CN103956412A - 背镀金属led的切割方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种背镀金属LED的切割方法,该背镀金属LED包括基板、位于基板上方的N-GaN层、分别位于N-GaN层上方的负极、P-GaN层与正极,以及位于基板下方的金属背板,该方法包括依次进行的如下步骤生长SiO2层、涂覆光刻胶、光刻、蚀刻SiO2沟槽、GaN刻蚀、去光刻胶、SiO2腐蚀、隐形切割。由于采用上述技术方案,利用SiO2和光刻胶做研磨材料,将MESA处的N-GaN全部刻蚀掉,如此可对其进行正面隐形切割,提高出光效率,由于避免了普通紫外切割所引起的侧壁烧焦,减少了吸光,也就提升了亮度。此外,如果做了隐形切割就不用做侧腐蚀SWE的洗边工艺了,简化了前制程的工艺。
Description
技术领域
本发明涉及一种LED切割方法。
背景技术
现有技术中针对背镀金属的LED,其切割通常采用正表面激光普通切割;这种切割方式带来的缺点是,正表面激光普通切割对LED侧壁出的光吸收较大,影响出光效率。
发明内容
本发明的目的是提高背镀金属LED的出光效率,增加侧壁出光,提高出光效率。
为了达到上述技术目的,本发明提供了一种背镀金属LED的切割方法,所述的背镀金属LED包括基板、位于所述的基板上方的N-GaN层、分别位于所述的N-GaN层上方的负极、P-GaN层与正极,以及位于所述的基板下方的金属背板,该方法包括依次进行的如下步骤:
(a)生长SiO
2
层:生长一层覆盖于所述的N-GaN层、负极、P-GaN层以及正极上方的SiO
2
层;
(b)涂覆光刻胶:在所述的SiO
2
层上方涂覆一层光刻胶;
(c)光刻:通过曝光机蚀刻除去位于分割位置处的光刻胶;
(d)蚀刻SiO
2
沟槽:蚀刻除去位于分割位置处的SiO
2
;
(e)GaN刻蚀:蚀刻除去位于分割位置处的GaN层;
(f)去光刻胶:去除剩余的光刻胶;
(g)SiO
2
腐蚀:去除剩余的SiO
2
;
(h)隐形切割:通过隐形切割的方式于分割位置切割所述的基板与金属背板。
优选地,所述的基板为蓝宝石基板。
优选地,所述的金属背板为铝背板。
由于采用上述技术方案,利用SiO
2
和光刻胶做研磨材料,将MESA处的N-GaN全部刻蚀掉,如此可对其进行正面隐形切割,提高出光效率,由于避免了普通紫外切割所引起的侧壁烧焦,减少了吸光,也就提升了亮度。此外,如果做了隐形切割就不用做侧腐蚀SWE的洗边工艺了,简化了前制程的工艺。
附图说明
附图1为背镀金属LED的结构示意图;
附图2为根据本发明的步骤(a)的示意图;
附图3为根据本发明的步骤(b)的示意图;
附图4为根据本发明的步骤(c)的示意图;
附图5为根据本发明的步骤(d)的示意图;
附图6为根据本发明的步骤(e)的示意图;
附图7为根据本发明的步骤(f)的示意图;
附图8为根据本发明的步骤(g)的示意图;
附图9为根据本发明的步骤(h)的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的较佳实施例进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。
参见附图1至附图9,为根据本发明的背镀金属LED的切割方法的生产加工流程示意图。如附图1所示,该背镀金属LED包括基板、位于基板上方的N-GaN层、分别位于N-GaN层上方的负极、P-GaN层与正极,以及位于基板下方的金属背板,其中,基板为蓝宝石基板,金属背板为铝背板。
本实施例中的背镀金属LED的切割方法,包括如下步骤:
(a)生长SiO
2
层:如附图2所示,生长一层覆盖于N-GaN层、负极、P-GaN层以及正极上方的SiO
2
层;
(b)涂覆光刻胶:如附图3所示,在SiO
2
层上方涂覆光刻胶;
(c)光刻:如附图4所示,通过曝光机蚀刻除去位于分割位置处的光刻胶;
(d)蚀刻SiO
2
沟槽:如附图5所示,蚀刻除去位于分割位置处的SiO
2
;
(e)GaN刻蚀:如附图6所示,蚀刻除去位于分割位置处的GaN;
(f)去光刻胶:如附图7所示,去除剩余的光刻胶;
(g)SiO
2
腐蚀:如附图8所示,去除剩余的SiO
2
;
(h)隐形切割:如附图9所示,通过隐形切割的方式于分割位置切割基板与金属背板。
由于采用上述技术方案,利用SiO
2
和光刻胶做研磨材料,将MESA处的N-GaN全部刻蚀掉,如此可对其进行正面隐形切割,提高出光效率。隐形切割系将激光聚光于工件内部,在工件内部形成变质层,通过扩展胶膜分割晶粒,由于隐形切割可缩小切割道宽度(切割宽度),因此,与一般的切割相比增加由芯片制造长形晶粒个数;由于避免了普通紫外切割所引起的侧壁烧焦,减少了吸光,也就提升了亮度;因此可以抑制加工屑的产生,适用于抗污能力差的工件,适用于抗负荷能力差的工件,且采用不需清洗的干式加工制程,简化了前制程的工艺。
以上实施方式只为说明本发明的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人了解本发明的内容并加以实施,并不能以此限制本发明的保护范围,凡根据本发明精神实质所做的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围内。
Claims (3)
1.一种背镀金属LED的切割方法,所述的背镀金属LED包括基板、位于所述的基板上方的N-GaN层、分别位于所述的N-GaN层上方的负极、P-GaN层与正极,以及位于所述的基板下方的金属背板,其特征在于:该方法包括依次进行的如下步骤:
(a)生长SiO2层:生长一层覆盖于所述的N-GaN层、负极、P-GaN层以及正极上方的SiO2层;
(b)涂覆光刻胶:在所述的SiO2层上方涂覆一层光刻胶;
(c)光刻:通过曝光机蚀刻除去位于分割位置处的光刻胶;
(d)蚀刻SiO2沟槽:蚀刻除去位于分割位置处的SiO2;
(e)GaN刻蚀:蚀刻除去位于分割位置处的GaN层;
(f)去光刻胶:去除剩余的光刻胶;
(g)SiO2腐蚀:去除剩余的SiO2;
(h)隐形切割:通过隐形切割的方式于分割位置切割所述的基板与金属背板。
2.根据权利要求1所述的背镀金属LED的切割方法,其特征在于:所述的基板为蓝宝石基板。
3.根据权利要求1所述的背镀金属LED的切割方法,其特征在于:所述的金属背板为铝背板。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN105185744A (zh) * | 2015-06-17 | 2015-12-23 | 厦门市三安光电科技有限公司 | 氮化镓基发光二极管芯片及其制备方法 |
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US20020076904A1 (en) * | 2000-12-20 | 2002-06-20 | Imler William R. | Separation method for gallium nitride devices on lattice-mismatched substrates |
CN1538582A (zh) * | 2003-04-18 | 2004-10-20 | ������������ʽ���� | 半导体激光装置的制造方法 |
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2011
- 2011-12-31 CN CN201110458142.9A patent/CN103956412A/zh active Pending
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CN105185744B (zh) * | 2015-06-17 | 2018-05-29 | 厦门市三安光电科技有限公司 | 氮化镓基发光二极管芯片及其制备方法 |
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