棒的拉晶方法。
背景技术
晶棒的主要原料是三碲化二铋,这些原料在拉晶管中经过高温形成分子排列整齐的晶棒,在高温下原料的分子重新排列的过程就是拉晶,拉晶后的晶棒进行线切割生成半导体晶粒,然后将晶粒焊接在瓷板上就制造成半导体致冷件。
晶粒排列的整齐程度决定了半导体致冷件的效率,原料分子排列越整齐,半导体致冷件的致冷效率越高,反之,原料分子排列越杂乱,半导体致冷件的致冷效率越低,所以拉晶的效果决定了半导体致冷件的品质。
现有技术中,晶棒是在拉晶炉上进行的,拉晶炉具有加热环,拉晶的温度是280—320℃,并且是一次完成,这样生产出的晶棒具有品质较差的缺点,进一步的影响着半导体致冷件的致冷效率。
发明内容
本发明的目的就是针对上述缺点,提供一种品质更好、生产半导体致冷件致冷效率更高的半导体晶棒的拉晶方法。
本发明的技术方案是这样实现的:一种半导体晶棒的拉晶方法,晶棒是在拉晶炉中进行的,包括以下步骤:
a、将晶棒在280—320℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到30—40℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300—340℃。
进一步地讲,它还包括步骤b之后的下列c步骤:
c、将晶棒冷却到30—40℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是280—320℃。
进一步地讲,上述的拉晶步骤是在振幅1毫米、频率30赫兹情况下进行的。
本发明的有益效果是:这样的半导体晶棒的拉晶方法具有生产出的晶棒品质更好的优点,进一步生产的半导体致冷件致冷效率更高的优点;
将晶棒冷却到30—40℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是280—320℃;以及上述的拉晶步骤是在振幅1毫米、频率30赫兹在情况下进行的,具有更好的效果。
具体实施方式
下面结合实施例对本发明作进一步说明。
半导体致冷件是根据泊尔贴原理制成的,在一定温度下,通过直流电,半导体致冷件一侧致冷(吸热)、一侧致热(放热),在一定的时间内、同一规格的半导体致冷件两侧的温差越多,证明半导体致冷件的效率越高。
实施例1
a、将原晶棒(没有拉过晶的晶棒,下同)在280℃时进行第一次拉晶,制成拉晶棒。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是5.1℃。
实施例2
a、将原晶棒在320℃时进行第一次拉晶,制成拉晶棒。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是5.2℃。
实施例3
a、将原晶棒在280℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到30℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300℃时进行第二次拉晶。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是6.5℃。
实施例4
a、将原晶棒在320℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到40℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是320℃。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是7.0℃。
实施例5
a、将原晶棒在300℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到35℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300℃。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是6.9℃。
实施例6
a、将原晶棒在280℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到30℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300℃;
c、将晶棒冷却到30℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是280℃。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是7.7℃。
实施例7
a、将原晶棒在320℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到40℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是320℃;
c、将晶棒冷却到40℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是320℃。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是7.9℃。
实施例8
a、将原晶棒在300℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到35℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300℃;
c、将晶棒冷却到35℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是300℃。
将此晶棒制成6cm×6cm的致冷件,此致冷件通过12V直流电2分钟,其两侧的温差是8.1℃。
重复上述实施例3—8,拉晶步骤是在振幅1毫米、频率30赫兹在情况下进行的,生产出的晶粒,制成的半导体致冷件在同样型号、电压、时间的情况下,其温差更大,证明在拉晶步骤中,在振动环境中效果更好。

Claims (3)

1.一种半导体晶棒的拉晶方法,晶棒是在拉晶炉中进行的,包括以下步骤:
a、将晶棒在280—320℃时进行第一次拉晶;
b、将晶棒冷却到30—40℃后,进行第二次拉晶,第二次拉晶的温度是300—340℃。
2.根据权利要求1所述的半导体晶棒的拉晶方法,其特征是:它还包括步骤b之后的下列c步骤:
c、将晶棒冷却到30—40℃后,进行第三次拉晶,第三次拉晶的温度是280—320℃时进行第三次拉晶。
3.根据权利要求1或2所述的半导体晶棒的拉晶方法,其特征是:上述的拉晶步骤是在振幅1毫米、频率30赫兹情况下进行的。
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