CN104536627A - 一种触控驱动检测电路、显示面板和显示装置 - Google Patents
一种触控驱动检测电路、显示面板和显示装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种触控驱动检测电路、显示面板及显示装置,触控驱动检测电路包括多组区域驱动检测电路,对应多个触控区域,每一组区域驱动检测电路包括控制模块、选通输出模块、检测模块、第一触发信号线和第二触发信号线,第一触发信号线向控制模块输入第一触发信号,控制选通输出单元同时输出触控扫描信号,检测模块根据触控扫描信号检测第一触发信号线对应的触控区域是否存在触摸,当第一触发信号线对应的触控区域存在触摸时,触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线输入初级触发信号,控制选通输出单元逐级输出触控扫描信号,确定触控区域中触摸点的位置。本发明能够提高触控驱动检测电路的报点率,降低功耗。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种触控驱动检测电路、显示面板和显示装置。
背景技术
随着显示技术的飞速发展,触摸屏(Touch Screen Panel)已经逐渐遍及人们的生活中。目前,内嵌式触摸屏(In Cell Touch Panel)由于将触控部件内嵌在显示屏内部,既可以减薄模组整体的厚度,又可以大大降低触摸屏的制作成本,受到各大面板厂商的青睐。因此,内嵌式触摸屏的驱动方式也成为研究的热点。
现有的内嵌式触摸屏包括:相对设置的阵列基板和彩膜基板以及设置于阵列基板和彩膜基板之间的液晶层,所述彩膜基板朝向所述液晶层的表面设置有驱动电极和感应电极,每一个驱动电极通过引线与触控驱动电路相连,驱动电极和感应电极之间形成电容,在触摸屏工作时,驱动电极上依次接收触控驱动电路输出的触控扫描信号,感应电极检测相应的信号,当手指触摸到触摸屏相应的位置时,被触摸的地方驱动电极和感应电极之间的电容发生变化,通过计算电容变化量,来确定触摸点的位置。
但是,现有的触控驱动电路必须逐个向驱动输出触控扫描信号,在当前驱动电极没有收到触控扫描信号之前,下一个驱动电极无法接收触控扫描信号,使得现有的触控驱动电路的报点率低,功耗较大。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种触控驱动检测电路、显示面板和显示装置,以提高触控驱动检测电路的报点率,降低触控驱动检测电路的功耗。
第一方面,本发明实施例提供了一种触控驱动检测电路,包括:
多组区域驱动检测电路,对应多个触控区域;
每一组所述区域驱动检测电路包括控制模块、选通输出模块、检测模块、第一触发信号线和第二触发信号线,所述选通输出模块包括多级选通输出单元;
所述第一触发信号线与所述控制模块相连,用于向所述控制模块传输第一触发信号,所述控制模块根据所述第一触发信号控制多级所述选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号,所述检测模块根据所述触控扫描信号检测所述第一触发信号线对应的触控区域是否存在触摸;
当所述检测模块检测到所述第一触发信号线对应的触控区域存在触摸时,该检测模块触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向所述控制模块输入初级触发信号,所述控制模块根据所述初级触发信号控制多级所述选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号,从而确定所述触控区域中触摸点的位置。
第二方面,本发明实施例提供了一种显示面板,包括第一方面所述的触控驱动检测电路。
第三方面,本发明实施例提供了一种显示装置,包括第二方面所述的显示面板。
本发明实施例提供的触控驱动检测电路、显示面板和显示装置,通过将触控驱动检测电路划分为多组区域驱动检测电路,每个区域驱动检测电路中的控制模块根据接收到的第一触发信号控制多级选通输出单元同时打开以输出触控扫描信号,检测模块根据输出的所述触控扫描信号检测该区域驱动检测电路对应的触控区域是否存在触摸,当该区域驱动检测电路对应的触控区域存在触摸时,所述检测模块触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向所述控制模块输入初级触发信号,从而控制多级所述选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号,从而确定所述触控区域中触摸点的具体位置。由于将触控驱动检测电路进行分区域划分,在进行触控扫描之前,先侦测每个区域驱动检测电路对应的触控区域是否存在触摸,当所述触控区域存在触摸时,再进行逐级扫描以确定该触控区域中触摸点的位置,从而能够实现不同触控区域的单独触控,且能够节省触控扫描的时间,提高驱动检测电路的报点率并降低功耗。
附图说明
下面将通过参照附图详细描述本发明的示例性实施例,使本领域的普通技术人员更清楚本发明的上述及其他特征和优点,附图中:
图1是现有技术中触控驱动电路的结构图;
图2是本发明实施例提供的一种触控驱动检测电路的结构图;
图3是本发明实施例提供的另一种触控驱动检测电路的结构图;
图4是本发明实施例提供的第一区域驱动检测电路的电路结构图;
图5是本发明实施例提供的移位寄存器电路的结构示意图;
图6是本发明实施例提供的第一传输门的结构图;
图7是本发明实施例提供的选通输出电路的结构图;
图8是本发明实施例提供的选择电路的结构图;
图9是本发明实施例提供的第一缓冲电路或第二缓冲电路的结构图;
图10a是本发明实施例提供的触控驱动检测电路进行触控扫描之前,各组区域驱动检测电路中移位寄存器单元、侦测单元和选通输出单元的各输入端的输入信号和各输出端的输出信号的时序图;
图10b是本发明实施例提供的触控驱动检测电路进行触控扫描时,各组区域驱动检测电路中移位寄存器单元、侦测单元和选通输出单元各输入端的输入信号和各输出端的输出信号的时序图;
图11是本发明实施例提供的一种显示面板的结构图;
图12是本发明实施例提供的一种显示装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容,并且附图中相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。
