CN104535874A - 电子设备多按键输入的老化测试装置和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电子设备多按键输入的老化测试装置和方法，用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试，所述老化测试装置包括控制器和至少一个可编程电源，所述可编程电源具有多个电源输出接口，用于分别连接到电子设备的对应于所述多个按键的多个按键接口，所述控制器用于分别控制所述多个电源输出接口同时开始输出预定次数的与各自的老化测试项目对应的电平信号。根据本发明的老化测试装置和方法进行老化测试，可减少人力的投入，并可对电子设备的硬件部分和软件部分同时进行测试。
Description
技术领域
本发明总体说来涉及测试技术领域。更具体地讲，涉及一种电子设备多按键输入的老化测试装置和方法。
背景技术
电子设备在出厂前，为了保障产品质量，为了降低产品的维修费用，需要经过层层的测试。对于具有多个按键的电子设备，对多按键输入的老化测试指的是对多个按键同时输入实现的功能进行的老化测试。目前主要有两种针对多按键输入的老化测试方法，一种是传统的多按键输入的老化测试方法，通过人工多次按压多个按键的方式，这将耗费大量的人工体力，另一种是软件测试方法，但是只能测试软件部分，不能测试硬件部分。
综上所述，现有的针对多按键输入的老化测试方法不完善。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电子设备多按键输入的老化测试装置和方法，以解决现有的针对多按键输入的老化测试方法不完善的问题。
本发明的一方面提供一种电子设备多按键输入的老化测试装置，用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试，所述老化测试装置包括控制器和至少一个可编程电源，所述可编程电源具有多个电源输出接口，所述多个电源输出接口分别用于连接到电子设备的对应于所述多个按键的多个按键接口，所述控制器用于分别控制所述多个电源输出接口同时开始输出预定次数的与各自的老化测试项目对应的电平信号。
在所述老化测试装置中，任意一电源输出接口输出的与自己的老化测试项目对应的电平信号与如下电平信号相同：与所述一电源输出接口连接的按键接口对应的一个按键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中所述一个按键接口的电平变化信号。
在所述老化测试装置中，预定次数输出中的相邻两次输出之间的时间间隔为预定时间或随机时间。
在所述老化测试装置中，所述多个按键为电源键和音量减小键。
在所述老化测试装置中，所述多个按键为电源键、音量增加键和返回键。
在所述老化测试装置中，所述控制器为个人计算机，所述个人计算机通过通用接口总线与所述至少一个可编程电源连接。
本发明的另一方面提供一种使用上述的老化测试装置的老化测试方法，用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试，所述老化测试方法包括：通过控制器接收对与所述多个按键接口连接的多个电源输出接口输出的电平信号分别进行设置的输入和对测试次数进行设置的输入；控制器控制分别与所述多个按键接口连接的多个电源输出接口同时开始输出所述测试次数的电平信号。
根据本发明示例性实施例的电子设备多按键输入的老化测试装置和方法，可由控制器控制可编程电源的电源输出接口输出与进行的老化测试项目对应的电平信号，从而触发电子设备执行所述多个按键同时输入实现的功能，进而可对电子设备进行老化测试，减少了人力的投入，并可对电子设备的硬件部分和软件部分同时进行测试。
将在接下来的描述中部分阐述本发明另外的方面和/或优点，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明的实施而得知。
附图说明
通过下面结合附图进行的详细描述，本发明的上述和其它目的、特点和优点将会变得更加清楚，其中：
图1是示出根据本发明示例性实施例的电子设备多按键输入的老化测试装置的框图；
图2示出根据本发明示例性实施例的使用老化测试装置的老化测试方法的流程图。
具体实施方式
下面参照附图详细描述本发明的实施例。
图1是示出根据本发明示例性实施例的电子设备多按键输入的老化测试装置的框图。
根据本发明示例性实施例的电子设备多按键输入的老化测试装置包括控制器10和至少一个可编程电源20。所述老化测试装置用于对电子设备30的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试。所述电子设备30可以是移动通信终端、平板电脑、游戏机和数字多媒体播放器等包括多个物理按键的电子设备。
所述可编程电源20具有多个电源输出接口，所述多个电源输出接口分别用于连接到电子设备30的对应于所述多个按键的多个按键接口。例如，电源输出接口4与按键接口6连接，电源输出接口5与按键接口7连接。具体说来，电源输出接口中的正极与按键接口连接，电源输出接口中的负极与电子设备30上的接地点连接。
所述控制器10用于分别控制与所述多个电源输出接口同时开始输出预定次数的与各自的老化测试项目对应的电平信号。所述控制器10为可通过计算机软件编程来对可编程电源20的电源输出接口输出的信号进行控制的器件。作为示例，所述控制器10可以是个人计算机，所述个人计算机可通过通用接口总线(GPIB)与所述至少一个可编程电源20连接。这里，预定次数输出中的相邻两次输出之间的时间间隔为预定时间或随机时间。任意一电源输出接口输出的与自己的老化测试项目对应的电平信号与如下电平信号相同：与所述一电源输出接口连接的按键接口对应的一个按键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中所述一个按键接口的电平变化信号。
该电平信号可以预先存储在控制器中，也可以在进行老化测试之前临时进行设置。该电平信号中的按键被按压时对应的按键接口的电平信号持续时间也可通过控制器10进行设置。
作为示例，可通过根据本发明示例性实施例的老化测试装置对智能手机中通过同时按压电源键和音量减小键实现的截屏功能进行老化测试。这里，所述多个按键为电源键和音量减小键，所述控制器控制与电源键接口连接的电源输出接口输出预定次数的第一电平变化信号，并且同时控制与音量减小键连接的电源输出接口输出预定次数的第二电平变化信号，其中，相邻两次的第一电平变化信号输出之间的时间间隔与相邻两次的第二电平变化信号输出之间的时间间隔相同，且均为预定时间或随机时间，第一电平变化信号与电源键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中电源键接口的电平变化信号相同，第二电平变化信号与音量减小键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中音量减小键接口的电平变化信号相同。作为示例，所述电源键和音量减小键在未被按压时，电源键接口和音量减小键接口的电平都为高电平；所述电源键和音量减小键在被按压时，电源键接口和音量减小键接口的电平都为低电平。
作为示例，可通过根据本发明示例性实施例的老化测试装置对智能手机中通过同时按压电源键、音量增加键和返回键实现的进入系统工程模式的功能进行老化测试。这里，所述多个按键为电源键、音量增加键和返回键，所述控制器控制与电源键接口连接的电源输出接口输出预定次数的第一电平变化信号，同时控制与音量增加键连接的电源输出接口输出预定次数的第二电平变化信号，以及同时控制与返回键连接的电源输出接口输出预定次数的第三电平变化信号，其中，相邻两次的第一电平变化信号输出之间的时间间隔、相邻两次的第二电平变化信号输出之间的时间间隔与相邻两次的第三电平变化信号输出之间的时间间隔相同，且均为预定时间或随机时间，第一电平变化信号与电源键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中电源键接口的电平变化信号相同，第二电平变化信号与音量增加键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中音量增加键接口的电平变化信号相同，第三变化信号与返回键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中返回键的电平变化信号相同。作为示例，所述电源键、音量增加键和返回键在未被按压时，电源键接口、音量增加键接口和返回键键接口的电平都为高电平，所述电源键、音量增加键和返回键在被按压时，电源键接口、音量增加键接口和返回键接口的电平都为低电平。
图2示出根据本发明示例性实施例的使用上述老化测试装置的老化测试方法。该方法用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试。
在步骤S10，通过控制器接收对与所述多个按键接口连接的多个电源输出接口输出的电平信号分别进行设置的输入和对测试次数进行设置的输入。这里，“设置的电源输出接口输出的电平信号”与“与该电源输出接口连接的按键接口对应的按键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中该按键接口的电平变化信号”相同。该电平信号可以与老化测试项目名称相关联地预先存储在控制器中，相应地，在步骤S10中，通过选择老化测试项目来对该电平信号进行设置；此外，也可以在步骤S10中临时对该电平信号进行设置。
在步骤S20，控制器控制分别与所述多个按键接口连接的多个电源输出接口同时输出所述测试次数的电平信号。
作为示例，通过上述老化测试装置对智能手机中通过同时按压电源键、音量减小键实现的截屏功能进行老化测试的方法可包括如下步骤：
1、通过控制器接收对与电源键和音量减小键连接的两个电源输出接口输出的电平信号分别进行设置的输入和对测试次数进行设置的输入，其中，所述两个电源输出接口输出的电平信号都被设置为先输出高电平，再输出低电平并维持一秒，最后输出高电平，所述高电平信号被设置为2.8V,所述低电平信号被设置为0V，所述测试次数被设置为m；
2、开启可编程电源；
3、控制器控制所述两个电源输出接口同时开始输出上述被设置的电平信号(即先输出高电平，再输出低电平并维持一秒，最后输出高电平)；
4、重复步骤3，直到输出次数达到测试次数m，其中，重复执行相邻两次步骤3之间的时间间隔为预定时间或随机时间。
在输出次数达到测试次数m后，可通过查看被测试的智能手机的系统是否已崩溃来确定该智能手机是否通过了该老化测试。
根据本发明示例性实施例的电子设备多按键输入的老化测试装置和方法，可由控制器控制可编程电源的电源输出接口输出与进行的老化测试项目对应的电平信号，从而触发电子设备执行所述多个按键同时输入实现的功能，进而可对电子设备进行老化测试，减少了人力的投入，并可对电子设备的硬件部分和软件部分同时进行测试。
尽管已经参照其示例性实施例具体显示和描述了本发明，但是本领域的技术人员应该理解，在不脱离权利要求所限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对其进行形式和细节上的各种改变。
Claims (7)
1.一种电子设备多按键输入的老化测试装置，用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试，其特征在于,包括控制器和至少一个可编程电源，
所述可编程电源具有多个电源输出接口，所述多个电源输出接口分别用于连接到电子设备的对应于所述多个按键的多个按键接口，
所述控制器用于分别控制所述多个电源输出接口同时开始输出预定次数的与各自的老化测试项目对应的电平信号。
2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，任意一电源输出接口输出的与自己的老化测试项目对应的电平信号与如下电平信号相同：与所述一电源输出接口连接的按键接口对应的一个按键从未被按压、到被按压、最后被释放的过程中所述一个按键接口的电平变化信号。
3.根据权利要求2所述的老化测试装置，其特征在于，预定次数输出中的相邻两次输出之间的时间间隔为预定时间或随机时间。
4.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于，所述多个按键为电源键和音量减小键。
5.根据权利要求3所述的老化测试装置，其特征在于，所述多个按键为电源键、音量增加键和返回键。
6.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，所述控制器为个人计算机，所述个人计算机通过通用接口总线与所述至少一个可编程电源连接。
7.一种使用权利要求1所述的老化测试装置的老化测试方法，用于对电子设备的多个按键同时输入实现的功能进行老化测试，其特征在于，包括：
通过控制器接收对与所述多个按键接口连接的多个电源输出接口输出的电平信号分别进行设置的输入和对测试次数进行设置的输入；
控制器控制分别与所述多个按键接口连接的多个电源输出接口同时开始输出所述测试次数的电平信号。
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