发明内容
本发明提出一种半导体激光器芯片及其制造方法,解决了现有技术中生长衬底对半导体激光器芯片性能和质量的影响及其制造对环境的污染问题。
本发明的技术方案是这样实现的:一种半导体激光器芯片,包括:自下而上依次为N面散热结构、N面电极、N区外延层、有源区、P区外延层、P面电极和P面散热结构,所述N面电极通过生长衬底的转换方式形成。
进一步地,所述生长衬底包括预置转换层;所述预置转换层能够将所述生长衬底转换为所述N面电极。
进一步地,所述生长衬底通过外延生长方式形成所述预置转换层,所述预置转换层通过外延生长方式自下而上依次形成所述N区外延层、所述有源区和所述P区外延层。
优选地,所述预置转换层能够被腐蚀液选择性消除;所述腐蚀液具体为HF或BOE。
进一步地,所述P面电极经过光刻、刻蚀、蒸镀TiPtAu和退火形成,所述N面电极经过蒸镀AuGeNi形成。
进一步地,所述P区外延层包括电流限制结构,所述电流限制结构具体为脊形结构;所述N面散热结构和所述P面散热结构具体为铜层。
优选地,所述铜层通过电镀方式形成。
优选地,所述生长衬底包括GaAs;所述预置转换层包括AlAs。
一种半导体激光器芯片的制造方法,包括如下步骤:
a)所述生长衬底依次外延生长所述预置转换层、所述N区外延层、所述有源区和所述P区外延层;
b)经过光刻、刻蚀、蒸镀TiPtAu和退火在所述P区外延层制作所述P面电极,通过电镀方式形成所述P面散热结构;
c)将所述步骤b)所得浸入腐蚀液,利用所述腐蚀液腐蚀所述预置转换层;
d)经所述步骤c)分离所得的所述生长衬底经过表面处理步骤之后,进行再利用;
e)经所述步骤c)所得的所述N区外延层经过表面处理步骤之后,蒸镀AuGeNi制备所述N面电极,通过电镀方式形成所述N面散热结构;
f)将所述步骤e)所得进行划裂片和端面镀膜操作。
优选地,所述退火在400℃~470℃温度范围内执行;所述退火的时间范围为30s~60s。
进一步地,所述刻蚀具体为干法刻蚀或者湿法刻蚀,使用选择性的和/或各向异性的刻蚀法来执行;所述表面处理步骤至多包括抛光步骤、检测步骤以及位于所述抛光步骤之前和/或之后的清洗步骤,所述抛光步骤具体为化学抛光或机械抛光;所述清洗步骤具体为所述腐蚀液清洗或者水清洗;所述检测步骤具体为光滑度检测和表面清洁度检测。
本发明的有益效果为:
1)本发明形成的大功率半导体激光器芯片的热阻大幅下降,很大程度提高器件的光功率输出;
2)本发明半导体激光器芯片制造方法过程中,生长衬底能够重复利用,降低生产成本;
3)本发明生长衬底的As不会带入半导体激光器制备的后续工艺流程,降低工业废水的污染治理成本;
4)本发明半导体激光器芯片制造方法过程中,避免了可能导致机械损伤的研磨过程,进而提高了半导体激光器的质量可靠性。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例1
如图1及图3~5所示,本发明一种半导体激光器芯片包括:自下而上依次为N面散热结构9、N面电极8、N区外延层2、有源区3、P区外延层4、P面电极6和P面散热结构7,N面电极8通过生长衬底1的转换方式形成。
生长衬底1包括预置转换层5;预置转换层5能够将生长衬底1转换为N面电极8。生长衬底1通过外延生长方式形成预置转换层5,预置转换层5通过外延生长方式自下而上依次形成N区外延层2、有源区3和P区外延层4。P面电极6经过光刻、刻蚀和蒸镀TiPtAu退火操作形成,N面电极8经过蒸镀AuGeNi形成。P区外延层4包括电流限制结构。
生长衬底1包括GaAs;预置转换层5包括AlAs。预置转换层5能够被腐蚀液选择性消除;腐蚀液具体为BOE。
实施例2
如图1及图3~5所示,本发明一种半导体激光器芯片包括:自下而上依次为N面散热结构9、N面电极8、N区外延层2、有源区3、P区外延层4、P面电极6和P面散热结构7,N面电极8通过生长衬底1的转换方式形成。
生长衬底1包括预置转换层5;预置转换层5能够将生长衬底1转换为N面电极8。生长衬底1通过外延生长方式形成预置转换层5,预置转换层5通过外延生长方式自下而上依次形成N区外延层2、有源区3和P区外延层4。P面电极6经过光刻、刻蚀、蒸镀TiPtAu和退火形成,N面电极8经过蒸镀AuGeNi形成。P区外延层4包括电流限制结构,电流限制结构具体为脊形结构;N面散热结构9和P面散热结构7具体为铜层。铜层通过电镀方式形成。
生长衬底1包括GaAs;预置转换层5包括AlAs。预置转换层5能够被腐蚀液选择性消除;腐蚀液具体为HF。
实施例3
如图1~5所示,本发明一种半导体激光器芯片的制造方法,包括如下步骤:
a)生长衬底1依次外延生长预置转换层5、N区外延层2、有源区3和P区外延层4;
b)经过光刻、刻蚀、蒸镀TiPtAu和退火在P区外延层制作P面电极,通过电镀方式形成P面散热结构;
c)将步骤b)所得浸入腐蚀液,利用腐蚀液腐蚀预置转换层;
d)经步骤c)分离所得的生长衬底经过表面处理步骤之后,进行再利用;
e)经步骤c)所得的N区外延层经过表面处理步骤之后,蒸镀AuGeNi制备N面电极,通过电镀方式形成N面散热结构;
f)将步骤e)所得进行划裂片和端面镀膜操作。
退火在400℃温度下执行;退火时间为60s。
刻蚀具体为干法刻蚀,使用选择性的刻蚀法来执行;表面处理步骤包括抛光步骤、检测步骤以及位于抛光步骤之前的清洗步骤,抛光步骤具体为化学抛光;清洗步骤具体为腐蚀液清洗;检测步骤具体为光滑度检测和表面清洁度检测。
实施例4
如图1~5所示,本发明一种半导体激光器芯片的制造方法,包括如下步骤:
a)生长衬底1依次外延生长预置转换层5、N区外延层2、有源区3和P区外延层4;
b)经过光刻、刻蚀、蒸镀TiPtAu和退火在P区外延层制作P面电极,通过电镀方式形成P面散热结构;
c)将步骤b)所得浸入腐蚀液,利用腐蚀液腐蚀预置转换层;
d)经步骤c)分离所得的生长衬底经过表面处理步骤之后,进行再利用;
e)经步骤c)所得的N区外延层经过表面处理步骤之后,蒸镀AuGeNi制备N面电极,通过电镀方式形成N面散热结构;
f)将步骤e)所得进行划裂片和端面镀膜操作。
退火在470℃温度下执行;退火时间为30s。
刻蚀具体为湿法刻蚀,使用各向异性的刻蚀法来执行;表面处理步骤包括抛光步骤、检测步骤以及位于抛光步骤之后的清洗步骤,抛光步骤具体为机械抛光;清洗步骤具体为水清洗;检测步骤具体为光滑度检测和表面清洁度检测。实施例5
如图1~5所示,本发明一种半导体激光器芯片的制造方法,包括如下步骤:
a)生长衬底1依次外延生长预置转换层5、N区外延层2、有源区3和P区外延层4;
b)经过光刻、刻蚀、蒸镀TiPtAu和退火在P区外延层制作P面电极,通过电镀方式形成P面散热结构;
c)将步骤b)所得浸入腐蚀液,利用腐蚀液腐蚀预置转换层;
d)经步骤c)分离所得的生长衬底经过表面处理步骤之后,进行再利用;
e)经步骤c)所得的N区外延层经过表面处理步骤之后,蒸镀AuGeNi制备N面电极,通过电镀方式形成N面散热结构;
f)将步骤e)所得进行划裂片和端面镀膜操作。
退火在450℃温度下执行;退火时间为48s。
刻蚀具体为干法刻蚀,使用选择性的和各向异性的刻蚀法来执行;表面处理步骤包括检测步骤和清洗步骤;清洗步骤具体为腐蚀液清洗或者水清洗;检测步骤具体为光滑度检测和表面清洁度检测。
本发明中P面散热结构7和N面散热结构9会达到一定厚度,具体厚度为十微米到几十微米。本发明通过划裂片、端面镀膜工艺得到半导体激光器芯片。
目前使用衬底常规制造芯片,是在生长衬底1上外延生长N区外延层2、有源区3和P区外延层4。本发明先在生长衬底1上外延生长预置转换层,再外延生长N区外延层2、有源区3和P区外延层4,从而使得半导体激光器芯片制造方法过程中,生长衬底能够重复利用,降低生产成本,同时生长衬底的As不会带入半导体激光器制备的后续工艺流程,降低工业废水的污染治理成本;避免了可能导致机械损伤的研磨过程,进而提高了半导体激光器的质量可靠性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。