CN104729456B - 一种光线入射角度检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及光线传感器，特别涉及一种光线入射角度检测装置及方法。本发明的是通过以下技术方案得以实现的：一种光线入射角度检测方法，包括：（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;（2）沿入射光的投射方向，其中一个光敏器件在另一个光敏器件受光面所在平面形成投影；（3）其中一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态，另一个光敏器件的受光面的实际受光面积随入射光线的角度变化而变化；（4）检测两个光敏器件的电流值；（5）应用公式得出光线入射角度。本发明能简单有效的检测光线入射角度。

Description

一种光线入射角度检测方法
技术领域
本发明涉及光线传感器，特别涉及一种光线入射角度检测装置及方法。
背景技术
现有技术，如申请公布号为CN101074871A的发明专利申请所公开采用PSD的光电倾角测量装置,是一种采用PSD(位置敏感探测器)和半导体激光测量倾角的装置，将分光折转镜组作为固体摆，同时采用PSD作为检测器件，以半导体激光作为检测光源，利用PSD的位置探测功能，最终实现了较大范围在线精确测量倾角,作为一种光电检测装置与计算机技术结合可用于倾角的动态高精度检测。
然而，此种测量装置，型号少，价格贵，大多是用于军用需求，较少考虑民用需求，因此，较难普及。
发明内容
本发明的目的是提供一种光线入射角度检测方法，能简单有效的检测光线入射角度。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种光线入射角度检测方法，包括：
（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;
（2）沿入射光的投射方向，其中一个光敏器件在另一个光敏器件受光面所在平面形成投影；
（3）其中一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态，另一个光敏器件的受光面的实际受光面积随入射光线的角度变化而变化，且使该光敏器件的实际受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
（4）检测两个光敏器件的电流值；
（5）应用公式
当两个光敏器件平行设置，且在垂直于光敏器件受光面方向上，两者不相重叠时，应用公式，如下，
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/（L2+ L1实际）；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度；
当两个光敏器件平行设置，且在垂直于光敏器件受光面方向上，两者存在相重叠区域时，应用公式，如下，
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/[L重叠-（L1-L1实际）]；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度；
当两个光敏器件的受光面相互垂直设置时，应用公式，如下，
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=（L1-L1实际）/ L2；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；L1= L2；
α为入射光线的入射角度。
本发明的另一发明目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体且受光面相互平行的两个光敏器件；且其中一个光敏器件能够对另一个光敏器件的受光面形成遮挡。
作为本发明的优选，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件存在相互重叠的区域。
作为本发明的优选，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件不存在相互重叠的区域。
本发明的另一发明目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体且受光面相互垂直的两个光敏器件；且其中一个光敏器件位于另一个光敏器件的一端。
本发明的另一发明目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体及设于壳体上的三个光敏器件；其中两个所述光敏器件的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件。
本发明的另一发明目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体的至少一个光敏器件、设于所述壳体且用于遮挡所述光敏器件受光面的遮光体。
本发明的另一发明目的在于提供一种光线入射角度检测方法,包括：
（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;
（2）设置遮光体使两个所述光敏器件的受光总面积始终相同，且使单个光敏器件的受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
（3）检测两个光敏器件的电流值；
（4）应用公式
S1实际/S2实际=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2实际；
L1实际+L2实际=L总；
K1=K2；
Tanα=x/（│L总/2-L1实际│）；
S1实际为其中一个光敏器件的当前受光面积，S2实际为另一个光敏器件的当前受光面积；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2实际为入射光线在另一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L总为入射光线在两个光敏器件受光面的总照射长度；
x为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
本发明的另一目的在于提供一种光线入射角度检测方法,包括：
（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;
（2）在其中一个光敏器件正上方设置遮光体，所述遮光体在垂直于该光敏器件受光面方向上正好完全覆盖该遮光体的受光面，且使该光敏器件的实际受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
另一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
（3）检测两个光敏器件的电流值；
（4）应用公式
