CN204008918U - 温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型是一种温度补偿晶体振荡器(以下简称TCXO)室温频率测试系统,其结构包括气动测试装置、控制电路板及配置使用的多功能GPIB卡、可程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源;其中控制电路板连接PC机并控制气动测试装置,GPIB卡连接可程控频率计数器、可程控数字万用表、可程控供电电源;所述气动测试装置通过高频传输线连接可程控频率计,通过导线连接可程控数字万用表及可程控供电电源。优点:本测试系统使用方法简单,对操作人员技术水平要求较低,生产效率高,且系统组建简单、成本低,适用于小批量,多机种TCXO产品生产使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种温度补偿石英晶体振荡器(以下简称TCXO)室温频率测试的系统,属于元器件制造领域。
背景技术
随着通信行业的发展,晶体振荡器产品被广泛使用,对TCXO频率元件的准确性及品质可靠性要求越来越高,为满足可靠性的要求,需要对TCXO的频率特性进行严格的测试。而传统的测试是采用人为判定或全自动设备测试的方法。人为判定使得TCXO产品的品质降低并对测试结果没有追溯性,因此导致频率不良的TCXO产品出现且无法追溯;采用全自动设备测试设备价格昂贵,操作人员技术水平要求较高,且设备保养维护困难,且不利于小批量产品、多机种产品生产。
发明内容
本实用型新提出的是一种温度补偿石英晶体振荡器室温频率测试的系统,其目的是通过测试系统测出TCXO的频率特性,自动判定TCXO的频率特性是否合格并将自动吹入合格品料盒,不合格品手动取出,减少了人为误判的可能性,简化了操作过程,从而有效控制TCXO成品测试工序产品性能品质,降低产品不良风险,提高该工序产品追溯性。
本实用新型的技术解决方案:温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统,其特征是包括气动测试装置、控制电路板及配置使用的GPIB卡、可看程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源;其中气动测试装置通过高频传输线连接可程控频率计,气动测试装置通过导线连接可程控数字万用表及可程控供电电源,气动测试装置中的电磁阀控制端连接控制电路板中的输出端口,控制电路板上的并口输入端连接PC机上的并口输出端,GPIB卡通过PCI卡槽连接到PC机上,GPIB卡通过标准IEEE-488接口线缆分别与可程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源。
本实用新型的技术效果:1)在测试TCXO频率特性的工序中,减少了人为判断频率的误差和全自动测试设备的复杂,且多次测试的结果误差保持在系统误差范围内;2)确保了TCXO成品测试的高可靠性,从而解决了传统的依据人为判断TCXO频率是否合格的方法的不准确性问题和全自动操作设备的复杂难操作问题;3)对该类产品提高测试准确性、生产稳定性以及保证TCXO使用时的频率稳定性、可靠性等均有推广的价值。
附图说明
附图1是本测试系统的结构组成示意图。
附图2控制电路板的结构示意图。
附图3气动测试装置的结构示意图。
具体实施方式
对照附图1,温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统,其特征是包括气动测试装置、控制电路板及配置使用的多功能GPIB卡、可看程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源;其中控制电路板连接PC机并控制气动测试装置,GPIB卡连接可程控频率计数器、可程控数字万用表、可程控供电电源;所述气动测试装置通过高频传输线连接可程控频率计,通过导线连接可程控数字万用表及可程控供电电源。
工作时,将TCXO放入气动测试装置产品载台,测试软件控制气动装置测出TCXO的频率特性,在室温频率特性合格的TCXO将被自动吹入合格品料盒,不合格品手动取出,并自动存储测试结果在PC机中,使测试过程有可追溯性;频率测试系统还可以测试TCXO的电压特性、电流特性、负载特性。
所述GPIB卡通过PCI卡槽连接到PC机上,通过标准IEEE-488接口线缆分别与可程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源。
多功能GPIB卡控制可程控的频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源测试TCXO频率,并能记录测试结果便于进行产品追溯,对于传统的TCXO室温测试方法的创新,使TCXO频率受到人为误判的影响得到有效的控制。
对照附图2,控制电路板,其结构包括并口输入、信号驱动芯片、模拟开关、输出端口,其中并口输入连接PC机的并口,信号驱动芯片对并口输入的信号进行驱动、驱动后的信号对模拟开关进行控制,模拟开关的信号经输出端口输出。
控制电路板,可以实现以下功能:
1)经过并口与PC机相连,实现PC机与控制电路板的连接通信;
2)控制气动装置的测试及吹气的动作。
所述气动测试装置,其结构包括气缸、电磁阀、产品载台,其中气缸的动作受电磁阀的控制,电磁阀的动作受控制电路板输出端口信号的控制。
