CN104535920A - Bist的测试电路和测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种BIST的测试电路和测试方法，该测试电路包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；待测试电路的输入端与驱动电路的输出端连接；待测试电路的输出端与处理电路的输入端连接；处理电路的输出端与计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。通过内部集成处理电路和计算电路，直接获取需要的待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。

Description

BIST的测试电路和测试方法

技术领域

本发明实施例涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种内建自测(英文：Built-in Self Test，简称：BIST)的测试电路和测试方法。

背景技术

在当前的电子产品设计中，集成电路的应用越来越广泛，且集成度也越来越高。片上系统(英文：System on Chip，简称：SOC)芯片中集成了大量的模拟IP，包括了大量的模/数转换器(英文：Analog-to-Digital Converter，简称：ADC)电路和数/模转换器(英文：Digital to analog converter，简称DAC)电路。

ADC电路和DAC电路均包括一个模拟接口和数字接口，模拟接口引出到管脚上，数字接口为内部接口，SOC芯片在晶元生产出来之后，需要进行电路探针(英文：Circuit Probing，简称：CP)测试，在SOC芯片封装完成之后，还需要进行FT测试，现有的测试方案主要是：将SOC芯片设置进入ADC/DAC测试模式，将ADC电路和DAC电路的数字接口复用到芯片管脚上。ADC测试的方法是从测试机台的模拟信号源发送正弦波给ADC电路，同时接收ADC数字接口的数字正弦波，进行FFT分析，计算得到ADC电路的性能。DAC电路的测试方法是通过数字接口灌入数字正弦波，在机台端用数字采样板卡将DAC输出的模拟正弦信号数字化之后进行FFT分析，得到DAC电路的性能。

但是，上述测试ADC电路和DAC电路的方法需要测试机台提供模拟信号源、数字接口板卡、数字信号源以及数字采集板卡，并在测试时进行设置和计算，导致测试时间长，效率低。

发明内容

本发明实施例提供一种BIST的测试电路和测试方法，以解决现有技术中需要测试机台提供模拟信号源、数字接口板卡、数字信号源以及数字采集板卡，并在测试时进行设置和计算，导致的测试时间长效率低的问题。

本发明实施例第一方面提供一种BIST的测试电路，包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；所述待测试电路的输入端与所述驱动电路的输出端连接；所述待测试电路的输出端与所述处理电路的输入端连接；所述处理电路的输出端与所述计算电路的输入端连接；

所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

本发明实施例第二方面提供一种BIST的测试方法，包括：

待测试电路根据驱动电路发送的驱动信号获取数字信号，并向处理电路发送所述数字信号；

所述处理电路消除所述数字信号中的直流失调，并将消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；

所述处理电路将消除直流失调后的所述数字信号、所述测试信号和所述有效噪声信号发送给所述计算电路；

所述计算电路根据消除直流失调后的所述数字信号、所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

本发明实施例提供的BIST的测试电路和测试方法，通过将待测试电路与驱动电路、处理电路以及计算电路集成在一起，处理电路消除待测试电路的测试信号的直流失调，并进一步对测试信号进行滤波和陷波处理获取测试信号和有效噪声信号，通过计算电路计算处理电路输出的测试信号和有效噪声信号，从而获取待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明BIST的测试电路实施例一的原理示意图；

图2为本发明BIST的测试电路实施例二的原理示意图；

图3为本发明模拟开关的结构图；

图4为本发明数字信号发生电路的原理示意图；

图5为本发明BIST的测试方法实施例一的流程图；

图6为本发明BIST的测试方法实施例二的流程图；

图7为本发明BIST的测试方法实施例二的滤波器实例的频谱图；

图8为本发明BIST的测试方法实施例二的陷波器实例的频谱图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明BIST的测试电路实施例一的原理示意图，如图1所示，该BIST的测试电路，包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；所述待测试电路的输入端与所述驱动电路的输出端连接；所述待测试电路的输出端与所述处理电路的输入端连接；所述处理电路的输出端与所述计算电路的输入端连接；所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

在本实施例中，所述驱动电路用于为整个BIST的测试电路中的待测试电路、处理电路和计算电路等所有电路模块提供时钟信号，驱动各个电路进行工作。所述处理电路用于对待测试电路发出的数字信号进行直流检测，并消除其中的直流失调，并对消除直流失调后的数字信号进行滤波处理，将不需要的带宽以外的噪声和杂波滤除，获取测试信号，所述处理电路进一步对所述测试信号进行陷波处理，将其中的有效的信号去除，获取到有效噪声信号，该有用的噪声信号为纯噪声和杂波，处理电路将所述去除直流失调后的数字信号、测试信号、有效噪声信号输出给后续的计算电路，以使计算电路计算获取待测试电路的性能指标。

本实施例提供的BIST的测试电路，通过将待测试电路与驱动电路、处理电路以及计算电路集成在一起，处理电路消除待测试电路的测试信号的直流失调，并进一步对测试信号进行滤波和陷波处理获取测试信号和有效噪声信号，通过计算电路计算处理电路输出的测试信号和有效噪声信号，从而获取待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。

图2本发明BIST的测试电路实施例二的原理示意图。如图2所示，所述待测试电路包括至少一个ADC电路和至少一个DAC电路；所述驱动电路包括数字信号发生器电路和时钟电路；所述时钟电路的输出端分别与所述ADC电路的驱动端和所述DAC电路的驱动端连接；所述ADC电路的输入端与所述DAC电路的输出端连接；所述数字信号发生电路的输出端与所述DAC电路的输入端连接。

所述处理电路包括直流检测消除电路、滤波电路和陷波电路；所述计算电路包括信号功率计算电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路；所述ADC电路的输出端与所述直流检测消除电路的输入端连接；所述直流检测消除电路的输出端分别与所述滤波电路的输入端和测试结果计算电路的输入端连接；所述滤波电路的输出端分别与所述陷波电路的输入端和所述信号功率计算电路的输入端连接；所述陷波电路的输出端与所述噪声功率计算电路的输入端连接；所述测试结果计算电路的输入端分别与所述信号功率计算电路的输出端和所述噪声功率计算电路的输出端连接。

在本实施例中，所述直流检测消除电路用于消除所述数字信号的直流失调，所述滤波电路用于对消除直流失调之后的所述数字信号进行滤波处理，滤除所述数字信号中的无效噪声，获取所述测试信号；所述信号陷波电路用于对所述测试信号进行陷波处理，获取所述有效噪声信号。特别的，所述ADC电路的工作频率与所述DAC电路的工作频率成整数倍关系。

特别的，该DAC电路和ADC电路均为待测试电路，本发明中的DAC电路和ADC电路之间可以使用模拟开关进行连接，在测试的时候将模拟开关导通进行测试，使得模拟正弦波信号由DAC电路的输出端输出到ADC电路的输入端，测试完成后将模拟开关断开。该待测试电路中可包含多个DAC电路和多个ADC电路，可以采用多个模拟开关阵列对各个DAC电路和ADC电路进行逐一测试。例如：有两个DAC电路和三个ADC电路，可以按照DAC电路1与ADC电路1连接进行测试，DAC电路2与ADC电路2连接进行测试，DAC电路2与ADC电路3连接进行测试，上述三种连接方式的测试需要分别与后续的处理电路、计算电路组成自测电路进行测试，获取每个DAC电路和ADC电路的组合的性能指标，具体的顺序本发明不做限制，可自行选择。测试。

另外，对于多个DAC电路和多个ADC电路，也可以同时进行测试，对于每个DAC电路和ADC电路的组合设置一套处理电路和计算电路组成多个自测电路模块进行测试获取每个DAC电路和ADC电路的组合的性能指标。

具体的，图3为本发明模拟开关的结构图，如图3所示，设计上需要保证该开关性能要远远高于ADC电路或DAC电路的性能，才能保证测试的有效性。同时也需要保证在正常模式下该开关(断开时)不能影响电路的正常性能。在设计实施例中，结构如图3所示，采用了一个PMOS和NMOS互补的开关，以保证性能。

