CN104019773B - 一种线材表面粗糙度测量方法及实施该方法的设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种线材表面粗糙度测量方法,其包括以下步骤:(1)设置一待检线材固定平台;(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作。本发明还公开一种线材表面粗糙度测量设备。本发明提供的线材表面粗糙度测量设备,结构优化,快速稳定,适用于各种类线材的生产检测要求。
Description
技术领域
本发明涉及机械制造领域,具体涉及一种高效,科学,实用的线材表面粗糙度测量方法及实施该方法的设备。
背景技术
在机械加工技术中,工件表面粗糙度是衡量工件加工质量的一项重要技术指标,现有的表面粗糙度测量设备普遍存在以下缺陷和不足:
(1)非接触式表面粗糙度测量设备价格高,且该类设备系统结构复杂,对人员及环境要求高,故障率较高,使用及维护成本高;
(2)便携式粗糙度测量设备价格虽较上述设备低,但性能不高,一般不适合计量室用。
总结上述问题,给管理和生产带来诸多不便,为此,拥有一个达到现代工业标准的表面粗糙度测量设备是很必要的。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的在于,提供一种高效,科学,测量效果好、且应用在线材表面粗糙度测量的测量方法;
本发明的目的还在于,提供一种用来实施上述线材表面粗糙度测量方法的设备。
为实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种线材表面粗糙度测量方法,其特征在于,其包括以下步骤:
(1)设置一待检线材固定平台,将待检线材平稳放置在固定平台上;
(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;
(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;
(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作;
(5)测量线材表面粗糙度时,将测量仪置于线材被测表面上,由传动机构带动测量仪的探测体沿被测线材表面做均速滑行,激光器发出的光经过光纤准直器和滤光片后,通过测量透镜入射到待检线材表面上,反射光和散射光经平面镜后到CCD图像传感器接收,光束经过CCD图像传感器光电转换后,由数据采集器送入计算机进行数据处理,最后显示出表面粗糙度参数值。
所述步骤(2)中的表面粗糙度测量仪包括以下步骤:
设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。
所述步骤(3)中的探测体包括以下步骤:
设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材表面光斑。
所述的测量仪包括一调节架,该调节架一端连接在测量仪的主轴上,其另一端连接在探测管上,实现对探测管以该调节架的调节管进行高度微调范围。
一种实施上述线材表面粗糙度测量方法的设备,其包括一工作站,其特征在于,所述工作站内设有一待检线材固定平台、一表面粗糙度测量仪、一传动机构;所述的表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管,该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器。
所述的测量仪内置的内部控制部分,其包括相互连接并交互通讯的信号放大器、A/D转换器、单片机、数码管和控制电路。
于所述表面粗糙度测量仪还包括设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。
所述的探测体包括设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材表面光斑。
所述的测量仪包括一调节架,该调节架一端连接在测量仪的主轴上,其另一端连接在探测管上,实现对探测管以该调节架的调节管进行高度微调范围。
所述的待检线材固定平台,包括一固定板和一线材固定主体,线材固定主体固设在固定板上,该主体根据所需待检线材的外形轮廓尺寸设有线材卡槽。
本发明的有益效果为:
本发明提供的线材表面粗糙度测量方法,高效,科学,测量效果好,速度快,且不与被测线材表面接触,避免了检测设备与线材接触而造成的测量误差。
本发明提供的线材表面粗糙度测量设备,结构优化,快速稳定,性能可靠,本设备适用于各种类线材的生产检测要求,提高本设备兼容性,提高生产效率与产品质量,解决了传统表面粗糙度测量设备存在的缺陷和不足。
下面结合附图与具体实施方式,对本发明进一步说明。
附图说明
图1是本发明的线材表面粗糙度测量设备的框架图;
图2是图1中的A-A剖面图;
图3是本发明的线材表面粗糙度测量仪的流程图。
具体实施方式
实施例:参见图1~图3,本实施例提供的线材表面粗糙度测量方法,其包括以下步骤:
(1)设置一待检线材固定平台3,将待检线材平稳放置在固定平台3上;
(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪1和一仪器仪表控制面板,该测量仪1上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管4;
(3)该探测管4包括由其延伸设置的探测体40,该探测体40内设激光器41、光纤准直器42、滤光片43、半透半反镜44、测量透镜45,以及通过数据采集器8传送至计算机9进行数据处理的CCD图像传感器46;
(4)设置一传动机构2,该传动机构2与测量仪1相连接、且控制该测量仪1做横向均速移动动作;
(5)测量线材表面粗糙度时,将测量仪1置于线材被测表面上,由传动机构2带动测量仪1的探测体40沿被测线材11表面做均速滑行,激光器41发出的光经过光纤准直器42和滤光片43后,通过测量透镜45入射到待检线材11表面上,反射光和散射光经平面镜后到CCD图像传感器46接收,光束经过CCD图像传感器46光电转换后,由数据采集器送入计算机9进行数据处理,最后显示出表面粗糙度参数值。
所述步骤(2)中的表面粗糙度测量仪1包括以下步骤:
设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体40上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。
所述步骤(3)中的探测体40包括以下步骤:
设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材11表面光斑。
所述的测量仪1包括一调节架6,该调节架6一端连接在测量仪1的主轴5上,其另一端连接在探测管4上,实现对探测管4以该调节架6的调节管7进行高度微调范围。
一种实施上述线材表面粗糙度测量方法的设备,其包括一工作站,所述工作站内设有一待检线材固定平台3、一表面粗糙度测量仪1、一传动机构2;所述的表面粗糙度测量仪包括一测量仪1和一仪器仪表控制面板,该测量仪1上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管4,该探测管4包括由其延伸设置的探测体40,该探测体40内设激光器41、光纤准直器42、滤光片43、半透半反镜44、测量透镜45,以及通过数据采集器8传送至计算机9进行数据处理的CCD图像传感器46。
所述的测量仪1内置的内部控制部分,其包括相互连接并交互通讯的信号放大器、A/D转换器、单片机、数码管和控制电路。
于所述表面粗糙度测量仪1还包括设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体40上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度。
所述的探测体40包括设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材11表面光斑。
所述的测量仪1包括一调节架6,该调节架6一端连接在测量仪1的主轴5上,其另一端连接在探测管4上,实现对探测管4以该调节架6的调节管7进行高度微调范围。
所述的待检线材固定平台3,包括一固定板13和一线材固定主体12,线材固定主体12固设在固定板13上,该主体12根据所需待检线材的外形轮廓尺寸设有线材卡槽14。
本测量仪的工作过程:由半导体激光器发出的激光经过光学装置准直、聚焦后入射到被测线材表面,经表面反射,散射后用型线阵CCD传感器接收,CCD传感器将光强分布信号转换成电信号,通过放大电路将其放大为可用的电信号,作A/D转换,通过高速数据采集装置进入单片机,用作统计运算,最后数码管显示出表面粗糙度参数值。
本发明的有益效果为:本发明提供的线材表面粗糙度测量设备,结构优化,快速稳定,性能可靠,本设备适用于各种类线材的生产检测要求,提高本设备兼容性,提高生产效率与产品质量,解决了传统表面粗糙度测量设备存在的缺陷和不足。
本发明提供的线材表面粗糙度测量方法,高效,科学,测量效果好、速度快,且不与被测线材表面接触,避免了检测设备与线材接触而造成的测量误差。
本发明并不限于上述实施方式,凡采用与本发明相似方法及系统结构来实现本发明目的的所有方式,均在本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种线材表面粗糙度测量方法,其特征在于,其包括以下步骤:
(1)设置一待检线材固定平台,将待检线材平稳放置在固定平台上;
(2)设置一表面粗糙度测量仪,该表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管;所述的测量仪包括一调节架,该调节架一端连接在测量仪的主轴上,其另一端连接在探测管上,实现对探测管以该调节架的调节管进行高度微调范围;
(2.1)设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度;
(3)该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;
设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材表面光斑;
(4)设置一传动机构,该传动机构与测量仪相连接、且控制该测量仪做横向均速移动动作;
(5)测量线材表面粗糙度时,将测量仪置于线材被测表面上,由传动机构带动测量仪的探测体沿被测线材表面做均速滑行,激光器发出的光经过光纤准直器和滤光片后,通过测量透镜入射到待检线材表面上,反射光和散射光经平面镜后到CCD图像传感器接收,光束经过CCD图像传感器光电转换后,由数据采集器送入计算机进行数据处理,最后显示出表面粗糙度参数值。
2.一种实施权利要求1所述线材表面粗糙度测量方法的设备,其包括一工作站,其特征在于,所述工作站内设有一待检线材固定平台、一表面粗糙度测量仪、一传动机构;所述的表面粗糙度测量仪包括一测量仪和一仪器仪表控制面板,该测量仪上设有一用于非接触式对待检物表面粗糙度测量的探测管,该探测管包括由其延伸设置的探测体,该探测体内设激光器、光纤准直器、滤光片、半透半反镜、测量透镜,以及通过数据采集器传送至计算机进行数据处理的CCD图像传感器;于所述表面粗糙度测量仪还包括设置一高压喷气装置,将高压气流用软管接于探测体上,并使高压气流与测量路线同轴,用与测量路线同轴的高压气流喷吹待线材表面,使其达到测量要求的干净度;所述的测量仪包括一调节架,该调节架一端连接在测量仪的主轴上,其另一端连接在探测管上,实现对探测管以该调节架的调节管进行高度微调范围;所述的探测体包括设置一扩束镜,在光路中加入该扩束镜以实现调整照射在待检线材表面光斑;所述的测量仪内置的内部控制部分,其包括相互连接并交互通讯的信号放大器、A/D转换器、单片机、数码管和控制电路;所述的待检线材固定平台,包括一固定板和一线材固定主体,线材固定主体固设在固定板上,该主体根据所需待检线材的外形轮廓尺寸设有线材卡槽。
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