CN101980033B - 一种波形和信号测试装置及方法 - Google Patents

一种波形和信号测试装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101980033B
CN101980033B CN201010272663.0A CN201010272663A CN101980033B CN 101980033 B CN101980033 B CN 101980033B CN 201010272663 A CN201010272663 A CN 201010272663A CN 101980033 B CN101980033 B CN 101980033B
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
testing
test
port
waveform
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201010272663.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101980033A (zh
Inventor
夏洪荣
李传东
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Skyworth Digital Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Skyworth Digital Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Skyworth Digital Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen Skyworth Digital Technology Co Ltd
Priority to CN201010272663.0A priority Critical patent/CN101980033B/zh
Publication of CN101980033A publication Critical patent/CN101980033A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101980033B publication Critical patent/CN101980033B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于电子产品波形和信号测试的装置及方法。所述的装置包括:一三通端子,其下方端口为与检测产品连接的输入端,上方一个端口为与被测信号连接的输入端口,另一个端口为与示波器连接的输出端口;以及一遥控器,所述的遥控器切换设置在检测产品中的测试选择菜单,完成产品的测试工作。本发明在一道工位快速方便的完成波形和信号两个项目的测试,提高了测试效率。

Description

一种波形和信号测试装置及方法
技术领域
本发明涉及电子产品的测试领域,更具体地说,涉及一种用于电子产品的波形和信号测试装置及方法。
背景技术
在电子产品的生产过程中需要对各项功能进行测试,其中波形测试与信号测试是基本的测试项目。一般使用的测试方法是采用两次测试工序或两道测试工位,即先对电子产品的输入信号进行测试,然后,再对输入波形进行测试。这种使用两次测试工序的方法测试时需拔插两次接线,信号和波形分开测试,工作效率较低,现已成为业界亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于电子产品的波形和信号测试装置及方法。本发明能在一个工位对产品的波形和信号进行测试,提高工作效率。
本发明的设计构思是通过一个三通端子,来实现在一个工位上完成两项测试工作。
本发明提出的波形和信号测试装置包括:一三通端子,其下方端口为与检测产品连接的输入端,上方一个端口为与被测信号连接的输入端口,另一个端口为与示波器连接的输出端口;以及遥控器,所述的遥控器切换设置在检测产品中的测试选择菜单,完成产品的测试工作。
本发明提出的电子产品的波形和信号测试方法包括下列步骤:
步骤1、将三通端子下方的输入端与电子产品的高频头信号输入端口连接,测试设备的信号线与三通端子上方的输入端口连接,示波器输出线与三通端子上方的输出端口连接;
步骤2、用遥控器控制待测产品内设置的选择菜单,选择信号测试项目,并进行信号测试;
步骤3、用遥控器切换测试选择菜单,进行波形测试;
步骤4、检测测试结果,结束测试操作。
与现有技术比较,本发明具有如下有益效果:
1、仅通过一个三通端子实现两路输入,操作方便;
2、两项输入互不干扰,通过菜单切换完成两项测试,无须重新更换测试输入线,提高了测试效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明做详细的说明,其中:
图1和图2是现有技术分别测试波形和信号的示意图;
图3是本发明在一个工位上测试波形和信号的示意图;
图4是本发明三通端子的结构示意图。
具体实施方式
如图1和图2所示,现有的测试方法是采用两次测试工序分别完成电子产品的测试工作,如先对电子产品输入信号进行测试,然后,再使用示波器对产品的波形进行测试。这种使用两次测试工序的方法测试时需拔插两次接线,工作效率较低。
如图3所示,本发明使用一个三通端子完成两种测试工作。如图4所示,三通端子采用T形结构,三个端口是相通的,三通端子的下方输入端口1与电子产品DVB的一组高频头信号输入端口连接,左方输入端口2与一组测试信号连接,右方输出端口3与示波器输入端口连接,信号与波形两组互不干扰,测试时减少插线频率,通过一遥控器控制待测电子产品内的功能菜单完成信号与波形的测试。
操作时,具体工艺步骤如下:
步骤1、将三通端子下方的输入端口1与电子产品的高频头信号输入端口连接,测试设备的信号线与三通端子上方的输入端口2连接,示波器输出线与三通端子上方的输出端口3连接;
步骤2、用遥控器控制待测产品内设置的选择菜单,选择信号测试项目,并进行信号测试;
步骤3、用遥控器切换测试选择菜单,进行波形测试;
步骤4、检测测试结果,结束测试操作。
本发明提出的装置将波形和信号同时输入,通过控制元件对测试菜单进行切换,在一道工位快速方便的完成波形和信号两个项目的测试,提高测试效率。

Claims (3)

1.一种波形和信号测试装置,其特征在于包括:一三通端子,其下方端口为与检测产品连接的输入端,上方一个端口为与被测信号连接的输入端口,另一个端口为与示波器连接的输出端口;以及一遥控器,所述的遥控器切换设置在检测产品中的测试选择菜单,完成产品的测试工作。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于:所述的三通端子采用T形结构。
3.一种电子产品的波形和信号测试方法,其特征在于包括下列步骤:
步骤1、将三通端子下方的端口与电子产品的高频头信号输入端口连接,测试设备的信号线与三通端子上方的输入端口连接,示波器输入端与三通端子上方的输出端口连接;
步骤2、用遥控器控制待测产品内设置的选择菜单,选择测试信号项目,并进行信号测试;
步骤3、用遥控器切换测试选择菜单,进行波形测试;
步骤4、检测测试结果,结束测试操作。
CN201010272663.0A 2010-09-03 2010-09-03 一种波形和信号测试装置及方法 Active CN101980033B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010272663.0A CN101980033B (zh) 2010-09-03 2010-09-03 一种波形和信号测试装置及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010272663.0A CN101980033B (zh) 2010-09-03 2010-09-03 一种波形和信号测试装置及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101980033A CN101980033A (zh) 2011-02-23
CN101980033B true CN101980033B (zh) 2016-03-02

Family

ID=43600549

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010272663.0A Active CN101980033B (zh) 2010-09-03 2010-09-03 一种波形和信号测试装置及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101980033B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103926498A (zh) * 2013-01-11 2014-07-16 上海大众汽车有限公司 整车动态诊断测试平台和测试方法
CN103746240B (zh) * 2013-12-28 2016-08-24 柳州力通车用空调有限公司 一种空调线束的使用方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6014035A (en) * 1997-07-11 2000-01-11 International Business Machines Corporation Test system and test method for liquid crystal display device
CN101634681A (zh) * 2009-08-21 2010-01-27 深圳创维数字技术股份有限公司 一种电子设备的自动测试系统
CN101692010A (zh) * 2009-09-29 2010-04-07 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 利用缓冲网络调整超导纳米线光探测器响应波形的方法
CN101762769A (zh) * 2009-12-25 2010-06-30 三一重工股份有限公司 故障诊断系统及方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050007720A (ko) * 2003-07-11 2005-01-21 삼성전자주식회사 전자기기 테스트 시스템 및 테스트 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6014035A (en) * 1997-07-11 2000-01-11 International Business Machines Corporation Test system and test method for liquid crystal display device
CN101634681A (zh) * 2009-08-21 2010-01-27 深圳创维数字技术股份有限公司 一种电子设备的自动测试系统
CN101692010A (zh) * 2009-09-29 2010-04-07 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 利用缓冲网络调整超导纳米线光探测器响应波形的方法
CN101762769A (zh) * 2009-12-25 2010-06-30 三一重工股份有限公司 故障诊断系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101980033A (zh) 2011-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102169150B (zh) 基于矩阵开关的并行测试系统
CN104459400B (zh) 用于自容式触摸屏的检测电路和检测方法
CN102866323B (zh) 一种plc模块接线检测方法及装置
CN103592477A (zh) 宇航级电容测试开关通道
CN103308850B (zh) 触控ic模拟前端自测的内建架构及测试方法
CN101980033B (zh) 一种波形和信号测试装置及方法
CN202815143U (zh) 柔性线路板触摸屏ic通道短/断路测试线路
CN203386041U (zh) 一种运载火箭地面采集装置
CN104730961A (zh) 智能工控机
CN102064050B (zh) 矩阵开关
CN103163407B (zh) 一种测试系统中多个测试通道的转换方法
CN202362017U (zh) 一种测试设备
CN203397206U (zh) 一种司机控制器测试台
CN203084500U (zh) 一种基于总线形式的plc控制器应用设备
CN104535874A (zh) 电子设备多按键输入的老化测试装置和方法
CN202771204U (zh) 一种可单片机、计算机控制的恒加载压力试验机控制器
CN202886988U (zh) 司机控制器试验台
CN104459275B (zh) 自由配置电压测量或输出的控制装置及控制系统
CN202066944U (zh) 多芯片联合测试装置
CN103792399A (zh) 多路输入输出电路板的测试夹具
CN103324338A (zh) 触控装置及其驱动方法
CN102879705A (zh) 柔性线路板触摸屏ic通道短/断路测试方法
CN103852615B (zh) 便携式移动终端及测量外接装置之电流的方法
CN104833936A (zh) 一种信号发生器自动校准系统
CN102809723A (zh) 通信接口电路模块幅频特性自动测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: 518057 Guangdong city of Shenzhen province Nanshan District Gao Xin Road SKYWORTH building A14

Applicant after: Shenzhen Skyworth Digital Technology Co., Ltd.

Address before: 518057 Guangdong city of Shenzhen province Nanshan District Gao Xin Road SKYWORTH building A14

Applicant before: Shenzhen Skyworth Digital Technology Co., Ltd.

COR Change of bibliographic data
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant