CN104284716A - 信息处理装置、信息处理方法以及程序 - Google Patents
信息处理装置、信息处理方法以及程序 Download PDFInfo
- Publication number
- CN104284716A CN104284716A CN201380024749.3A CN201380024749A CN104284716A CN 104284716 A CN104284716 A CN 104284716A CN 201380024749 A CN201380024749 A CN 201380024749A CN 104284716 A CN104284716 A CN 104284716A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- temperature
- power
- microwave
- variations
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/66—Circuits
- H05B6/666—Safety circuits
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J19/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J19/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J19/12—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor employing electromagnetic waves
- B01J19/122—Incoherent waves
- B01J19/126—Microwaves
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J19/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J19/0006—Controlling or regulating processes
- B01J19/0013—Controlling the temperature of the process
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J19/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J19/18—Stationary reactors having moving elements inside
- B01J19/1862—Stationary reactors having moving elements inside placed in series
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J8/00—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes
- B01J8/001—Controlling catalytic processes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J8/00—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes
- B01J8/02—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes with stationary particles, e.g. in fixed beds
- B01J8/04—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes with stationary particles, e.g. in fixed beds the fluid passing successively through two or more beds
- B01J8/0403—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes with stationary particles, e.g. in fixed beds the fluid passing successively through two or more beds the fluid flow within the beds being predominantly horizontal
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J8/00—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes
- B01J8/02—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes with stationary particles, e.g. in fixed beds
- B01J8/04—Chemical or physical processes in general, conducted in the presence of fluids and solid particles; Apparatus for such processes with stationary particles, e.g. in fixed beds the fluid passing successively through two or more beds
- B01J8/0496—Heating or cooling the reactor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R21/00—Arrangements for measuring electric power or power factor
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/6447—Method of operation or details of the microwave heating apparatus related to the use of detectors or sensors
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/70—Feed lines
- H05B6/705—Feed lines using microwave tuning
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/64—Heating using microwaves
- H05B6/80—Apparatus for specific applications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2208/00—Processes carried out in the presence of solid particles; Reactors therefor
- B01J2208/00008—Controlling the process
- B01J2208/00017—Controlling the temperature
- B01J2208/00433—Controlling the temperature using electromagnetic heating
- B01J2208/00442—Microwaves
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00051—Controlling the temperature
- B01J2219/00054—Controlling or regulating the heat exchange system
- B01J2219/00056—Controlling or regulating the heat exchange system involving measured parameters
- B01J2219/00058—Temperature measurement
- B01J2219/00063—Temperature measurement of the reactants
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00191—Control algorithm
- B01J2219/00193—Sensing a parameter
- B01J2219/00195—Sensing a parameter of the reaction system
- B01J2219/002—Sensing a parameter of the reaction system inside the reactor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00191—Control algorithm
- B01J2219/00193—Sensing a parameter
- B01J2219/00195—Sensing a parameter of the reaction system
- B01J2219/00202—Sensing a parameter of the reaction system at the reactor outlet
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00191—Control algorithm
- B01J2219/00209—Control algorithm transforming a sensed parameter
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00191—Control algorithm
- B01J2219/00211—Control algorithm comparing a sensed parameter with a pre-set value
- B01J2219/00213—Fixed parameter value
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/00049—Controlling or regulating processes
- B01J2219/00191—Control algorithm
- B01J2219/00222—Control algorithm taking actions
- B01J2219/00227—Control algorithm taking actions modifying the operating conditions
- B01J2219/00238—Control algorithm taking actions modifying the operating conditions of the heat exchange system
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J2219/0871—Heating or cooling of the reactor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J2219/0873—Materials to be treated
- B01J2219/0892—Materials to be treated involving catalytically active material
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J2219/12—Processes employing electromagnetic waves
- B01J2219/1203—Incoherent waves
- B01J2219/1206—Microwaves
- B01J2219/1209—Features relating to the reactor or vessel
- B01J2219/1212—Arrangements of the reactor or the reactors
- B01J2219/1218—Multiple reactors
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J2219/12—Processes employing electromagnetic waves
- B01J2219/1203—Incoherent waves
- B01J2219/1206—Microwaves
- B01J2219/1248—Features relating to the microwave cavity
- B01J2219/1272—Materials of construction
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J2219/12—Processes employing electromagnetic waves
- B01J2219/1203—Incoherent waves
- B01J2219/1206—Microwaves
- B01J2219/1275—Controlling the microwave irradiation variables
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2219/00—Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
- B01J2219/08—Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
- B01J2219/12—Processes employing electromagnetic waves
- B01J2219/1203—Incoherent waves
- B01J2219/1206—Microwaves
- B01J2219/1287—Features relating to the microwave source
- B01J2219/129—Arrangements thereof
- B01J2219/1296—Multiple sources
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Constitution Of High-Frequency Heating (AREA)
- Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
- Surgical Instruments (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
本发明提供一种能够检测微波照射装置中的错误发生状况的信息处理装置。该信息处理装置具备:投入电力接收部(13),用于接收投入电力,所述投入电力是入射到微波照射装置(2)的微波即入射波的电力与来自微波照射装置(2)的微波即反射波的电力之间的差值;温度接收部(15),用于接收内容物的温度;电力量计算部(14),使用投入电力,计算出与微波照射时间相对应的电力量;温度变化计算部(16),使用接收到的温度,计算出与微波照射时间相对应的温度变化;判断部(20),使用电力量、温度变化以及将电力量和温度变化相关联的关系式,判断电力量和温度变化是否在容许范围内满足关系式;以及输出部(21),当判断为电力量和温度变化超过容许范围而不满足关系式时,进行与错误发生相关的输出。
Description
技术领域
本发明涉及一种信息处理装置,其用于进行与微波照射装置中的错误相关的判断。
背景技术
以往,通过对内容物照射微波(电磁波)以进行对内容物的加热处理等的微波照射装置为人所知(例如,参照专利文献1)。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:日本特表2006-516008号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
以往,利用加热器进行的加热是外部加热,即通过热传导或辐射、对流等,从物质表面朝内部逐渐进行加热。另一方面,利用微波进行的加热的特征在于其是内部加热,使物质本身自主发热。另外,与以往利用热传导等进行的加热相比,利用微波进行的加热的特征还在于其为高速加热。这样,由于利用微波进行的加热是内部加热、高速加热,因此,可能会由于对照射对象的一部分急剧加热而引发热失控。而且,由于微波的照射区域通常被遮挡,无法从外部进行观察,因此,还存在着无法容易地检测出这样的异常的问题。
本发明是为解决上述技术问题而做出的,其目的在于提供一种信息处理装置,该信息处理装置能够容易地判断在微波照射装置中是否发生了与微波相关的错误。
用于解决技术问题的方案
为了达成上述目的,基于本发明的信息处理装置是用于进行与对内容物照射微波的微波照射装置中的错误相关的判断的信息处理装置,具备:投入电力接收部,用于接收对微波照射装置投入的投入电力,所述投入电力是入射到微波照射装置的照射区域的微波即入射波的电力、与在微波照射装置的照射区域被反射的微波即反射波的电力之间的差值;温度接收部,用于接收内容物的温度;电力量计算部,使用投入电力接收部接收到的投入电力,计算出与微波照射时间相对应的电力量;温度变化计算部,使用温度接收部接收到的温度,计算出与微波照射时间相对应的温度变化;判断部,使用电力量计算部计算出的电力量、温度变化计算部计算出的温度变化、以及将电力量与温度变化相关联的关系式,判断电力量以及温度变化是否在容许范围内满足关系式;以及输出部,当判断部判断为电力量以及温度变化超过容许范围而不满足关系式时,进行与错误发生相关的输出。
通过这种结构,使用在微波照射装置中可取得的投入电力等信息,能够判断在微波照射装置中是否发生了错误。其结果,例如在发生了错误的情况下,能够对该错误进行处理。
另外,在基于本发明的信息处理装置中,进一步具备:蒸发量接收部,用于接收在微波照射装置的照射区域中的内容物的蒸发量;以及减少量计算部,使用蒸发量接收部接收到的蒸发量,计算与微波照射时间相对应的、由蒸发导致的内容物的减少量。关系式将电力量、温度变化以及减少量相关联;判断部使用电力量计算部计算出的电力量、温度变化计算部计算出的温度变化、减少量计算部计算出的减少量、以及关系式,判断电力量、温度变化以及减少量是否在容许范围内满足关系式;当判断部判断为电力量、温度变化以及减少量超过容许范围而不满足关系式时,输出部可以进行输出。
通过这种结构,能够进一步地使用内容物的蒸发量来进行与错误相关的判断,并且能够实现更正确的判断。
另外,在基于本发明的信息处理装置中,微波照射装置是连续式的装置;温度接收部接收微波照射装置的流入位置处的内容物的温度、以及流出位置处的内容物的温度;温度变化计算部计算流出位置处的内容物的温度与流入位置处的内容物的温度之间的差值,作为温度变化;微波照射时间可以是内容物在微波照射装置的照射区域流通的时间。
通过这种结构,能够进行与连续式的微波照射装置相关的错误判断。
另外,在基于本发明的信息处理装置中,微波照射装置是间歇式的装置,温度变化计算部可以计算微波照射时间末期的升温后温度与微波照射时间初期的升温前温度之间的差值,作为所述温度变化。
通过这种结构,能够进行与间歇式的微波照射装置相关的错误判断。
发明效果
根据基于本发明的信息处理装置等,能够进行与微波照射装置中的错误相关的判断。其结果,例如能够检测出发生了错误。
附图说明
图1是示出基于本发明的第一实施方式的微波照射系统的结构图。
图2是示出基于该实施方式的信息处理装置结构的框图。
图3是示出基于该实施方式的信息处理装置的动作的流程图。
图4是示出该实施方式中的投入电力等的一个例子的图。
图5A是示出该实施方式中的输出的一个例子的图。
图5B是示出该实施方式中的输出的一个例子的图。
图5C是示出该实施方式中的输出的一个例子的图。
图6A是示出该实施方式中的微波照射区域的一个例子的图。
图6B是示出该实施方式中的微波照射区域的一个例子的图。
图6C是示出该实施方式中的微波照射区域的一个例子的图。
图7是示出该实施方式中的微波照射区域的一个例子的图。
图8是示出该实施方式中的微波照射区域的一个例子的图。
图9是示出该实施方式中的计算机系统的外观的一个例子的模式图。
图10是示出该实施方式中的计算机系统的结构的一个例子的图。
具体实施方式
下面,利用实施方式,对基于本发明的信息处理装置进行说明。此外,在以下的实施方式中,赋予了相同符号的构成要素以及步骤是相同或者相当的,有时会省略对其进行的再次说明。
(第一实施方式)
参照附图,对基于本发明的第一实施方式的微波照射系统进行说明。基于本实施方式的微波照射系统具备:微波照射装置;以及信息处理装置,用于对该微波照射装置中的错误发生状况进行判断。
图1是示出基于本实施方式的微波照射系统100的结构图。基于本实施方式的微波照射系统100具备信息处理装置1和微波照射装置2。信息处理装置1用于对微波照射装置2中的错误发生状况进行判断。此处,错误是指微波照射没有正常地被执行,例如可以是发生了热失控或微波泄露、微波照射对象发生了预料之外的减少或增加等。微波照射装置2用于对内容物照射微波。其照射目的例如可以是对内容物进行加热,或者也可以是进行其它的反应。微波照射装置2例如可以是间歇式(分批式)的装置,或者也可以是连续式的装置。此处,可以考虑在连续式的微波照射装置2中,还包括通过输送机对内容物进行搬运的输送式的装置。在本实施方式中,主要对微波照射装置2是连续式的装置的情况进行说明。
在图1中,微波照射装置2具备微波发生器31、波导管32、功率监控器33、反应器34、蒸汽导管51、冷凝容器52、液面传感器53以及蒸发量取得部54。
微波发生器31用于产生微波。基于本实施方式的微波照射装置2可以具备一个微波发生器31,或者也可以具备两个以上的微波发生器31。该微波的频率并未受到限定,例如,可以是2.45GHz、5.8GHz、24GHz、913MHz,或者也可以是300MHz至300GHz范围内的频率。另外,微波照射装置2具备两个以上的微波发生器31时,各个微波发生器31产生的微波频率可以相同,或者也可以不同。另外,可以根据反应器34内的温度等,通过未图示的控制部对微波发生器31的输出进行控制。
波导管32用于将微波发生器31所产生的微波输送到反应器34。此外,优选使用规格与微波发生器31所产生的微波的频率相匹配的波导管32。
