CN104685457A - 噪声检测及校正例程 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于降低传感器测量系统中的噪声的系统(702),其包含:噪声检测器(806),其用于以电容/数字转换测量来检测噪声;噪声校正模块(808),其可操作地耦合到所述噪声检测器且经配置以动态地修改与取样波形(输入802)相关联的一或多个延迟;及噪声滤波器(804),其用于对所述取样波形进行滤波。
Description
相关申请案的交叉参考
本申请案主张2012年9月13日提出申请的美国临时申请案第61/700,399号的权益,所述美国临时申请案如同完全陈述一般以其全文并入本文中。
技术领域
本发明涉及主动噪声拒斥,特定来说涉及针对触摸传感器及触摸屏系统的主动噪声拒斥的取样优化。
背景技术
电容性触摸传感器用作(例如)计算机、移动电话、个人便携式媒体播放器、计算器、电话、收银机、汽油泵等电子设备的用户接口。在某些应用中,不透明触摸传感器提供软键功能性。在其它应用中,透明触摸传感器覆盖显示器以允许用户经由触摸与所述显示器上的物体交互。此类物体可呈软键、菜单及显示器上的其它物体的形式。当物体(例如,用户的指尖)致使电容性触摸传感器的电容改变时,电容性触摸传感器或触摸屏因其电容改变而被激活(控制指示激活的信号)。
此类触摸屏及触摸传感器高度地受其环境影响。因此,电容性触摸解决方案的重要特性为其拒斥噪声的能力。其它传感器应用可遭受类似限制。
特定来说,针对传导性噪声抗扰性,根据IEC(国际电工技术委员会)标准61000-4-6来测试电容传感器应用。此类型的噪声作为低于平均值的随机变化出现于传感器的信号上,且在用户的身体接近传感器时变得更差。
在信号上存在噪声的情况下,传感器必须经多次取样以验证结果并非因随机变化所致的意外。随着噪声的量增加,额外样本的量也必须增加。此减慢系统的总体响应时间,进而导致不合意的用户体验。以一个固定取样率进行扫描将致使系统在某些噪声频率下良好地执行,而其它频率可致使信号降级到不可操作的程度。
发明内容
一种用于根据实施例来降低传感器测量系统中的噪声的方法包含:执行电容/数字转换测量;检测所述传感器测量系统正经历噪声;及动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定若干组测量之间的经求和平均差。在某些实施例中,检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定测量是否为不对称的。在某些实施例中,所述方法进一步包含对所述取样波形进行滤波。
一种用于根据实施例来降低传感器测量系统中的噪声的系统包含:噪声检测器,其用于以电容/数字转换测量来检测噪声;噪声校正模块,其可操作地耦合到所述噪声检测器且经配置以动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟;及噪声滤波器,其用于对所述取样波形进行滤波。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述噪声检测器经配置以确定噪声扫描的若干组测量之间的经求和平均差。在某些实施例中,所述噪声检测器经配置以确定噪声扫描的测量是否为不对称的。在某些实施例中,所述系统包含用于对所述取样波形进行滤波的数字滤波器。
一种根据实施例的计算机程序产品包含:一或多个有形计算机可读媒体,其包含当在计算机上执行时实施用于降低传感器测量系统中的噪声的方法的指令,所述方法包含:执行电容/数字转换测量,检测所述传感器测量系统正经历噪声,及动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。在某些实施例中,检测传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定若干组测量之间的经求和平均差。在某些实施例中,检测传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定测量是否为不对称的。在某些实施例中,所述方法进一步包含对所述取样波形进行滤波。
当结合以下说明及附图考虑时,将更好地了解及理解本发明的这些及其它方面。然而,应理解,尽管指示本发明的各个实施例及其众多特定细节,但以下说明是以图解说明方式而非限制方式给出。可在不背离本发明的精神的情况下在其范围内做出许多替换、修改、添加及/或重新布置,且本发明包含所有此类替换、修改、添加及/或重新布置。
附图说明
包含伴随本说明书并形成其部分的图式以描绘本发明的特定方面。应注意,图式中所图解说明的特征未必按比例绘制。通过结合附图参考以下说明,可获取本发明及其优点的更完全理解,在附图中相似元件符号指示相似特征,且其中:
图1及图2图解说明噪声频率如何与取样频率交互。
图3是图解说明根据实施例改变取样时序将如何改变噪声电平的图式。
图4是根据实施例的触摸传感器系统的图式。
图5是触摸传感器系统的触摸传感器的俯视图。
图6是根据实施例的触摸传感器系统的触摸传感器的侧视图。