图4为本发明数字信号发生电路的原理示意图，如图4所示，数字信号发生电路可以包括：频率模块、相位累加模块、查找表和增益控制模块，通过这些功能模块来实现数字正弦波的发生，发出的数字正弦波信号的频率是DAC电路输入数据率的N分之一(N为正整数)，此整数的选取一般考虑测试中谐波的总数，在设计实例中取值为11。其中，频率模块输出一个小于N的整数(一般取1)，输入到相位累加电路，相位累加电路是一个模N的加法器，输出的是N地址查找表的地址，查找表输出的码流再经过一个增益控制模块输出到DAC电路。该数字信号发生电路用于发出测试用数字正弦波信号，同时根据测试需求对信号幅度和频率进行控制。发出的数字正弦波信号位数与DAC电路分辨率相同，输入到DAC电路进行发送。DAC电路将上述数字正弦波信号转换成模拟正弦波信号。ADC电路用于将DAC电路发送过来的模拟正弦波信号数字化转换成为数字信号，并将数字信号输出到直流检测消除电路，

直流检测消除电路，用于将测量上述数字信号的直流失调，同时在后续的信号中将直流失调消除，消除后的信号发送给滤波电路。

滤波电路对去除直流后的数字信号进行滤波，将感兴趣的带宽以外的噪声和杂波滤除，获取测试信号，并将该测试信号分别发送给后续的两个电路模块，分别是信号功率计算电路和陷波电路。

陷波电路用于将测试信号去除，获取有效噪声信号，该有效噪声信号为纯噪声和杂波。本发明中的滤波电路可以用噪声滤波器实现，陷波电路可以用窄带带阻滤波器实现，具体的方式本发明不做限制，可根据实际情况选择合适的滤波器。

进一步的，信号功率计算电路根据获取的测试信号计算出信号功率，用于计算后续的信号噪声失真比、增益偏差等性能指标。

噪声功率计算电路根据获取的有效噪声信号计算出噪声功率。

测试结果计算电路根据信号功率计算电路和噪声功率计算电路得到的信号功率和噪声功率，以及其他数据数据，计算出待测试店里的直流失配、信号噪声失真比、增益偏差等指标。

特别的，时钟电路为ADC电路、DAC电路、数字信号发生电路、直流检测消除电路、滤波电路、信号功率计算电路、陷波电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路提供时钟信号。ADC电路和DAC电路采用同源的时钟，可以工作在不同的频率，但是工作频率之间必须成整数倍关系。

优选的，数字信号发生电路的工作频率，与DAC电路的输入数据率相同。ADC电路后的直流检测消除电路的工作频率与ADC电路输出数据率相同。

本实施例提供的BIST的测试电路，通过时钟电路和数字信号发生电路驱动并发送数字正弦波信号，待测试电路至少一个ADC电路和至少一个DAC电路、待测试电路将数字信号发送给直流检测消除电路消除直流失调、再经过滤波电路进行滤波获取测试信号，并将测试信号分别发送给信号功率计算电路和陷波电路，陷波电路进行陷波处理，获取有效噪声信号并发送给噪声功率计算电路进行计算，进一步通过测试结果计算电路根据信号功率计算电路和噪声功率计算电路得到的信号功率和噪声功率，计算出待测试电路的直流失配、信号噪声失真比、增益偏差等指标，在测试中除了供电和控制接口，不需要将DAC电路和ADC电路的数字接口引出到芯片管脚，并且在计算过程中没有使用FFT电路，也不用模拟信号发生器(或板卡)和数字采样仪器(或板卡)，大幅度提高ADC电路/DAC电路的产品测试速度，还可以省去产品测试时采用带有高精度信号源、数字接口板卡和数字采集板卡的昂贵测试机带来的费用。

图5为本发明BIST的测试方法实施例一的流程图，该测试方法应用于上述图1至图4所示的测试电路中，如图5所示，该BIST的测试方法的具体实现步骤为：

S101：待测试电路根据驱动电路发送的驱动信号获取数字信号，并向处理电路发送所述数字信号。

在本实施例中，驱动电路为待测试电路提供时钟信号进行驱动，并且提供测试用的数字正弦波信号，并根据要求调整幅度和频率，并发送给待测试电路进行转换获取待测试的数字信号。

S102：所述处理电路消除所述数字信号中的直流失调，并将消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号。

在本实施例中，处理电路根据计算所述数字信号的1024个正弦波周期的平均值得到信号中的直流分量，同时将该直流分量从所述数字信号中消除。处理电路还用于对消除直流分量的数字信号进行滤波处理，去除数字信号中的不用的噪声和杂波，获取测试信号，并对所述测试信号进行陷波处理，获取其中游泳的噪声和杂波作为有效噪声信号。