功率监控器33用于取得入射波电力以及反射波电力。入射波是入射到微波照射装置2中的微波照射区域、即反应器34中的微波。即,入射波是朝向照射区域的行波。反射波是在微波照射装置2中的微波照射区域、即反应器34中被反射的微波。即,反射波是从照射区域朝向微波发生器31方向的微波。此外,虽然图1中未图示,但在功率监控器33与微波发生器31之间还可以存在隔离器,用于使入射波通过并且吸收反射波。功率监控器33取得的入射波电力与反射波电力被传给信息处理装置1。
反应器34是水平连续式(流式)的反应器,内容物40以在上方具有未填充空间35的状态沿水平方向流动。由于在该反应器34中对内容物40照射微波,因而该反应器34形成微波的照射区域。该内容物40例如可以只是原料,也可以是原料和催化剂的混合物。此外,通过在反应器34中的微波照射而引起化学反应的情况下,由于从原料生成了生成物,因而也可以认为反应器34的内容物40中包含生成物。即,该内容物40也可以是原料和/或生成物。另外,由于在反应器34中流通的内容物40优选为在反应器34内部具有流动性,因而优选为固体(例如粉体或粒状体等)以外的物质。因此,内容物40可以是液状物质。该液状的内容物40可以是如水或油、水溶液、胶体溶液等那样流动性高的物质,或者也可以是如稀浆或悬浊液那样流动性低的物质。反应器34的内壁优选由反射微波的物质构成。作为反射微波的物质,例如有金属。内容物40中包含催化剂的情况下,该催化剂可以是固体催化剂(非均相催化剂),或者也可以是液状催化剂(均相催化剂)。该固体催化剂例如可以具有微波吸收性或微波敏感性,或者也可以不具有这些特性。固体催化剂具有微波吸收性或微波敏感性的情况下,当在反应器34的内部照射微波时,固体催化剂被微波加热,从而促进该固体催化剂附近的加热。
另外,如图1所示,反应器34还可以具有温度测定部41、42。反应器34的内部温度优选为反应器34的内容物40的温度。在图1中,示出了温度测定部41、42存在于反应器34中的内容物40的流入位置与内容物40的流出位置的情况,但是温度测定部41、42也可以存在于其他位置。温度测定部41、42例如可以通过热电偶测定温度,可以通过红外线传感器测定温度,可以通过光纤测定温度,或者还可以通过其他方法测定温度。温度测定部41、42所测定到的温度(严格地讲,是表示温度的数据)被传给信息处理装置1。另外,该温度还可以被传给未图示的微波控制部,用于控制微波的输出。该控制例如可以是为了将反应器34内的温度维持在期望的温度或期望的温度幅度。
反应器34的内部被隔板36分隔成三个室。而且,内容物40从上游侧(图1的左侧)的室流向下游侧(图1的右侧)的室。该多个室是以串联方式连续连接的室。如前所述,在反应器34的内部,其上方存在有未填充空间35。借助波导管32对该未填充空间35照射微波。此外,在图1中,示出了对反应器34的未填充空间35照射微波的情况,但也可以不是对未填充空间35照射微波。反应器34内部不存在未填充空间35的情况下,即,反应器34内部充满了内容物40的情况下,可以对该内容物40直接照射微波。另外,各个波导管32连接到反应器34的位置是任意的。例如,波导管32可以设置在各室的中央附近位置,可以设置在隔板36的位置,或者也可以设置在其他位置。此外,在多个室共用未填充空间35的情况下,传输到该共用的未填充空间35的微波对共用该未填充空间35的多个室的内容物40进行照射。隔板36可以是微波透过性的隔板,也可以是微波吸收性的隔板,或者还可以是反射微波的隔板。作为能使微波透过的材料,例如有铁氟龙(注册商标)、石英玻璃、陶瓷、氮化硅氧化铝等。另外,作为吸收微波的材料,例如有除了富勒烯以外的碳类等。另外,作为反射微波的材料,例如有金属。在各个隔板36上存在供内容物40流通的流路。该隔板36的流路例如可以是内容物40在隔板36上方溢流的流路,或者也可以是内容物40在隔板36的间隙流动的流路。当流路是后者的间隙的流路时,例如,间隙的流路可以存在于隔板36与反应器34的内壁之间,或者也可以存在于隔板36自身上。
另外,在反应器34内还可以存在未图示的搅拌单元。即,基于本实施方式的微波照射装置2可以具备一个以上的搅拌单元,用于旋转搅拌反应器34内的内容物40。可以通过使叶片状、翼状、或棒状的旋转构件等旋转来进行该搅拌。该旋转构件可以是微波透过性构件,可以是微波吸收性构件,可以是微波反射性构件,或者也可以由微波透过性材料、微波吸收性材料、微波反射性材料中的任意两种以上的材料组合而成。
蒸汽导管51是用于在因反应器34中的微波照射而产生了蒸汽(气体)的情况下,将所产生的蒸汽引导至冷凝容器52的管。此外,蒸汽导管51优选为,不会在与反应器34的接合部以及与冷凝容器52的接合部泄露蒸汽。这是为了能够利用冷凝容器52等取得正确的蒸汽量。另外,为了避免微波经由蒸汽导管51而泄露,蒸汽导管51的直径和长度等优选为难以使在反应器34中照射的微波通过。
冷凝容器52是用于将由蒸汽导管51所引导的蒸汽冷凝(液化)的容器。如图1所示,可以通过将由蒸汽导管51所引导的蒸汽导入冷凝后的液体中,从而使该蒸汽液化。此外,为了切实地进行该液化,冷凝容器52可以适当地通过冷却装置进行冷却。另外,冷凝容器52中设有液面传感器53,用于测定液化后的液体的液面位置。通过液面传感器53测定到的液面位置信息被传给蒸发量取得部54。
蒸发量取得部54根据从液面传感器53接收的液面位置的变化来取得内容物40的蒸发量。该蒸发量例如可以是每个单位时间的蒸发量,或者也可以是蒸发量的累计值。此处,单位时间是作为处理的单位而预设的时间,例如可以是1秒或10秒、1分钟、5分钟等。蒸发量取得部54例如可以通过将冷凝容器52内的水平方向的截面积与单位时间内的液位变化量相乘,取得单位时间的蒸发量。另外,蒸发量可以是与内容物40同相的量,或者也可以不是同相的量。前者的情况下,如果内容物40是液体,那么蒸发量也就是液体的量。另外,该量可以是体积、可以是重量、可以是摩尔数、或者也可以是其他的量。在本实施方式中,主要对蒸发量是体积的情况进行说明。另外,蒸发量取得部54例如可以通过将冷凝容器52内的水平方向的截面积与从处理开始之后的液位变化量相乘,取得蒸发量的累计值。此处,处理开始例如可以是微波照射的开始。另外,所取得的蒸发量被传给信息处理装置1。在本实施方式中,设定成每隔单位时间对信息处理装置1传输该蒸发量。
此处,对微波照射装置2的动作进行简单说明。原料等的内容物40流入反应器34之后,依次在各室中移动并被照射微波。接着,适当地使其发生与微波照射相应的反应,含有反应后的生成物的内容物40从反应器34流出。此外,在反应器34内,优选为基于未图示的搅拌单元进行搅拌,由此对内容物均匀地照射微波。另外,可以以化学反应以外的目的进行微波照射。例如,可以通过基于微波照射进行的加热,溶解热熔融性的粘着剂、使潮湿的照射对象物干燥、进行蒸馏、或者进行其他处理。
此外,内容物40中包含催化剂的情况下,还可以在反应器34后部存在用于分离催化剂的催化剂分离部(未图示)。另外,在图1中,示出了反应器34的内部被隔板36分隔成三个室的情况,但反应器34内部的室的个数也可以是两个,可以是四个以上,或者反应器34内部也可以未被分隔。另外,在图1中,示出了反应器34是平流式的情况,但也可以不是平流式的。反应器34也可以是内容物沿着垂直方向流动的竖流式。另外,内容物40的种类不受限定。内容物40通常是液状的,但也可以是固体或者气体。内容物40是固体的情况下,可以是内容物40自身在反应器34内部移动,或者也可以是以输送的方式通过输送机等来移动内容物40。另外,内容物40是气体的情况下,设为在反应器34的内部不存在未填充空间。这样,微波照射装置2只要是用于在照射区域对对象物照射微波的装置,则其可以是任何一种装置。
图2是示出基于本实施方式的信息处理装置1的结构的框图。在图2中,基于本实施方式的信息处理装置1是用于判断在对内容物40照射微波的微波照射装置2中的错误的装置,其具备电力接收部11、投入电力计算部12、投入电力接收部13、电力量计算部14、温度接收部15、温度变化计算部16、蒸发量接收部17、减少量计算部18、关系式存储部19、判断部20以及输出部21。
电力接收部11接收由功率监控器33取得的入射波电力与反射波电力。此外,电力接收部11可以包含用于进行接收的设备(例如网卡等),也可以不包含用于进行接收的设备。另外,电力接收部11可以通过硬件来实现,或者也可以通过用于驱动规定设备的驱动程序等的软件来实现。
投入电力计算部12计算出电力接收部11接收到的入射波电力与反射波电力之间的差值,作为投入电力。该投入电力表示被投入到微波照射装置2的照射区域的微波电力。此外,电力接收部11从多个功率监控器33接收电力的情况下,投入电力计算部12可以计算每个功率监控器33的投入电力,或者也可以计算所有功率监控器33的总投入电力。在本实施方式中,主要对后者的情况进行说明。另外,投入电力计算部12计算投入电力的时机是任意的,但是在本实施方式中,主要对投入电力计算部12定期计算投入电力的情况,即每隔单位时间计算投入电力的情况进行说明。
投入电力接收部13接收投入到微波照射装置2的投入电力,也就是入射到微波照射装置2的照射区域的微波、即入射波电力,与由微波照射装置2的照射区域反射的微波、即反射波电力之间的差值。该投入电力通过投入电力计算部12计算得出。此外,投入电力接收部13可以包含用于进行接收的设备(例如调制解调器或网卡等),或者也可以不包含用于进行接收的设备。另外,投入电力接收部13可以通过硬件来实现,或者也可以通过用于驱动规定设备的驱动程序等的软件来实现。
电力量计算部14使用投入电力接收部13所接收到的投入电力,计算与微波照射时间相对应的电力量。投入电力连续变化的情况下,电力量计算部14也可以在微波照射时间内,从该照射时间初期到末期通过对投入电力进行积分来计算出电力量。另外,在投入电力为每个单位时间的信息的情况下,电力量计算部14在微波照射时间内,可以从该照射时间初期到末期将每个单位时间的投入电力相加,再用该合计结果乘以单位时间,从而计算出电力量。通过积分或者加法运算来计算电力量的情况下,例如,可以将由投入电力接收部13接收到的投入电力累积在未图示的存储介质中,电力量计算部14对该累积的投入电力中、与微波照射时间相对应的时期的投入电力进行积分或者加法运算,从而计算出电力量。另外,投入电力在微波照射时间内不发生变化的情况下,电力量计算部14可以通过将微波照射时间与投入电力相乘,从而计算出电力量。该情况下,例如,可以将微波照射时间存储在未图示的存储介质中,电力量计算部14通过计算出所读取出的微波照射时间与投入电力之积,从而计算出电力量。此外,微波照射时间是对照射对象照射微波的时间。如本实施方式那样,反应器34是连续式的情况下,微波照射时间设为内容物40在微波照射装置2的照射区域中流通的时间,即从内容物40流入照射区域(反应器34)开始到流出照射区域为止的时间。此外,从内容物40流入照射区域开始到流出照射区域为止的时间通常与内容物40从温度测定部41移动到温度测定部42所需的时间相等。
温度接收部15从温度测定部41、42接收内容物40的温度。如本实施方式那样,反应器34是连续式的情况下,温度接收部15接收微波照射装置2的流入位置处的内容物40的温度、以及流出位置处的内容物40的温度。前者的温度由温度测定部41测定,后者的温度由温度测定部42测定。该温度例如可以是由一个温度测定部测定的温度,或者也可以是由两个以上的温度测定部测定的平均温度。后者的情况下,例如,温度接收部15可以接收在流入位置处由多个温度测定部测定的平均温度,以及在流出位置处由多个温度测定部测定的平均温度。此外,温度测定部15可以包含用于进行接收的设备(例如网卡等),或者也可以不包含用于进行接收的设备。另外,温度接收部15可以通过硬件来实现,或者也可以通过用于驱动规定设备的驱动程序等的软件来实现。