图7是根据实施例的触摸控制器的实施方案的框图。
图8是图解说明根据实施例具有噪声补偿的触摸获取的图式。
图9图解说明在示范性无触摸情景期间的噪声。
图10图解说明在示范性触摸情景期间的噪声。
图11图解说明非破坏性噪声。
图12图解说明破坏性噪声。
图13示意性地图解说明添加取样延迟的效应。
图14展示在不应用校正的情况下施加到图1的传感器系统的破坏性噪声。
图15展示在应用校正的情况下施加到图1的传感器系统的破坏性噪声。
图16图解说明示范性状态图,所述示范性状态图图解说明根据实施例的噪声校正。
图17图解说明根据实施例的噪声滤波。
图18是图解说明实施例的操作的流程图。
图19是图解说明根据实施例的触摸传感器系统的框图。
具体实施方式
参考在附图中图解说明且在以下说明中详述的示范性(且因此非限制性)实施例来更全面地阐释本发明及其各种特征及有利细节。然而,应理解,详细说明及特定实例尽管指示优选实施例,但仅以图解说明方式而非限制方式给出。可省略对已知编程技术、计算机软件、硬件、操作平台及协议的说明,以免不必要地在细节上使本发明模糊。所属领域的技术人员将从本发明明了在基本发明概念的精神及/或范围内的各种替换、修改、添加及/或重新安置。
应针对每一装置及其环境的特定噪声分布曲线而优化电容性触摸评估信号的信噪比(SNR)。不同类型及频率的噪声需要对波形的取样率及滤波系数进行调整以实现最高噪声拒斥。根据各个实施例的系统在运行时间主动地优化信号的SNR,同时维持传感器的响应时间要求。
图1及图2展示噪声频率如何与取样频率交互的简化实例。波形102表示正被引入到系统中的噪声。测量将跟随此噪声信号。点104指示在对传感器执行取样时的时间。在图1中,噪声致使样本在电压上显著地变化,而在图2中,噪声与取样频率同步以将读取间的电压差最小化。取一组样本的平均值将使图1中的噪声衰减,但与图2的偏移仍可存在于最终结果中。出于此原因,将把图1称为非破坏性噪声的实例,且将图2称为破坏性噪声的实例。
多次取样并取平均值可进一步降低噪声,但对信号质量来说牺牲了响应时间。出于此原因,可仅取有限数目个额外样本。另一方法为将取样率随机化,此将具有跨越所有频率来平均噪声的效应。尽管此有助于消除最坏情形(噪声过多以至于难以操作),但其也消除最好情形条件(完全无噪声)且需要大量过取样,进而增加了总体响应时间。
根据各个实施例,传感器的波形时序及数字滤波器的实时调谐可用以将所测量的噪声电平主动地衰减。
尽管市场上已持续数年将电容性传感器作为输入装置,但当前解决方案并不提供此主动噪声调谐能力。标准优化技术仅改变静态软件算法中的系数。然而,根据本发明实施例,扫描技术经其本身额外地修改以在获取阶段而非稍后的数字信号处理阶段中将噪声最小化。
根据各个实施例,首先,计算测量以追踪信号上的噪声电平。当数据存储器在控制器上受限时,可使用基线(即,平均)传感器值与其当前读数之间的差的运行平均值。当数据存储器不受限时,样本阵列的四分位距可提供较稳定的噪声测量且为优选的。额外历史追踪允许较低频率噪声检测。其它实施例可采用差分测量,其中通过确定测量的不对称程度来测量噪声。
其次,将在产生电容性感测信号时所使用的时间延迟及过取样计数从传感器的当前设定复制到优化引擎的设定。一旦被复制,所述优化即将编辑所述值中的一者且执行一系列扫描。编辑哪一值取决于传感器的当前状态。如果噪声测量大于用户定义的限制,那么过取样量快速地增长。如果噪声测量小于所述相同用户定义的限制的一半,那么过取样量缓慢地减少。
如果并未调整过取样,那么时序参数将各自依次改变为随机值。在任何特定时间处仅编辑一个值。一旦已调整参数,那么借助新设定来取一组样本。在所有情形中,如果时序或过取样的改变将致使信号增益的改变,那么执行缩放以等化跨越所有可能值的增益。
可优化的时序设定为:
-一个取样波形的样本A与样本B之间的时间(如果需要两个样本)。
-一个波形的结束与下一波形的开始之间的时间。
-每一样本的获取时间(其中所述获取时间定义为在主动地测量传感器时的时间)。
图3展示改变时序将如何改变噪声电平的实例。在图3的曲线图中,正将噪声以150kHz注入于传感器上。线302表示添加于单个电容性感测波形的两个ADC样本之间的时间的量。其以0开始,增加到255,然后重复。线304为后16个样本的四分位距。(信号的噪声的测量。)线306为在最近历史上的最大信号值与最小信号值之间的差。(通常,前八个样本。)噪声的电平(304及306两者)将基于时序而增加及减少。
各个实施例搜寻产生最小噪声值304、306的时序值302,且用当前时序替换所述时序。比较新设定的噪声电平与传感器的当前扫描设定的噪声电平。如果新设定提供噪声较少的总体信号,那么复制所述新设定以变成将用于所述传感器的值。如果新设定并不提供噪声较少的信号,那么不发生改变。然后将重复所述过程,从而产生以下系统:其针对最安静可能样本时序主动地调谐,同时通过使用过取样来维持短期内(在所述调谐生效时)的高信噪比。
现在关注可根据实施例用于实施噪声检测及校正的系统。