图1是现有技术中触控驱动电路的结构图。如图1所示,所述触控驱动电路包括移位寄存器模块11和选通输出模块12,其中,移位寄存模块11包括M级移位寄存器(如图1中所示a1-a30)、M级与非门(如图1中所示NAND 1-NAND 30)、触发信号线STV、第一时钟信号线CKV1、第二时钟信号线CKV2和置位信号线RESET,选通输出模块12包括M级反相器(如图1中所示INV1-INV30)、M级选通输出单元(如图1中所示b1-b30)、第一控制信号线HRSW、第二控制信号线TXSW、第一电位保持信号线TXH和第二电位保持信号线TXL,其中,M级移位寄存器和M级选通输出单元一一对应,所述M为正整数,例如:M为30。每一级移位寄存器包括输入端IN、时钟信号输入端CK和置位信号输入端RST,每一级选通输出单元包括第一控制端HRW、第二控制端TXW、第一电位保持端TH、第二电位保持端TL、第三控制端C和输出端OUT,第一级移位寄存器a1的输入端IN与触发信号线STV相连,第二级移位寄存器a2的输入端至第三十级移位寄存器a30的输入端与上一级移位寄存器的输出端OUT相连,第一级移位寄存器a1至第三十级移位寄存器a30的时钟信号输入端CK分别交替的与第一时钟信号线CKV1和第二时钟信号线CKV2相连,第一级移位寄存器a1至第三十级移位寄存器a30的置位信号输入端RST与置位信号线RESET相连,第一级与非门NAND1至第三十级与非门NAND30的第一输入端分别交替的与第二时钟信号线CKV2和第一时钟信号线CKV1相连,第一级与非门NAND1至第三十级与非门NAND30的第二输入端分别与对应的移位寄存器的输出端相连,第一级与非门NAND1至第三十级与非门NAND30的输出端分别与对应的选通输出模块12中的反相器INV的输入端相连,反相器INV的输出端与选通输出单元b的第三控制端C相连,每一级选通输出单元b的第一控制端HRW、第二控制端TXW、第一电位保持端TH和第二电位保持端TL分别与第一控制信号线HRSW、第二控制信号线TXSW、第一电位保持信号线TXH和第二电位保持信号线TXL相连,选通输出单元b的输出端OUT用于输出触控扫描信号TX1-TX30。
发明人发现,现有的触控驱动电路,当触控信号线STV输入触发信号时,第一级移位寄存器a1至第三十级移位寄存器a30在触发信号的触发下逐级输出选择信号,从而控制第一级选通输出单元b1至第三十级选通输出单元b30逐级输出触控扫描信号TX1-TX30,在现有技术中,必须逐级输出触控扫描信号,在当前选通输出单元未输出触控扫描信号前,下一级移位寄存器无法开始新的扫描。从而造成现有触控驱动电路的报点率低,功耗较大。
本发明实施例提供一种触控驱动检测电路。图2是本发明实施例提供的一种触控驱动检测电路的结构图,如图2所示,所述触控驱动检测电路包括:多组区域驱动检测电路,对应多个触控区域,优选的,所述多组区域驱动检测电路的数目可以为3,分别为第一区域驱动检测电路21、第二区域驱动检测电路22和第三区域驱动检测电路23,分别对应第一触控区域、第二触控区域和第三触控区域,第一组区域驱动检测电路21包括第一控制模块211、第一选通输出模块212、第一检测模块(未图示)、第一触发信号线C1和第二触发信号线STV1,第一选通输出模块212包括多级选通输出单元(例如图2包括中十级选通输出单元,对应输出触控扫描信号TX1-TX10),第二组区域驱动22检测包括第二控制模块221、第二选通输出模块222、第二检测模块(未图示)、第一触发信号线C2和第二触发信号线STV2,第二选通输出模块222包括多级选通输出单元(例如图2中包括十级选通输出单元,对应输出触控扫描信号TX11-TX20),第三组区域驱动检测23包括第三控制模块231、第三选通输出模块232、第三检测模块(未图示)、第一触发信号线C3和第二触发信号线STV3,第三选通输出模块232包括多级选通输出单元(例如图2中包括十级选通输出单元,对应输出触控扫描信号TX21-TX30)。
每一组所述第一触发信号线与对应的所述控制模块相连,用于向所述控制模块传输第一触发信号,所述控制模块根据所述第一触发信号控制多级选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号,所述检测模块根据所述触控扫描信号检测所述第一触发信号线对应的触控区域是否存在触摸;当所述检测模块检测到所述第一触发信号线对应的触控区域存在触摸时,该所述检测模块触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向控制模块输入初级触发信号,所述控制模块根据所述初级触发信号控制多级选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号,从而确定触控区域中触摸点的位置。
需要说明的是,相邻两组区域驱动检测电路之间可通过一些公共信号线连接。所述触控驱动检测电路中多级选通输出单元的输出端与显示面板中的触控驱动电极相连,所述显示面板内还设置有触控感应电极,所述触控驱动电极和所述触控感应电极相互绝缘,且均由透明导电材料制成,所述透明导电材料可通过氧化铟锡(ITO)、铟锡氧化物(IZO)、上述材料的组合或者其他透明导电材料制造。在本实施例中,所述显示面板可以内嵌式的、集成电容触控功能的显示面板,在触控显示面板时,由于人体存在电场,手指与显示面板内的触控驱动电极和触控感应电极之间形成耦合电容,由于触摸点的电容变化,在所述触控驱动电极和触控感应电极出现流向触摸点的感应电流,通过检测电路便可准确计算出触摸点的位置。在本实施例中,对检测电路的电路结构不做限定,只要能够检测出电流变化的电路结构即可。
在本实施例中,在触控扫描之前,首先确定第一区域驱动检测电路21、第二区域驱动检测22和第三区域驱动检测电路23分别对应的触控区域内是否存在触摸,当检测到触控区域内存在触摸时,再确定触控区域内触摸点的具体位置。具体来说,在触控扫描之前,首先通过第一触发信号线C1向第一组区域驱动检测电路21的控制模块211输入第一触发信号,所述第一触发信号控制第一区域驱动检测电路21中的10级选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号TX1-TX10,其次通过第一触发信号线C2向第二组区域驱动检测电路22的控制模块221输入第一触发信号,所述第一触发信号控制第二区域驱动检测电路22中的10级选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号TX11-TX20,再通过第一触发信号线C3向第三组区域驱动检测电路23的控制模块231输入第一触发信号,所述第一触发信号线控制第三区域驱动检测电路23中的10级选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号TX21-TX30。通过三次扫描能够判断第一区域驱动检测电路21、第二区域驱动检测电路22和第三区域驱动检测电路23分别对应的第一触控区域、第二触控区域和第三触控区域中是否存在触摸。当所述检测模块检测到第一触发信号线C1对应的第一触控区域或第一触发信号线C2对应的第二触控区域或第三触发信号线C3对应的第三触控区域不存在触摸时,控制模块进行下一次触控检测。
