CN104166084A - 自动测试装置及其自动测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种自动测试装置，包括密闭光学模块及切换模块。光学模块具有光源及第一光源出口。切换模块具有反射板及第二光源出口。于可见光测试模式下，光源发出入射光，切换模块切换至第二光源出口的位置对应于第一光源出口，致使入射光通过第一光源出口与第二光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器，以得到第一感测结果。于不可见光测试模式下，光源关闭，切换模块切换至反射板的位置对应于光感测集成电路，致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器，以得到第二感测结果。
Description
技术领域
本发明是与光感测集成电路有关，特别是关于一种能够有效提升光感测集成电路的测试效率并降低其生产成本的自动测试装置及自动测试方法。
背景技术
一般而言，目前市面上的光感测集成电路通常为具有环境光感测器(ambient light sensor)与接近感测器(proximity sensor)二合一的产品，环境光感测器可用以感测环境光的变化，而接近感测器则通过光学方式或电磁方式来感测前方是否有待测物或障碍物。
由于光感测集成电路同时具有环境光感测器与接近感测器两种感测器，并且这两种感测器分别适用于不同的测试方法，因此，在对光感测集成电路进行测试时，就必须分成两个站台并配合自动量测设备分别对环境光感测器与接近感测器进行测试。这将会导致下列缺点：
(1)对光感测集成电路进行测试所耗费的时间过长，因而降低光感测集成电路的生产效率；
(2)需要在具有特殊控制光量(照度)大小的环境下，例如明室或暗室，才能顺利完成光感测集成电路的测试。
发明内容
因此，本发明提出一种自动测试装置及其自动测试方法，以解决现有技术所遭遇到的上述问题。
根据本发明的一具体实施例为一种自动测试装置。于此实施例中，自动测试装置用以测试光感测集成电路。光感测集成电路包括可见光感测器及不可见光感测器。自动测试装置包括密闭光学模块及切换模块。密闭光学模块具有光源及第一光源出口。切换模块具有反射板及第二光源出口。
当自动测试装置以可见光测试模式测试光感测集成电路时，光源发出入射光，切换模块切换第二光源出口的位置对应于第一光源出口，致使入射光能通过第一光源出口及第二光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器，以得到第一感测结果。
当自动测试装置以不可见光测试模式测试光感测集成电路时，光源关闭，切换模块切换反射板的位置对应于光感测集成电路，致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器，以得到第二感测结果。
于一实施例中，密闭光学模块设置于光感测集成电路上方，致使反射板与光感测集成电路之间具有特定距离。
于一实施例中，自动测试装置还包括距离调整单元。距离调整单元是设置于反射板与光感测集成电路之间，致使反射板与光感测集成电路之间具有特定距离。
根据本发明的另一具体实施例为一种自动测试方法。于此实施例中，自动测试方法用以测试光感测集成电路。光感测集成电路包括可见光感测器及不可见光感测器。自动测试方法包括下列步骤：(a)判断对光感测集成电路的测试是以可见光测试模式或不可见光测试模式进行；(b)若步骤(a)的判断结果为以可见光测试模式测试光感测集成电路，该方法切换光源出口的位置对应于光源，致使光源所发出的入射光能通过光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器，以得到第一感测结果；以及(c)若步骤(a)的判断结果为以不可见光测试模式测试光感测集成电路，该方法关闭光源并切换反射板的位置对应于光感测集成电路，致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器，以得到第二感测结果。
相较于现有技术，本发明所提出的自动测试装置及其自动测试方法由传统的分开两个站台配合自动量测设备分别测试光感测集成电路的可见光感测器与不可见光感测器改善为于一组密闭光学模块中通过可程序电流自动调整光量(照度)并自动切换反射板与光源出口以分别测试光感测集成电路的可见光感测器与不可见光感测器。本发明的自动测试装置及其自动测试方法具有下列优点：
(1)由于不需分开两个站台进行测试，故能够节省进行测试时所需的空间大小；
(2)由于采用密闭光学模块，故能够有效地阻绝外界的光线干扰；
(3)能够达到缩短测试时间、提升生产效率并减少生产成本的功效。
关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及附图得到进一步的了解。
附图说明
图1图示根据本发明的一实施例的自动测试装置的分解视图。
图2图示自动测试装置中的切换模块的反射板及第二光源出口的俯视图。
图3图示自动测试装置以可见光测试模式测试光感测集成电路的示意图。
图4图示自动测试装置以不可见光测试模式测试对光感测集成电路的示意图。
图5图示根据本发明的另一实施例的自动测试方法的流程图。
主要元件符号说明：
S10～S16：流程步骤 OE：第一光源出口
1：自动测试装置 10：密闭光学模块
12：切换模块 14：距离调整单元
LS：光源 OL：第二光源出口
RF：反射板 TH：通孔
SIC：光感测集成电路 SA：可见光感测器
SB：不可见光感测器 L：入射光
IR：红外光 RL：反射光
120：驱动器
具体实施方式
根据本发明的一较佳具体实施例为一种自动测试装置。于此实施例中，自动测试装置用以根据预先所设定的于可见光测试模式及不可见光测试模式下各自的自动执行程序对包括可见光感测器及不可见光感测器的光感测集成电路进行测试。在本发明的实施例中，可见光感测器例如环境光感测器，不可见光感测器例如接近感测器，但不以此为限。请参照图1，图1图示此实施例的自动测试装置的外观分解视图。
如图1所示，自动测试装置1包括密闭光学模块10、切换模块12及距离调整单元14。需说明的是，本发明的自动测试装置1采用密闭光学模块10的优点在于：密闭式的设计可完整遮蔽外界其它光线射入密闭光学模块10内，才能真正不受外界环境影响，以维持测试数据结果的正确性。在本实施例中，密闭光学模块10可采用多通道的设计，以使得自动测试装置1能够采用不同光源进行测试。
密闭光学模块10具有光源LS及第一光源出口OE。切换模块12具有反射板RF及第二光源出口OL。切换模块12用以切换反射板RF与第二光源出口OL的位置，使得第二光源出口OL的位置能对应于密闭光学模块10的第一光源出口OE的位置，抑或反射板RF的位置能对应于光感测集成电路SIC的位置。实际上，自动测试装置1可通过驱动器(例如驱动线圈)120驱动切换模块12切换反射板RF与第二光源出口OL的位置，但不以此为限。也请参照图2，图2图示切换模块12中的反射板RF及第二光源出口OL的俯视图。需说明的是，第二光源出口OL及反射板RF的大小与相对位置并不以此例为限。
距离调整单元14设置于反射板RF与光感测集成电路SIC之间，致使反射板RF与光感测集成电路SIC之间具有特定距离。距离调整单元14具有通孔TH，使得光线得以通过。实际上，反射板RF可以是标准灰板，可反射部分的光线，且特定距离可以是1公分、2公分或3公分，但不以此为限。
接下来，将分别就自动测试装置1以可见光测试模式或不可见光测试模式测试光感测集成电路SIC的情况进行说明。假设使用者已通过自动测试装置1分别设定于可见光测试模式及不可见光测试模式下各自的自动执行程序。
请参照图3，图3图示自动测试装置以可见光测试模式测试光感测集成电路的示意图。如图3所示，当自动测试装置1以可见光测试模式测试光感测集成电路SIC时，自动测试装置1即会执行预先设定的于可见光测试模式下的自动执行程序：光源LS将会发出具有预设光量(照度)的入射光L，并且切换模块12将会切换第二光源出口OL的位置对应于密闭光学模块10的第一光源出口OE的位置。
由于光源LS所发出的入射光L会通过第一光源出口OE射出密闭光学模块10且第二光源出口OL的位置对应于第一光源出口OE的位置，因此，光源LS所发出的入射光L能依序通过第一光源出口OL及第二光源出口OL射至位于第二光源出口OL下方的光感测集成电路SIC的可见光感测器SA。
需说明的是，于可见光测试模式下，为了确保光源LS所发出的入射光L能顺利地射至光感测集成电路SIC的可见光感测器SA，而不是射至光感测集成电路SIC的不可见光感测器SB，切换模块12还可切换第二光源出口OL的位置对应于光感测集成电路SIC的可见光感测器SA的位置，抑或移动光感测集成电路SIC，使得光感测集成电路SIC上的可见光感测器SA的位置对应于第二光源出口OL的位置。
当光感测集成电路SIC的可见光感测器SA接收到光源LS所发出的入射光L时，将会由类比-数位转换电路(未图示)解读为适当的数位码后，可见光感测器SA进而推得其感测到的第一感测结果，即光量(照度)大小。由此，自动测试装置1即可于可见光测试模式下完成对光感测集成电路1的可见光感测器SA的测试，并根据可见光感测器SA所感测到的光量(照度)感测结果是否等于光源LS所发射的入射光L的预设光量(照度)判断可见光感测器SA是否通过测试。
请参照图4，图4图示自动测试装置以不可见光测试模式测试光感测集成电路的示意图。如图4所示，当自动测试装置1以不可见光测试模式测试光感测集成电路SIC时，自动测试装置1即会执行预先设定的于不可见光测试模式下的自动执行程序：光源LS将会被关闭，并且切换模块12将会切换反射板RF的位置对应于光感测集成电路SIC的不可见光感测器SB的位置，致使光感测集成电路SIC所发出的红外光IR会被反射板RF反射为反射光RL并射至光感测集成电路SIC的不可见光感测器SB。此外，自动测试装置1亦可移动光感测集成电路SIC，使得光感测集成电路SIC上的不可见光感测器SB的位置对应于反射板RF的位置。
当光感测集成电路SIC的不可见光感测器SB接收到反射板RF所反射的反射光RL时，将会由类比-数位转换电路(未图示)解读为适当的数位码后，不可见光感测器SB进而推得遮蔽物(反射板RF)离光感测集成电路SIC的距离远近。由此，自动测试装置1即可于不可见光测试模式下完成对光感测集成电路1的不可见光感测器SB的测试，并根据不可见光感测器SB所感测到的第二感测结果是否等于反射板RF与光感测集成电路SIC之间的特定距离判断不可见光感测器SB是否通过测试。
于实际应用中，光源LS的发光或关闭，甚至其发光的光量(照度)均可受到一可程序电流所控制，但不以此为限。
根据本发明的另一具体实施例为一种自动测试方法。于此实施例中，自动测试方法用以对包括可见光感测器及不可见光感测器的光感测集成电路进行测试。
请参照图5，图5为此实施例的自动测试方法的流程图。如图5所示，首先，该方法执行步骤S10，分别设定于可见光测试模式及不可见光测试模式下各自的自动执行程序。举例而言，该方法可设定于可见光测试模式下，光源发出入射光且切换光源出口的位置对应于光源与光感测集成电路的可见光感测器，致使入射光能通过光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器。该方法亦可设定于不可见光测试模式下，关闭光源并控制光感测集成电路发出红外光以及切换反射板的位置对应于光感测集成电路的不可见光感测器，致使红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器。
于步骤S12中，该方法判断对光感测集成电路的测试是以可见光测试模式或不可见光测试模式进行。若步骤S12的判断结果为以可见光测试模式进行测试，该方法执行步骤S14，切换光源出口的位置对应于光源的位置，致使光源所发出的入射光能通过光源出口射至光感测集成电路的可见光感测器，以得到第一感测结果。
为了确保光源所发出的入射光能顺利地射至光感测集成电路的可见光感测器，而不是射至光感测集成电路的不可见光感测器，该方法还可切换第二光源出口的位置对应于光感测集成电路的可见光感测器的位置，抑或移动光感测集成电路，使得光感测集成电路上的可见光感测器的位置对应于第二光源出口的位置。
若步骤S12的判断结果为以不可见光测试模式进行测试，该方法执行步骤S16，关闭光源并切换反射板的位置对应于光感测集成电路的不可见光感测器，致使光感测集成电路所发出的红外光被反射板反射至光感测集成电路的不可见光感测器，以得到第二感测结果。此外，该方法亦可移动光感测集成电路，使得光感测集成电路上的不可见光感测器的位置对应于反射板的位置。
相较于现有技术，本发明所提出的自动测试装置及方法由传统的分开两个站台配合自动量测设备分别测试光感测集成电路的可见光感测器与不可见光感测器改善为于一组密闭光学模块中通过可程序电流自动调整光量(照度)并自动切换反射板与光源出口以分别测试光感测集成电路的可见光感测器与不可见光感测器。本发明的自动测试装置及其自动测试方法具有下列优点：
(1)由于不需分开两个站台进行测试，故能够节省进行测试时所需的空间大小；
(2)由于采用密闭光学模块，故能够有效地阻绝外界的光线干扰；
(3)能够达到缩短测试时间、提升生产效率并减少生产成本的功效。
通过以上较佳具体实施例的详述，是希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所公开的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的专利范围的范畴内。
Claims (5)
1.一种自动测试装置，用以测试一光感测集成电路，上述光感测集成电路包括一可见光感测器及一不可见光感测器，其特征在于上述自动测试装置包括：
一密闭光学模块，具有一光源及一第一光源出口；以及
一切换模块，具有一反射板及一第二光源出口；
其中，当上述自动测试装置以一可见光测试模式测试上述光感测集成电路时，上述光源发出一入射光，上述切换模块切换上述第二光源出口的位置对应于上述第一光源出口，致使上述入射光能通过上述第一光源出口与上述第二光源出口射至上述光感测集成电路的上述可见光感测器，以得到一第一感测结果；
当上述自动测试装置以一不可见光测试模式测试上述光感测集成电路时，上述光源关闭，上述切换模块切换上述反射板的位置对应于上述光感测集成电路，致使上述光感测集成电路所发出的一红外光被上述反射板反射至上述光感测集成电路的上述不可见光感测器，以得到一第二感测结果。
2.如权利要求1所述的自动测试装置，其特征在于，上述密闭光学模块设置于上述光感测集成电路上方，致使上述反射板与上述光感测集成电路之间具有一特定距离。
3.如权利要求2所述的自动测试装置，其特征在于，还包括一距离调整单元，上述距离调整单元设置于上述反射板与上述光感测集成电路之间，致使上述反射板与上述光感测集成电路之间具有上述特定距离。
4.一种自动测试方法，用以测试一光感测集成电路，上述光感测集成电路包括一可见光感测器及一不可见光感测器，其特征在于，上述自动测试方法包括下列步骤：
(a)判断对上述光感测集成电路的测试是以一可见光测试模式或一不可见光测试模式进行；
(b)若步骤(a)的判断结果为以上述可见光测试模式测试上述光感测集成电路，上述方法切换一光源出口的位置对应于一光源，致使上述光源所发出的一入射光能通过上述光源出口射至上述光感测集成电路的上述可见光感测器，以得到一第一感测结果；以及
(c)若步骤(a)的判断结果为以上述不可见光测试模式测试上述光感测集成电路，上述方法关闭上述光源并切换一反射板的位置对应于上述光感测集成电路，致使上述光感测集成电路所发出的一红外光被上述反射板反射至上述光感测集成电路的上述不可见光感测器，以得到一第二感测结果。
5.如权利要求4所述的自动测试方法，其特征在于，还包括下列步骤：
于上述反射板与上述光感测集成电路之间设置一距离调整单元，致使上述反射板与上述光感测集成电路之间具有一特定距离。
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