图4图解说明根据本发明的实例性触摸传感器系统400的框图。如图1中所描绘,系统400可包含触摸传感器401、触摸控制器402及主机404。
大体来说,触摸传感器401可操作以经由与人类手指或其它手持的物体(例如,手写笔、信用卡等)接触来接收输入。大体来说,触摸传感器401经配置以通过由触摸事件所致的电容改变来辨识所述触摸事件。触摸传感器401可包含一或多个导电元件,所述导电元件将自然电容呈现给触摸传感器401内的接地(或虚拟接地)平面。触摸传感器401可为半透明构造,从而允许将其放置于图形(视频)显示系统前面或集成到其中作为触摸屏。或者,触摸传感器401可为不透明构造(例如,许多当前的膝上型计算机中使用的触摸板)。
大体来说,触摸控制器402可为可操作以检测、测量及报告触摸传感器401上的触摸事件的电子系统。触摸控制器402可实施为离散电组件,作为集成电路的部分,或两者的某一组合。如下文将更详细地论述,触摸控制器402可针对主动噪声拒斥实施取样优化算法。
大体来说,主机404可为从触摸控制器402接收触摸报告的系统。主机404可经配置以基于此类触摸报告起始某一动作。在一个实施例中,主机404可对应于例如服务器、桌上型计算机、膝上型计算机或平板计算机等计算机。根据另一实施例,主机404可对应于包含(举例来说)移动电话或数字媒体(例如,音乐、视频等)播放器的各种电子装置中的任一者。
如图4中所图解说明,触摸传感器401、触摸控制器402及主机404可经由连接406及408以通信方式耦合以形成系统400。连接406及408可为适合于促进电子信号、数据及/或消息(一般来说,称为数据)的通信的任何类型的结构。另外,触摸传感器401、触摸控制器402及主机404可使用任何适合信号或通信协议经由连接406及408进行通信。在一个实施例中,经由连接406及408进行的通信可呈定制通信协议的形式。根据另一实施例,经由连接406及408进行的通信可为根据各种已知协议/总线架构中的任一者。举例来说,此类协议/架构可包含但不限于:微通道架构(MCA)总线、工业标准架构(ISA)总线、增强型ISA(EISA)总线、外围组件互连(PCI)总线、高速PCI总线、超输送(HT)总线、通用串行总线(USB)、视频电子标准协会(VESA)本地总线、因特网协议(IP)、其它基于包的协议、小型计算机系统接口(SCSI)、因特网SCSI(iSCSI)、串行附接SCSI(SAS)或与SCSI协议一起操作的任何其它输送、高级技术附件(ATA)、串行ATA(SATA)、高级技术附件包接口(ATAPI)、串行存储器架构(SSA)、集成驱动电子器件(IDE)及/或其任一组合。
尽管在图4中将触摸传感器401、触摸控制器402及主机404描绘为单独块,但可提供任何物理配置。举例来说,在一个实施例中,触摸控制器402及主机404可实施为单个集成电路。在另一实施例中,触摸控制器402及触摸传感器401可实施为与主机404分离的独立装置。在又一实施例中,触摸传感器401、触摸控制器402及主机404可实施为具有作为装置内的内部连接的连接406及408的一个物理装置。对于包含对应于触摸传感器401、触摸控制器402及主机404的一个以上物理装置的实施例,所述物理装置可物理上位于相同位置处或位于远程位置处。举例来说,连接408可为因特网且主机404可为位于远离触摸传感器401及触摸控制器402许多英里处的服务器计算机。
在操作中,触摸控制器402可使用电路以经由连接406连续地测量触摸传感器401内的一或多个导电元件的电容值。当用户用手指或其它物体触摸触摸传感器401时,所述触摸改变触摸位置附近的导电元件处的电容值。触摸控制器402可辨识所改变的电容且确定触摸传感器401已被触摸。在其中触摸传感器401具有一个以上导电元件的实施例中,触摸控制器402可确定触摸的位置或被触摸的特定导电元件。然后触摸控制器402可向主机404报告触摸所触摸的位置。主机404可完全或部分地基于触摸的位置而起始某一动作。
图5图解说明根据本发明的触摸传感器系统400中的实例性触摸传感器401的俯视图。根据所描绘的实施例,触摸传感器401可包含经介电分离的导电元件X1到X7及Y1到Y7,所述导电元件布置成网格图案且形成笛卡尔坐标系统(Cartesian coordinatesystem)(x及y),其中每一导电元件表示不同的x或y坐标。根据另一实施例,触摸传感器401可包含根据极坐标系统或某一其它坐标系统布置的导电元件。在仅具有一个导电元件(例如,软按钮)的实施例中,不需要坐标系统。任一单行电极与任一单列电极的相交点称为节点。
导电元件X1到X7及Y1到Y7中的每一者可经由迹线502及504电连接到端口552及554。在所展示的实施例中,每一导电元件单独地且直接地连接到端口552及554中的相应者。根据另一实施例,迹线502及504可直接地或间接地(例如,借助介入逻辑)连接到导电元件X1到X7及Y1到Y7中的一者以上。
导电元件X1到X7及Y1到Y7可借助任何适合导电介质形成。在半透明触摸传感器配置中,电容元件X1到X7及Y1到Y7可借助(举例来说)氧化铟锡(ITO)形成。在不透明触摸传感器配置中,电容元件X1到X7及Y1到Y7可借助(举例来说)铜形成。