温度变化计算部16使用温度接收部15接收到的温度,计算与微波照射时间相对应的温度变化。即,温度变化计算部16通过从微波照射时间末期的温度中减去初期的温度,从而计算出该温度变化。如本实施方式那样,反应器34是连续式的情况下,温度变化计算部16计算流出位置处的内容物40的温度与流入位置处的内容物40的温度之间的差值,作为温度变化。前者的温度由温度测定部42测定,后者的温度由温度测定部41测定。通过这样的设定,从微波照射区域(反应器34)的流出位置的温度中减去流入位置的温度,从而计算出温度变化。此外,计算温度变化时所使用的温度测定部41的温度优选为,在温度测定部42进行温度测定之前测定到的温度,提前的时间长度为微波照射时间。通过这样的设定,温度变化计算部16计算的温度变化将表示出在微波照射时间中内容物40的升温程度。
蒸发量接收部17从蒸发量取得部54接收微波照射装置2的照射区域(反应器34)中的内容物的蒸发量。此外,蒸发量接收部17可以包含用于进行接收的设备(例如调制解调器或网卡等),或者也可以不包含用于进行接收的设备。另外,蒸发量接收部17可以通过硬件来实现,或者也可以通过用于驱动规定设备的驱动程序等的软件来实现。
减少量计算部18使用蒸发量接收部17接收到的蒸发量,计算由蒸发导致的内容物40的减少量。该减少量优选为与内容物40同相(例如固相、液相、气相等)的量,但也可以不是与内容物40同相的量。另外,该减少量是与微波照射时间相对应的减少量。该微波照射时间设定为与计算电力量等所使用的微波照射时间相同。即,如本实施方式那样,反应器34是连续式的情况下,微波照射时间设定为从内容物40流入照射区域(反应器34)到流出照射区域为止的时间。蒸发量为每个单位时间的量的情况下,减少量计算部18通过将与微波照射时间相对应的各蒸发量相加,从而能够计算出与微波照射时间相对应的全部蒸发量。例如,由蒸发量接收部17接收到的蒸发量被累积在未图示的存储介质中时,减少量计算部18也可以通过将该累积的蒸发量中、与微波照射时间相对应的期间的蒸发量相加,从而计算出全部蒸发量。另外,蒸发量为累积量的情况下,减少量计算部18通过从微波照射时间末期的累积量中减去初期的累积量,从而能够计算出全部蒸发量。例如,由蒸发量接收部17接收到的蒸发量被累积在未图示的存储介质中时,减少量计算部18通过从该累积的蒸发量中的、作为减少量的计算对象的、微波照射时间末期的蒸发量(累积量)中减去初期的蒸发量(累积量),也可以计算出全部蒸发量。而且,蒸发量与减少量的单位相同的情况下,该全部蒸发量即为减少量。另一方面,蒸发量与减少量的单位不同的情况下,减少量计算部18将全部蒸发量换算成减少量。例如,全部蒸发量通常用体积来表示,减少量的单位可以是体积单位,可以是重量单位,可以是摩尔数单位,或者也可以是其他单位。因此,减少量计算部18可以进行该单位的转换。例如,通过用密度乘以作为体积值的全部蒸发量,可以计算出重量。另外,通过用该重量除以1摩尔的质量,能够计算出摩尔数。在本实施方式中,主要说明减少量计算部18将全部蒸发量转换为摩尔数的情况。
关系式存储部19用于存储关系式。该关系式是将电力量、温度变化与减少量相关联的式子。当满足该关系式时,则微波照射装置2中的微波照射正在适当地进行。关于该关系式的详细内容,将在后文进行说明。关系式被存储到关系式存储部19中的过程是任意的。例如,可以通过存储介质在关系式存储部19中存储关系式,也可以将经由通信电路等发送而来的关系式存储在关系式存储部19中,或者还可以将借助输入设备输入的关系式存储在关系式存储部19中。关系式存储部19中所进行的存储可以是在RAM(随机存取存储器)等中进行的临时存储,或者也可以是长期存储。关系式存储部19可以通过规定的存储介质(例如半导体存储器或磁盘、光盘等)来实现。
判断部20使用电力量计算部14计算出的电力量、温度变化计算部16计算出的温度变化、减少量计算部18计算出的减少量、以及关系式存储部19中存储的关系式,判断电力量、温度变化以及减少量是否在容许范围内满足关系式。如后所述,通常,在不存在错误的理想状况下,电力量、温度变化以及减少量满足关系式。但是,由于微波的照射等未必都在理想状况下进行,因而,即使电力量等是在容许范围内满足关系式时,判断部20也判断为满足该关系式。因此,该容许范围通常是容许误差的程度。即,可以认为判断电力量、温度变化以及减少量是否在容许范围内满足关系式,就是判断电力量、温度变化以及减少量是否在误差范围内满足关系式。该容许范围可以是固定的,或者也可以根据内容物40而改变。例如,内容物40为原料与生成物的混合物,当两者的相对介电常数之差较大时,可以扩大容许范围,当两者的相对介电常数之差较小时,可以缩小容许范围。
当判断部20判断为电力量、温度变化以及减少量超过容许范围而不满足关系式时,输出部21则进行与错误发生相关的输出。与错误发生相关的输出可以是示出存在错误的输出,可以是示出错误内容的输出,可以是与根据错误发生状况而进行的控制相关的输出,或者也可以是其他的与错误发生相关的输出。此外,与根据错误发生状况而进行的控制相关的输出,例如可以是与根据该错误发生状况而降低或停止微波发生器31的输出的控制相关的输出,或者也可以是与其他控制相关的输出。此外,判断为电力量等在容许范围内满足关系式时,输出部21也可以输出没有发生错误的信息。在此,该输出例如可以是在显示设备(例如CRT或液晶显示器等)上进行的显示,可以是经由通信电路对规定设备进行的发送,可以是基于打印机进行的打印,可以是基于扬声器进行的声音输出,可以是向存储介质进行的累积存储,或者还可以是向其他构成要素进行的传输。此外,输出部21可以包含用于进行输出的设备(例如显示设备或打印机等),或者也可以不包含用于进行输出的设备。另外,输出部21可以通过硬件来实现,或者也可以通过用于驱动那些设备的驱动程序等的软件来实现。
在此,对上述关系式进行说明。在进行该说明之前,首先说明(1)通过微波照射而使温度上升的情况、以及(2)通过微波照射而进行蒸发的情况。
(1)温度上升
在通过微波照射而使温度上升的情况下,下式的关系成立。
△E1×△t1=χ×M×△T (数学式1)
此处,△E1(W=J/s)是投入电力;△t1(s)是为了使温度上升,与该投入电力相对应的微波被照射的时间。另外,χ(J/(kg·K))是微波的照射对象的全体比热容,M(kg)是微波的照射对象的全体质量,△T(K)是与照射微波的时间相对应的温度上升值。
(2)蒸发
在通过微波照射而进行蒸发的情况下,下式的关系成立。
△E2×△t2=α×H×N (数学式2)
此处,△E2(W)是投入电力;△t2(s)是为了进行蒸发,与该投入电力相对应的微波被照射的时间。另外,α是系数,H(J)是蒸发了的物质的蒸发焓(蒸发热),N是蒸发了的物质的摩尔数。
此外,在连续式的微波照射装置2中,通过微波照射进行着稳定状态的处理时,认为下式成立。此外,稳定状态是指以一定的比例并行进行着上述(1)与(2)的状态。
△E×△t=A×△T+B×N+C (数学式3)
此处,△E(W)是投入电力,△t(s)是与该投入电力相对应的微波照射时间。另外,A、B、C是系数,其他项的含义与上述式子中的一致。C是考虑到在反应器34内部的反应中产生的反应热、以及由反应器34、隔板36、搅拌单元等吸收的微波等影响而附加的项。A、B、C是在微波照射装置2处于正常(没有发生错误)的稳定状态下测定到的值。从(1)可知“A=χ×M”、“B=α×H”,但实际上,有时由于误差等而导致“A=χ×M”等不成立,因此,相比于通过计算算出A等,优选为通过实验进行测定。在此,对上述“数学式3”的C项进行说明。C可以记载为如下所示。
C=-C1+C2+C3
在此,C1是在微波照射时间内,在反应器34内部的反应中产生的反应热。在反应器34内部产生放热反应时C1>0,产生吸热反应时C1<0。另外,产生两种反应的情况下,根据放热和吸热的程度来决定C1的正负。用在反应器34内部进行的反应的每单位分量(例如每1摩尔)的反应热,乘以反应器34内部存在的反应物质的分量(例如摩尔数),可以计算出C1。进行多个反应的情况下,C1是各反应中产生的反应热的总和。此外,在反应器34内部没有产生放热反应以及吸热反应的情况下,例如进行干燥等的情况下,可以设C1=0。另外,C2项对应的是:在微波照射时间内,由反应器34、隔板36、搅拌单元等反应器34的内部结构、或者存在于功率监控器33与反应器34之间的波导管32内部的不纯物等引起的微波吸收。引起该吸收的情况下,C2>0。此外,反应器34和隔板36等由微波反射性或者微波透过性的物质构成的情况下,即可以几乎忽略微波吸收的情况下,可以设C2=0。另外,C3是在微波照射时间内,与其他能量的增减相对应的项。该能量的增减例如可以是经由反应器34的壁面等流入或流出的热量。如果将C3设为与热量的流出流入相对应的项,那么有热量流入的情况下C3<0,有热量流出的情况下C3>0。不存在这种热量的流出流入等的情况下,可以设C3=0。此外,A、B通常是不为0的系数。然而,C可以是0,或者也可以不是0。上述“数学式3”是由关系式存储部19存储的关系式。此外,△E×△t是电力量计算部14计算出的电力量。△T是温度变化计算部16计算出的温度变化。另外,N是减少量计算部18计算出的减少量。
因此,判断部20将电力量等代入关系式“数学式3”,并判断该关系式是否成立。此时,如前所述,判断部20只需判断在容许范围内关系式是否成立。具体而言,将容许范围设为P(大于0的实数)时,如果
-P<(△E×△t)-(A×△T+B×N+C)<P (数学式4)
的关系成立,则判断部20可以判断为在容许范围内满足关系式,如果该关系不成立,则判断部20可以判断为在容许范围内不满足关系式。在此,不满足“数学式4”时,则满足
(△E×△t)≦(A×△T+B×N+C)-P (数学式4-1)
(A×△T+B×N+C)+P≦(△E×△t) (数学式4-2)
中的某一个数学式。此外,在满足“数学式4-1”的情况下,由于温度上升等相对于投入能量超过了预期,因此可以考虑发生了热失控或者内容物40的容量减少等的错误。另一方面,在满足“数学式4-2”的情况下,由于温度上升等相对于投入能量低于预期,因此可以考虑发生了微波泄露或内容物40的容量增加等的错误。此外,在“数学式4”中,至少一边的不等号“<”可以是附有等号的“≦”。另外,在“数学式4-1”、“数学式4-2”中,至少一个附有等号的不等号“≦”可以是不带等号的不等号“<”。
接下来,使用图3的流程图,对信息处理装置1的动作进行说明。
(步骤S101)电力接收部11判断是否从功率监控器33接收了入射波电力以及反射波电力。然后,在已接收的情况下,进入步骤S102,否则进入步骤S105。此外,电力接收部11优选为每隔前述的单位时间便接收入射波电力等。该电力的接收可以认为是每隔单位时间,便将来自功率监控器33的输出值调入信息处理装置1中。
(步骤S102)投入电力计算部12使用电力接收部11接收到的入射波电力以及反射波电力,计算出投入电力。此外,电力接收部11从多个功率监控器33接收到入射波电力等的情况下,投入电力计算部12也可以对每个功率监控器33分别计算出入射波电力等的差值,然后合计该差值从而计算出投入电力。
(步骤S103)投入电力接收部13接收投入电力计算部12计算出的投入电力。
(步骤S104)投入电力计算部12将接收到的投入电力累积在未图示的存储介质中。然后,返回步骤S101。
(步骤S105)温度接收部15判断是否接收了内容物40的温度。然后,在已接收的情况下,进入步骤S106,否则进入步骤S107。此外,温度接收部15可以每隔前述的单位时间便接收温度。该温度的接收可以认为是每隔单位时间,便将来自温度测定部41、42的输出值调入信息处理装置1中。
(步骤S106)温度接收部15将接收到的温度累积在未图示的存储介质中。然后,返回步骤S101。