S103：所述处理电路将消除直流失调后的所述数字信号、所述测试信号和所述有效噪声信号发送给所述计算电路。

S104：所述计算电路根据消除直流失调后的所述数字信号、所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

在本实施例中，计算电路分别根据处理电路获取的数字信号、测试信号以及有效噪声信号进行计算获取待测试电路的各项性能指标。

本实施例提供的BIST的测试方法，将待测试电路与驱动电路、处理电路以及计算电路集成在一起，通过驱动电路驱动系统中的各个电路，并提供测试用的数字正弦波信号，经待测试电路转换获取数字信号，处理电路消除待测试电路的测试信号的直流失调，并进一步对测试信号进行滤波和陷波处理获取测试信号和有效噪声信号，通过计算电路计算处理电路输出的测试信号和有效噪声信号，从而获取待测试电路的性能指标，有效提高测试待测试电路的效率。

图6为本发明BIST的测试方法实施例二的流程图，如图6所示，在上述实施例的基础上，所述待测试电路包括至少一个ADC电路和至少一个DAC电路；所述驱动电路包括数字信号发生器电路和时钟电路；所述处理电路包括直流检测消除电路、滤波电路和陷波电路，所述计算电路包括信号功率计算电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路；则该BIST的测试方法的具体步骤为：

S201：所述DAC电路接收所述数字信号发生器发送的数字正弦信号，将所述数字正弦信号转化为模拟正弦信号，并将所述模拟正弦信号发送给所述ADC电路。

在本实施例中，数字信号发生电路用于发出测试用数字正弦信号，同时根据测试需求对信号幅度和频率进行控制。发出的数字正弦信号位数与DAC电路分辨率相同，输入到DAC电路进行转换，并发送给ADC电路。具体的，发出的数字正弦信号频率是DAC电路输入数据率的N分之一(N为正整数)，此整数的选取一般考虑测试中谐波的总数，在设计实例中优选的取值为11。

S202：所述ADC电路将接收到的所述模拟正弦信号进行转化处理，并引入噪声和杂波，生成所述数字信号。

在本实施例中，将DAC电路通过模拟开关送过来的模拟正弦信号数字化，生成数字信号，并将该数字信号发送给直流检测消除电路。

S203：所述直流检测消除电路消除所述数字信号的直流信号分量，并将消除直流信号分量的所述数字信号发送给所述滤波电路。

在本实施例中，具体的，直流检测消除电路采用以下公式计算直流信号分量的值：

$\mathrm{DC}\_\mathrm{offset}=\frac{1}{M}\underset{i=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{adc}\_\mathrm{out}\left(i\right),\mathrm{whereM}=N*1024$

其中，N表示数字信号发生电路中相位累加电路的地址深度；M表示总的计算点数，为地址深度的1024倍；DC_offset表示直流信号分量；adc_out()表示ADC电路输出的数字信号；i表示数据点在数字信号中的位置。计算出直流信号分量的值之后，再将数字信号中的直流信号分量的值减去，再输出到滤波电路，消除采用如下公式：

DC_Out(i)＝adc_out(i)-DC_offset

其中，DC_Out()表示消除直流分量后的数字信号，i表示数据点在数字信号中的位置。

S204：所述滤波电路对消除直流信号分量后的所述数字信号进行滤波处理去除无效噪声，获取所述测试信号，并将所述测试信号发送给所述陷波电路。

在本实施例中，滤波电路对去除直流分量后的数字信号进行滤波，将感兴趣的带宽以外的噪声和杂波滤除，不包含在后续的计算之内。滤波电路输出的测试信号送给后续的两个模块，分别是信号功率计算电路和信号陷波电路。

具体的，滤波电路可以采用IIR滤波器或FIR滤波器实现。例如：采用IIR滤波器，离散域传递函数为：

$H\left(z\right)=\frac{0.62*(z^{-1}+z)}{(z^{-1}+0.2418*z)}\frac{0.445*(z^{-2}+{2z}^{-1}+1)}{(z^{-2}+0.717z^{-1}+0.569)}\frac{0.543*(z^{-2}+{2z}^{-1}+1)}{(z^{-2}+0.531z^{-1}+0.163)}$

其中，z^-1表示离散域单位延时；H(z)表示离散域传递函数，图7为本发明BIST的测试方法实施例二的滤波器实例的频谱图，如图7所示，该频率为15.36MHz，带宽为5MHz的测试信号的频率响应和输出信号为图中所示。