S1实际/S2 =K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/ L1实际；
S1实际为其中一个光敏器件的当前受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度；
x为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
本发明的另一发明目的在于提供一种光线入射角度检测装置，包括壳体、设于所述壳体且受光面处于同一平面的两个光敏器件、设于所述壳体且位于所述光敏器件上方用于遮挡光线的遮光体。
综上所述，本发明具有以下有益效果：本发明结构简单，易于普及、推广、实施；能有效检测光线入射角度、光敏器件受光面实际光照面积等参数。
附图说明
图1是实施例1示意图；
图2是实施例3示意图；
图3是实施例5示意图；
图4是实施例6示意图；
图5是实施例7示意图；
图6是实施例8示意图；
图7是实施例9示意图；
图中，1、光敏器件，2、壳体，3、遮光体。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。
实施例1：一种光线入射角度检测装置，如图1所示，包括两个光敏器件1，两个光敏器件1的电气参数一致，且两个光敏器件1的受光面面积及形状相同；两个光敏器件1的受光面相互平行，且存在间距；在垂直于光敏器件1受光面的方向上，两个光敏器件1相互重叠。
应用本实施例的光线入射角度检测方法,接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件1受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
首先，检测两个光敏器件的电流值I1及I2；其次，应用公式
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/[L重叠-（L1-L1实际）]；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
从而得出入射角度α。
实施例2：与实施例1的不同之处在于，如图2所示，两个光敏器件1在垂直于受光面的方面上不相互重叠。
应用本实施例的光线入射角度检测方法,接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件1受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
首先，检测两个光敏器件的电流值I1及I2；其次，应用公式
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/（L2+ L1实际）；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度；
从而得出入射角度α。
实施例3：一种光线入射角度检测装置，如图3所示，包括三个光敏器件1；其中两个所述光敏器件1的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件1。
应用本实施例的光线入射角度检测方法,接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件1受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光，本实施例可以检测0-180度范围内的入射光角度。
首先检测三个光敏器件的电流值，I1、I2及I3；其次，应用公式，
参照图3，入射光从左边射入时，
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/[L重叠-（L1-L1实际）]；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度；
从而得出入射角度α。
入射光从右边射入时，入射角度α的得出方式与从左边射入时类似。
实施例4：如图4所示，一种光线入射角度检测装置，包括两个光敏器件1，两个光敏器件1的受光面相互垂直设置，其中一个光敏器件1位于另一个光敏器件1的一端，两个光敏器件1都固定于壳体2，两个光敏器件1的电气参数一致。
应用本实施例的光线入射角度检测方法,接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，位于较上方的光敏器件1受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
首先，检测两个光敏器件1的电流值，I1、I2；其次，应用公式，
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=（L1-L1实际）/ L2；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；L1= L2；
α为入射光线的入射角度。
从而得出入射角度α。
实施例5：一种光线入射角度检测装置，如图5所示，包括壳体2，壳体2上固定有一个光敏器件1，壳体2上还固定有位于光敏器件1上方的遮光体3。
实施例6：如图6所示，一种光线入射角度检测装置，包括两个光敏器件1，两个光敏器件1的电气参数一致，且两个光敏器件1的受光面面积及形状相同；两个光敏器件1受光面处于同一平面，且都固定于壳体2内。
两个光敏器件1的受光面上方设有固定连接于壳体2的遮光体3，在遮光体3的正中间区域开有透光孔31，透光孔31呈矩状；在垂直于光敏器件1受光面的方向上，透光孔31分别在两个光敏器件1受光面的覆盖面积及形状相同。
应用本实施例的光线入射角度检测方法,接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，且入射光由于入射角度变化所形成的轨迹方向平行于其中一个光敏器件1至另一个光敏器件1方向。
首先检测两个光敏器件的电流值，I1及I2；其次，应用公式
S1实际/S2实际=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2实际；
L1实际+L2实际=L总；
K1=K2；
Tanα=x/（│L总/2-L1实际│）；
S1实际为其中一个光敏器件的当前受光面积，S2实际为另一个光敏器件的当前受光面积；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2实际为入射光线在另一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L总为入射光线在两个光敏器件受光面的总照射长度；
x为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
从而得出入射角度α。
实施例7：与实施例6的不同之处在于，在垂直于光敏器件1受光面的方向上，透光孔31分别在两个光敏器件1受光面的覆盖面积不相等，但形状相同。
实施例8：如图7所示，一种光线入射角度检测装置，包括两个光敏器件1，两个光敏器件1的电气参数一致，且两个光敏器件1的受光面面积及形状相同；两个光敏器件1受光面处于同一平面，且都固定于壳体2。
其中一个光敏器件1的正上方设有遮光体3，遮光体3的形状及面积与该光敏器件1受光面的形状及面积相等。
应用本实施例的光线入射角度检测方法,接受光照后，入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面，且入射光由于入射角度变化所形成的轨迹方向平行于其中一个光敏器件1至另一个光敏器件1方向，正上方未设置遮光体3的光敏器件1受光面始终处于完全光照状态，即该受光面的每一个位置都接收到入射光。
首先，检测两个光敏器件的电流值，I1及I2；其次，应用公式
S1实际/S2 =K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/ L1实际；
S1实际为其中一个光敏器件的当前受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，处于完全受光照状态；
x为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
从而得出入射角度α。
实施例9：与实施例8的不同之处在于，遮光体3覆盖至另一个光敏器件1。

Claims (6)

1.一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法，其特征在于，所述光线入射角度检测装置包括壳体、设于所述壳体且受光面相互平行的两个光敏器件；且其中一个光敏器件能够对另一个光敏器件的受光面形成遮挡，该检测装置配合有如下光线入射角度检测方法：首先，检测两个光敏器件的电流值I1及I2；其次，应用公式
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/[L重叠-（L1-L1实际）]；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度，
或者该检测装置配合有如下另一种光线入射角度检测方法：首先，检测两个光敏器件的电流值I1及I2；其次，应用公式
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/（L2+ L1实际）；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度；
从而得出入射角度α。
2.根据权利要求1所述的一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法，其特征在于，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件存在相互重叠的区域。
3.根据权利要求1所述的一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法，其特征在于，在垂直于所述光敏器件受光面方向上，两个所述光敏器件不存在相互重叠的区域。
4.一种利用光线入射角度检测装置检测入射角的方法，其特征在于，所述光线入射角度检测装置包括壳体及设于壳体上的三个光敏器件；其中两个所述光敏器件的受光面处于同一平面，且该两个光敏器件之间上方平行有设置余下的一个所述光敏器件，该检测装置配合有如下光线入射角度检测方法：首先检测三个光敏器件的电流值，I1、I2及I3；其次，应用公式，
S1实际/S2=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/[L重叠-（L1-L1实际）]；
S1实际为其中一个光敏器件的当前实际受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积，该光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的实际照射长度，L1为该光敏器件受光面上的理论照射长度；
L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度，该光敏器件的受光面积始终处于完全受光照状态；
L重叠为两个光敏器件在垂直于光敏器件受光面方向上的重叠长度，且该重叠长度重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
x为两个光敏器件受光面之间的垂直距离；
α为入射光线的入射角度；
从而得出入射角度α。
5.一种光线入射角度检测方法,其特征在于，包括：
（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;
（2）设置遮光体使两个所述光敏器件的受光总面积始终相同，且使单个光敏器件的受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
（3）检测两个光敏器件的电流值；
（4）应用公式
S1实际/S2实际=K1*I1/K2*I2=L1实际/L2实际；
L1实际+L2实际=L总；
K1=K2；
Tanα=x/（│L总/2-L1实际│）；
S1实际为其中一个光敏器件的当前受光面积，S2实际为另一个光敏器件的当前受光面积；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2实际为入射光线在另一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L总为入射光线在两个光敏器件受光面的总照射长度；
x为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
6.一种光线入射角度检测方法,其特征在于，包括：
（1）设置两个光敏器件，假定入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹处于同一平面;
（2）在其中一个光敏器件正上方设置遮光体，所述遮光体在垂直于该光敏器件受光面方向上正好完全覆盖该遮光体的受光面，且使该光敏器件的实际受光面积变化的因素，仅在于入射光线在该光敏器件受光面上的照射长度，且该照射长度所在方向重合或平行于入射光线上任意一点相对于两个所述光敏器件受光面的位置变化所形成的轨迹所在平面；
另一个光敏器件的受光面始终处于完全受光照状态；
（3）检测两个光敏器件的电流值；
（4）应用公式
S1实际/S2 =K1*I1/K2*I2=L1实际/L2；
K1=K2；
Tanα=x/ L1实际；
S1实际为其中一个光敏器件的当前受光面积，S2为另一个光敏器件的受光面积；
K1为其中一个光敏器件的感光系数；K2为另一个光敏器件的感光系数，两个光敏器件的感光系数相同；
L1实际为入射光线在其中一个光敏器件受光面的当前实际照射长度，L2为入射光线在另一个光敏器件受光面的照射长度；
x为遮光体至光敏器件受光面的垂直距离；
α为入射光线的入射角度。
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