当有手指触摸触控区域时,触控感应电极上的感应电流会发生变化,通过检测电路检测到电流发生变化时,判断该触控区域存在触摸,例如,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号线C1、第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号线C2以及第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号线C3依次接收第一触发信号,经过三次扫描以后,所述检测电路检测到第二区域驱动检测电路22对应的第二触控区域存在触摸,则所述检测电路触发第二区域驱动检测电路22中的第二触发信号线STV2输入初级触发信号,控制第二区域驱动检测电路22中的10级选通输出单元逐级输出触控扫描信号TX11-TX20,扫描十次,从而确定第二触控区域中触摸点的位置,因此,从第一触控区域到第三触控区域总共需要扫描十三次,现有技术中的触控驱动电路则需要扫描三十次,扫描次数从现有技术中的三十次下降到十三次,报点率提高了2.3倍,功耗也会相应降低。在此过程中,第一区域驱动检测电路21对应的第一触控区域和第三区域驱动检测电路22对应的第三触控区域不存在触摸,则所述控制模块进行下一次触控检测,具体来说,所述控制模块进行完三次扫描以后立即进行下一次触控检测,确定第一触控区域、第二触控区域和第三触控区域中是否存在触摸,这种方式能够提高触控驱动电路的报点率,或者,所述控制模块进行等待,直到下一帧时进行下一次触控检测,确定第一触控区域、第二触控区域和第三触控区域中是否存在触摸,这种方式能够降低触控驱动电路的功耗。又例如:若检测到第一触控区域至第三触控区域中不存在触摸,则结束扫描。此时,本发明实施例提供的触控驱动检测电路只需要扫描三次,扫描次数从现有技术中的三十次下降到三次,报点率提高了10倍,大大降低了功耗。
需要说明的是,本实施例将区域驱动检测电路分为三组,每一组区域驱动检测电路中的选通输出模块包括十级选通输出单元只是一个具体实施例,并不用于限制本发明,在本发明的另一些实施例中,所述区域驱动检测电路可以分为多组,每一组区域驱动检测电路中的选通输出模块包括的选通输出单元的级数可以相同也可以不同,在此不对区域驱动检测电路的组数以及选通输出单元的级数进行限定,为了描述方便,在下面的描述中,均以三组区域驱动检测电路,每组区域驱动检测电路中选通输出模块包括10级选通输出单元为例进行说明。
接下来以优选的方式给出每一组区域驱动检测电路中控制模块和选通输出模块。
图3是本发明实施例提供的另一种触控驱动检测电路的结构图,如图3所示,每一组区域驱动检测电路中的控制模块包括移位寄存器单元和侦测单元,所述移位寄存器单元包括多级移位寄存器子单元,所述侦测单元包括多级侦测子单元,选通输出模块包括多级选通输出单元,移位寄存器子单元和侦测子单元一一对应,侦测子单元和选通输出单元一一对应。例如:第一组区域驱动检测电路21中的第一控制模块211包括移位寄存器单元2111和侦测单元2112,第一触发信号线C1与侦测单元2112相连,第二触发信号线STV1与移位寄存器单元2111相连。移位寄存器单元2111中的第一级移位寄存器子单元与侦测单元2112中的第一级侦测子单元相连,第一级侦测子单元与第一选通输出模块212中的第一级选通输出单元相连。第二组区域驱动检测电路22和第三组区域驱动检测电路23的电路连接与第一组区域驱动检测电路21的电路连接相同,在此不再赘述。
如图4所示,图4是本发明实施例提供的第一区域驱动检测电路的电路结构图,优选的,以第一区域驱动检测电路的电路结构为例,移位寄存器单元2111包括十级移位寄存器子单元,每一级移位寄存器子单元包括移位寄存器电路(如图4所示c1-c10)、与非门NAND(如图4所示NAND1-NAND10)、第一时钟信号线CKV1、第二时钟信号线CKV2和置位信号线RESET。移位寄存器电路c包括移位寄存输入端IN、时钟信号端CK、置位端RST和移位寄存输出端OUT,第一级移位寄存器电路c1的移位寄存输入端IN与该移位寄存器电路c1所在的第一区域驱动检测电路对应的第二触发信号线STV1相连,第二级移位寄存器电路c2至第10级移位寄存器电路c10的移位寄存输入端OUT分别与上一级移位寄存器电路的移位寄存输出端OUT相连。第一级移位寄存器电路c1的时钟信号端CK至第10级移位寄存器电路c10的时钟信号端CK分别交替的与第二时钟信号线CKV2和第一时钟信号线CKV1相连,所述第一时钟信号线CKV1和第二时钟信号线CKV2输入的第一时钟信号和第二时钟信号互为反信号,第一级移位寄存器电路c1的置位端RST至第10级移位寄存器电路c10的置位端RST均与置位信号线RESET相连,第一级与非门NAND1的第一输入端至第10级与非门NAND10的第一输入端与对应的移位寄存电路的移位寄存输出端相连,第一级与非门NAND1的第二输入端至第10级与非门NAND10的第二输入端分别交替的与第一时钟信号线CKV1以及第二时钟信号线CKV2相连,第一级与非门的输出端至第10级与非门的输出端分别与对应的侦测子单元相连。
需要说明的是,本发明实施例中第二区域驱动检测电路22和第三区域驱动检测电路23的结构与第一区域驱动检测电路21的结构相同,在此不再赘述。
优选的,图5是本发明实施例提供的移位寄存器电路的结构示意图,如图5所示,该移位寄存器电路包括第一时钟反相器CKINV1、第三反相器INV3、第二时钟反相器INV2、第二晶体管P2和第四反相器INV4。第一级移位寄存器电路c1中的第一时钟反相器CKINV1的输入端与该移位寄存器电路所在的第一区域驱动检测电路21对应的第二触发信号线STV1相连,第一时钟反相器CKINV1的输出端分别与第二时钟反相器CKINV2的输出端以及与第二晶体管P2的第二端相连,第二时钟信号线CKV2分别与第三反相器INV3的输入端以及第一时钟反相器CKINV1的第一控制端以及第二时钟反相器CKINV2的第二控制端相连,第三反相器INV3的输出端分别与第一时钟反相器CKINV1的第二控制端以及与第二时钟反相器CKINV2的第一控制端相连,第二晶体管P2的第一端与置位信号线RESET相连,置位信号线RESET输入的置位信号在显示面板上电前为低电平,当显示面板上电以后变为高电平,第二晶体管P2的第三端接地,第四反相器INV4的输入端与第二晶体管P2的第二端相连,第四反相器INV4的输出端以及第二时钟反相器CKINV2的输入端分别与下一级移位寄存器电路中的第一时钟反相器的输入端相连,以及与第一级与非门NAND1的第一输入端相连,即第四反相器INV4输出端输出的次级触发信号NEXT输入到第二级移位寄存电路。
在本实施例中,第二晶体管P2可以为PMOS管,第二晶体管P2的第一端、第二端和第三端分别为PMOS管的栅极G、源极S和漏极D。然而,这仅是第二晶体管P2的一个具体事例,在另一个事例中,第二晶体管P2也可以为NMOS管。
需要说明的是,图5所示的移位寄存器电路的结构示意图只是本发明实施例的一个具体事例,在本发明的另一些实施例中,移位寄存器电路还可以是其他结构,在此不做限定。
优选的,如图4所示,侦测单元2112包括十级侦测子单元,每一级侦测子单元包括第一传输门(如图4所示,d1-d10)、第一反相器INV1和第一晶体管N1,第一传输门(如图4所示,d1-d10)包括传输门输入端IN、正向控制端CP、反相控制端CN和传输门输出端OUT,所述第一传输门的输入端IN与所述侦测子单元对应的所述移位寄存器子单元的输出端相连,具体来说,所述第一传输门的输入端IN与所述侦测子单元对应的与非门的输出端相连,例如,第一级侦测子单元中第一传输门d1的输入端IN与第一级移位寄存器子单元中第一级与非门NAND1的输出端相连,所述正相控制端CP和所述第一晶体管N1的第一端分别与所述侦测单元2112所在的第一区域驱动检测电路21对应的所述第一触发信号线C1相连,所述反相控制端CN通过所述第一反相器INV1与所述第一触发信号线C1相连,所述第一晶体管N1的第二端分别与所述第一传输门的输出端OUT以及所述侦测子单元对应的所述选通输出单元相连,所述第一晶体管N1的第二端用于向所述选通输出单元212输出第三控制信号,所述第一晶体管N1的第三端用于接收第一固定电位VGL1。
