CN102721372A - 基于双线阵ccd的带材宽度测量方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法,仿照人类利用两只眼睛感知距离的方法,通过左右两个CCD检测传感器获得带材的两端的视差,就能够获得带材两端点的Y轴坐标;再根据其几何特性,便可获得带材两端点的X轴坐标,将带材的宽度测量问题转化为空间内两点的距离问题,继而得到带材的宽度。本发明还公开了用于实现该方法的测量系统。本发明在测量高速生产线上带材宽度时不受振动干扰,测量精度高。
Description
技术领域
本发明属于机器视觉的非接触测量方法技术领域,具体涉及一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法,还具体涉及基于双线阵CCD的带材宽度测量系统。
背景技术
带材是长宽比很大的成卷供应的带状金属材料。宽度大于600mm的带材,称为宽带材;宽度小于600mm的带材,称为窄带材。随着现代工业的日益发展,带材的宽度测量是现代工业生产中需要解决的重要问题,带材生产过程中的自动化程度不断提高,带材生产中带材宽度的测量,以便提高带材的成材率,稳定产品质量。
在基于机器视觉的非接触测量技术中,比较成熟的应用方案是采用单线阵CCD,原理是光源发出平行的可见光,照向CCD,带材在CCD与光源之间,一部分光源因受到带材边缘的遮挡而未能到达传感器,而其余部分光线就被CCD接收。这样,CCD上图像信息的变化,经过后续信号处理电路,CCD上采集的图像信息就可以准确地反应出带材边缘的位置。然而,此方案不能克服带材的振动对测量的影响。也有采用双CCD相机的测量方法,在带材的两个边缘各安装一个CCD相机,通过标定好的测量系统,计算各边缘在对应的CCD相机中的相对位置变化,实现宽度测量,此方案前期标定过程较烦琐,也不能克服带材的振动对测量的影响。因此,在高速生产线中存在受振动干扰的弊端,已成为制约带材生产相关行业发展的瓶颈。
发明内容
本发明的目的是提供一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法,与现有方法相比,在测量高速生产线上带材宽度时不受振动干扰,测量精度高。
本发明的另一目的是提供一种基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,结构简单,测量精度高。
本发明所采用的技术方案是,一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法,其特征在于,具体步骤如下:
步骤1、在待测量带材的下方设置直线型光源,在待测量带材的上方设置相间隔的左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器,左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器的连线与带材和光源均相平行;其中,左侧CCD检测传感器光学中心为C1,右侧CCD检测传感器光学中心为C2,C1和C2的间距为b,左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器的成像焦距均为f,以C1和C2的连线为X轴方向,以左侧CCD检测传感器的光轴为Y轴方向,建立平面直角坐标系;
步骤2、通过左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器分别获得带材在光源照射下的两个成像平面信息,
步骤3、根据几何特性,分别计算P点在X轴上的坐标x1以及Q点在X轴上的坐标x2;
本发明所采用的另一技术方案是,一种基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,其特征在于,包括设置在待测量带材下方的直线型光源,待测量带材的上方间隔设置有左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器,左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器的连线与带材和光源均相平行,左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器用于获得带材在光源照射下的成像平面信息,左侧CCD检测传感器与第一AD转换器相连接,右侧CCD检测传感器与第二AD转换器相连接,第一AD转换器、第二AD转换器、左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器均与FPGA相连接并受其驱动工作,第一AD转换器和第二AD转换器均通过FPGA与PC机相连接;PC机用于根据带材左端点P点和右端点Q点分别在上述两个成像平面中的位置差异以及几何特性,计算P点和Q点在平面直角坐标系中的坐标,继而计算P点和Q点的空间距离,即为带材的宽度。
左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器均包括相连接的CCD感光元件和光学镜头,光学镜头上均安装有滤光片。