端口552及554可提供到其中可耦合有图1的波形102的触摸控制器402的接口。尽管所揭示实施例包含对应于导电元件Y1到Y7的一个端口552及对应于导电元件X1到X7的单独端口554,但其它实施例可包括单个端口或两个以上端口。在这些情形中,将迹线502及504路由到所要端口。
图6图解说明触摸传感器系统400中的实例性触摸传感器401的部分横截面前视图。如所描绘,触摸传感器401可包括其上形成有导电元件X1到X3的衬底层606。绝缘层608可将导电元件X1到X3与导电元件Y1介电分离。表面层610可形成于导电元件Y1的顶部上,且提供触摸屏401的输入表面(即,用户用手指或其它物体触摸的表面)。在半透明触摸传感器配置中,衬底606及表面层610可借助(举例来说)玻璃或透明塑料(例如,树脂玻璃)形成;且绝缘层608可借助(举例来说)透明粘合剂或具有良好绝缘特性的其它半透明材料形成。在不透明触摸传感器配置中,衬底606可借助(举例来说)纤维玻璃(FR-4)印刷电路板(PCB)材料形成;绝缘层可借助(举例来说)任何适合粘合剂或具有良好绝缘特性的其它材料形成;且表面层610可借助(举例来说)玻璃或塑料形成。注意,在其它实施例中,可不存在绝缘层608且X导电元件及Y导电元件形成单个层。因此,所述图仅为示范性的。
如下文将更详细论述,触摸控制器402实施一或多个例程(例如固件例程)以进行噪声优化。如图7中所展示,触摸控制器可包含触摸获取702、解码与追踪704以及通信706例程。触摸获取702包含扫描触摸存在及更新基线取样。解码与追踪704取得所获取数据且确定是否存在触摸,以及求解其坐标及追踪先前触摸。通信例程706包含将所产生的触摸数据报告给主机系统404。
如下文将更详细论述,根据实施例的噪声优化包含可在触摸获取阶段702中运行的滤波及噪声检测。在某些实施例中,所述噪声优化较接近于触摸获取702和解码与追踪704之间的点(这是因为需要在运行所述例程之前检测触摸)。
图8是示范性触摸获取阶段702的较低级视图,其展示噪声例程及滤波如何与固件的正常流程交互。如所展示,触摸获取702包含自我扫描802、自我数字滤波804、噪声检测806、噪声校正808、相互扫描810及相互数字滤波812。
自我扫描802是指自电容的测量,即电极呈现给系统的相对于电路接地的电容性负载。相互电容为物体之间的电容性耦合。一个实例为投射式电容性触摸传感器上的X轴电极与Y轴电极之间的相互电容性耦合。因此,相互扫描810在选定节点处进行相互电容测量。
噪声例程806、808在自我测量之后但在相互测量之前运行,这是因为仅需要知晓通道而非个别节点被激活以扫描噪声。这是因为噪声并非仅耦合到所触摸的那个节点,并且耦合到所述节点位于其上的整个感测通道上。此意指,挑选哪一节点用于噪声扫描并不重要,只要其位于已激活的感测通道上即可。
注意,在某些实施例中,所述系统可实施自我扫描及滤波而不进行相互扫描及滤波。同样,实施例可采用相互扫描而非自我扫描。在此情形中,相互扫描及滤波将发生在噪声例程之前。
噪声优化可基于不同部分的功能而被分离成所述不同部分:1.)噪声检测;2.)噪声校正;3.)数字滤波。
噪声检测
实验展示,即使以数个频率将大量噪声(>1V)引入到系统中,仍仅有那些频率的一小部分实际上导致受测设备(EUT)在性能方面失败。因此,无需校正所有噪声,而仅校正致使系统失败的噪声。引申开来,也仅需要检测致使系统失败的噪声。因此,在下文中,致使系统失败的噪声将称为“破坏性噪声”,而不会致使系统失败的噪声将称为“非破坏性噪声”。
仅某些噪声频率有害的原因涉及噪声的基础频率及借以扫描传感器的频率。图1展示此的简化实例。线102为被引入到系统中的噪声。所有测量均将“随”此噪声“而动”:随其所为而升高及下降。点104指示对传感器执行扫描时的时间。注意,点104沿着y轴在大约相同电平处。此意指预定数目个样本(称为“包”)的平均将产生类似结果,恰如系统并未经历任何噪声一般。基本来说,此为非破坏性噪声的情形。
相比来说,如图2中所展示,将注意到有时传感器扫描104的平均值将产生偏移。在此噪声频率的情况下,将把错误引入到扫描结果中。此为系统经历破坏性噪声的情形。
为认真考虑此问题,假设噪声102的峰值间振幅为1V。触摸致使从无触摸状态改变约20mV。此意指系统正尝试检测电压改变,所述电压改变是信号在其上跳动的噪声的振幅的1/50。
分离破坏性噪声与非破坏性噪声是噪声例程的噪声检测方面的主要目标。由于多种原因,此为困难的。最大的阻碍是耦合到系统中的噪声的量极大地受触摸所述传感器影响。进一步使事态复杂的是,耦合到系统中的噪声并非隔离到所触摸的个别节点,而是整个感测通道。即,所述噪声耦合到电极(通道)上的每一节点中,而不仅仅是所触摸的节点。在实际地执行噪声检测例程时此起到重要作用,将在下文进一步论述。
为图解说明,分别如图9及图10中所展示提供无触摸情景及触摸情景的实例,其中将等量的噪声施加到两种情景。