S205：所述陷波电路对所述测试信号进行陷波处理，获取所述有效噪声信号。

在本实施例中，陷波电路是一个窄带带阻滤波器，用于将测试信号去除，输出为纯噪声和杂波作为有效噪声信号。例如：陷波电路可以通过IIR陷波器来实现，该滤波器的传递函数是：

$H\left(z\right)=\frac{{0.961495z}^{-2}-{1.555731z}^{-1}+0.961495}{z^{-2}-1.555731z^{-1}+0.92299}$

其中，z^-1表示离散域单位延时；H(z)表示离散域传递函数，图8为本发明BIST的测试方法实施例二的陷波器实例的频谱图，上述传递函数的陷波器的频率响应和输出频谱如图8所示。

S206：所述信号功率计算电路接收所述滤波电路发送的所述测量信号，并根据所述测量信号计算获取信号功率。

信号功率计算电路计算出所述测试信号的功率，用于计算后续的信号噪声失真比、增益偏差等指标。具体的，取滤波电路输出的测试信号的1024*N点，计算平均信号功率，采用如下公式：

$\mathrm{Signal}\_\mathrm{Power}=\frac{1}{M}\underset{i=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{Noise}\_\mathrm{Filter}\_{\mathrm{Out}}^2\left(i\right),\mathrm{WhereM}=1024*N$

其中，Signal_Power表示信号功率；Noise_Filter_Out()表示滤波电路输出的测试信号；M表示总的计算点数，为地址深度的1024倍。

S207：所述噪声功率计算电路接收所述陷波电路发送的所述有效噪声信号，并根据所述有效噪声信号计算获取噪声功率。

噪声功率计算电路计算出噪声功率，用于结合信号功率一起可计算出信号噪声失真比。具体的，选取陷波电路输出的有效噪声信号的1024*N点，计算平均噪声功率，采用如下公式：

$\mathrm{Noise}\_\mathrm{Power}=\frac{1}{M}\underset{i=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{Notch}\_\mathrm{Filter}\_O{\mathrm{ut}}^2\left(i\right),\mathrm{WhereM}=1024*N$

其中，Nignal_Power表示噪声功率；Notch_Filter_Out()表示陷波电路输出的有效噪声信号；M表示总的计算点数，为地址深度的1024倍。

S208：所述测试结果计算电路根据所述消除直流失调后的所述数字信号计算获取直流失配，并根据所述信号功率和所述噪声功率计算获取所述噪声失真比和所述增益偏差。

测试结果计算电路210根据信号功率计算电路和噪声功率计算电路得到的数据，计算出直流失配、信号噪声失真比、增益偏差等指标。

具体的,计算公式如下：

直流失配＝DC_Offset

在本实施例中，所述待测试电路的所述性能指标包括直流失配、信号噪声失真比和增益偏差，其中，直流失配即为直流信号分量。

特别的，在本发明所有的实施例中，时钟电路为ADC电路、DAC电路、数字信号发生电路、直流检测消除电路、滤波电路、信号功率计算电路、陷波电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路提供时钟信号。

本实施例提供的BIST的测试方法，通过时钟电路和数字信号发生电路驱动并发送数字正弦波信号，待测试电路至少一个ADC电路和至少一个DAC电路、待测试电路将数字信号发送给直流检测消除电路消除直流失调、再经过滤波电路进行滤波获取测试信号，并将测试信号分别发送给信号功率计算电路和陷波电路，陷波电路进行陷波处理，获取有效噪声信号并发送给噪声功率计算电路进行计算，进一步通过测试结果计算电路根据信号功率计算电路和噪声功率计算电路得到的信号功率和噪声功率，以及其他数据数据，计算出待测试店里的直流失配、信号噪声失真比、增益偏差等指标，在测试中除了供电和控制接口，不需要将DAC电路和ADC电路的数字接口引出到芯片管脚，并且在计算过程中没有使用FFT电路，也不用模拟信号发生器(或板卡)和数字采样仪器(或板卡)，大幅度提高ADC电路/DAC电路的产品测试速度，还可以省去产品测试时采用带有高精度信号源、数字接口板卡和数字采集板卡的昂贵测试机带来的费用。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种BIST的测试电路，其特征在于，包括：待测试电路、驱动电路、处理电路和计算电路；所述待测试电路的输入端与所述驱动电路的输出端连接；所述待测试电路的输出端与所述处理电路的输入端连接；所述处理电路的输出端与所述计算电路的输入端连接；

所述驱动电路用于驱动所述待测试电路；所述处理电路用于消除所述待测试电路发送的数字信号的直流失调，并对消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；所述计算电路用于根据所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述待测试电路包括至少一个ADC电路和至少一个DAC电路；所述驱动电路包括数字信号发生器电路和时钟电路；

所述时钟电路的输出端分别与所述ADC电路的驱动端和所述DAC电路的驱动端连接；所述ADC电路的输入端与所述DAC电路的输出端连接；所述数字信号发生电路的输出端与所述DAC电路的输入端连接。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述处理电路包括直流检测消除电路、滤波电路和陷波电路；所述计算电路包括信号功率计算电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路；

所述ADC电路的输出端与所述直流检测消除电路的输入端连接；所述直流检测消除电路的输出端分别与所述滤波电路的输入端和测试结果计算电路的输入端连接；所述滤波电路的输出端分别与所述陷波电路的输入端和所述信号功率计算电路的输入端连接；所述陷波电路的输出端与所述噪声功率计算电路的输入端连接；所述测试结果计算电路的输入端分别与所述信号功率计算电路的输出端和所述噪声功率计算电路的输出端连接。

4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述直流检测消除电路用于消除所述数字信号的直流失调，所述滤波电路用于对消除直流失调之后的所述数字信号进行滤波处理，滤除所述数字信号中的无效噪声，获取所述测试信号；所述信号陷波电路用于对所述测试信号进行陷波处理，获取所述有效噪声信号。

5.根据权利要求2至4任一项所述的测试电路，其特征在于，所述ADC电路的工作频率与所述DAC电路的工作频率成整数倍关系。

6.一种BIST的测试方法，其特征在于，包括：

待测试电路根据驱动电路发送的驱动信号获取数字信号，并向处理电路发送所述数字信号；

所述处理电路消除所述数字信号中的直流失调，并将消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号；

所述处理电路将消除直流失调后的所述数字信号、所述测试信号和所述有效噪声信号发送给所述计算电路；

所述计算电路根据消除直流失调后的所述数字信号、所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标。

7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述待测试电路包括至少一个ADC电路和至少一个DAC电路；所述驱动电路包括数字信号发生器电路；则所述待测试电路根据驱动电路发送的驱动信号获取数字信号，包括：

所述DAC电路接收所述数字信号发生器发送的数字正弦信号，将所述数字正弦信号转化为模拟正弦信号，并将所述模拟正弦信号发送给所述ADC电路；

所述ADC电路将接收到的所述模拟正弦信号进行转化处理，并引入噪声和杂波，生成所述数字信号。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，所述处理电路包括直流检测消除电路、滤波电路和陷波电路，则所述处理电路消除所述数字信号中的直流信号分量，并将消除直流失调后的所述数字信号进行滤波和陷波处理，获取测试信号和有效噪声信号，包括：

所述直流检测消除电路消除所述数字信号的直流信号分量，并将消除直流信号分量的所述数字信号发送给所述滤波电路；

所述滤波电路对消除直流信号分量后的所述数字信号进行滤波处理去除无效噪声，获取所述测试信号，并将所述测试信号发送给所述陷波电路；

所述陷波电路对所述测试信号进行陷波处理，获取所述有效噪声信号。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述待测试电路的所述性能指标包括直流失配、信号噪声失真比和增益偏差。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述计算电路包括信号功率计算电路、噪声功率计算电路和测试结果计算电路；则所述计算电路根据所述处理电路发送的所述测试信号和所述有效噪声信号计算获取所述待测试电路的性能指标，包括：

所述信号功率计算电路接收所述滤波电路发送的所述测量信号，并根据所述测量信号计算获取信号功率；

所述噪声功率计算电路接收所述陷波电路发送的所述有效噪声信号，并根据所述有效噪声信号计算获取噪声功率；

所述测试结果计算电路根据所述消除直流失调后的所述数字信号计算获取直流失配，并根据所述信号功率和所述噪声功率计算获取所述信号噪声失真比和所述增益偏差。