CN104184136A - 静电侦测电路及静电侦测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种静电侦测电路,包含至少一静电防护模块、至少一侦测模块及微处理控制模块。其中,至少一侦测模块分别连接于至少一静电防护模块,且至少一侦测模块根据至少一静电防护模块的驱动状态产生驱动记录信号。微处理控制模块耦接于至少一侦测模块,其中当至少一侦测模块传送驱动记录信号至微处理控制模块时,微处理控制模块记录驱动记录信号。
Description
技术领域
本发明是关于一种具防护静电记录功能的防护电路;具体而言,本发明是关于一种具有记录机制并提高静电防护性的显示器静电侦测电路。
背景技术
在一般电路中,研发人员通过设置静电防护元件(ESD component)保护晶片,防止晶片遭受静电攻击而损毁。然而,在实际情况中,研发人员仅能够根据以往经验判断静电防护元件的设置位置及防护程度,而无法推测并记录静电电流曾经窜流哪些元件。
需说明的是,研发人员是于电子元件及晶片受到静电攻击且产生毁损后,才改善静电防护机制。换言之,现行电路中缺乏良好的静电防护记录机制,使得电路的防护功能无法尽善尽美。此外,为了慎重起见,研发人员通常会放置大量的静电防护元件以保护电路,其中并非全数静电防护元件都是必要的,进而产生不必要的成本。
综合上述诸多因素,如何设计能够记录静电防护位置并且提高防护性能的防护电路,为现今一大课题。
发明内容
有鉴于上述现有技术所遭遇到的问题,本发明提出一种具防护记录机制并提高防护性能的静电侦测电路。
于一方面,本发明提供一种具有侦测模块的静电防护电路,以记录静电驱动状态。
于另一方面,本发明提供一种可读取静电防护状态的静电侦测电路,能够建立静电防护分布图。
根据本发明的一具体实施例为一种静电侦测电路。于此实施例中,静电侦测电路包含至少一静电防护模块、至少一侦测模块及微处理控制模块。其中,至少一侦测模块分别连接于至少一静电防护模块,且至少一侦测模块根据至少一静电防护模块的驱动状态产生驱动记录信号。微处理控制模块耦接于至少一侦测模块,其中当至少一侦测模块传送驱动记录信号至微处理控制模块时,微处理控制模块记录驱动记录信号。
根据本发明的另一具体实施例为一种静电侦测方法。于此流程中,静电侦测方法包含以至少一侦测模块根据至少一静电防护模块的驱动状态产生驱动记录信号;以及通过至少一侦测模块传送驱动记录信号至一微处理控制模块时,以微处理控制模块记录驱动记录信号。
相对于现有技术,根据本发明的静电防护电路及静电防护方法是通过侦测模块侦测静电防护模块的驱动状态,且根据驱动状态输出驱动记录信号,进而记录防护电路的防护位置及路径。需说明的是,微处理控制模块能够读取该驱动记录信号,进而建立静电防护地图。此外,在静电防护地图中,静电防护电路可调整哪些区块的电子元件的防护元件,进而选择性地关闭防护元件或调整其防护程度,以达到静电防护侦测及验证的功效。
关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及所附附图得到进一步的了解。
附图说明
图1为本发明的静电防护电路的实施例示意图。
图2为本发明的静电防护电路的实施例示意图。
图3为本发明的静电侦测电路的另一实施例的示意图。
图4为本发明的静电侦测电路的另一实施例的示意图。
图5为本发明的静电侦测方法的流程图。
图6为本发明的静电侦测方法的另一流程图。
【符号说明】
1、1A、1B静电侦测电路 120控制开关
10、10A~10J静电防护模块 130旁通处理单元
20侦测模块 210侦测反相器
30微处理控制模块 220侦测处理单元
40验证分布模块 310储存单元
110延迟电路 320读取界面
111防护电阻 V1第一电压
112防护电容 V2第二电压
115反相器 V3第三电压
115A反相输入端 V4第四电压
115B反相输出端
具体实施方式
根据本发明的一具体实施例为一种能够记录静电防护位置的静电侦测电路。于此实施例中,静电侦测电路为显示装置的静电侦测电路,但不以此为限。在其他实施例中,静电侦测电路可以为电脑、电子行动装置、媒体播放器或其他电子装置,并无特定的限制。
请参照图1,图1为本发明的静电防护电路的实施例示意图。如图1所示,静电侦测电路1包含至少一静电防护模块10、至少一侦测模块20及微处理控制模块30。在此实施例中,侦测模块20分别连接于静电防护模块10,且微处理控制模块30耦接于侦测模块20。在实际情况中,侦测模块20根据静电防护模块10的驱动状态产生驱动记录信号。其中当侦测模块20传送驱动记录信号至微处理控制模块30时,微处理控制模块30记录驱动记录信号。
需说明的是,静电侦测电路1为显示器的电路,且微处理控制模块30为时序控制模块(timing controler),但不以此为限。
接下来,本发明通过图2详细说明如何实施记录静电防护并提升静电防护性能的功效。
请参照图2,图2为本发明的静电侦测电路的实施例示意图。如图2所示,静电侦测模块10包含延迟电路110、反相器115及旁通处理单元130,其中延迟电路包含防护电阻111及防护电容112,且反相器115具有反相输入端115A及反相输出端115B。
此外,静电侦测模块10具有第一电压V1及第二电压V2,其中第一电压V1可以为高闸极电压(VGH)、模拟工作电压(AVDD)、数字工作电压(DVDD)或模拟电压源(VDDA);且第二电压V2可以为低闸极电压(VGL)、模拟接地电压(AVSS)、数字接地电压(DVSS)、模拟接地电压源(VSSA)。第一电压V1及第二电压V2的电压值是依照实际情况而设定,并无特定的限制。
需说明的是,当反相输出端115B具有低电位时,静电防护模块10的初始状态为停止防护状态。亦即,旁通处理单元130并未驱动静电防护功能。值得注意的是,当静电防护模块受到静电电流攻击时,防护电阻111及防护电容112会形成RC延迟效应,使得反相器115的反相输入端115A具有低电位。相对而言,当反相输入端115A具有低电位时,则反相输出端115B具有高电位,使得静电防护模块10处于驱动防护状态。
此外,当静电防护模块10的旁通处理单元130被驱动时,静电防护模块10的防护状态自停止防护状态转变为驱动防护状态,使得旁通处理单元130作静电防护。在实际情况中,当静电防护模块10处于驱动防护状态时,旁通处理单元130导通静电电流。
需说明的是,侦测模块20是根据静电防护模块10的防护状态是否自停止防护状态转变为驱动防护状态以产生驱动记录信号。在实际情况中,侦测模块20连接于反相器115的反相输出端115B,且侦测模块20具有侦测反相器210及侦测处理单元220。此外,侦测反相器210具有第三电压V3及第四电压V4,其中第三电压V3可以为数字工作电压(DVDD),且第四电压V4可以为数字接地电压(DVSS)。
在此实施例中,侦测反相器210为JK反相器,但不以此为限。当静电防护模块10处于驱动防护状态时,反相输出端115B产生静电突波信号至侦测模块20的侦测反相器210,且侦测模块20的侦测反相器210转换静电突波信号为驱动记录信号,其中驱动记录信号为直流电压信号。此外,侦测处理单元220协助处理该直流电压信号并传送至微处理控制模块。进一步而论,在其他实施例中,侦测模块20可以不具有侦测反相器210,而具有能够将静电突波信号转换为驱动记录信号的单元装置,并不以此例为限。
在此实施例中,驱动记录信号为数字逻辑信号,且微处理控制模块30储存并记录数字逻辑信号。举例而言,当静电防护模块10的静电防护状态保持在停止防护状态时,数字逻辑信号为0;当静电防护模块10的静电防护状态自停止防护状态转变为驱动防护状态,则数字逻辑信号为1。
在实际情况中,微处理控制模块30能够记录并读取驱动记录信号。如图1所示,微处理控制模块30包含储存单元310及读取界面320,其中读取界面320连接储存单元310。需说明的是,储存单元310储存驱动记录信号,且读取界面320作为驱动记录信号的传输读取界面。研发人员可通过读取界面300读取驱动记录信号,进而确认哪些静电防护模块10有作静电防护。
请参照图3,图3为本发明的静电侦测电路的另一实施例的示意图。如图3所示,静电侦测电路1A的防护模块10A进一步包含控制开关120,其中控制开关120并联连接于防护电阻111。在实际情况中,当控制开关120导通时,则防护模块10A停止驱动防护。换句话说,静电侦测电路1A可通过微处理控制模块30所记录的驱动防护信号以确认哪些静电防护模块10A并未驱动防护,进而关闭该静电防护模块10A。在实际应用中,当静电防护模块10A关闭后,其静电防护的效果会比原本处于开启静电防护状态的防护效果更好。
请参照图4,图4为本发明的静电侦测电路的另一实施例示意图。如图4所示,静电侦测电路1B进一步包含验证分布模块40及该些静电防护模块10B~10J,其中验证分布模块40连接微处理控制模块30的读取界面320。需说明的是,该些静电防护模块10B~10J与图3中的静电防护模块10A相同,在此仅以不同元件符号标示。
此外,验证模块40读取各静电防护模块10B~10J的设置位置及驱动记录信号以决定防护验证分布图。举例而言,若微处理控制模块30根据驱动记录信号,确认静电防护模块10B及10C并未被驱动。亦即,静电防护模块10B及10C处于停止防护状态。在实际情况中,研发人员可通过手动控制或通过微处理控制模块30控制静电防护模块10B及10C的控制开关120导通,进而关闭静电防护模块10B及10的静电防护功能,或是调整静电防护模块10B及10的静电防护程度,使得静电侦测电路1B具有较佳的静电防护效果。
在此实施例中,静电侦测电路1B通过该些驱动防护信号建构防护验证分布图,进而决定控制开关的导通与否,并能够调整该些静电防护模块10B~10J的静电防护程度。在实际情况中,静电电压是自较低的电压(2kV、4kV或其他的电压)施打于静电侦测电路1B,则静电侦测电路1B可根据该些静电防护模块10B~10J的静电耐受程度进行调整,能够有效改变静电电流路径并提高静电防护性。
此外,请参照图5,图5为本发明的静电侦测方法的流程图。如图5所示,静电侦测方法包含以下步骤:步骤S90,当至少一静电防护模块处于驱动防护状态时,通过至少一静电防护模块产生静电突波信号;步骤S100,以至少一侦测模块根据至少一静电防护模块的驱动状态产生驱动记录信号;以及步骤S200,通过至少一侦测模块传送驱动记录信号至微处理控制模块时,以微处理控制模块记录驱动记录信号。如图1所示,当静电防护模块10处于驱动防护状态时,静电防护模块10产生静电突波信号。此外,侦测模块20根据静电防护模块10的驱动状态产生驱动记录信号,且侦测模块20传送驱动记录信号至微处理控制模块30时,微处理控制模块30记录驱动记录信号。
此外,如图6所示,图6为本发明的静电侦测方法的流程图。除图5中的步骤S90外,静电侦测方法包含以下步骤:步骤S100A,以至少一侦测模块转换静电突波信号为驱动记录信号,其中驱动记录信号为直流电压信号;步骤S200A,通过微处理控制模块的储存单元储存驱动记录信号;以及步骤S300,控制防护模块的控制开关导通以停止驱动防护模块。如图3及图4所示,侦测模块20转换静电突波信号为驱动记录信号,其中驱动记录信号为直流电压信号,且微处理控制模块30的储存单元310储存驱动记录信号。此外,微处理控制模块30控制防护模块10A的控制开关120导通以停止驱动防护模块10A。
相对于现有技术,根据本发明的静电防护电路及静电防护方法是通过侦测模块侦测静电防护模块的驱动状态,且根据驱动状态输出驱动记录信号,进而记录防护电路的防护位置及路径。需说明的是,微处理控制模块能够读取该驱动记录信号,进而建立静电防护地图。此外,在静电防护地图中,静电防护电路可调整哪些区块的电子元件的防护元件,进而选择性地关闭防护元件或调整其防护程度,以达到静电防护侦测及验证的功效。
通过以上较佳具体实施例的详述,是希望能更加清楚描述本发明的特征与精神,而并非以上述所公开的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地,其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的专利范围的范畴内。
Claims (16)
1.一种静电侦测电路,其特征在于,该静电侦测电路包含:
至少一静电防护模块;
至少一侦测模块,分别连接于该至少一静电防护模块,其中该至少一侦测模块根据该至少一静电防护模块的驱动状态产生一驱动记录信号;以及
一微处理控制模块,耦接于该至少一侦测模块,其中当该至少一侦测模块传送该驱动记录信号至该微处理控制模块时,该微处理控制模块记录该驱动记录信号。
2.如权利要求1所述的静电侦测电路,其特征在于,该至少一静电防护模块的一初始状态为一停止防护状态;当该至少一静电防护模块被驱动时,该至少一静电防护模块的防护状态自该停止防护状态转变为一驱动防护状态。
3.如权利要求2所述的静电侦测电路,其特征在于,该至少一侦测模块根据该至少一静电防护模块的状态是否自该停止防护状态转变为该驱动防护状态以产生该驱动记录信号。
4.如权利要求2所述的静电侦测电路,其特征在于,当该至少一静电防护模块处于该驱动防护状态时,该至少一静电防护模块产生一静电突波信号,且该至少一侦测模块转换该静电突波信号为该驱动记录信号,其中该驱动记录信号为一直流电压信号。
5.如权利要求3所述的静电侦测电路,其特征在于,该驱动记录信号为一数字逻辑信号,且该微处理控制模块储存并记录该数字逻辑信号。
6.如权利要求2所述的静电侦测电路,其特征在于,当该至少一静电防护模块处于该驱动防护状态时,导通一静电电流。
7.如权利要求1所述的静电侦测电路,其特征在于,该微处理控制模块包含:
一储存单元,储存该驱动记录信号;
一读取界面,连接该储存单元并作为该驱动记录信号的传输读取界面。
8.如权利要求1所述的静电侦测电路,其特征在于,各该至少一防护模块进一步包含:
一延迟电路,具有一防护电阻;以及
一控制开关,并联连接于该防护电阻,其中当该控制开关导通时,则该至少一防护模块停止驱动防护。
9.如权利要求7所述的静电侦测电路,其特征在于,该静电侦测电路进一步包含:
一验证分布模块,连接该读取界面,其中该验证模块读取各该至少一静电防护模块的一设置位置及该驱动记录信号以决定一防护验证分布图。
10.一种静电侦测方法,其特征在于,该静电侦测方法包含以下步骤:
以至少一侦测模块根据至少一静电防护模块的驱动状态产生一驱动记录信号;以及
通过该至少一侦测模块传送该驱动记录信号至一微处理控制模块时,以该微处理控制模块记录该驱动记录信号。
11.如权利要求10所述的静电侦测方法,其特征在于,该至少一静电防护模块的一初始状态为一停止防护状态;当该至少一静电防护模块被驱动时,该至少一静电防护模块的防护状态自该停止防护状态转变为一驱动防护状态。
12.如权利要求11所述的静电侦测方法,其特征在于,该至少一侦测模块根据该至少一静电防护模块的状态是否自该停止防护状态转变为该驱动防护状态以产生该驱动记录信号。
13.如权利要求11所述的静电侦测方法,其特征在于,该静电侦测方法进一步包含:
当该至少一静电防护模块处于该驱动防护状态时,通过该至少一静电防护模块产生一静电突波信号;
以该至少一侦测模块转换该静电突波信号为该驱动记录信号,其中该驱动记录信号为一直流电压信号。
14.如权利要求12所述的静电侦测方法,其特征在于,该驱动记录信号为一数字逻辑信号,且该微处理控制模块的储存步骤包含:
通过该微处理控制模块储存并记录该数字逻辑信号。
15.如权利要求10所述的静电侦测方法,其特征在于,该微处理控制模块的储存步骤包含:
通过该微处理控制模块的一储存单元储存该驱动记录信号。
16.如权利要求10所述的静电侦测方法,其特征在于,该静电侦测方法进一步包含:
控制该防护模块的一控制开关导通以停止驱动该防护模块。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115825705A (zh) * | 2023-02-15 | 2023-03-21 | 芯动微电子科技(珠海)有限公司 | 一种esd事件检测电路和检测方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114545212B (zh) * | 2022-04-27 | 2022-07-08 | 江铃汽车股份有限公司 | 一种封装芯片抗静电能力检测方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4139813A (en) * | 1977-04-01 | 1979-02-13 | Xerox Corporation | Adaptor for an electrometer probe to permit contact potential measurements and method for using same |
US4947468A (en) * | 1989-03-20 | 1990-08-07 | Electric Power Research Institute, Inc. | Bypass tandem chamber charge density monitor |
EP0580913A1 (en) * | 1992-07-30 | 1994-02-02 | International Business Machines Corporation | System for indicating fault condition on operator's electrostatic discharge protection equipment |
TW373316B (en) * | 1998-01-09 | 1999-11-01 | Winbond Electronic Corp | Electrostatic discharge protect circuit having erasable coding ROM device |
US6563319B1 (en) * | 1999-04-19 | 2003-05-13 | Credence Technologies, Inc. | Electrostatic discharges and transient signals monitoring system and method |
US7164565B2 (en) * | 2002-11-29 | 2007-01-16 | Sigmatel, Inc. | ESD protection circuit |
JP3963830B2 (ja) * | 2002-12-20 | 2007-08-22 | アルプス電気株式会社 | 静電センサを有する入力手段 |
US7138804B2 (en) * | 2003-08-08 | 2006-11-21 | Industrial Technology Research Institute | Automatic transmission line pulse system |
TWI264248B (en) * | 2005-03-25 | 2006-10-11 | Avision Inc | A method of electrostatic discharge prevention for a systematic circuit |
CN100474729C (zh) * | 2005-12-22 | 2009-04-01 | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司 | 静电检测实时监控系统 |
WO2007077495A1 (en) * | 2006-01-04 | 2007-07-12 | Freescale Semiconductor, Inc. | Device and method for evaluating electrostatic discharge protection capabilities |
US7982499B2 (en) * | 2006-07-25 | 2011-07-19 | Atmel Corporation | Capacitive node isolation for electrostatic discharge circuit |
CN101442046B (zh) * | 2007-11-23 | 2011-05-04 | 上海华虹Nec电子有限公司 | 动态侦测静电保护电路结构 |
CN101488665A (zh) * | 2008-01-18 | 2009-07-22 | 瑞鼎科技股份有限公司 | 静电放电保护电路 |
KR100997362B1 (ko) * | 2008-07-16 | 2010-11-29 | 주식회사 동부하이텍 | 정전 방지 소자 및 정전 방지 소자의 제조 방법, 정전 방지소자의 테스트 방법 |
CN102347605A (zh) * | 2010-08-04 | 2012-02-08 | 奕力科技股份有限公司 | 静电放电防护模块 |
-
2013
- 2013-05-24 TW TW102118347A patent/TWI507839B/zh not_active IP Right Cessation
- 2013-08-08 CN CN201310343175.8A patent/CN104184136B/zh not_active Expired - Fee Related
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2014
- 2014-05-23 US US14/286,663 patent/US9448269B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN115825705A (zh) * | 2023-02-15 | 2023-03-21 | 芯动微电子科技(珠海)有限公司 | 一种esd事件检测电路和检测方法 |
CN115825705B (zh) * | 2023-02-15 | 2023-05-09 | 芯动微电子科技(珠海)有限公司 | 一种esd事件检测电路和检测方法 |
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