借助此知识,实施例是基于以下事实:在可检测破坏性噪声之前需要首先检测触摸。所述传感器将照例对每一传感器通道执行自我测量,且只有在所述传感器报告那些通道中的一者上的触摸时,才将开始噪声检测例程。在通道被识别为触摸的情况下,噪声检测例程然后将对所述经激活的通道中的一个节点执行用户定义的数目个相互“噪声扫描”。所述噪声扫描非常类似于正常扫描,例外的是不对噪声扫描进行任何滤波且以不同方式处置由扫描返回的数据。
如同正常扫描,噪声扫描由一组电容测量构成,所述电容测量的大小是基于过取样的当前量。然而,替代如同正常扫描返回这些测量的和,噪声扫描找出均值电容测量并返回所述值。将这些均值与恰好在其之前所取的均值相比并计算其差。将所有这些平均差一起求和以计算每一组电容性测量之间的“经求和平均差”。此经求和平均差将用作系统中的噪声的唯一识别符。所述算法可表达如下:
Given a sample set of n values{Y0...Yn}
作为快速及基本实例,假设在将通道识别为触摸之后进行五次噪声扫描。计算并存储每一扫描的均值,其结果将为以下组:
{75,78,74,72,75}
将完成以下计算以找出经求和平均差:
(78-75)+(78-74)+(74–72)+(75-72)=12
借助于图11及图12中的实例来展示如此做的原因。特定来说,图11展示非破坏性噪声1101。尽管系统上确实存在噪声,但其关于水平轴正交。线1102表示在给定时间处噪声的最大值,且线1104表示最小值。线1106表示所述组的均值,且在取样组之间变化不大。此类型的噪声将针对经求和平均差返回低值。
在图12中展示破坏性噪声1201。所述信号不再关于水平轴对称。线1202展示最大值且线1204展示最小值。在此情形中,均值1206在取样组之间偏离极大的量。在经历此类型的噪声时,经求和平均差将返回极高的值。
经求和平均差因此用作确定系统是否仅受破坏性噪声影响的可靠方式,此降低了噪声例程的额外负担,这是因为噪声例程仅在其被绝对需要时才运行。
噪声校正
一旦已检测到系统正经历噪声,那么执行额外例程以尝试校正所述噪声。特定来说,波形经操纵以降低噪声的效应。在某些实施例中,可增加过取样以降低噪声,但此导致对改变的较慢传感器响应时间(即,如果花费较长时间来扫描传感器,那么花费较长时间来检测按压)。在其中采用过取样的实施例中,可在已降低噪声之后使用时序操纵技术来再次减少过取样。
在某些实施例中,通过动态地改变上文所论述的三个时序中的一或多者来操纵所述波形。在某些实施例中,可一个接一个地连续调整所有三个时序以不断尝试找出最小噪声配置。举例来说,可首先调整取样估价人,然后是差分样本之间的时间,且然后是获取时间。然后在每一阶段处以不同时序改变来重复所述过程。
为说明原因,再次查看非破坏性噪声与破坏性噪声之间的差是有益的。如所展示,举例来说,在图13的曲线图1302处,破坏性噪声102致使经取样值104的显著变化。(如图1及图2中,曲线图1302表示样本包的均值。)但将延迟添加在每一样本之前,所述样本可变成类似于非破坏性噪声的图片。基本上,此是瞬时噪声校正例程的角色。其并不消除噪声;其仅尝试将破坏性噪声变换成非破坏性噪声。此可见于图13所展示的进展中。注意,此仅为所述理论的图形表示而非实际数据。在1302处,噪声为破坏性的。在1304处,将第一遍延迟d1添加于样本之间。在1306处,将第二遍延迟d2添加于样本之间。此时,取样为相对恒定的。在某些实施例中,延迟分辨率可对应于正在实施的微控制器的指令循环(例如,在32MHz时钟的情况下的125ns或在16MHz时钟的情况下的250ns)。一般来说,分辨率越精细,有效频率越高。在图14及图15中展示实际的实验结果。图14展示在不应用校正的情况下施加到系统的破坏性噪声。图15展示根据实施例的噪声校正例程的结果。其与其它各图测试及噪声分布曲线相同,但现在具有校正例程。噪声校正例程808将保持堆叠电容性测量之间的延迟,且重新运行噪声检测例程以查看是否已针对噪声适当地调整新延迟。如果噪声检测例程806仍检测到噪声,那么噪声校正例程808将再次运行并将新延迟添加到旧延迟的顶部上。此过程重复直到噪声检测例程806不再检测到噪声或允许添加延迟的次数超限为止。可对用以尝试校正噪声的次数设定上限,以使得此过程不会无限地循环。所添加的实际延迟还可经控制以使得其不会以指数方式增长且使系统性能陷入停顿。
一旦校正例程808已运行且噪声检测例程806不再检测噪声,那么允许固件继续进行解码与追踪阶段704。然而在某些实施例中,此并非噪声校正例程808的任务的结束。这些例程808保持追踪系统的状态,即系统是在有噪声状态下还是无噪声状态下,并基于是进入、离开还是保持于这些状态中的任一者而执行特定动作。噪声例程808利用噪声计时器,所述噪声计时器在噪声检测例程806返回以下结果时起动:在系统处于有噪声状态下时并未检测到噪声。
在计时器运行时,系统仍检查噪声,且如果将噪声再次引入到系统中,那么取消所述计时器。直到计时器溢出为止系统才会改变到无噪声状态。此照管以下情形:噪声检测例程808检测不到实际存在的噪声。即,计时器用于确保直到已执行数个有序无噪声扫描为止才发生到“无噪声”状态的转变。此提供所述信号确实不具有噪声的较大保证,而非看似无噪声的单个、假读取。