在本实施例中,第一晶体管N1可以为NMOS管,第一晶体管N1的第一端、第二端和第三端分别为NMOS管的栅极G、漏极D和源极S。此时,所述第一NMOS管的源极用于接收一恒定电位的低电平,所述低电平的取值范围可以为-10V—-6V左右。然而,这仅是第一晶体管N1的一个具体事例,在另一个事例中,第一晶体管也可以为PMOS管。
优选的,图6是本发明实施例提供的第一传输门的结构图,如图6所示,所述第一传输门可包括第三晶体管P3和第四晶体管N4,所述第三晶体管P3和第四晶体管N4为分别为P型晶体管和N型晶体管,第三晶体管P3和第四晶体管P4并联连接,其中,第三晶体管P3的栅极G为所述第一传输门的正相控制端CP,所述第四晶体管N4的栅极G为所述第一传输门的反相控制端CN,所述第三晶体管P3的源极S和所述第四晶体管N4的漏极D连线的中点为所述第一传输门的输入端IN,所述第三晶体管P3的漏极D和所述第四晶体管N4的源极S连线的中点为所述第一传输门的输出端OUT。
优选的,如图4所示,选通输出模块212包括十级选通输出单元,每一级选通输出单元包括选通输出电路(如图4所示e1-e10)、第一控制线HRSW、第二控制线TXSW、第一电位保持线TXL、第二电位保持线TXH,选通输出电路(如图4所示e1-e10)包括第一控制端HRW、第二控制端TXW、第一电位保持端TL、第二电位保持端TH、第三控制端C和选通输出端OUT;第一控制端HRW、第二控制端TXW、第一电位保持端TL、第二电位保持端TH分别与第一控制线HRSW、第二控制线TXSW、第一电位保持线TXL、第二电位保持线TXH相连,第三控制端C与所述选通输出单元对应的侦测子单元的输出端相连,具体来说,第三端C与所述第一晶体管N1的第二端相连,用于接收所述第一晶体管N1传输的第三控制信号SC1,选通输出端OUT用于根据接收到的第一控制信号SHRSW、第二控制信号STXSW、第一电位保持信号STXL、第二电位保持信号STXH和第三控制信号SC1同时打开十级所述选通输出电路或逐级打开十级所述选通输出电路,从而同时输出十个触控扫描信号TX1-TX10或者逐级输出十个触控扫描信号TX1-TX10。
优选的,如图4所示,每一级所述选通输出单元还包括第二反相器INV4,第二反相器INV4的输入端与所述第一晶体管N1的第二端相连,所述第二反相器INV4的输出端与所述选通输出电路(如图4所示e1-e10)的第三控制端C相连。
需要说明的是,每一级所述选通输出单元还可包括Q个串联连接的第二反相器INV2(图4中未示出),第一个第二反相器的输入端与第一晶体管N1的第二端相连,第Q个第二反相器INV2的输出端与所述选通输出电路的第三控制端C相连,其中,Q为奇数。Q个第二反相器INV2串联连接以后,能够将第一晶体管N1输入的第三控制信号SC1进行放大后输入到所述选通输出电路的第三控制端C。本发明并不对第二反相器INV2的数目进行限定。
优选的,图7是本发明实施例提供的选通输出电路的结构图,如图7所示,每一级选通输出电路可包括选择电路e11、第一缓冲电路e12、第二缓冲电路e13、第二传输门e14和第三传输门e15。第一缓冲电路e12和第二缓冲电路e13的电路结构可以相同。选择电路e11的第一输入端HRW与第一控制线HRSW相连,选择电路e11的第二输入端TXW与第二控制线TXSW相连,选择电路e11的第三输入端C与所述第二反相器INV2的输出端SC相连,选择电路e11的第一输出端TXLW与第一缓冲电路e12的输入端IN相连,选择电路e11的第二输出端TXHW与第二缓冲电路e13的输入端IN相连,第一缓冲电路e12的第一输出端OUT和第二输出端NOUT分别与第二传输门e14的正相控制端CP和反相控制端CN相连,第二缓冲电路e13的第一输出端OUT和第二输出端NOUT分别与第三传输门e15的反相控制端CN和正相控制端CP相连,第二传输门e14的输入端IN和第三传输门e15的输入端IN分别与第一电位保持线TXL和第二电位保持线TXH相连,第二传输门e14的输出端OUT和第三传输门e15的输出端OUT相连作为所述选通输出电路的选通输出端OUT。
优选的,图8是本发明实施例提供的选择电路的结构图,如图8所示,选择电路e11可包括第五反相器INV5、第四传输门e16、第五传输门e17、第六传输门e18和第五晶体管N5,所述第二反相器INV2的输出端SC1分别与第五反相器INV5的输入端、第四传输门e16的正相控制端CP、第五传输门e17的反相控制端CN以及第六传输门e18的反相控制端CN相连,第五反相器INV5的输出端分别与所述第四传输门e16的反相控制端CN、所述第五传输门e17的正相控制端CP、第六传输门e18的正相控制端CP以及所述第五晶体管N5的第一端相连,第四传输门e16的输入端与第一控制线HRSW相连,第四传输门e16的输出端OUT与第五传输门e17的输入端相连,第四传输门e16的输出端与第五传输门e17的输入端的连线作为选择电路e11的第二输出端TXHW,第五传输门e17的输出端OUT分别与第二控制线TXSW以及第六传输门e18的输入端IN相连,第六传输门e18的输出端OUT与第五晶体管N5的第二端相连作为所述选择电路e11的第一输出端TXLW,所述第五晶体管N5的第三端用于接收第二固定电位VGL2。
在本实施例中,第二传输门e14、第三传输门e15、第四传输门e16、第五传输门e17和第六传输门e18的结构与所述第一传输门的结构相同,均为一个N型晶体管和一个P型晶体管构成的传输门结构,在此不再赘述。
需要说明的是,在本实施例中,所述第五晶体管N5可以为NMOS管或者NPN型晶体管,当所述第五晶体管N5为NMOS晶体管时,所述第五晶体管的第一端、第二端和第三端分别为所述NMOS管的栅极G、漏极D和源极S。所述第二固定电位为恒定的低电压,所述低电压的取值范围可以为-6V—-10V,本实施例只是一个具体事例,在本发明实施例的另一个具体事例中,第五晶体管可以为PMOS管或PNP型晶体管。
优选的,图9是本发明实施例提供的第一缓冲电路或第二缓冲电路的结构图,如图9所示,所述第一缓冲电路e12或所述第二缓冲电路e13可分别包括第六反相器INV6、第七反相器INV7、第八反相器INV8和第九反相器INV9,第六反相器INV6的输入端作为所述第一缓冲电路e12或所述第二缓冲电路e13的输入端,第六反相器INV6的输出端分别与第七反相器INV7的输入端和第八反相器INV8的输入端相连,第七反相器INV7的输出端和第九反相器INV9的输入端相连,第八反相器INV8的输出端和第九反相器INV9的输出端分别作为所述第一缓冲电路e12或所述第二缓冲电路e13的第一输出端OUT和第二输出端NOUT。
在本实施例中,依次向第一组区域驱动检测电路21对应的第一触发信号线C1、第二组区域驱动检测电路22对应的第一触发信号线C2以及第三组区域驱动检测电路23对应的第一触发信号线C3施加第一触发信号,控制每个区域驱动检测电路中的10级所述侦测子单元中的第一传输门同时断开,并且控制10级所述侦测子单元中的第一晶体管N1同时打开,控制所述10级选通输出单元同时打开以使得N级所述选通输出单元同时输出扫描信号,以侦测该区域驱动检测电路对应的侦测区域是否存在扫描。
对于每个区域驱动检测电路,当该区域驱动检测电路中的N级选通输出单元同时输出触控扫描信号后,向该区域驱动检测电路对应的第一触发信号线施加第二触发信号,控制该区域驱动检测电路中N级所述侦测子单元中的第一传输门打开,同时触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向第一级所述移位寄存器电路输入初级触发信号,控制第一级所述选通输出单元至第N级所述选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号。
下面将结合图2至图9以及图10a和图10b以第一晶体管N1为NMOS型晶体管或者NPN型晶体管为例对本发明实施例提供的触控驱动检测电路的工作原理做进一步的说明。
图10a是本发明实施例提供的触控驱动检测电路进行触控扫描之前,各组区域驱动检测电路中移位寄存器单元、侦测单元和选通输出单元的各输入端的输入信号和各输出端的输出信号的时序图。
图10b是本发明实施例提供的触控驱动检测电路进行触控扫描时,各组区域驱动检测电路中移位寄存器单元、侦测单元和选通输出单元各输入端的输入信号和各输出端的输出信号的时序图。
在图10a和图10b中,SC1代表第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号线C1输入的第一触发信号,SC2代表第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号线C2输入的第一触发信号,SC3代表第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号线C3输入的第一触发信号,SSTV1代表第一区域驱动检测电路21对应的第二触发信号线STV1输入的初级触发信号,SSTV2代表第二区域驱动检测电路22对应的第二触发信号线STV2输入的初级触发信号,SSTV3代表第三区域驱动检测电路23对应的第二触发信号线STV3输入的初级触发信号,SCKV1表示第一时钟信号线CKV1输入的第一时钟信号,SCKV2表示第二时钟信号线CKV2输入的第二时钟信号,SREST表示置位信号线REST输入的置位信号,TX1-TX10代表第一区域驱动检测电路21中各级选通输出单元输出的触控扫描信号,TX11-TX21代表第二区域驱动检测电路22中各级选通输出单元输出的触控扫描信号,TX21-TX30代表第三区域驱动检测电路23中各级选通输出单元输出的触控扫描信号,STXH代表第二电位保持线TXH输入的第二电位保持信号,STXL代表第一电位保持线TXL输入的第一电位保持信号,SHRSW代表第一控制线HRSW输入的第一控制信号,STXSW代表第二控制线TXSW输入的第二控制信号。
对本发明实施例提供的触控驱动检测电路的工作原理做进一步的说明之前,对输入信号和输出信号为低电平信号和高电平信号做一个简单设定,即用0来表示输入信号和输出信号为低电平信号,用1来表示输入信号和输出信号为高电平信号。并且在图10a和图10b所示的时序过程中,t1到t11十一个时刻依次逐渐增大。第一晶体管N1为NMOS晶体管,所述NMOS晶体管的源极接收到的第一固定电位VGL1为恒定的低电平信号。
在触控扫描之前,首先检测三组区域驱动检测电路对应的触控区域中是否存在触摸。如图10a所示的时序图,在t1时刻,第一电位保持信号STXL为低电平0,第二电位保持信号STXH为脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW由低电平0变为高电平1,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号SC1由低电平0变为高电平1,第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号SC2和第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号SC3保持低电平0状态。
在t1时刻至t2时刻之间,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号SC1保持高电平1,第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号SC2和第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号SC3保持低电平0,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH保持脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW保持高电平1,此时第一区域驱动检测电路21中侦测单元2112中的10级侦测子单元中的第一晶体管N1打开,第一传输门(d1-d10)中的第三晶体管P3和第四晶体管P4关断,此时第一传输门(d1-d10)处于关断状态,当第一晶体管N1打开时,第一晶体管N1的第三端接收到的第一固定低电平VGL1输入到各级侦测子单元对应的选通输出单元中的第二反相器INV2的输入端,通过第二反相器INV2以后转变为第三控制信号SC1(高电平1)输入到选通输出电路(e1-e10)的第三控制端C,此时,选通输出电路(e1-e10)的第一控制端HRW接收高电平1、第二控制端TXW接收高电平1、第一电位保持端TL接收到低电平0、第二电位保持端TH接收脉冲信号,选通输出电路(e1-e10)在第一控制端接收到的第一控制信号SHRSW、第二控制端接收到的第二控制信号STXSW、第一电位保持端接收到的第一电位保持信号STXL、第二电位保持端接收到的第二电位保持信号STXH以及第三控制端接收到的第三控制信号IO4的控制下同时打开,使得第一级选通输出端电路e1到第十级选通输出电路e10的输出端同时输出触控扫描信号TX1-TX10。具体地,当第三控制端C接收到高电平1时,选择电路e11中的第四传输门e16、第五传输门e17和第六传输门e18打开,使得选择电路e11的第一输出端TXLW和第二输出端TXHW输出高电平1,第一缓冲电路e12和第二缓冲电路e13分别接收到所述高电平1后,第一缓冲电路e12的第一输出端OUT输出高电平1到第二传输门e14的正相控制端CP,第二输出端NOUT输出低电平1到第二传输门e14的反相控制端CN,使得第二传输门e14关断,第二缓冲电路e13的第一输出端OUT输出高电平1到第三传输门e15的反相控制端CN,第二输出端NOUT输出低电平0到第三传输门e15的正相控制端CP,使得第三传输门e15打开,从而将第二电位保持线TXSW输入的脉冲信号通过第一区域驱动检测电路21中的选通输出电路(e1-e10)的输出端输出,从而选通输出电路(e1-e10)的输出端TX1-TX10同时输出触控扫描信号。
在此过程中,第二区域驱动检测电路22和第三区域驱动检测电路23中第一触发信号线输入的第一触发信号为低电平0,此时第二区域驱动检测电路22中侦测单元2212中的各级侦测子单元中的第一晶体管N1处于截止状态,因此,第一晶体管N1的第二端不会向第二反相器INV2的输入端输入低电平,因此,选通输出电路的第三控制端C不能接收到高电平,因此,第二区域驱动检测电路22和第三区域驱动检测电路23中的选通输出单元不会输出触控扫描信号。
在t2时刻,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号SC1从高电平1变为低电平0,第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号SC2从低电平0变为高电平1,第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号SC3保持低电平0不变,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH保持脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW保持高电平。
在t2时刻至t3时刻,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号SC1保持低电平0,第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号SC2保持高电平1,第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号SC3保持低电平0,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH保持脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW保持高电平1,此时,第二区域驱动检测电路22中的选通输出单元的输出端同时输出触控扫描信号TX11-TX20。第二区域驱动检测电路22中的侦测单元2212和选通输出单元的电路结构与第一区域驱动检测电路中的侦测单元和选通输出单元的电路结构相同,工作原理相同,在此不再赘述。
在t3时刻,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH保持脉冲信号,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号SC1保持低电平0,第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号SC2由高电平1变为低电平0,第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号SC3由低电平0变为高电平1,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW保持高电平1,此时,第二区域驱动检测电路22对应的触控区域完成触摸检测,第三区域驱动检测电路23开始对第三触控区域进行触摸检测。
在t3时刻至t4时刻,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH保持脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW保持高电平1,第一区域驱动检测电路21对应的第一触发信号SC1和第二区域驱动检测电路22对应的第一触发信号SC2保持低电平0,第三区域驱动检测电路23对应的第一触发信号SC3保持高电平1,此时,第三区域驱动检测电路23中的各级选通输出单元的输出端同时输出触控扫描信号TX21-TX30。第三区域驱动检测电路23中的侦测单元和选通输出单元的电路结构与第一区域驱动检测电路21中的侦测单元和选通输出单元的电路结构相同,工作原理相同,在此不再赘述。
在t1时刻到t4时刻,这段时间段为检测第一区域驱动检测电路21对应的第一触控区域、第二区域驱动检测电路22对应的第二触控区域和第三区域驱动检测电路23对应的第三触控区域是否存在触摸的时间段,此时第一区域驱动检测电路21对应的初级触发信号SSTV1、第二区域驱动检测电路22对应的初级触发信号SSTV2和第三区域驱动检测电路23对应的初级触发信号SSTV3未被触发,当检测到其中一个或几个触控区域存在触摸时,与该触控区域对应的初级触发信号才会被触发。例如:假设检测电路检测到第一区域驱动检测电路21对应的第一触控区域存在触摸,此时检测电路触发第一区域驱动检测电路21中的第二触发信号线STV1输入初级触发信号SSTV1。
如图10b所示的时序图,当检测到第一区域驱动检测电路21中存在触摸时,此时,在t5时刻之前,置位信号线REST输入的置位信号SREST在显示面板开始上电前为低电平,当显示面板上电后立刻变为高电平,检测电路在t5时刻触发第一区域驱动检测电路21中的初级触发信号SSTV1由低电平0变为高电平1,触发第一区域驱动检测电路21中的移位寄存器单元2111开始工作,此时第二区域驱动检测电路22中的初级触发信号SSTV2和第三区域驱动检测电路23中的初级触发信号SSTV3保持低电平0,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH变为脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW变为高电平0。第一时钟信号SCKV1和第二时钟信号SCKV2为低电平0。
在t6时刻,第一电位保持信号STXL保持低电平0,第二电位保持信号STXH保持脉冲信号,第一控制信号SHRSW和第二控制信号STXSW保持高电平1,第一时钟信号SCKV1保持低电平0,第二时钟信号SCK2由低电平0变为高电平1,此时,第一级移位寄存器子单元中的移位寄存器电路c1的移位寄存输入端IN接收初级触发信号SSTV1,第一级移位寄存器子单元中的移位寄存器电路c1的时钟信号端CK接收第二时钟信号SCK2,使得第一时钟反相器CKINV1打开,第二时钟反相器SCKINV2关闭,从而初级触发信号SSTV1的高电平0通过第一时钟反相器SCKINV1后输入到第四反相器INV4的输入端,使得第四反相器INV4的输出端输出高电平1,即第一级移位寄存器电路c1的输出端输出高电平1,并将所述高电平1分别发送到第一级与非门NAND1的第二输入端以及第二级移位寄存器电路的移位寄存输入端。
在t7时刻,第一区域驱动电路21接收到的初级触发信号SSTV1保持高电平1,第一时钟信号SCKV1保持低电平0,第二时钟信号SCK2由高电平1变为低电平0,此时第一级移位寄存器电路c1的输出端输出高电平1,由于第一时钟信号SCKV1为低电平0,此时,第一级选通输出单元没有输出触控扫描信号。