对照附图3,其结构包括气缸、测试探针卡、电磁阀,其中气缸与电磁阀相接,电磁阀与控制电路板中的输出端口相接,测试探针卡固定于气缸伸缩杆的顶部。
气动测试装置通过高频传输线连接可程控频率计,通过导线连接可程控数字万用表及可程控供电电源。工作时,将TCXO放入气动测试装置产品载台,进行TCXO的频率特性测试,频率特性合格的TCXO将被自动吹入合格品料盒,不合格品手动取出,并自动存储测试结果在PC机中,使测试过程有可追溯性;频率测试系统还可以测试TCXO的电压特性、电流特性、负载特性。
气动测试装置及可程控频率计、数字万用表、供电电源进行TCXO测试,并把测试结果存储到文件中进行追溯。可以实现以下功能:
1)通过多功能GPIB卡控制可程控频率计、数字万用表、供电电源进行TCXO测试;
2)通过并口和控制电路板通信,然后控制气动测试装置,以及通过多功能GPIB卡控制可程控的频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源测试TCXO频率,并能记录测试结果便于进行产品追溯,对于传统的TCXO室温测试方法的创新,使TCXO频率受到人为误判的影响得到有效的控制;
3)通过测试界面可进行测试参数的设定及该室温频率测仪的校准;
4)可将测试结果存储到文件中,以便追溯;
5)可以控制测试系统测试TCXO的电压特性、电流特性、负载特性。
TCXO测试完成后,合格产品可直接进行吹入合格品料盒。
实施时,将TCXO放入气动测试装置测试座,进行TCXO的频率特性测试,频率特性合格的TCXO将被自动吹入合格品料盒,不合格品手动取出,并自动存储测试结果在PC机中,使测试过程有可追溯性。此外,该频率测试系统还可以测试TCXO的电压特性、电流特性、负载特性。
对室温下所测TCXO的频率精度、工作电压、负载等均可自行选择,方便测试各种频点及规格的TCXO,大大缩短了工时,适用于小批量生产。
本实用新型适用于室温测试TCXO频率,对操作人员技术水平要求较低,且成本低,易于推广,对提高TCXO产品的可靠性,有显著的作用,具有推广的价值。
Claims (3)
1.温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统,其特征是包括气动测试装置、控制电路板及配置使用的GPIB卡、可看程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源;其中气动测试装置通过高频传输线连接可程控频率计,气动测试装置通过导线连接可程控数字万用表及可程控供电电源,气动测试装置中的电磁阀控制端连接控制电路板中的输出端口,控制电路板上的并口输入端连接PC机上的并口输出端,GPIB卡通过PCI卡槽连接到PC机上,
GPIB卡通过标准IEEE-488接口线缆分别与可程控频率计、可程控数字万用表、可程控供电电源。
2.根据权利要求1所述的温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统,其特征是所述控制电路板,其结构包括并口输入端、信号驱动芯片、模拟开关、输出端口,其中并口输入端连接信号驱动芯片,信号驱动芯片通过模拟开关连接输出端口。
3.根据权利要求1所述的温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统,其特征是所述气动测试装置,其结构包括气缸、测试探针卡、电磁阀,其中气缸与电磁阀相接,电磁阀与控制电路板中的输出端口相接,测试探针卡固定于气缸伸缩杆的顶部。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201420440647.1U CN204008918U (zh) | 2014-08-06 | 2014-08-06 | 温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201420440647.1U CN204008918U (zh) | 2014-08-06 | 2014-08-06 | 温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN204008918U true CN204008918U (zh) | 2014-12-10 |
Family
ID=52048897
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201420440647.1U Active CN204008918U (zh) | 2014-08-06 | 2014-08-06 | 温度补偿石英晶体振荡器的室温频率测试系统 |
Country Status (1)
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CN (1) | CN204008918U (zh) |
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CN109828151A (zh) * | 2019-03-07 | 2019-05-31 | 李德成 | 一种石英钟双晶振温度补偿校准方法 |
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