如图16中所展示的状态机概述噪声校正例程808如何处置此情形。更特定来说,如果当前状态为有噪声的且检测到噪声,那么例程进入状态1602以使计时器停止且检查已添加的延迟的数目。如果已超过最大值,那么在状态1610处抑制触摸。否则,在状态1612处,增加延迟且将其添加于样本之前,且使经尝试延迟的数目递增。
如果当前状态为有噪声的且并未检测到噪声,那么在状态1606中检查计时器状态。如果计时器尚未起动,那么在状态1614中对所述计时器进行复位及起动。如果计时器已起动,那么系统进入不进行操作状态1604。如果当前状态为无噪声且并未检测到噪声,那么系统进入不进行操作状态1604。
如果当前状态为无噪声的且检测到噪声,那么系统进入状态1608。系统更新到有噪声状态且经尝试延迟的数目保持不变。另外,将延迟复位并在样本之前添加到。
最后,如果当前状态为有噪声的且已超过计时器计数,那么系统将在状态1616中改变为无噪声状态。
应注意重要地是,尽管噪声例程循环通过且试图找出使噪声固定的延迟,但并未发出任何触摸数据。此为重要的,这是因为有噪声、未经校正的数据不应被发射,因为其将可能为因影响系统的噪声而变得无用的数据。
数字滤波
根据某些实施例,数字滤波例程(其可实施为自我数字滤波器804、相互数字滤波器812的部分或在解码与追踪模块704中)是对从所述自我扫描及相互扫描获取的原始数据执行的简单移动平均滤波器。然而,根据各个实施例,并不对所有扫描进行滤波。执行三种类型的扫描且实际上仅对这些扫描中的一者进行滤波。所述三种类型为:
1.)正常扫描-这些扫描发生在针对触摸扫描传感器时且在检测到噪声时暂停。
2.)基线扫描-这些扫描发生在更新系统的基线时。
3.)噪声扫描-这些扫描为由噪声例程运行的扫描且在检测到噪声时执行,如上文所论述。一旦系统已识别为在有噪声状态下,那么使用噪声扫描来试图及重新试图不同延迟以针对噪声进行调整。在系统重新进入无噪声状态之后继续进行正常扫描。在某些实施例中,仅对正常扫描进行滤波,这是因为在检测到噪声之前从信号移除噪声毫无意义。而且,基线扫描仅在无触摸状态期间运行,且如上文所述,在某些实施例中,在无触摸状态期间噪声并不足以耦合到系统中以被检测到。移动平均滤波器如下:
where α=filter coefficient
滤波器系数用作先前测量对当前测量的影响程度的权重比。a的较大值将导致来自先前值的重大影响,而较小值将导致较少影响。不同于仅在检测到噪声时运行的噪声例程,滤波器在其被启用时不断地运行。滤波器针对所取的每一个别电容性样本运行。因此,如果取16个样本,那么运行所述滤波器的16次反复。所取的第一样本的种子为所述组中的所有样本的平均信号电平。然后每一有序电容性样本使用前一经滤波样本作为其种子。通过使用所述组中的所有样本的平均信号,滤波无法与进行电容性测量同时执行;其是在已取得所有样本之后完成的。
图17展示在系统正经历噪声时的滤波结果的屏幕截图。在1702处,滤波器关断,但已运行噪声校正例程。在1704处,滤波器接通,展示噪声电平的显著降低。
图18是图解说明实施例的操作的流程图。最初,可检测触摸(1802)。一旦检测到触摸,即做出存在噪声的确定(步骤1804)。如上文所述,此可通过以下步骤来执行:对多个样本使用经求和平均差技术,及确定所述结果是否超过预定阈值。如果不存在噪声,那么在步骤1806中系统将继续监视噪声。
如果存在噪声,那么可操纵信号以校正所述噪声。特定来说,在某些实施例中,可(例如通过添加延迟)调整一或多个时序设定。如上文所论述,所述时序可为取样时间、波形之间的时间或获取时序。所述延迟可为预定增量或来自一或多个预定或随机延迟选项的选择。(步骤1808)。如上文所论述,此过程可反复直到延迟或计时器超过预定阈值/计数为止。一旦确定噪声不再超过阈值,所述系统即实施对信号的滤波(步骤1810)且提供所述信号以用于解码与追踪。
最后,图19是图解说明传感器系统1900的框图,所述传感器系统可用于根据实施例来实施对抗噪声。系统1900包含感测控制器1901、感测电极1902及主机系统1903。感测电极1902可实施如图1中所展示的配置。主机1903可为可利用电容性传感器信号及/或从其导出的信息或数据的任何系统,例如手机、膝上型计算机、I/O装置等等。
在所图解说明的实例中,TX信号产生器1904将发射器信号VTX提供到发射电极TXD。信号调节模块1906读取接收电极RX0到RX4。信号调节的输出被提供到ADC1907,且经由信号线或其它媒体(例如总线1908)被提供到信号处理单元1908。信号处理单元1908可实施获取、解码与追踪及通信的功能性(图7)。所得输出可经由IO单元1919被提供到主机1903。
所述系统可进一步包含多种额外模块,例如内部时钟1909、存储器(例如快闪存储器1912)、电压参考1910、电力管理1914、低电力唤醒1916、复位控制件1922及通信控制件1920。
尽管已关于本发明的特定实施例来描述本发明,但这些实施例仅为说明性的,而非限制本发明。在本文中对本发明的所图解说明的实施例的说明(包含发明摘要及发明内容中的说明)并不打算为穷尽性或将本发明限于本文中所揭示的精确形式(且特定来说,在发明摘要或发明内容内包含任何特定实施例、特征或功能并不打算将本发明的范围限于此实施例、特征或功能)。相反,所述说明打算描述说明性实施例、特征及功能,以便向所属领域的技术人员提供用以理解本发明的上下文,而不将本发明限于任何特定描述的实施例、特征或功能(包含在发明摘要或发明内容中描述的任何此实施例特征或功能)。
尽管仅出于说明性目的而在本文中描述本发明的特定实施例及实例,但如相关领域的技术人员将辨识及了解,本发明的精神及范围内的各种等效修改均为可能的。如所指示,可鉴于对本发明的所图解说明实施例的前述说明而对本发明做出这些修改,且这些修改将包含于本发明的精神及范围内。因此,尽管本文中已参考本发明的特定实施例来描述本发明,但前述揭示内容中打算涵盖一定范围的修改、各种改变及替代,且将了解,在某些实例中,在不背离如所陈述的本发明的范围及精神的情况下,将采用本发明的实施例的某些特征,而无其它特征的对应使用。因此,可做出许多修改以使特定情况或材料适应本发明的基本范围及精神。
在整个本说明书中对“一个实施例”、“实施例”或“特定实施例”或类似术语的提及意指结合实施例描述的特定特征、结构或特性包含于至少一个实施例中,且未必存在于所有实施例中。因此,在整个本说明书中在各个地方中相应出现的片语“在一个实施例中”、“在实施例中”或“在特定实施例中”或类似术语未必是指同一实施例。此外,任何特定实施例的特定特征、结构或特性可以任何适合方式与一或多个其它实施例组合。应了解,鉴于本文中的教示,本文中所描述及图解说明的实施例的其它变化及修改为可能的,且将被视为本发明的精神及范围的部分。
在本文中的说明中,提供各种特定细节,例如组件及/或方法的实例,以提供对本发明的实施例的透彻理解。然而,所属领域的技术人员将辨识,可能在不具有所述特定细节中的一或多者或具有其它设备、系统、总成、方法、组件、材料、部件及/或类似物的情况下实践实施例。在其它实例中,未具体展示或描述众所周知的结构、组件、系统、材料或操作以避免使本发明的实施例的方面模糊。尽管可通过使用特定实施例来图解说明本发明,但此并非特定实施例且并不将本发明限于任何特定实施例,且所属领域的技术人员将辨识,额外实施例为易于理解的且为本发明的部分。
可使用任何适合的编程语言来实施本文中所描述的本发明的实施例的例程、方法或程序,包含C、C++、Java、汇编语言等。可采用不同编程技术,例如面向程序的或面向对象的。任何特定例程可执行于单个计算机处理装置或多个计算机处理装置、单个计算机处理器或多个计算机处理器上。数据可存储于单个存储媒体中或散布于多个存储媒体中,且可驻存于单个数据库或多个数据库中(或其它数据存储技术)。尽管可以特定次序呈现步骤、操作或计算,但在不同实施例中可改变此次序。在某些实施例中,就在本说明书中依序展示多个步骤来说,可同时在替代实施例中执行此类步骤的某一组合。本文中所描述的操作的顺序可由另一过程(例如操作系统、内核等)而中断、暂停或以其它方式控制。所述例程可在操作系统环境中操作或作为独立例程操作。可在硬件、软件、固件或其任何组合中执行本文中所描述的功能、例程、方法、步骤及操作。
可以控制逻辑的形式在软件或硬件或两者的组合中实施本文中所描述的实施例。所述控制逻辑可存储于例如计算机可读媒体的信息存储媒体中以作为适于引导信息处理装置执行各个实施例中所揭示的一组步骤的多个指令。基于本文中所提供的揭示内容及教示,所属领域的技术人员将了解用以实施本发明的其它方式及/或方法。
以软件编程或代码实施本文中所描述的步骤、操作、方法、例程或其部分中的任一者也在本发明的精神及范围内,其中此软件编程或代码可存储于计算机可读媒体中且可由处理器来操作以准许计算机执行本文中所描述的步骤、操作、方法、例程或其部分中的任一者。可通过在一或多个通用数字计算机中使用软件编程或代码、通过使用专用集成电路(ASIC)、可编程逻辑装置、现场可编程门阵列等等来实施本发明。可使用光学、化学、生物、量子或纳米工程系统、组件及机构。一般来说,可由如此项技术中已知的任何构件来实现本发明的功能。举例来说,可使用散布式或联网的系统、组件及/或电路。在另一实例中,数据的传递或传送(或以其它方式从一个地方移动到另一地方)可为有线、无线或通过任何其它手段。
“计算机可读媒体”可为可含有、存储、传递、传播或输送用于由指令执行系统、设备、系统或装置使用或结合指令执行系统、设备、系统或装置使用的程序的任何媒体。仅以实例方式而非以限制方式,计算机可读媒体可为电子、磁性、光学、电磁、红外线或半导体系统、设备、系统、装置、传播媒体或计算机存储器。此计算机可读媒体通常应为机器可读的且包含软件编程或代码,所述软件编程或代码可为人类可读(例如,源代码)或机器可读的(例如,目标代码)。非暂时性计算机可读媒体的实例可包含随机存取存储器、只读存储器、硬驱动器、数据盒式磁带、磁带、软盘、快闪存储器驱动器、光学数据存储装置、光盘只读存储器及其它适合的计算机存储器及数据存储装置。在说明性实施例中,软件组件中的某些或所有组件可驻存于单个服务器计算机上或单独服务器计算机的任何组合上。如所属领域的技术人员可了解,实施本文中所揭示的实施例的计算机程序产品可包括存储可在计算环境中由一或多个处理器转译的计算机指令的一或多个非暂时性计算机可读媒体。