(步骤S107)蒸发量接收部17判断是否接收了蒸发量。然后,在已接收蒸发量的情况下,进入步骤S108,否则进入步骤S109。此外,蒸发量接收部17可以每隔前述的单位时间便接收蒸发量。该蒸发量的接收可以认为是每隔单位时间,便将来自蒸发量取得部54的蒸发量调入信息处理装置1中。
(步骤S108)蒸发量接收部17将接收到的蒸发量累积在未图示的存储介质中。然后,返回步骤S101。
(步骤S109)判断部20判断是否使用关系式进行判断。然后,在判断为使用该关系式进行判断的情况下,进入步骤S110,否则返回步骤S101。此外,判断部20例如可以判断为每隔规定时间便使用关系式进行判断,或者也可以判断为在其他的时机使用关系式进行判断。
(步骤S110)电力量计算部14使用此前为止累积的投入电力,计算与微波照射时间相对应的电力量。该电力量可以由未图示的存储介质存储。
(步骤S111)温度变化计算部16使用此前为止累积的温度,计算与微波照射时间相对应的温度变化。该温度变化可以由未图示的存储介质存储。
(步骤S112)减少量计算部18使用此前为止累积的蒸发量,计算与微波照射时间相对应的减少量。该减少量可以由未图示的存储介质存储。
(步骤S113)判断部20判断计算出的电力量、温度变化以及减少量是否在容许范围内满足存储在关系式存储部19中的关系式。然后,在满足的情况下,返回步骤S101,在不满足的情况下,进入步骤S114。
(步骤S114)输出部21进行与微波照射装置2中的错误发生相关的输出。然后,返回步骤S101。
此外,在图3的流程图中,即使判断为电力量等在容许范围内满足关系式时,也可以进行与该判断结果相关的输出。另外,在图3的流程图中,示出了事先累积已接收的投入电力等、并且使用该累积的投入电力等统一计算出电力量等的情况,但也可以不是那样。例如,每当接收投入电力等时,便依次将投入电力等相加,从而可以计算出电力量等。另外,在图3的流程图中,通过切断电源或通过调用处理结束的中断来结束处理。
接下来,使用具体例,对基于本实施方式的微波照射系统100的动作进行说明。在该具体例中,在信息处理装置1中,设定为在每个定期的时刻T0、T1、T2…接收电力等。设定成该相临的时刻差(例如“T2-T1”)为单位时间。该单位时间设为TU(s)。另外,在该具体例中,微波照射时间设定为单位时间的10倍。即,微波照射时间为10×TU(s)。因此,例如,使用时刻T0~T10的信息,在时刻T10判断是否满足关系式。另外,设定成蒸发量取得部54取得的蒸发量为累计量。
在信息处理装置1以及微波照射装置2运转的状况下,假设时刻已变为T101。这样,电力接收部11判断为接收电力,接收来自两个功率监控器33的入射波电力以及反射波电力,并将其传给投入电力计算部12(步骤S101)。在此,来自第一个功率监控器33的入射波电力设为PI101-1,反射波电力设为PR101-1。另外,来自第二个功率监控器33的入射波电力设为PI101-2,反射波电力设为PR101-2。这样,投入电力计算部12计算出与第一个功率监控器33相关的电力差“(PI101-1)-(PR101-1)”,以及与第二个功率监控器33相关的电力差“(PI101-2)-(PR101-2)”。然后,投入电力计算部12计算出作为该电力差总和的投入电力“(PI101-1)-(PR101-1)+(PI101-2)-(PR101-2)”,并将其传输到投入电力接收部13(步骤S102)。在此,将该投入电力设为“E101”。投入电力接收部13接收到该投入电力之后,以与时刻T101相对应的方式将该投入电力累积到未图示的存储介质中(步骤S103、S104)。
另外,温度接收部15也在时刻为T101的时间点判断为接收温度,接收来自温度测定部41的流入位置的温度以及来自温度测定部42的流出位置的温度,并将其累积到未图示的存储介质中(步骤S105、S106)。此处,该流入位置的温度设为TE101-1,流出位置的温度设为TE101-2。另外,蒸发量接收部17也在时刻为T101的时间点判断为接收蒸发量,接收来自蒸发量取得部54的蒸发量,并将其累积到未图示的存储介质中(步骤S107、S108)。此处,该蒸发量设为V101。
这样,在时刻T102、T103…,也依次进行投入电力的累积等处理。其结果,存储在未图示的存储介质中的信息如图4所示。在图4中,投入电力(W)、流入位置的温度(℃)、流出位置的温度(℃)、蒸发量(m3)与各个时刻相对应。
与时刻T110相对应的投入电力等信息被累积之后,判断部20判断为使用关系式进行判断,指示电力量计算部14计算出电力量,指示温度变化计算部16计算出温度变化,并且指示减少量计算部18计算出减少量(步骤S109)。这样,电力量计算部14根据该指示,计算出与微波照射时间相对应的电力量“TU×(E101+E102+E103+…+E110)”,并将其传给判断部20(步骤S110)。该电力量设为“PS110”。另外,温度变化计算部16根据来自判断部20的指示,计算出与微波照射时间相对应的温度变化“(TE110-2)-(TE100-1)”,并将其传给判断部20(步骤S111)。该温度变化设为“TV110”。此外,由于微波照射时间与内容物从流入位置移动到流出位置的时间相对应,因此,在时刻T100位于流入位置的照射对象在经过了微波照射时间之后的时刻T110移动至流出位置。因此,从时刻T110的流出位置处的内容物40的温度TE110-2中减去时刻T100的流入位置处的内容物40的温度T100-1,从而计算出微波照射时间内照射对象的温度变化。另外,减少量计算部18根据来自判断部20的指示,计算出与微波照射时间相对应的减少量“(V110-V100)×D/MO”,并将其传给判断部20(步骤S112)。该减少量设为“RE110”。此外,D是密度(kg/m3),MO是蒸发了的物质的1摩尔的质量(kg)。因此,减少量RE110是蒸发了的物质的摩尔数。在此,通过上述处理,计算出与时刻T100至T110的微波照射时间(=10×TU(s))相对应的电力量等。
接收电力量PS110、温度变化TV110、减少量RE110之后,判断部20从关系式存储部19中读取关系式,并且判断是否满足如下关系式(步骤S113)。
-P<PS110-(A×TV110+B×RE110+C) (数学式5)
PS110-(A×TV110+B×RE110+C)<P (数学式6)
当满足“数学式5”、“数学式6”两个关系式时,则电力量等在容许范围内满足关系式,当不满足其中某一个关系式时,则电力量等在容许范围内不满足关系式。在此,假设满足“数学式5”、“数学式6”两个关系式。这样,输出部21进行图5A的显示。其结果,微波照射系统100的用户可以获知微波照射装置2中没有发生错误。
此处,对不满足“数学式5”、“数学式6”中的某一个关系式的情况进行简单说明。首先,假定不满足“数学式5”。该情况下,尽管投入能量小,但是仍然能够达成预期的温度上升,因而可以考虑发生了热失控或内容物40减少的错误。因此,输出部21可以进行图5B的显示(步骤S114)。接下来,假定不满足“数学式6”。该情况下,如果不增大投入能量,就无法达成预期的温度上升,因而可以考虑发生了微波泄露或者内容物40增加的错误。因此,输出部21可以进行图5C的显示(步骤S114)。
此外,在该具体例中,说明了投入电力与温度、蒸发量等被累积到一个存储介质中的情况,但也可以不是那样。例如,投入电力和温度等可以被累积到不同的存储介质中。另外,在该具体例中,用于计算温度变化的温度、以及用于计算减少量的蒸发量仅仅是微波照射时间初期和末期的温度与蒸发量,因此,温度接收部15和蒸发量接收部17可以仅接收该时间点的温度和蒸发量。
另外,在该具体例中,说明了电力接收部11接收到的是入射波等的电力本身的情况,但也可以不是那样。例如,电力接收部11可以接收入射波等的电压值和电流值。即使在该情况下,由于将电压值与电流值相乘可以计算出电力,因此,可以认为电力接收部11与接收到电力的情况实质上相同。
如上所述,根据基于本实施方式的微波照射系统100,使用在微波照射装置2中能够容易取得的电力量和温度、蒸发量,可以容易地检测出在微波的照射区域中可能发生的错误。虽然不容易检测出微波照射装置2中的热失控和内容物40的增减等,但是通过判断电力量等是否满足关系式,就能够容易地检测出没有切实地进行微波照射。而且,在发生了错误的情况下,能够对该错误进行处理。
此外,在本实施方式中,如图1所示,说明了微波照射装置2具备微波发生器31、波导管32、功率监控器33、反应器34等的情况,但也可以不是那样。微波照射装置2至少具备微波发生器31、波导管32、功率监控器33以及对微波的照射对象照射微波的区域、即微波照射区域即可,可以不是图1示出的结构。
另外,在本实施方式中,主要说明了微波照射装置2是微波的照射对象物在反应器34内流动方式的流通式的情况,但也可以不是那样。流通式的微波照射装置2可以是通过输送机在微波的照射区域移动照射对象物的输送式装置。另外,如前所述,微波照射装置2可以不是流通式的装置。微波照射装置2可以是间歇式(分批式)的装置。微波照射装置2是间歇式装置的情况下,对内容物的温度进行的测定可以只在一个位置进行,或者也可以在两个以上的位置进行。后者的情况下,温度接收部15接收在两个以上的位置测定到的平均温度。此外,温度变化计算部16计算出的温度变化可以是微波照射时间末期的升温后温度与微波照射时间初期的升温前温度之间的差值。温度变化计算部16例如可以使用微波照射时间初期时温度接收部15接收到的温度、以及微波照射时间末期时温度接收部15接收到的温度,计算出温度变化。另外,电力量计算部14例如可以从微波照射时间初期到末期依次对投入电力进行积分或者加法运算,从而计算出电力量。另外,减少量计算部18例如可以从微波照射时间初期到末期依次将每个单位时间的蒸发量相加,从而计算出减少量,或者也可以使用微波照射时间初期时蒸发量接收部17接收到的作为累计值的蒸发量、以及微波照射时间末期时蒸发量接收部17接收到的作为累计值的蒸发量,计算出减少量。此外,电力量计算部14和温度变化计算部16、减少量计算部18例如可以从微波发生器31、微波发生器31的未图示的控制部等处接收微波照射时间初期和末期的时机,或者可以将电力接收部11和投入电力接收部13接收的电力和投入电力超过0的时间点判断为微波照射时间初期,其后,将该电力等变为0的时间点判断为微波照射时间末期。另外,关系式中A、B、C的值可以根据处理的阶段而改变。例如,在间歇式的微波照射装置2中,按照阶段1、阶段2、阶段3的顺序进行处理时,关系式的各个系数(A、B、C)可以在阶段1中为A1、B1、C1,在阶段2中为A2、B2、C2,在阶段3中为A3、B3、C3。而且,对于与阶段1相对应的微波照射时间,判断部20可以使用A1、B1、C1来判断是否在容许范围内满足关系式;对于与阶段2相对应的微波照射时间,判断部20可以使用A2、B2、C2来判断是否在容许范围内满足关系式;对于与阶段3相对应的微波照射时间,判断部20可以使用A3、B3、C3来判断是否在容许范围内满足关系式。
另外,在本实施方式中,说明了在连续式的微波照射装置2中,对与从流入位置到流出位置的范围、即反应器34全体相关的错误发生状况进行检测的情况,但也可以不是那样。例如,反应器34被分割成多个区域(例如室等)的情况下,可以设定为对各个室检测错误发生状况。该情况下,作为对象的区域只要以如上所述的对反应器34全体进行处理的方式那样进行处理即可。即,使用作为对象的区域的流入位置与流出位置的温度代替反应器的流入位置与流出位置的温度,使用内容物通过该区域的时间作为微波照射时间,使用与照射到该区域的微波相关的投入电力,并使用从该区域蒸发的蒸发量。
另外,在本实施方式中,说明了电力接收部11从功率监控器33接收电力,温度接收部15从温度测定部41、42接收温度,蒸发量接收部17从蒸发量取得部54接收蒸发量的情况,但也可以不是那样。例如,电力接收部11等可以从用于管理与微波照射装置2相关的温度等信息的装置等中接收温度等,或者也可以接收用户手动输入的温度等。
另外,在本实施方式中,说明了温度测定部41、42存在于反应器34内的情况,但也可以不是那样。只要能够通过这些温度测定部41、42测定出反应器34的流入位置处与流出位置处的内容物的温度即可,因此,例如温度测定部41可以是用于测定即将流入反应器34之前的内容物40的温度的装置,温度测定部42可以是用于测定刚从反应器34流出之后的内容物40的温度的装置。
另外,如上所述,在本实施方式中微波的照射区域的形状和方式是任意的。例如,微波照射装置2可以具有图6A~图6C中示出的、作为微波照射区域的反应器34。各个反应器34为流通式,图中的箭头表示微波的照射对象物的流入位置与流出位置。此外,图6A、图6B的反应器34为横向流通式,图6C的反应器34为纵向流通式。这样,微波照射装置2是连续式的装置的情况下,微波的照射对象物的流向可以是横向,可以是纵向,或者也可以是其他方向。另外,可以像图中的粗箭头所示的那样照射微波。
另外,例如,微波照射装置2可以具有图7中示出的微波的照射区域37。在图7的微波照射装置2中,微波的照射对象物由输送带38进行搬运,在微波的照射区域37中被照射微波。图中的箭头表示朝向微波照射区域的流入位置与流出位置。另外,可以像图中的粗箭头所示的那样照射微波。
另外,例如,微波照射装置2可以具有图8中示出的、作为微波照射区域的反应器34。图8的反应器34为间歇式。另外,在反应器34内,可以通过未图示的搅拌单元使微波的照射对象物朝着图中虚线所示的流动方向循环。另外,可以像图中的粗箭头所示的那样照射微波。另外,也可以将图6A~图6C示出的各个反应器34用作间歇式的反应器。
另外,如上所述,微波照射装置2照射微波的对象物可以是固体,可以是液体,可以是气体,或者也可以是其中任意两种以上的混合物。另外,微波的照射对象物是固体或液体的情况下,可以直接对该固体或液体照射微波,或者也可以经由如上述的未填充空间35那样的空间间接地照射微波。
另外,在本实施方式中,说明了使用蒸汽导管51、冷凝容器52、液面传感器53以及蒸发量取得部54来取得蒸发量的情况,但是,只要能够取得内容物的蒸发量,也可以用其他的装置来取得内容物的蒸发量。
另外,在本实施方式中,说明了使用蒸发量的情况,但也可以不是那样。在蒸发量几乎不变的情况以及不出现内容物的蒸发的情况下,可以无需考虑蒸发量而进行判断。即,关系式可以是将电力量与温度变化相关联的式子。那么,判断部20可以使用电力量计算部14计算出的电力量、温度变化计算部16计算出的温度变化以及该关系式,判断电力量以及温度变化是否在容许范围内满足关系式。在该判断处理中,由于在上述关系式中只产生B=0这一变化,因此,省略关于不使用蒸发量的情况的详细说明。另外,通过判断部20判断为电力量以及温度变化超过容许范围而不满足关系式时,输出部21可以进行与错误发生相关的输出。此外,在不使用蒸发量的情况下,信息处理装置1可以不具备蒸发量接收部17以及减少量计算部18。另外,微波照射装置2也可以不具备蒸汽导管51、冷凝容器52、液面传感器53以及蒸发量取得部54。
另外,在本实施方式中,说明了在信息处理装置1中计算投入电力的情况,但也可以在功率监控器33中计算投入电力,或者还可以通过可存在于功率监控器33与信息处理装置1之间的计算装置等来进行计算。这样,在信息处理装置1以外计算投入电力的情况下,信息处理装置1可以不具备电力接收部11以及投入电力计算部12。而且,投入电力接收部13也可以接收在信息处理装置1以外计算出的投入电力。该情况下,投入电力接收部13例如可以接收从输入设备(例如键盘和鼠标、触摸屏等)输入的投入电力,可以接收通过有线或无线通信电路发送而来的投入电力,或者可以接收从规定的存储介质(例如光盘和磁盘、半导体存储器等)中读取出的投入电力。
另外,在本实施方式中,主要说明了通过实验来测定上述数学式3中的系数A、B、C的情况,但也可以不是那样。该系数A、B、C可以通过计算得出。
另外,在上述实施方式中,说明了信息处理装置1是独立系统的情况,但信息处理装置1可以是独立系统装置,或者也可以是服务器-客户端系统中的服务器装置。后者的情况下,输出部和接收部可以借助通信电路接收输入或者输出信息。
另外,在上述实施方式中,各处理或者各功能可以通过单独的装置或者单独的系统进行集中处理来实现,或者也可以通过多个装置或者多个系统进行分散处理来实现。
另外,在上述实施方式中,关于各个构成要素之间进行的信息交换,例如进行该信息交换的两个构成要素在物理上为不同的构成要素的情况下,可以通过基于一个构成要素的信息输出以及基于另一个构成要素的信息接收来进行该信息交换,或者进行该信息交换的两个构成要素在物理上为同一构成要素的情况下,可以通过从其中一个构成要素所对应的处理阶段移入另一个构成要素所对应的处理阶段来进行该信息交换。
另外,在上述实施方式中,与各构成要素进行的处理相关的信息,例如各构成要素接收、取得、选择、生成、发送、收受的信息,以及各构成要素在处理中使用的阈值和数学式、地址等的信息等,即使在上述说明中没有明示的情况下,也可以在未图示的存储介质中进行临时或者长期保持。另外,各构成要素或者未图示的累积部可以向该未图示的存储介质中累积信息。另外,各构成要素或者未图示的读取部可以从该未图示的存储介质中读取信息。
另外,在上述实施方式中,在各构成要素等中使用的信息、例如各构成要素在处理中使用的阈值和地址、各种设定值等的信息可以由用户进行变更的情况下,即使在上述说明中没有明示,也可以设定成用户可适当地变更这些信息,或者也可以不允许用户做出变更。在用户可变更这些信息的情况下,该变更例如可以通过用于接收来自用户的变更指示的未图示的接收部、以及根据该变更指示来变更信息的未图示的变更部来实现。基于该未图示的接收部对变更指示进行的接收,例如可以是对来自输入设备进行的接收,可以是对借助通信电路发送而来的信息进行的接收,或者也可以是对从规定的存储介质中读取出的信息进行的接收。
另外,在上述实施方式中,在信息处理装置1中包含的两个以上的构成要素具有通信设备和输入设备等的情况下,两个以上的构成要素可以具有物理上单一的设备,或者可以具有分别不同的设备。
另外,在上述实施方式中,各构成要素可以通过专用的硬件来构成,或者,对于可由软件实现的构成要素,可以通过运行程序来实现。例如,CPU等的程序运行部读取并运行存储在硬盘和/或半导体存储器等存储介质中的软件程序,从而可实现各构成要素。在进行该运行时,程序运行部可以一边访问存储部和存储介质一边运行程序。此外,用于实现上述实施方式中的信息处理装置的软件是如下程序。也就是,该程序用于使计算机执行与对内容物照射微波的微波照射装置中的错误相关的判断处理,该程序是用于执行以下步骤的程序:投入电力接收步骤,接收对微波照射装置的投入电力,所述投入电力是入射到微波照射装置的照射区域的微波即入射波的电力、与在微波照射装置的照射区域被反射的微波即反射波的电力之间的差值;温度接收步骤,接收内容物的温度;电力量计算步骤,使用在投入电力接收步骤中接收到的投入电力,计算出与微波照射时间相对应的电力量;温度变化计算步骤,使用在温度接收步骤中接收到的温度,计算出与微波照射时间相对应的温度变化;判断步骤,使用在电力量计算步骤中计算出的电力量、在温度变化计算步骤中计算出的温度变化、以及将电力量与温度变化相关联的关系式,判断电力量以及温度变化是否在容许范围内满足关系式;以及输出步骤,当在判断步骤中判断为电力量以及温度变化超过容许范围而不满足关系式时,进行与错误发生相关的输出。
此外,在上述程序中,上述程序所实现的功能中不包括只能通过硬件来实现的功能。例如,至少接收信息的接收部、输出信息的输出部等中只能通过调制解调器或接口卡等硬件来实现的功能不包括在上述程序所实现的功能中。
另外,该程序可以通过从服务器等处下载来执行,或者也可以通过读取存储在规定的存储介质(例如CD-ROM等光盘、磁盘、半导体存储器等)中的程序来执行。另外,该程序还可以被用作构成程序产品的程序。
另外,执行该程序的计算机可以是一个,或者也可以是多个。即,可以进行集中处理,或者也可以进行分散处理。
图9是示出用于执行上述程序并实现基于上述实施方式的信息处理装置1的计算机的外观的一个例子的模式图。上述实施方式可以通过计算机硬件以及在该计算机上运行的计算机程序来实现。
在图9中,计算机系统900具备包含CD-ROM(Compact Disk Read OnlyMemory:光盘只读存储器)驱动器905、FD(Floppy(注册商标)Disk:软盘)驱动器906的计算机901,键盘902,鼠标903以及监视器904。
图10是示出计算机系统900的内部结构的图。在图10中,计算机901除具备CD-ROM驱动器905、FD驱动器906以外,还具备MPU(MicroProcessing Unit:微处理单元)911,用于存储启动程序等程序的ROM(只读存储器)912,连接到MPU911、用于临时存储应用程序的命令并且提供临时存储空间的RAM(Random Access Memory:随机存取存储器)913,用于存储应用程序、系统程序和数据的硬盘914,以及用于相互连接MPU911、ROM912等的总线915。此外,计算机901还可以包含提供连接至LAN和WAN等的未图示的网卡。
用于使计算机系统900执行基于上述实施方式的信息处理装置1的功能的程序可以存储在CD-ROM921或者FD922中,将其插入到CD-ROM驱动器905或者FD驱动器906中,再传输到硬盘914中。取而代之,该程序可以通过未图示的网络被发送到计算机901,并存储在硬盘914中。程序在运行时被加载到RAM913中。此外,程序也可以从CD-ROM921或FD922或者网络直接被加载。
程序可以不必包括用于使计算机901执行基于上述实施方式的信息处理装置1的功能的操作系统(OS)、或者第三方程序等。程序可以只包含在被控制的状态下调用适当的功能(模块)以获得期望结果的命令的部分。计算机系统900如何动作是众所周知的,因而省略详细说明。
另外,本发明不限于以上的实施方式,可以做各种变更,该变更自然也包含在本发明的范围内。
产业上的应用性
由上述可知,根据基于本发明的信息处理装置等,可以得到能够检测出微波照射装置中发生的错误的效果,例如作为用于监视微波照射装置的安全装置等是有用的。
Claims (6)
1.一种信息处理装置,用于进行与对内容物照射微波的微波照射装置中的错误相关的判断,其特征在于,具备:
投入电力接收部,用于接收对所述微波照射装置投入的投入电力,所述投入电力是入射到所述微波照射装置的照射区域的微波即入射波的电力、与在该微波照射装置的照射区域被反射的微波即反射波的电力之间的差值;
温度接收部,用于接收所述内容物的温度;
电力量计算部,使用所述投入电力接收部接收到的投入电力,计算出与微波照射时间相对应的电力量;
温度变化计算部,使用所述温度接收部接收到的温度,计算出与所述微波照射时间相对应的温度变化;
判断部,使用所述电力量计算部计算出的电力量、所述温度变化计算部计算出的温度变化、以及将电力量与温度变化相关联的关系式,判断该电力量以及该温度变化是否在容许范围内满足所述关系式;以及
输出部,当所述判断部判断为所述电力量以及所述温度变化超过容许范围而不满足所述关系式时,进行与错误发生相关的输出。
2.根据权利要求1所述的信息处理装置,其特征在于,
进一步具备:
蒸发量接收部,用于接收所述微波照射装置的照射区域中的内容物的蒸发量;以及
减少量计算部,使用所述蒸发量接收部接收到的蒸发量,计算出与所述微波照射时间相对应的、由蒸发导致的内容物的减少量;
所述关系式将电力量、温度变化以及减少量相关联;
所述判断部使用所述电力量计算部计算出的电力量、所述温度变化计算部计算出的温度变化、所述减少量计算部计算出的减少量、以及所述关系式,判断该电力量、该温度变化以及该减少量是否在容许范围内满足所述关系式;
当所述判断部判断为所述电力量、所述温度变化以及所述减少量超过容许范围而不满足所述关系式时,所述输出部进行所述输出。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的信息处理装置,其特征在于,
所述微波照射装置是连续式装置,
所述温度接收部接收所述微波照射装置的流入位置处的内容物的温度以及流出位置处的内容物的温度,
所述温度变化计算部计算所述流出位置处的内容物的温度与所述流入位置处的内容物的温度之间的差值,作为所述温度变化,
所述微波照射时间是内容物在所述微波照射装置的照射区域流通的时间。
4.根据权利要求1或权利要求2所述的信息处理装置,其特征在于,
所述微波照射装置是间歇式装置,
所述温度变化计算部计算微波照射时间末期的升温后温度与微波照射时间初期的升温前温度之间的差值,作为所述温度变化。
5.一种信息处理方法,用于进行与对内容物照射微波的微波照射装置中的错误相关的判断,其特征在于,具备:
投入电力接收步骤,接收对所述微波照射装置投入的投入电力,所述投入电力是入射到所述微波照射装置的照射区域的微波即入射波的电力、与在该微波照射装置的照射区域被反射的微波即反射波的电力之间的差值;
温度接收步骤,接收所述内容物的温度;
电力量计算步骤,使用在所述投入电力接收步骤中接收到的投入电力,计算出与微波照射时间相对应的电力量;
温度变化计算步骤,使用在所述温度接收步骤中接收到的温度,计算出与所述微波照射时间相对应的温度变化;
判断步骤,使用在所述电力量计算步骤中计算出的电力量、在所述温度变化计算步骤中计算出的温度变化、以及将电力量与温度变化相关联的关系式,判断该电力量以及该温度变化是否在容许范围内满足所述关系式;以及
输出步骤,当在所述判断步骤中判断为所述电力量以及所述温度变化超过容许范围而不满足所述关系式时,进行与错误发生相关的输出。
6.一种程序,用于使计算机执行与对内容物照射微波的微波照射装置中的错误相关的判断处理,其特征在于,使计算机执行如下步骤:
投入电力接收步骤,接收对所述微波照射装置投入的投入电力,所述投入电力是入射到所述微波照射装置的照射区域的微波即入射波的电力、与在该微波照射装置的照射区域被反射的微波即反射波的电力之间的差值;
温度接收步骤,接收所述内容物的温度;
电力量计算步骤,使用在所述投入电力接收步骤中接收到的投入电力,计算出与微波照射时间相对应的电力量;
温度变化计算步骤,使用在所述温度接收步骤中接收到的温度,计算出与所述微波照射时间相对应的温度变化;
判断步骤,使用在所述电力量计算步骤中计算出的电力量、在所述温度变化计算步骤中计算出的温度变化、以及将电力量与温度变化相关联的关系式,判断该电力量以及该温度变化是否在容许范围内满足所述关系式;以及
输出步骤,当在所述判断步骤中判断为所述电力量以及所述温度变化超过容许范围而不满足所述关系式时,进行与错误发生相关的输出。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012249856A JP5213199B1 (ja) | 2012-11-14 | 2012-11-14 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
JP2012-249856 | 2012-11-14 | ||
PCT/JP2013/080624 WO2014077263A1 (ja) | 2012-11-14 | 2013-11-13 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN104284716A true CN104284716A (zh) | 2015-01-14 |
CN104284716B CN104284716B (zh) | 2016-02-17 |
Family
ID=48778648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201380024749.3A Active CN104284716B (zh) | 2012-11-14 | 2013-11-13 | 信息处理装置、信息处理方法以及程序 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9258851B2 (zh) |
EP (1) | EP2845645B1 (zh) |
JP (1) | JP5213199B1 (zh) |
KR (1) | KR102114514B1 (zh) |
CN (1) | CN104284716B (zh) |
BR (1) | BR112015010398B1 (zh) |
DK (1) | DK2845645T3 (zh) |
MY (1) | MY177643A (zh) |
WO (1) | WO2014077263A1 (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107750328A (zh) * | 2015-03-12 | 2018-03-02 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 用于使用所选择的温度传感器而在给定温度范围内测量温度的方法和设备 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5603134B2 (ja) * | 2010-05-13 | 2014-10-08 | マイクロ波化学株式会社 | 化学反応装置、及び化学反応方法 |
JP5109004B1 (ja) | 2011-11-11 | 2012-12-26 | マイクロ波化学株式会社 | 化学反応装置 |
US11229895B2 (en) | 2011-11-11 | 2022-01-25 | Microwave Chemical Co., Ltd. | Chemical reaction method using chemical reaction apparatus |
JP5763234B1 (ja) | 2014-02-27 | 2015-08-12 | マイクロ波化学株式会社 | 化学反応装置 |
JP5702016B1 (ja) | 2014-06-24 | 2015-04-15 | マイクロ波化学株式会社 | 化学反応装置 |
KR20220074122A (ko) | 2020-11-27 | 2022-06-03 | 안영태 | 자동 세척 렌즈통 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1116698A (zh) * | 1994-04-01 | 1996-02-14 | Lg电子株式会社 | 微波炉加热时间控制装置及其方法 |
JP2002174983A (ja) * | 2000-12-06 | 2002-06-21 | Toshiba Tec Corp | 画像形成装置 |
JP2004095501A (ja) * | 2002-09-04 | 2004-03-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 高周波加熱装置 |
JP3829274B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2006-10-04 | 三菱電機株式会社 | 高周波加熱調理器 |
CN202277700U (zh) * | 2011-09-01 | 2012-06-20 | 上海金皮宝制药有限公司 | 微波中药提取装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08171985A (ja) * | 1994-12-19 | 1996-07-02 | Hitachi Ltd | マイクロ波加熱装置 |
US6133558A (en) * | 1996-06-24 | 2000-10-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Microwave steam heater with microwave and steam generators controlled to equalize workpiece inner and surface temperatures |
JP2005283117A (ja) * | 2000-04-28 | 2005-10-13 | Sanyo Electric Co Ltd | 電子レンジ |
FR2849343B1 (fr) | 2002-12-23 | 2009-01-23 | Aldivia | Synthese chimique comportant un traitement thermique par chauffage dielectrique intermittent, combine a un systeme de recirculation |
US8927913B2 (en) * | 2008-06-30 | 2015-01-06 | The Invention Science Fund I, Llc | Microwave processing systems and methods |
US20100018722A1 (en) | 2008-07-23 | 2010-01-28 | Northrop Grumman Shipbuilding, Inc. | Overhead servicing of machines |
JP5603134B2 (ja) | 2010-05-13 | 2014-10-08 | マイクロ波化学株式会社 | 化学反応装置、及び化学反応方法 |
-
2012
- 2012-11-14 JP JP2012249856A patent/JP5213199B1/ja active Active
-
2013
- 2013-11-13 CN CN201380024749.3A patent/CN104284716B/zh active Active
- 2013-11-13 MY MYPI2014703831A patent/MY177643A/en unknown
- 2013-11-13 WO PCT/JP2013/080624 patent/WO2014077263A1/ja active Application Filing
- 2013-11-13 DK DK13854874.8T patent/DK2845645T3/en active
- 2013-11-13 KR KR1020157007750A patent/KR102114514B1/ko active IP Right Grant
- 2013-11-13 EP EP13854874.8A patent/EP2845645B1/en active Active
- 2013-11-13 US US14/409,616 patent/US9258851B2/en active Active
- 2013-11-13 BR BR112015010398A patent/BR112015010398B1/pt active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1116698A (zh) * | 1994-04-01 | 1996-02-14 | Lg电子株式会社 | 微波炉加热时间控制装置及其方法 |
JP2002174983A (ja) * | 2000-12-06 | 2002-06-21 | Toshiba Tec Corp | 画像形成装置 |
JP3829274B2 (ja) * | 2001-05-30 | 2006-10-04 | 三菱電機株式会社 | 高周波加熱調理器 |
JP2004095501A (ja) * | 2002-09-04 | 2004-03-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 高周波加熱装置 |
CN202277700U (zh) * | 2011-09-01 | 2012-06-20 | 上海金皮宝制药有限公司 | 微波中药提取装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107750328A (zh) * | 2015-03-12 | 2018-03-02 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 用于使用所选择的温度传感器而在给定温度范围内测量温度的方法和设备 |
CN107750328B (zh) * | 2015-03-12 | 2019-12-20 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 用于使用所选择的温度传感器而在给定温度范围内测量温度的方法和设备 |
US10533897B2 (en) | 2015-03-12 | 2020-01-14 | Illinois Tool Works Inc. | Method and apparatus for measuring temperature within a given temperature range using a selected temperature sensor |
US12104961B2 (en) | 2015-03-12 | 2024-10-01 | Illinois Tool Works Inc. | Method and apparatus for measuring temperature within a given temperature range using a selected temperature sensor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2845645B1 (en) | 2018-09-05 |
US20150334786A1 (en) | 2015-11-19 |
DK2845645T3 (en) | 2019-01-07 |
BR112015010398A2 (pt) | 2017-07-11 |
JP2014099304A (ja) | 2014-05-29 |
JP5213199B1 (ja) | 2013-06-19 |
KR20150086232A (ko) | 2015-07-27 |
WO2014077263A1 (ja) | 2014-05-22 |
MY177643A (en) | 2020-09-23 |
EP2845645A4 (en) | 2015-12-30 |
EP2845645A1 (en) | 2015-03-11 |
KR102114514B1 (ko) | 2020-05-22 |
CN104284716B (zh) | 2016-02-17 |
US9258851B2 (en) | 2016-02-09 |
BR112015010398B1 (pt) | 2020-05-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104284716B (zh) | 信息处理装置、信息处理方法以及程序 | |
Rangwala et al. | Upward flame spread on a vertically oriented fuel surface: The effect of finite width | |
Sukowski et al. | Picosecond energy transfer of vibrationally hot molecules in solution: Experimental studies and theoretical analysis | |
Stenseng et al. | Investigation of biomass pyrolysis by thermogravimetric analysis and differential scanning calorimetry | |
CN103998121B (zh) | 化学反应装置 | |
Lee et al. | Numerical modelling of liquid heating and boiling phenomena under microwave irradiation using OpenFOAM | |
Van Woezik et al. | Runaway behavior and thermally safe operation of multiple liquid–liquid reactions in the semi-batch reactor: The nitric acid oxidation of 2-octanol | |
Hirota et al. | Hydrolysis of acetic anhydride: Non-adiabatic calorimetric determination of kinetics and heat exchange | |
Milewska et al. | Safety aspects in modelling and operating of batch and semibatch stirred tank chemical reactors | |
Komorowska et al. | Influence of microwave irradiation on a polyesterification reaction | |
Frikha et al. | Modelling of a solid dissolution in liquid with chemical reaction: Application to the attack reaction of phosphate by sulphuric acid | |
JP7276301B2 (ja) | 反応解析装置、反応解析システム、および反応解析方法 | |
Maestri et al. | Simple procedure for optimal scale-up of fine chemical processes. II. Nitration of 4-chlorobenzotrifluoride | |
Dostál et al. | Analysis of heat transfer in a vessel with helical pipe coil and multistage impeller | |
Zhang et al. | A multi-feature recognition criterion for identification of thermally safe operating conditions for single kinetically-controlled reactions occurring in isoperibolic liquid-liquid semibatch reactors | |
Alos et al. | A new method for assessing the thermal stability of semibatch processes based on Lyapunov exponents | |
Hogan et al. | Implementation of a generalized diffusion layer model for condensation into MELCOR | |
Papadaki et al. | Towards improved reaction runaway studies: kinetics of the N-oxidation of 2-methylpyridine using heat-flow calorimetry | |
Zhang et al. | Thermal kinetics analysis of polymerization reaction of styrene-ethylbenzene system | |
Nayak et al. | Multi‐objective optimization of semi‐batch copolymerization reactors using adaptations of genetic algorithm | |
Mohorič et al. | Semibatch anionic ring‐opening polymerization of octamethylcyclotetrasiloxane in emulsions: effect of the amount of seed polymer particles | |
Luo et al. | The critical runaway condition and stability criterion in the phenol–formaldehyde reaction | |
Heynderickx et al. | A pyrolysis furnace with reactor tubes of elliptical cross section | |
Simon et al. | Modeling of a three-phase industrial batch reactor using a hybrid first-principles neural-network model | |
Toyoda et al. | Process intensification of living cationic polymerization of isobutylene by a flow reaction system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
Free format text: FORMER OWNER: UNIV OSAKA Effective date: 20150317 |
|
C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20150317 Address after: Osaka Applicant after: Microwave chemical Co., Ltd Address before: Osaka Japan Applicant before: Microwave chemical Co., Ltd Applicant before: National University Corporation Osaka University |
|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |