CN103901488A - 固定式ct装置 - Google Patents

固定式ct装置 Download PDF

Info

Publication number
CN103901488A
CN103901488A CN201210581446.9A CN201210581446A CN103901488A CN 103901488 A CN103901488 A CN 103901488A CN 201210581446 A CN201210581446 A CN 201210581446A CN 103901488 A CN103901488 A CN 103901488A
Authority
CN
China
Prior art keywords
ray
fixed
ray source
emission points
scan channel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201210581446.9A
Other languages
English (en)
Inventor
张金宇
桑斌
段占军
张丽
赵自然
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nuctech Co Ltd
Original Assignee
Nuctech Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nuctech Co Ltd filed Critical Nuctech Co Ltd
Priority to CN201210581446.9A priority Critical patent/CN103901488A/zh
Priority to PCT/CN2013/079380 priority patent/WO2014101391A1/zh
Priority to GB1322557.8A priority patent/GB2509399B/en
Priority to JP2013262620A priority patent/JP5782101B2/ja
Priority to EP13198625.9A priority patent/EP2749872A1/en
Priority to DE202013105830.0U priority patent/DE202013105830U1/de
Priority to US14/140,058 priority patent/US9453937B2/en
Priority to RU2013157871/14A priority patent/RU2566525C2/ru
Publication of CN103901488A publication Critical patent/CN103901488A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
    • G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
    • G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
    • G01V5/226—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays using tomography
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/20—Sources of radiation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50—Detectors
    • G01N2223/501—Detectors array
    • G01N2223/5015—Detectors array linear array

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

本发明公开了一种固定式CT装置和控制实现方法，该固定式CT装置包括扫描通道；围绕扫描通道布置的固定式碳纳米X射线源，该X射线源包括多个射线发射点；以及围绕扫描通道布置的固定式的多个探测器模块，所述多个探测器模块与X射线源相对设置，并且在与扫描通道相交的平面中观看时所述多个探测器模块中的至少一些探测器模块布置成大致L形或∏形。通过优化的碳纳米射线源与探测器装置的设计，完成无旋转机架的CT重建，实现对被检物中的特异物质识别。本发明保证了固定机架CT系统的小尺寸和高精度，特别适合于对行李物品的安全检查。

Description

固定式CT装置
技术领域
本发明涉及一种无机架的CT装置和控制实现方法，利用碳纳米射线源与探测器装置的设计，完成无旋转机架的CT重建，实现对被检物中的特异物质识别，特别适用于安检的CT装置。
背景技术
现有的无机架CT装置中，具有多个射线发射点的X射线源通常采用圆环型结构或面阵式探测器器，体积大、重量大，价格高。
发明内容
本发明的目的是提供一种CT装置，采用基于碳纳米的X射线源和线性探测器结构，由此减小CT装置的尺寸和成本。
根据本发明的一方面，本发明提供了一种CT装置，该CT装置包括：扫描通道；围绕扫描通道布置的固定式X射线源，该X射线源包括多个射线发射点；以及围绕扫描通道布置的固定式的多个探测器模块，所述多个探测器模块与X射线源相对设置。
根据本发明的一方面，在与扫描通道相交的平面中观看时所述多个探测器模块中的至少一些探测器模块布置成大致L形或∏形。
根据本发明的一方面，所述X射线源的多个射线发射点中的至少一些在与扫描通道相交的平面中观看时布置成大致L形、∏形或直线形。
根据本发明的一方面，所述平面与扫描通道大致垂直。
根据本发明的一方面，每个探测器模块具有射线接收面，多个探测器模块的射线接收面首尾相邻，使从多个射线发射点发射的射线不能从射线接收面之间通过。
根据本发明的一方面，在与扫描通道相交的平面中观看时布置在一个末端的射线发射点与布置在另一个末端的射线发射点的扇形射线束的外侧边的延长线的交点与探测器模块的射线接收面的中点的连线垂直于探测器模块的射线接收面。
根据本发明的一方面，X射线源的多个射线发射点布置成直线形或布置成一排。
根据本发明的一方面，所述多个探测器模块布置成大致空间螺旋状。
根据本发明的一方面，所述X射线源的多个射线发射点布置成大致空间螺旋状。
根据本发明的一方面，所述X射线源的多个射线发射点和所述多个探测器模块中的对应的射线发射点和探测器模块在同一平面中布置，所述平面与扫描通道大致垂直或所述平面相对于扫描通道倾斜。
根据本发明的一方面，每个探测器模块能够接收来自X射线源的多个射线发射点中的至少一个的射线束。
根据本发明的一方面，在进出扫描通道的方向上所述多个射线发射点布置成至少一排。
根据本发明的一方面，在进出扫描通道的方向上所述多个探测器模块布置成至少一排。
根据本发明的一方面，所述CT装置还包括：对射线束的剂量进行控制的校正装置，该校正装置设置在所述多个射线发射点与所述多个探测器模块之间。
根据本发明的一方面，所述校正装置是钨镍铁合金加工的栅格装置。
根据本发明的一方面，所述校正装置距离探测器接收面的距离是校正装置距离射线发射点的距离的至少5倍。
根据本发明的一方面，所述X射线源是碳纳米管X射线源。
根据本发明的一方面，所述CT装置是无机架CT装置。
根据本发明的一方面，对X射线源多个发射点的控制由Can总线实现。在一定长度范围内，发射点之间的间距可以相同，发射点发射射线的顺序可以沿直线序列运动，也可以是沿某种曲线运动。
本发明可以采用碳纳米X射线源，通过对X射线源和探测器的合理布局，克服了传统无机架CT装置结构复杂，体积庞大的缺点，实现了小型化CT装置，减少了占地面积，提高了CT装置的可用性。
附图说明
图1是根据本发明的实施例的CT装置的示意图；
图2是根据本发明的实施例的射线源、探测器以及校正装置的布置示意图；
图3是根据本发明的实施例的射线源和探测器的布置示意图；
图4是根据本发明的实施例的射线源和探测器的布置示意图；
图5是根据本发明的实施例的射线源和探测器的布置示意图；
图6是根据本发明的实施例的射线源和探测器的布置示意图；
具体实施方式
下面结合附图及具体实施方式对本发明做进一步说明。
如图1至6所示，根据本发明实施例的无机架CT装置10包括扫描通道4；固定式X射线源7，该X射线源包括多个射线发射点71；以及固定式的多个探测器模块12，所述多个探测器模块12与X射线源7相对布置，并且在与扫描通道4相交的平面中观看时所述探测器模块12中的至少一些探测器模块12布置成大致L形(图2、3、4、6)或∏形(图5)。该平面可以与扫描通道4或输送装置1的输送方向大致垂直或成一定角度。所述多个射线发射点71和所述多个探测器模块12围绕扫描通道4布置。CT装置10还可以包括用于固定探测器模块12的探测器臂架5、采集控制单元6、计算机重建单元8、用于输送被检查物体2的输送装置1。其中，探测器臂架5可以具有大致L形(图2、3、4、6)或∏形(图5)的形状。多个射线发射点71可以由一列发射点阵或多列发射点形成阵列。作为选择，探测器模块12也可以布置成其它的形状，例如半圆形，U形，圆弧形、抛物线形等等。
X射线源7可以是碳纳米管X射线源。X射线源7的多个射线发射点71中的至少一些在与扫描通道相交的平面中观看时布置成大致L形(图3)或∏形、或直线形(图2、4、5、6)。该平面可以与扫描通道4或输送装置1的输送方向大致垂直或成一定角度，并且可以与上述平面是同一平面或不同平面。如图2所示，所述X射线源7的不同射线发射点71所发射的所有扇形X射线束的覆盖范围满足扫描通道4中的有效扫描区域13都能够被X射线束所覆盖。X射线源的每个发射点的X射线出束受采集控制单元6控制，发射点71的发射时间和强度可调。此外，X射线源7也可以是其它合适的X射线源，只要具备多个可控制的射线发射点即可。
如图2至5所示，每个探测器模块12具有射线接收面121，多个探测器模块12的射线接收面121首尾相邻，使从多个射线发射点71发射的射线不能从射线接收面121之间通过。探测器模块12在探测器臂架5上首尾相邻，探测器接收面在射线束方向上无中断或重叠。多个探测器模块12可以构成面阵列或线阵列。
如图2所示，在与扫描通道4相交的平面中观看时射线发射点71排列成一排(可以是曲线排，L形排)或成一直线，布置在一个末端的射线发射点9与布置在另一个末端的射线发射点14的扇形射线束的外侧边91，141的延长线的交点15与探测器模块12的射线接收面121的中点的连线垂直于探测器模块12的射线接收面121。该平面可以与扫描通道4或输送装置1的输送方向大致垂直或成一定角度。
多个探测器模块12可以布置成大致空间螺旋状，X射线源的多个射线发射点也可以布置成大致空间螺旋状。X射线源的多个射线发射点71和多个探测器模块12中的对应的射线发射点和探测器模块可以在同一平面中布置。该平面可以与扫描通道4或输送装置1的输送方向大致垂直或成一定角度。
每个探测器模块12能够接收来自X射线源7的多个射线发射点71中的至少一个的射线。
如图2-6所示，在与扫描通道4相交的平面中观看时射线发射点71和探测器模块12布置成一平面，该平面可以与输送装置1的输送方向大致垂直或成一定角度。在输送装置的输送方向上，所述多个射线发射点71排列成至少一排，多个探测器模块12布置成至少一排。如图6所示，所述多个射线发射点71可以排列成两排或更多排，多个探测器模块12可以布置成两排或更多排。
如图2所示，根据本发明的所述CT装置还包括：对射线束的剂量进行控制的校正装置11，该校正装置11设置在所述多个射线发射点71与所述多个探测器模块12之间。所述校正装置11可以是校正栅格。所述校正栅格距离探测器12的接收面121的距离是校正栅格距离射线发射点71的距离的至少5倍。
如图3所示，对探测器臂架5为L形结构，或探测器模块12排列成L形的固定机架CT装置中，X射线源7的射线发射点71也可以是L形布置。
在一定时间段内，到达探测臂架5上的探测器12的接收面121上的X射线能量，可来自于X射线源7的单一发射点71，也可来自于X射线源7的几个发射点71的射线组合。X射线源7不同发射点71发射的X射线强度可程序控制。X射线源7的发射点数量与扫描通道4内的有效扫描区域13大小相关。所有发射点71所发射的X射线束应该覆盖所述的扫描通道4内的有效扫描区域。
X射线源7每个发射点71发射射线的方式与固定机架CT装置的采集控制方式相关，每个发射点71是否触发受CT装置的采集控制单元6控制。在采集控制单元6的指示下，X射线源7的发射点71可顺序发射X射线，发射点71发射间隔、频率受采集控制单元6的命令支配。X射线源7的发射点71也可间隔发射，也可受程序控制发射。
探测器臂架5或测器模块12和X射线发射源7的发射点71所在的平面可垂直于扫描通道，探测器臂架5或测器模块12和X射线发射源7的发射点71也可以布置成空间曲线形式，如空间螺旋线的形式，且探测器模块12和X射线源7围绕扫描通道4的有效扫描区域13布置。
探测器臂架5装有多个探测器模块12，探测器模块12可围绕扫描通道4形成一个弧形的区域，每个探测器臂架5可以安装一排或多排探测器模块12，探测器臂架5上探测器模块12的排数与CT装置10的扫描速度相关，较低速度(一般输送装置1的移动速度小于0.25m/s)时，探测器模块12的排数可以为3排以下，高速时(一般输送装置1的移动速度大于0.3m/s)，探测器模块12的排数可以在5排以上或者采用面阵式探测器模块。
探测器臂架5装有探测器模块12以及支撑固定探测器模块12，探测器臂架5面对X射线源7的位置安装有由轻型材料构成的密封件，阻挡扫描通道4内的灰尘及杂物进入探测器臂架5。
固定式探测器臂架5上可安装有线性探测器模块12或面阵式探测器模块12′，探测器模块的数量和分布方式与X射线源7的长度以及多个射线发射点71分布方位相关，探测器模块与X射线源7可保证扫描通道4内的有效扫描区域13均被X射线束所覆盖。
在具有多个射线发射点71的X射线源7的固定机架CT装置10中，采集控制单元6通过Can总线进行控制，包括对X射线源7的控制、对探测器模块12的控制以及对计算机重建系统的控制。采集控制单元6提供通讯协议、控制冗余以及紧急状态控制的支持。探测器模块12内的控制单元通过解析采集控制单元6的命令，发布开始采集命令以及对采集数据进行传输和纠错，探测器模块采集后的数据传输到计算机重建单元8中。
计算机重建单元8是实现无机架CT装置的数据的解析、重构以及特征识别的关键器件，当采集到的数据被传输到计算机重建单元8中时，计算机重建单元8首先根据数据包的格式对数据进行分类，确定数据的来源，建立基于扫描区域内被扫描行李的特征矩阵，然后求解特征矩阵中对应的特征值，通过与数据库中特异物质的特征值进行比对，得出该物质是否为所要特别关注的物质，进而提供是否进行报警的提示。
扫描通道4的作用是提供被扫描行李2输送行进的通道和无关X射线的屏蔽墙。防辐射的材料为重金属，如铅、钢材或其他。
检查过程中，被检查行李2以一定的速度由输送装置1的传送带运入扫描通道4内，当被检查行李2触发光电传感器3时，X射线源7进入出束准备状态，当行李2进入扫描有效区域13内时，采集控制单元6操控X射线源7的发射点71发射电子束，发射点71连续或间隔产生X射线，同时，采集控制单元6发布开始采集的命令，探测器模块12的对应位置开始采集数据，同时记录所采集数据的时间点和探测器模块12的位置点，采集到的数据通过专用线缆传输到计算机重建单元8中，由计算机重建单元8通过对比在同一时刻内的控制发射点指令信息和采集到的数据信息，对X射线的能量值进行校正，然后对相应位置处的数据进行重建，建立基于被扫描行李2的物质特性的矩阵，通过计算机重建单元8的逆向求解，得出对应位置处被扫描行李2的物质的一种或多种物质特性，建立起一个断层位置内的物质特性数据。随着行李2以一定的速度移动，计算机重建单元8会逐层得到整个行李的物质特性数据，通过专用的识别算法对断层数据特性进行集中分析和判定，对比现有数据库中的物质特性表，得出被扫描行李2中是否包含用户所关心的特异物质的结论，由计算机重建单元8的显示器81进行显示。
在本发明中，利用X射线源7的发射点71的位置的变换，通过变换发射点和扫描采集区域，得到不同时刻内的X射线束19和20并采集数据，进而可以有效利用传统的计算机断层扫描技术(即CT技术)，在不旋转物体或者不旋转探测器臂架5与X射线源7的情况下，实现对被扫描行李的断层扫描。
在计算机重建的过程中，计算机对断层数据重建的精度与对被扫描行李观察的角度相关。本发明可以采用基于碳纳米材料的X射线源，在一定长度范围内，发射点之间的间距可以相同，可通过采集控制单元6进行程序控制，发射点发射射线的顺序可以沿直线排列(如图2、3、4、5中的箭头16所示)，也可以是沿某种曲线排列。对面阵式X射线源7′的发射点发射射线的顺序的曲线22可以是空间螺旋式的排布方式，能够最大程度地提高系统的重建精度。
被扫描行李可以以一定的速度通过扫描区域，也可在扫描区域内保持静止，直至扫描完成。计算机系统通过识别行李断层的物质特性来区分物质。物质的特性可不止一种，如密度和原子序数。
本发明的CT装置可以以较快的速度完成断层数据的计算和分析，为高速的安检CT系统提供了有效的基础。

Claims (17)

1.一种固定式CT装置，包括：
扫描通道；
围绕扫描通道布置的固定式X射线源，该X射线源包括多个射线发射点；以及
围绕扫描通道布置的固定式的多个探测器模块，所述多个探测器模块与X射线源相对设置。
2.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
所述X射线源的多个射线发射点中的至少一些在与扫描通道相交的平面中观看时布置成大致L形、∏形或直线形。
3.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
每个探测器模块具有射线接收面，多个探测器模块的射线接收面首尾相邻，使从多个射线发射点发射的射线不能从射线接收面之间通过。
4.根据权利要求1或2所述的固定式CT装置，其中
在与扫描通道相交的平面中观看时所述多个探测器模块中的至少一些探测器模块布置成大致L形或∏形。
5.根据权利要求2或4所述的固定式CT装置，其中
所述平面与扫描通道大致垂直或所述平面相对于扫描通道倾斜。
6.根据权利要求4所述的固定式CT装置，其中
X射线源的多个射线发射点布置成直线形。
7.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
所述多个探测器模块布置成大致空间螺旋状。
8.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
所述X射线源的多个射线发射点布置成大致空间螺旋状。
9.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
所述X射线源的多个射线发射点和所述多个探测器模块中的、对应的射线发射点和探测器模块在同一平面中布置，所述平面与扫描通道大致垂直或所述平面相对于扫描通道倾斜。
10.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
每个探测器模块能够接收来自X射线源的多个射线发射点中的至少一个的射线束。
11.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
在进出扫描通道的方向上所述多个射线发射点布置成至少一排。
12.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
在进出扫描通道的方向上所述多个探测器模块布置成至少一排。
13.根据权利要求1所述的固定式CT装置，还包括：
对射线束的剂量进行控制的校正装置，该校正装置设置在所述多个射线发射点与所述多个探测器模块之间。
14.根据权利要求13所述的固定式CT装置，其中
所述校正装置是钨镍铁合金加工的栅格装置。
15.根据权利要求14所述的固定式CT装置，其中
所述校正装置距离探测器模块接收面的距离是校正装置距离射线发射点的距离的至少5倍。
16.根据权利要求1所述的固定式CT装置，其中
所述X射线源是碳纳米管X射线源。
17.根据权利要求1所述的固定式CT装置，对X射线源多个发射点的控制由Can总线实现。在一定长度范围内，发射点之间的间距可以相同，发射点发射射线的顺序可以沿直线序列运动，也可以是沿某种曲线运动。
CN201210581446.9A 2012-12-27 2012-12-27 固定式ct装置 Pending CN103901488A (zh)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210581446.9A CN103901488A (zh) 2012-12-27 2012-12-27 固定式ct装置
PCT/CN2013/079380 WO2014101391A1 (zh) 2012-12-27 2013-07-15 固定式ct装置
GB1322557.8A GB2509399B (en) 2012-12-27 2013-12-19 Stationary CT apparatus
JP2013262620A JP5782101B2 (ja) 2012-12-27 2013-12-19 固定式ｃｔ装置
EP13198625.9A EP2749872A1 (en) 2012-12-27 2013-12-19 Stationary CT apparatus
DE202013105830.0U DE202013105830U1 (de) 2012-12-27 2013-12-19 Stationäre CT-Vorrichtung
US14/140,058 US9453937B2 (en) 2012-12-27 2013-12-24 Stationary CT apparatus
RU2013157871/14A RU2566525C2 (ru) 2012-12-27 2013-12-25 Стационарное устройство компьютерной томографии

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210581446.9A CN103901488A (zh) 2012-12-27 2012-12-27 固定式ct装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103901488A true CN103901488A (zh) 2014-07-02

Family

ID=49876432

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210581446.9A Pending CN103901488A (zh) 2012-12-27 2012-12-27 固定式ct装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US9453937B2 (zh)
EP (1) EP2749872A1 (zh)
JP (1) JP5782101B2 (zh)
CN (1) CN103901488A (zh)
DE (1) DE202013105830U1 (zh)
GB (1) GB2509399B (zh)
RU (1) RU2566525C2 (zh)
WO (1) WO2014101391A1 (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017041598A1 (zh) * 2015-09-08 2017-03-16 同方威视技术股份有限公司 安全检查设备
CN108267776A (zh) * 2018-02-02 2018-07-10 奕瑞新材料科技（太仓）有限公司 提高中低能射线探测能力的多层探测器结构及方法
CN108333620A (zh) * 2018-02-26 2018-07-27 奕瑞新材料科技（太仓）有限公司 探测装置及中低能射线源的定位方法
CN111265231A (zh) * 2019-04-15 2020-06-12 清华大学 分布式光源ct图像重建方法与系统
CN114324425A (zh) * 2022-01-04 2022-04-12 北京航星机器制造有限公司 一种多视角静态ct系统
WO2023280268A1 (zh) * 2021-07-07 2023-01-12 清华大学 射线扫描设备
WO2023280256A1 (zh) * 2021-07-07 2023-01-12 同方威视技术股份有限公司 射线扫描设备及射线扫描系统

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103674979B (zh) * 2012-09-19 2016-12-21 同方威视技术股份有限公司 一种行李物品ct安检系统及其探测器装置
CN104483711B (zh) * 2014-12-17 2020-02-21 同方威视技术股份有限公司 基于分布式光源的辐射成像系统
JP6576373B2 (ja) * 2017-01-30 2019-09-18 日本信号株式会社 Ｘ線検査装置及び手荷物検査装置
CN114167507B (zh) * 2020-09-11 2023-07-11 同方威视技术股份有限公司 多通道静态ct装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4759047A (en) * 1985-08-29 1988-07-19 Heimann Gmbh Baggage inspection system
WO1997018462A1 (en) * 1995-11-13 1997-05-22 The United States Of America As Represented By The Apparatus and method for automatic recognition of concealed objects using multiple energy computed tomography
US20050117700A1 (en) * 2003-08-08 2005-06-02 Peschmann Kristian R. Methods and systems for the rapid detection of concealed objects
CN101400992A (zh) * 2005-12-16 2009-04-01 Cxr有限公司 X射线断层摄影检查系统
CN100591277C (zh) * 2003-11-26 2010-02-24 通用电气公司 固定式计算机断层摄影系统和方法
CN102099708A (zh) * 2008-05-19 2011-06-15 显示成像技术有限公司 通过使用发射众多的扇形光束的x射线光源来检查行李的x射线装置
CN203084216U (zh) * 2012-12-27 2013-07-24 同方威视技术股份有限公司 固定式ct装置

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5581592A (en) * 1995-03-10 1996-12-03 General Electric Company Anti-scatter X-ray grid device for medical diagnostic radiography
US6018562A (en) * 1995-11-13 2000-01-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Apparatus and method for automatic recognition of concealed objects using multiple energy computed tomography
US5644614A (en) * 1995-12-21 1997-07-01 General Electric Company Collimator for reducing patient x-ray dose
US6236709B1 (en) * 1998-05-04 2001-05-22 Ensco, Inc. Continuous high speed tomographic imaging system and method
US7082182B2 (en) * 2000-10-06 2006-07-25 The University Of North Carolina At Chapel Hill Computed tomography system for imaging of human and small animal
US6876724B2 (en) * 2000-10-06 2005-04-05 The University Of North Carolina - Chapel Hill Large-area individually addressable multi-beam x-ray system and method of forming same
US7106830B2 (en) * 2002-06-12 2006-09-12 Agilent Technologies, Inc. 3D x-ray system adapted for high speed scanning of large articles
WO2005009243A1 (en) * 2003-07-30 2005-02-03 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh X-ray unit having an automatically adjustable collimator
US20050078861A1 (en) * 2003-10-10 2005-04-14 Usikov Daniel A. Tomographic system and method for iteratively processing two-dimensional image data for reconstructing three-dimensional image data
US7606348B2 (en) * 2006-02-09 2009-10-20 L-3 Communications Security and Detection Systems Inc. Tomographic imaging systems and methods
CN101467071B (zh) * 2006-04-21 2012-06-13 美国科技工程公司 使用分立源阵列和多个准直束的对于行李和人员的x射线成像
CN101339147B (zh) * 2007-07-02 2012-03-28 清华大学 辐射成像系统
WO2009050626A1 (en) * 2007-10-19 2009-04-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Imaging system with distributed sources and detectors
JP5046874B2 (ja) * 2007-11-14 2012-10-10 キヤノン株式会社 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影方法
CN101561405B (zh) * 2008-04-17 2011-07-06 清华大学 一种直线轨迹扫描成像系统和方法
US8995610B2 (en) * 2008-09-10 2015-03-31 Analogic Corporation CT scanning systems and methods using multi-pixel x-ray sources
EP2506772B1 (en) * 2009-12-04 2014-04-30 Analogic Corporation Method and system for high resolution nutated slice reconstruction using quarter detector offset
JP2012034848A (ja) * 2010-08-06 2012-02-23 Toshiba Corp Ｘ線検出器およびｘ線ｃｔ装置
US20110299653A1 (en) * 2010-12-15 2011-12-08 General Electric Company Method and apparatus for laminography inspection
DE112012004856B4 (de) * 2011-11-22 2022-01-05 The University Of North Carolina At Chapel Hill Kontrollsystem und Verfahren zur schnellen, platzsparenden Röntgentomografiekontrolle
CN203012155U (zh) * 2012-12-27 2013-06-19 同方威视技术股份有限公司 一种无机架ct装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4759047A (en) * 1985-08-29 1988-07-19 Heimann Gmbh Baggage inspection system
WO1997018462A1 (en) * 1995-11-13 1997-05-22 The United States Of America As Represented By The Apparatus and method for automatic recognition of concealed objects using multiple energy computed tomography
US20050117700A1 (en) * 2003-08-08 2005-06-02 Peschmann Kristian R. Methods and systems for the rapid detection of concealed objects
CN100591277C (zh) * 2003-11-26 2010-02-24 通用电气公司 固定式计算机断层摄影系统和方法
CN101400992A (zh) * 2005-12-16 2009-04-01 Cxr有限公司 X射线断层摄影检查系统
CN102099708A (zh) * 2008-05-19 2011-06-15 显示成像技术有限公司 通过使用发射众多的扇形光束的x射线光源来检查行李的x射线装置
CN203084216U (zh) * 2012-12-27 2013-07-24 同方威视技术股份有限公司 固定式ct装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈志华 等: ""X射线相位衬度显微成像的原理与进展"", 《CT理论与应用研究》 *

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017041598A1 (zh) * 2015-09-08 2017-03-16 同方威视技术股份有限公司 安全检查设备
CN108267776A (zh) * 2018-02-02 2018-07-10 奕瑞新材料科技（太仓）有限公司 提高中低能射线探测能力的多层探测器结构及方法
CN108333620A (zh) * 2018-02-26 2018-07-27 奕瑞新材料科技（太仓）有限公司 探测装置及中低能射线源的定位方法
CN108333620B (zh) * 2018-02-26 2023-08-15 张岚 探测装置及中低能射线源的定位方法
CN111265231A (zh) * 2019-04-15 2020-06-12 清华大学 分布式光源ct图像重建方法与系统
CN111265231B (zh) * 2019-04-15 2021-08-31 清华大学 分布式光源ct图像重建方法与系统
WO2023280268A1 (zh) * 2021-07-07 2023-01-12 清华大学 射线扫描设备
WO2023280256A1 (zh) * 2021-07-07 2023-01-12 同方威视技术股份有限公司 射线扫描设备及射线扫描系统
CN114324425A (zh) * 2022-01-04 2022-04-12 北京航星机器制造有限公司 一种多视角静态ct系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP5782101B2 (ja) 2015-09-24
EP2749872A1 (en) 2014-07-02
RU2013157871A (ru) 2015-09-10
WO2014101391A1 (zh) 2014-07-03
DE202013105830U1 (de) 2014-01-31
GB2509399A (en) 2014-07-02
RU2566525C2 (ru) 2015-10-27
US20140185743A1 (en) 2014-07-03
JP2014130142A (ja) 2014-07-10
US9453937B2 (en) 2016-09-27
GB2509399B (en) 2016-01-06
GB201322557D0 (en) 2014-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103901488A (zh) 固定式ct装置
JP5925752B2 (ja) ガントリーレスｃｔ装置
CN203012155U (zh) 一种无机架ct装置
US7924975B2 (en) Linear track scanning imaging system and method
CN203084216U (zh) 固定式ct装置
CN103674979B (zh) 一种行李物品ct安检系统及其探测器装置
US9448325B2 (en) Apparatus and method for ray scanning imaging
CN102289000B (zh) X射线断层摄影检查系统
US7512213B2 (en) Multiple-view-angle cargo security inspection method and system
CN202794067U (zh) 一种行李物品ct安检系统及其探测器装置
CN106651982B (zh) 一种基于阵列x射线源和探测器的ct图像重建方法
CN105361900A (zh) 静态实时ct成像系统及其成像控制方法
CN1916611A (zh) 集装箱多重dr/ct检测装置
JP6078506B2 (ja) 直線軌道に基づく断層走査装置
CN102764137A (zh) 一种静态ct扫描仪及其散射x光子校正方法
CN200956017Y (zh) 集装箱多重dr/ct检测装置
CN101424648B (zh) 检查系统和检查方法
US8917812B2 (en) Variable pitch collimator and method of making same
CN203720109U (zh) 基于x射线源阵列的实时在线工业ct检测系统
CN212111830U (zh) 一种三维断层成像设备
CN201043954Y (zh) 一种多段直线轨迹成像的货物安全检查系统
US20220260745A1 (en) High-energy x-ray imaging system

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: DE

Ref document number: 1195812

Country of ref document: HK

RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20140702

REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: WD

Ref document number: 1195812

Country of ref document: HK