在t8时刻至t9时刻,第一区域驱动电路21接收到的初级触发信号SSTV1变为低电平0,第一时钟信号SCKV1由低电平0变为高电平1,第二时钟信号SCK2保持低电平0,第一级与非门NAND1的输出端输出低电平0,由于第一侦测信号SC1为低电平0,因此,第一级侦测子单元中的第一传输门d1打开,所述第一级与非门NAND1输出的低电平0通过第一级侦测子单元中的第一传输门d1传输到第一级选通输出单元的第二反相器INV2中,第二反相器INV2的输出端输出第三控制信号SC1(高电平1)到第一级选通输出电路e1的第三控制端C,控制第一级选通输出电路e1输出触控扫描信号TX1。
在t9时刻,第一时钟信号SCKV1由高电平1变为低电平0,第二时钟信号SCK2保持低电平0,此时第二级移位寄存器电路接收到第一级移位寄存器电路输出次级触发信号,所述次级触发信号为第一级移位寄存器电路输出的高电平1,第二级移位寄存器电路的移位寄存输出端输出高电平1,第二级与非门NAND2的第二输入端接收到的第二时钟信号SCK2为低电平0,此时,第二级选通输出单元的输出端没有触控扫描信号。
在t10时刻至t11时刻,第二时钟信号SCK2由低电平0变为高电平1,第二级与非门NAND2的第一输入端和第二输入端分别接收到高电平1,第二与非门NAND2的输出端输出低电平0,由于第一触发信号SC1为高电平,因此,第二级侦测子单元中的第一传输门d2打开,将第二级与非门NAND2输出的低电平0传输到第二级选通输出单元的第二反相器INV2的输入端,第二反相器INV2的输出端输出高电平1控制第二级选通输出电路e2的输出端输出触控扫描信号TX2。
以此类推,直至第十级选通输出单元中选通输出电路的输出端输出触控扫描信号为止。在此过程中,第一级选通输出单元至第十级选通输出单元逐级输出触控扫描信号,每一级选通输出单元的输出端连接一个触控驱动电极,当手指触摸显示面板时,手指与显示面板内的触控驱动电极和触控感应电极之间形成耦合电容,所述触控驱动电极和触控感应电极的方向相互垂直,由于触摸点的电容变化,在触控驱动电极和触控感应电极之间出现流向触摸点的感应电流,通过检测电路便可准确计算出触摸点的位置。
需要说明的是,本实施例只是检测到一组区域驱动检测电路对应的触控区域中存在触摸的一个具体事例,仅仅用于解释本发明,并非对本发明的限定,在本发明的另一些实施例中,例如:当检测到第一区域驱动检测电路和第二区域驱动检测电路对应的触控区域存在触摸时,当第一区域驱动检测电路中选通输出单元逐级输出触控扫描信号TX1-TX10时,第二区域驱动检测电路中的第二触发信号线输入的初级触发信号变为高电平,触发第二区域驱动检测电路中的各级移位寄存器子单元工作,控制第二区域驱动检测电路中的各级选通输出单元逐级输出触控扫描信号TX11-TX20。
本发明实施例还提供一种显示面板。图11是本发明实施例提供的一种显示面板的结构图。参见图11,显示面板包括对置基板31、与对置基板31相对设置的阵列基板32、在对置基板31和阵列基板32之间的中间层33。其中,阵列基板32中可以包含上述实施例所述的触控驱动检测电路(未图示)。
具体地,中间层33与显示面板的显示类型有关。当采用液晶显示时,中间层33为液晶层,对置基板31可以为彩膜基板,通过设置在对置基板31中的公共电极和设置在阵列基板32中的像素电极之间形成的电场(对应扭曲向列型)或者通过设置在阵列基板32内的公共电极和像素电极之间形成的电场(对应边缘场开关型或者平面转换型)来控制液晶层中的液晶分子的转动,从而实现显示效果。
当采用有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,简称OLED)显示时,中间层33用于设置有机发光层,对置基板31可以为彩膜基板、封装玻璃(Cover Glass)或者盖板玻璃(Cover Lens)等,通过阵列基板32来控制有机发光层发光来实现显示效果。
本发明实施例还提供一种显示装置。图12是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。参见图12,显示装置包括显示面板41,还可以包括触控驱动检测电路和其他用于支持显示装置40正常工作的器件。其中,所述显示面板41为上述实施例中所述的显示面板。上述的显示装置40可以为手机、台式电脑、笔记本、平板电脑、电子纸中的一种。
本发明实施例提供的触控驱动检测电路、显示面板和显示装置,通过将触控驱动检测电路划分为多组区域驱动检测电路,每个区域驱动检测电路中的控制模块根据接收到的侦测信号控制多级选通输出单元同时打开以输出触控扫描信号,检测模块根据输出的所述触控扫描信号检测该区域驱动检测电路对应的触控区域是否存在触摸,当该区域驱动检测电路对应的触控区域存在触摸时,所述检测模块触发该区域驱动检测电路中的触发信号线向所述控制模块输入触发信号,从而控制多级所述选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号,从而确定所述触控区域中触摸点的具体位置。由于将驱动电路进行分区域划分,在进行触控扫描之前,先侦测每个区域驱动检测电路对应的触控区域是否存在触摸,当所述触控区域存在触摸时,再进行逐级扫描以确定该触控区域中触摸点的位置,从而能够实现不同触控区域的单独触控,且能够节省触控扫描的时间,提高驱动检测电路的报点率并降低功耗。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (16)
1.一种触控驱动检测电路,其特征在于,包括:
多组区域驱动检测电路,对应多个触控区域;
每一组所述区域驱动检测电路包括控制模块、选通输出模块、检测模块、第一触发信号线和第二触发信号线,所述选通输出模块包括多级选通输出单元;
所述第一触发信号线与所述控制模块相连,用于向所述控制模块传输第一触发信号,所述控制模块根据所述第一触发信号控制多级所述选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号,所述检测模块根据所述触控扫描信号检测所述第一触发信号线对应的触控区域是否存在触摸;
当所述检测模块检测到所述第一触发信号线对应的触控区域存在触摸时,该检测模块触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向所述控制模块输入初级触发信号,所述控制模块根据所述初级触发信号控制多级所述选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号,从而确定所述触控区域中触摸点的位置。
2.根据权利要求1所述的触控驱动检测电路,其特征在于,当所述检测模块检测到所述第一触发信号线对应的触控区域不存在触摸时,所述控制模块进行下一次触控检测。
3.根据权利要求1所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述控制模块包括移位寄存器单元和侦测单元,所述第一触发信号线与所述侦测单元相连,所述第二触发信号线与所述移位寄存器单元相连。
4.根据权利要求3所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述移位寄存器单元包括N级移位寄存器子单元,所述侦测单元包括N级侦测子单元,所述选通输出模块包括N级选通输出单元,所述移位寄存器子单元和所述侦测子单元一一对应,所述侦测子单元和所述选通输出单元一一对应,其中,N为正整数。