光源是有多个波长为700nm~900nm的红外二极管组成的直线型阵列。
本发明的有益效果是:采用非接触的双目视觉技术,通过建立二维空间坐标系的方法,响应速度快,稳定性好,抗振动干扰能力强,安装、操作简便,易于维护与调试。
附图说明
图1是本发明基于双线阵CCD的带材宽度测量系统的结构框图;
图2是本发明的左侧CCD检测传感器和右侧CCD检测传感器的结构框图;
图3是本发明基于双线阵CCD的带材宽度测量方法的的原理图之一;
图4是本发明基于双线阵CCD的带材宽度测量方法的的原理图之二;
其中,1.光源,2.带材,3.左侧CCD检测传感器,4.第一AD转换器,5.PC机,6.FPGA,7.第二AD转换器,8.右侧CCD检测传感器,9.CCD感光元件,10.光学镜头。
具体实施方式
如图1所示,本发明基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,包括设置在待测量带材2下方的直线型光源1,待测量带材2的上方间隔设置有左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8。左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8的连线与带材2和光源1均相平行。
光源1是有多个波长为700nm~900nm的红外二极管组成的直线型阵列,具有使用寿命长、易安装的特点。左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8用于获得带材2在光源1照射下的成像平面信息,如图2所示,左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8均包括相连接的CCD感光元件9和光学镜头10,为了滤除环境光的干扰,光学镜头10上安装有滤光片,从而使系统只能感应光源1发出的红外光。
左侧CCD检测传感器3与第一AD转换器4相连接,右侧CCD检测传感器8与第二AD转换器7相连接,第一AD转换器4、第二AD转换器7、左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8均与FPGA6相连接并受其驱动工作,第一AD转换器4和第二AD转换器7均通过FPGA6与PC机5相连接。第一AD转换器4和第二AD转换器7对成像平面信息数据进行模数转换后,通过FPGA6送至PC机5。PC机5用于根据带材2左端点P点和右端点Q点分别在上述两个成像平面中的位置差异(即视差)以及几何特性,计算P点和Q点在平面直角坐标系中的坐标,继而计算带材2的宽度。
以C1和C2的连线为X轴方向,以左侧CCD检测传感器3的光轴为Y轴方向,建立平面直角坐标系。此时,P点和Q点在Y轴上的坐标与两个CCD检测传感器光学中心的间距b、成像焦距f、以及对应的视差相关。由于b和f都可以通过标定得到,因此,最关键部分就是求得视差。PC机5根据左右两个两个成像平面中信息对比即可获得视差,具体为:比较P点在两个CCD检测传感器的成像位置,其差值为P点视差,比较Q点在两个CCD检测传感器的成像位置,其差值为Q点视差。
P点和Q点在X轴上的坐标与该点的Y轴坐标、成像焦距f以及其在左侧CCD检测传感器3或左侧CCD检测传感器8的成像平面上的宽度有关。此时,该点的Y轴坐标已知,f可以通过标定得到,该点在成像平面上的宽度即为其在成像平面上的像元总个数,是可即时测量的。
在生产现场中,高速运动的带材2,由于震动等因素的影响,会出现左边缘翘起、右边缘翘起、倾斜、垂直上下振动等因素的影响,此时,带材就会与水平方向成一定的夹角。如图3所示,利用本发明系统进行测量的方法,仿照人类利用两只眼睛感知距离的方法,通过左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8获得带材2的两端边缘信息产生的视差,就能够反映带材2左端点P点和右端点Q点的Y轴坐标。再根据其几何特性,便可获得带材2左端点P点和右端点Q点的X轴坐标,此时得到P点和Q点在平面直角坐标系中的坐标,将带材2的宽度测量问题转化为空间内两点的距离问题,继而得到带材2的宽度。具体步骤如下:
步骤1、在待测量带材2的下方设置直线型光源1,在待测量带材2的上方设置相间隔的左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8,左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8的连线与带材2和光源1均相平行。其中,左侧CCD检测传感器3光学中心为C1,右侧CCD检测传感器8光学中心为C2,C1和C2的间距为b,左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8的成像焦距均为f,以C1和C2的连线为X轴方向,以左侧CCD检测传感器3的光轴为Y轴方向,建立平面直角坐标系。
步骤2、通过左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8分别获得带材2在光源1照射下的两个成像平面信息。
计算带材2左端点P点在上述两个成像平面中Y轴坐标的位置差异,将该位置差异定义为P点的视差s1,计算P点在Y轴上的坐标y1:
以上原理为:如图4所示,带材2左端点P点在左侧CCD检测传感器3和右侧CCD检测传感器8的成像平面上的投影点分别为P1和P2,点P到C1C2连线的距离为d,过C1和C2分别向左右两成像平面上做垂线,垂足分别为A1和A2,再过点P向P1P2连线的延长线做垂线,垂足为B。那么,令|A1P1|为L1,|A2P2|为L2,|P2B|为L3,则根据相似三角形的性质可以得到:由于,d为P点在Y轴上的坐标y1,L1-L2为P点的视差s1,它表示了P点在两个成像平面中成像点的位置差异。即得:
步骤3、根据几何特性,分别计算P点在X轴上的坐标x1以及Q点在X轴上的坐标x2。
如图4所示,P点在X轴上的坐标x1以及Q点在X轴上的坐标x2的具体计算方法为: 其中,l1为P点在左侧CCD检测传感器3形成的成像平面上的宽度,l2为Q点在左侧CCD检测传感器3形成的成像平面上的宽度。
步骤4、计算带材2的宽度W:
本发明能有效有效地消除带材2与CCD检测传感器间距变化、以及带材2与CCD检测传感器空间位置变化对测量产生的影响,即带材2生产过程中振动干扰对测量的影响。实验表明,本发明在带材高度任意、带材较簿、宽度小于600mm窄带材的高速生产线中的测量效果好。
Claims (5)
1.一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法,其特征在于,具体步骤如下:
步骤1、在待测量带材(2)的下方设置直线型光源(1),在待测量带材(2)的上方设置相间隔的左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8),所述左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)的连线与带材(2)和光源(1)均相平行;其中,所述左侧CCD检测传感器(3)光学中心为C1,所述右侧CCD检测传感器(8)光学中心为C2,C1和C2的间距为b,所述左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)的成像焦距均为f,以C1和C2的连线为X轴方向,以左侧CCD检测传感器(3)的光轴为Y轴方向,建立平面直角坐标系;
步骤2、通过左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)分别获得带材(2)在光源(1)照射下的两个成像平面信息,
步骤3、根据几何特性,分别计算P点在X轴上的坐标x1以及Q点在X轴上的坐标x2;
2.按照权利要求1所述的基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,其特征在于,步骤3中,P点在X轴上的坐标x1以及Q点在X轴上的坐标x2的具体计算方法为: 其中,l1为P点在左侧CCD检测传感器(3)形成的成像平面上的宽度,l2为Q点在左侧CCD检测传感器(3)形成的成像平面上的宽度。
3.一种基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,其特征在于,包括设置在待测量带材(2)下方的直线型光源(1),所述待测量带材(2)的上方间隔设置有左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8),所述左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)的连线与带材(2)和光源(1)均相平行,所述左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)用于获得带材(2)在光源(1)照射下的成像平面信息,所述左侧CCD检测传感器(3)与第一AD转换器(4)相连接,所述右侧CCD检测传感器(8)与第二AD转换器(7)相连接,所述第一AD转换器(4)、第二AD转换器(7)、左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)均与FPGA(6)相连接并受其驱动工作,所述第一AD转换器(4)和第二AD转换器(7)均通过FPGA(6)与PC机(5)相连接;
所述PC机(5)用于根据带材(2)左端点P点和右端点Q点分别在上述两个成像平面中的位置差异以及几何特性,计算P点和Q点在平面直角坐标系中的坐标,继而计算P点和Q点的空间距离,即为带材(2)的宽度。
4.按照权利要求3所述的基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,其特征在于,所述左侧CCD检测传感器(3)和右侧CCD检测传感器(8)均包括相连接的CCD感光元件(9)和光学镜头(10),所述光学镜头(10)上均安装有滤光片。
5.按照权利要求3所述的基于双线阵CCD的带材宽度测量系统,其特征在于,所述光源(1)是有多个波长为700nm~900nm的红外二极管组成的直线型阵列。
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