“处理器”包含处理数据、信号或其它信息的任何硬件系统、机构或组件。处理器可包含具有通用中央处理单元、多个处理单元、用于实现功能性的专用电路的系统或其它系统。处理无需限于地理位置或无需具有时间限制。举例来说,处理器可“实时”、“离线”、以“批量模式”等执行其功能。可在不同时间且在不同位置处由不同(或相同)处理系统来执行处理的部分。
如本文中所使用,术语“包括(comprises、comprising)”、“包含(includes、including)”、“具有(has、having)”或其任何其它变化形式打算涵盖非排他性包含。举例来说,包括要素列表的过程、产品、物品或设备未必仅限于那些要素,而是可包含未明确列出或此过程、过程、物品或设备所固有的其它要素。
此外,除非另外指示,否则如本文中所使用的术语“或”一般来说意指“及/或”。举例来说,条件A或B由以下各项中的任一者满足:A为真(或存在)且B为假(或不存在)、A为假(或不存在)且B为真(或存在),以及A与B两者均为真(或存在)。如本文中所使用,包含以下权利要求书,前缀有“一(a或an)”(及在先行词基础为“一(a或an)”时的“所述(the)”)的术语包含此术语的单数及复数两者,除非在权利要求书中另有清楚指示(即,引用“一(a或an)”清楚地指示仅单数或仅复数)。而且,如本文中的说明中所使用且在所附的整个权利要求书中,“在…中”的含义包含“在…中”及“在…上”,除非上下文另有清楚指示。
将了解,图式/图中所描绘的元件中的一或多者也可以较分离或集成方式或者甚至在某些情形下被移除或使其不可操作地实施,如根据特定应用适用。另外,图式/图中的任何信号箭头应仅视为示范性而非限制性的,除非另有明确注解。
Claims (20)
1.一种用于降低传感器测量系统中的噪声的方法,其包括:
执行电容/数字转换测量,
检测所述传感器测量系统正经历噪声,
动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。
5.根据权利要求1所述的方法,其中检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定若干组测量之间的经求和平均差。
6.根据权利要求1所述的方法,其中检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定测量是否为不对称的。
7.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括对所述取样波形进行滤波。
9.根据权利要求8所述的系统,其中所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。
10.根据权利要求8所述的系统,其中所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。
11.根据权利要求8所述的系统,其中所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。
12.根据权利要求8所述的系统,其中所述噪声检测器经配置以确定噪声扫描的若干组测量之间的经求和平均差。
13.根据权利要求8所述的系统,其中所述噪声检测器经配置以确定噪声扫描的测量是否为不对称的。
14.根据权利要求8所述的系统,其进一步包括用于对所述取样波形进行滤波的数字滤波器。
15.一种包含一或多个有形计算机可读媒体的计算机程序产品,所述一或多个有形计算机可读媒体包含当在计算机上执行时实施用于降低传感器测量系统中的噪声的方法的指令,所述方法包括:
执行电容/数字转换测量,
检测所述传感器测量系统正经历噪声,
动态地修改与取样波形相关联的一或多个延迟。
16.根据权利要求1所述的计算机程序产品,其中所述一或多个延迟包括在所述取样波形的样本之间的时间中的一或多个延迟。
17.根据权利要求1所述的计算机程序产品,其中所述一或多个延迟包括在一个取样波形的结束与下一取样波形的开始之间的时间中的一或多个延迟。
18.根据权利要求1所述的计算机程序产品,其中所述一或多个延迟包括在样本的获取时间中的一或多个延迟。
19.根据权利要求1所述的计算机程序产品,其中检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定若干组测量之间的经求和平均差。
20.根据权利要求1所述的计算机程序产品,其中检测所述传感器测量系统正经历噪声包括:执行噪声扫描及确定测量是否为不对称的。
21.根据权利要求1所述的计算机程序产品,其进一步包括对所述取样波形进行滤波。
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