CN104777541B - 一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下步骤：a、实测红外截止滤光片分光曲线并编号存盘；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实测分光曲线及相应的设计分光曲线，两者对比并判断是否出现通带有曲线凹陷；如果有曲线凹陷，则将红外截止滤光片冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将红外截止滤光片转角30度再次测量分光曲线；c、将两次实测分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷是上移还是下移，上移则表示整体二氧化钛镀厚或整体二氧化硅镀薄，下移则表示整体二氧化硅镀厚或整体二氧化钛镀薄。本发明能够方便且快速地判断是哪种膜料的膜层整体偏厚或者偏薄，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
Description
技术领域
本发明涉及滤光片技术领域，尤其涉及一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法。
背景技术
对于具有摄像功能的手机而言，其镜头模组一般包括有支撑底座、红外截止滤光片、透镜以及摄像头传感器，其中，红外截止滤光片、透镜以及摄像头传感器粘合连接在支撑底座上。
对于红外截止滤光片而言，其由蓝玻璃以及镀覆于蓝玻璃表面的红外截止膜组成；在红外截止膜制作过程中，由于种种原因会造成制造误差，进而造成分光曲线变异并超出技术规格要求而成为不良品；其中，分光曲线变异一般是由膜系中的某些膜层的厚度或折射率偏差而造成的，所以，找到这些导致分光曲线变异的膜层就成为改善的关键。其中，当特定的通带出现曲线凹陷时，大都是由于某种膜料的膜层整体偏厚或者偏薄。
对于现有技术而言，由于红外截止膜层数较多，当出现实镀分光曲线与所设计的分光曲线不符时，难以很快找到原因，有时不得不考虑重新设计新的膜系，或者从设备参数、工艺参数等方面调整，相对把握不大，改善的周期延长，不利于品质改善。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术的不足而提供一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，当通带出现曲线凹陷时，该利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够方便且快速地判断是哪种膜料的膜层整体偏厚或者偏薄，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
为达到上述目的，本发明通过以下技术方案来实现。
一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，包括有以下工艺步骤，具体为：
a、利用分光光度计实际测量红外截止膜的分光曲线，并编号存盘；
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实际测量的分光曲线以及与实际测量的红外截止膜相应的原设计程序，通过比对原设计分光曲线与实际测量的分光曲线，判断是否出现通带有曲线凹陷；如果实际测量的分光曲线确实出现通带有曲线凹陷，则将被测量的红外截止膜冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将被测量的红外截止膜转角30度再次测量分光曲线；
c、利用TPC薄膜膜系设计软件打开第二次实际测量的分光曲线，并将第一次实际测量的分光曲线与第二次实际测量的分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷部分是上移还是下移；如果曲线凹陷部分上移，则确定红外截止膜整体二氧化钛镀厚了或者整体二氧化硅镀薄了；如果曲线凹陷部分下移，则确定红外截止膜整体二氧化硅镀厚了或者整体二氧化钛镀薄了。
本发明的有益效果为：本发明所述的一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下工艺步骤：a、实测红外截止膜分光曲线并编号存盘；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实测分光曲线及相应的设计分光曲线，两者对比并判断是否出现通带有曲线凹陷；如果有曲线凹陷，则将被测量的红外截止膜冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将被测量的红外截止膜转角30度再次测量分光曲线；c、利用TPC薄膜膜系设计软件打开第二次实际测量的分光曲线，并将两次实际测量的分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷部分是上移还是下移；如果曲线凹陷部分上移，则确定红外截止膜整体二氧化钛镀厚了或者整体二氧化硅镀薄了；如果曲线凹陷部分下移，则确定红外截止膜整体二氧化硅镀厚了或者整体二氧化钛镀薄了。通过上述工艺步骤设计，当通带出现曲线凹陷时，本发明所述的利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够方便且快速地判断是哪种膜料的膜层整体偏厚或者偏薄，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
具体实施方式
下面结合具体的实施方式来对本发明进行说明。
一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，包括有以下工艺步骤，具体为：
a、利用分光光度计实际测量红外截止膜的分光曲线，并编号存盘；
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实际测量的分光曲线以及与实际测量的红外截止膜相应的原设计程序，通过比对原设计分光曲线与实际测量的分光曲线，判断是否出现通带有曲线凹陷；如果实际测量的分光曲线确实出现通带有曲线凹陷，则将被测量的红外截止膜冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将被测量的红外截止膜转角30度再次测量分光曲线；
c、利用TPC薄膜膜系设计软件打开第二次实际测量的分光曲线，并将第一次实际测量的分光曲线与第二次实际测量的分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷部分是上移还是下移；如果曲线凹陷部分上移，则确定红外截止膜整体二氧化钛镀厚了或者整体二氧化硅镀薄了；如果曲线凹陷部分下移，则确定红外截止膜整体二氧化硅镀厚了或者整体二氧化钛镀薄了。
综合上述情况可知，通过上述工艺步骤设计，当通带出现曲线凹陷时，本发明所述的利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法能够方便且快速地判断是哪种膜料的膜层整体偏厚或者偏薄，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。
以上内容仅为本发明的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (1)
1.一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其特征在于，包括有以下工艺步骤，具体为：
a、利用分光光度计实际测量红外截止膜的分光曲线，并编号存盘；
b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实际测量的分光曲线以及与实际测量的红外截止膜相应的原设计程序，通过比对原设计分光曲线与实际测量的分光曲线，判断是否出现通带有曲线凹陷；如果实际测量的分光曲线确实出现通带有曲线凹陷，则将被测量的红外截止膜冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将被测量的红外截止膜转角30度再次测量分光曲线；
c、利用TPC薄膜膜系设计软件打开第二次实际测量的分光曲线，并将第一次实际测量的分光曲线与第二次实际测量的分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷部分是上移还是下移；如果曲线凹陷部分上移，则确定红外截止膜整体二氧化钛镀厚了或者整体二氧化硅镀薄了；如果曲线凹陷部分下移，则确定红外截止膜整体二氧化硅镀厚了或者整体二氧化钛镀薄了。
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