5.根据权利要求4所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述侦测子单元包括第一传输门、第一反相器和第一晶体管,所述第一传输门包括传输门输入端、正相控制端、反相控制端和传输门输出端;
所述第一传输门的输入端与所述侦测子单元对应的所述移位寄存器子单元的输出端相连,所述正相控制端和所述第一晶体管的第一端分别与所述侦测单元所在的区域驱动检测电路对应的所述第一触发信号线相连,所述反相控制端通过所述第一反相器与所述第一触发信号线相连;
所述第一晶体管的第二端分别与所述第一传输门的输出端以及所述侦测子单元对应的所述选通输出单元相连,所述第一晶体管的第二端用于向所述选通输出单元输出第三控制信号,所述第一晶体管的第三端用于接收第一固定电位。
6.根据权利要求5所述的触控驱动检测电路,其特征在于,多个所述区域驱动检测电路对应的第一触发信号依次接收第一触发信号,控制每个区域驱动检测电路中的N级所述侦测子单元中的第一传输门同时断开,并且控制N级所述侦测子单元中的第一晶体管同时打开,控制所述N级选通输出单元同时打开以同时输出触控扫描信号,所述检测模块检测该区域驱动检测电路对应的触控区域是否存在触摸;
当所述检测模块检测到所述第一触发信号线对应的触控区域存在触摸时,该区域驱动检测电路对应的第一触发信号线接收第二触发信号,控制该区域驱动检测电路中N级所述侦测子单元中的第一传输门打开,同时触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向第一级所述移位寄存器电路输入初级触发信号,控制第一级所述选通输出单元至第N级所述选通输出单元逐级打开以逐级输出触控扫描信号。
7.根据权利要求4所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述移位寄存器子单元包括移位寄存器电路、与非门、第一时钟信号线、第二时钟信号线和置位信号线;
所述移位寄存器电路包括移位寄存输入端、时钟信号端、置位端和移位寄存输出端;
第一级所述移位寄存器电路的移位寄存输入端与该移位寄存器电路所在的区域驱动检测电路对应的第二触发信号线相连,第二级所述移位寄存器电路至第N级所述移位寄存器电路的移位寄存输入端分别与上一级所述移位寄存器电路的移位寄存输出端相连;
第一级所述移位寄存器电路至第N级所述移位寄存器电路的时钟信号端分别交替的与第二时钟信号线和第一时钟信号线相连;
第一级所述移位寄存器电路至第N级所述移位寄存器电路的置位端均与所述置位信号线相连;
第一级所述与非门的第一输入端至第N级所述与非门的第一输入端与对应的所述移位寄存电路的移位寄存输出端相连,第一级所述与非门的第二输入端至第N级所述与非门的第二输入端分别交替的与所述第一时钟信号线以及所述第二时钟信号线相连,第一级所述与非门的输出端至第N级所述与非门的输出端分别与对应的所述侦测子单元相连。
8.根据权利要求7所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述第一时钟信号线和所述第二时钟信号线输入的第一时钟信号和第二时钟信号互为反相信号。
9.根据权利要求4所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述选通输出单元包括选通输出电路、第一控制线、第二控制线、第一电位保持线和第二电位保持线;
所述选通输出电路包括第一控制端、第二控制端、第一电位保持端、第二电位保持端、第三控制端和选通输出端;
所述第一控制端、第二控制端、第一电位保持端、第二电位保持端分别与所述第一控制线、第二控制线、第一电位保持线、第二电位保持线相连,所述第三控制端与所述选通输出单元对应的侦测子单元的输出端相连,用于接收所述侦测子单元输出的第三控制信号,所述选通输出端用于根据接收到的第一控制信号、第二控制信号、第一电位保持信号、第二电位保持信号和第三控制信号输出触控扫描信号。
10.根据权利要求9所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述选通输出单元还包括第二反相器,所述第二反相器的输入端与所述第一晶体管的第二端相连,所述第二反相器的输出端与所述选通输出电路的第三控制端相连。
11.根据权利要求10所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述选通输出电路包括选择电路、第一缓冲电路、第二缓冲电路、第二传输门和第三传输门;
所述选择电路的第一输入端与所述第一控制线相连,所述选择电路的第二输入端与所述第二控制线相连,所述选择电路的第三输入端与所述第二反相器的输出端相连,所述选择电路的第一输出端与所述第一缓冲电路的输入端相连,所述选择电路的第二输出端与所述第二缓冲电路的输入端相连;
所述第一缓冲电路的第一输出端和第二输出端分别与所述第二传输门的正相控制端和反相控制端相连;
所述第二缓冲电路的第一输出端和第二输出端分别与所述第三传输门的反相控制端和正相控制端相连;
所述第二传输门的输入端和所述第三传输门的输入端分别与第一电位保持线和第二电位保持线相连,所述第二传输门的输出端和所述第三传输门的输出端相连作为所述选通输出电路的选通输出端。
12.根据权利要求5-11任一所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述第一晶体管为N型晶体管或者所述第一晶体管为P型晶体管。
13.根据权利要求12所述的触控驱动检测电路,其特征在于,当所述第一晶体管为N型晶体管时,所述第一固定电位为-10V—-6V。
14.根据权利要求13所述的触控驱动检测电路,其特征在于,所述第一触发信号为高电平,控制每个区域驱动检测电路中的N级侦测子单元中的第一传输门同时断开,并且控制N级侦测子单元中的第一晶体管同时打开,以向N级选通输出电路输入高电平,控制所述N级选通输出电路同时打开以同时输出触控扫描信号,从而侦测该区域驱动检测电路对应的触控区域是否存在触摸;
所述第二触发信号为低电平,控制每个区域驱动检测电路中的N级侦测子单元中的第一传输门同时打开,同时当其中一个区域驱动检测电路对应的触控区域存在触摸时,触发该区域驱动检测电路中的第二触发信号线向第一级所述移位寄存器电路输入初级触发信号,控制第一级所述移位寄存器电路至第N级所述移位寄存器电路逐级输出高电平,第一级与非门至第N级与非门的输出端输出低电平,并将所述低电平通过对应侦测子单元中的第一传输门传输到对应选通输出单元中的第二反相器中,控制第一级选通输出电路至第N级选通输出电路逐级打开以逐级输出触控扫描信号。
15.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求1-14任一项所述的触控驱动检测电路。
16.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求15所述的显示面板。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |