CN104227603A - 波导耦合器外形高度差自动测量用夹具 - Google Patents

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杨建华
梁基富
梁国春
殷实
江顺喜
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    • B25B11/00Work holders not covered by any preceding group in the subclass, e.g. magnetic work holders, vacuum work holders
    • GPHYSICS
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Abstract

本发明涉及一种波导耦合器外形高度差自动测量用夹具。包括底座,其特点是底座一边上面有竖架,竖架的竖向中间有支撑架,竖架顶部有固定架,固定架上有气缸,气缸的活塞杆外端朝下并连有压盘,压盘之下有测试盘,压盘与测试盘间有滑轴,压盘与测试盘间的那段滑轴上套有弹簧。测试盘四周连有横臂,横臂外端有测微计及探针,所述探针呈竖向布置且其外端朝下。所述支撑架上有用于安放被测波导耦合器的支撑块,支撑块上面有用于对被测波导耦合器进行定位的定位柱。采用本发明,不仅可提高生产效率,避免资源浪费,还可减少设备投资。适用于对波导耦合器同一基准面不同点的高度差进行自动测量。

Description

波导耦合器外形高度差自动测量用夹具
技术领域
本发明涉及一种夹具。具体说,是用来测量物体同一基准面不同点高度差的测量用夹具。尤其适用于对波导耦合器同一基准面不同点的高度差进行自动测量。
背景技术
在无线通信设备制造领域都知道,通信设备上使用的波导耦合器为长方体,这种波导耦合器上的螺钉安装面到极化器安装面的高度公差不能大于,如果其螺顶安装面到极化器安装面的高度公差不能满足这一要求,安装到通信设备上后各点会出现接触不良,从而导致信号外泄,甚至整个设备失效,无法正常运行。为避免上述情况发生,就必须在波导耦合器出厂前对其螺钉安装面到极化器安装面的高度差进行测量。
目前,对波导耦合器同一基准面不同点的高度差进行测量的方法大都是采用三坐标测量设备进行测量,而由于三坐标测量设备体积较大,通常需设置在专用测量室内。因此,波导耦合器安装完毕,先送到专用测量室内用三坐标测量设备进行百分百测量,测量后将不合格产品返回生产线进行维修后再送到专用测量室进行测量。虽然采用上述方法可以实现波导耦合器同一基准面不同点的高度差测量,但由于需设置专门的测量室,且需要人员往返于生产线与测量室之间,不仅会生产效率低,还造成了资源的浪费。另外,所述三坐标设备价格比较昂贵,约需39万元,使得设备投资较多。
发明内容
本发明要解决的问题是提供一种波导耦合器外形高度差自动测量用夹具。采用这种夹具来测量波导耦合器同一基准面不同点的高度差,不仅可提高生产效率,避免资源浪费,还可减少设备投资。
本发明要解决的上述问题由以下技术方案实现:
本发明的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具包括底座,其特征在于底座一边上面有竖架,竖架的竖向中间有至少两个向前突出的支撑架,竖架顶部有向前突出的固定架,固定架上有气缸,气缸的活塞杆外端朝下并连有压盘,压盘周向有杆孔。压盘之下有测试盘,测试盘周向有螺孔,所述螺孔与压盘上的杆孔数量相等且对应,相应的螺孔和杆孔内有滑轴,滑轴上端有横向挡头,滑轴下端从压盘上方穿过压盘上的杆孔后旋入测试盘上的螺孔内,其中,压盘与测试盘间的那段滑轴上套有弹簧。测试盘四周连有至少两个横臂,横臂外端有测微计及探针,所述探针呈竖向布置且其外端朝下。所述支撑架上有用于安放被测波导耦合器的支撑块,支撑块上面有用于对被测波导耦合器进行定位的定位柱。
其中,所述测微计及探针的数量与被测波导耦合器的测试点数量匹配。
所述测微计及探针有四个,该四个测微计及探针与被测波导耦合器处于不同高度的四个点相对应。
本发明的改进方案是,所述气缸两侧均有滑套,活塞杆两侧均有导杆,两导杆的下端均固定在所述压盘上,两导杆上端分别呈滑动状伸入所述滑套内。
本发明的改进方案是,所述底座为板状,其上表面上有用于支撑被测波导耦合器的支柱。
采取上述方案,具有以下优点:
由上述方案可以看出,由于底座一边上面有竖架,竖架的竖向中间有至少两个向前突出的支撑架,竖架顶部有向前突出的固定架,固定架上有气缸,气缸的活塞杆外端朝下并连有压盘,压盘周向有杆孔。压盘之下依次有测试盘,测试盘周向有螺孔,所述螺孔与压盘上的杆孔数量相等且对应,相应的螺孔和杆孔内有滑轴,滑轴上端有横向挡头,滑轴下端从压盘上方穿过压盘上的杆孔后旋入测试盘上的螺孔内,其中,压盘与测试盘间的那段滑轴上套有弹簧。测试盘四周连有至少两个横臂,横臂外端有测微计及探针,所述探针呈竖向布置且其外端朝下。所述支撑架上有用于安放被测波导耦合器的支撑块,支撑块上面有用于对被测波导耦合器进行定位的定位柱。由底座、竖架、竖架中间的支撑架、竖架顶部的固定架及气缸、气缸活塞杆下端的压盘、压盘下方的测试盘四周的横臂、横臂上的测微计及探针等构成一个小型高度差测量夹具。测量时,可将本发明放在生产线上,随时进行测量。而且可以镶在生产线产品安装的不同工位,安装一个面测量一个面,合格的流到下道工序,从而避免了所有面安装之后呈整体拿到三坐标测量室测量、发现不良再拆卸而带来的资源大量浪费。本发明不需专用测量室及专用测量室内的三坐标测量设备,避免了测量需往返于生产线与专用测量室之间的麻烦,提高了生产效率,避免了资源浪费。又由于本发明仅由底座、竖架、竖架中间的支撑架、竖架顶部的固定架及气缸、气缸活塞杆下端的压盘、压盘下方的测试盘四周的横臂、横臂上的测微计及探针等构成,价值少,仅有1万元,使得设备投资少。
附图说明
图1是本发明的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具结构示意图;
图2是图1的右视示意图。
具体实施方式
如图1和图2所,本发明的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具包括底座1,所述底座1为平板。底座1的后边上面设置有竖架3,竖架3下端固定在底座1后边的中间。竖架3的竖向中间设置有两个向前突出的支撑架4。两个支撑架4处于同一高度上,它们的后端固定在竖架3的中间两个竖边上。在竖架3顶部设置有向前突出的固定架16,固定架16上固定有气缸8,所述气缸8两侧均设置有滑套9,气缸8的活塞杆7两侧均设置有导杆10,两导杆10上端分别呈滑动状伸入所述滑套9内。气缸8的活塞杆7外端朝下并连有压盘11,所述压盘11为圆板,压盘11的周向加工四个有杆孔。压盘11之下设置有测试盘13,测试盘13周向加工有四个螺孔,所述螺孔与压盘11上的杆孔数量相等且对应,相应的螺孔和杆孔内装有滑轴6,滑轴6上端加工有横向挡头,滑轴6下端从压盘11上方穿过压盘11上的杆孔后旋入测试盘13上的螺孔内。其中,压盘11与测试盘13间的那段滑轴6上均套有弹簧12。测试盘13四周连有四个横臂14,横臂14里端固定在测试盘13上,横臂14外端设置有测微计5及探针,所述探针呈竖向布置且其外端朝下,所述探针外端分别处于被测波导耦合器的基准面不同点高度上。所述支撑架4上设置有用于安放被测波导耦合器的支撑块16,支撑块16上面设置有用于对被测波导耦合器进行定位的定位柱15。
其中,所述测微计5及探针的数量与被测波导耦合器的测试点数量匹配。
在本实施例中,所述测微计5及探针有四个,该四个测微计及探针与被测波导耦合器基准面的不同点相对应。
为便于固定被测波导耦合器,在所述底座1上表面上固定有用于支撑被测波导耦合器的支柱2。
测量时,可将本发明放在生产线上,随时进行测量。而且可以镶在生产线产品安装的不同工位,安装一个面测量一个面,合格的流到下道工序,从而避免了所有面安装之后呈整体拿到三坐标测量室测量、发现不良再拆卸而带来的资源大量浪费。本发明不需专用测量室及专用测量室内的三坐标测量设备,避免了测量需往返于生产线与专用测量室之间的麻烦,提高了生产效率,避免了资源浪费。

Claims (5)

1.波导耦合器外形高度差自动测量用夹具,包括底座(1),其特征在于底座(1)一边上面有竖架(3),竖架(3)的竖向中间有至少两个向前突出的支撑架(4),竖架(3)顶部有向前突出的固定架(16),固定架(16)上有气缸(8),气缸(8)的活塞杆(7)外端朝下并连有压盘(11),压盘(11)周向有杆孔;压盘(11)之下有测试盘(13),测试盘(13)周向有螺孔,所述螺孔与压盘(11)上的杆孔数量相等且对应,相应的螺孔和杆孔内有滑轴(6),滑轴(6)上端有横向挡头,滑轴(6)下端从压盘(11)上方穿过压盘(11)上的杆孔后旋入测试盘(13)上的螺孔内,其中,压盘(11)与测试盘(13)间的那段滑轴(6)上套有弹簧(12);测试盘(13)四周连有至少两个横臂((14),横臂(14)外端有测微计(5)及探针,所述探针呈竖向布置且其外端朝下;所述支撑架(4)上有用于安放被测波导耦合器的支撑块(16),支撑块(16)上面有用于对被测波导耦合器进行定位的定位柱(15)。
2.根据权利要求1所述的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具,其特征在于所述测微计(5)及探针的数量与被测波导耦合器的测试点数量匹配。
3.根据权利要求1所述的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具,其特征在于所述测微计(5)及探针有四个,该四个测微计及探针与被测波导耦合器处于不同高度的四个点相对应。
4.根据权利要求1所述的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具,其特征在于所述气缸(8)两侧均有滑套(9),活塞杆(7)两侧均有导杆(10),两导杆(10)的下端均固定在所述压盘(11)上,两导杆(10)上端分别呈滑动状伸入所述滑套(9)内。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的波导耦合器外形高度差自动测量用夹具,其特征在于所述底座(1)为板状,其上表面上有用于支撑被测波导耦合器的支柱(2)。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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