CN103776369B - 测试监控系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种测试监控系统,运行于控制装置中,该控制装置与测试装置、摄像装置及测试平台连接,该系统包括:设置模块,用于构建坐标系,并设置待测装置在测试平台上的多个正常测试位置;控制模块,用于改变该待测装置的位置或者角度;影像获取模块,用于从所述摄像装置处获取所述待测装置的影像;影像识别模块,用于根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移;及预警模块,用于在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警提示。本发明还提供一种测试监控方法。利用本发明可在待测装置的位置偏移时进行预警。

Description

测试监控系统及方法
技术领域
本发明涉及测试控制技术,尤其涉及一种测试监控系统及方法。
背景技术
通常,在测试实验室中对待测装置进行测试时,需要将该待测物放置于一个测试平台进行测试,且测试过程中往往需要通过移动该测试平台或者移动该待测物的位置进行测试。例如,在测试待测装置的电磁辐射时,需要令该测试平台进行360度的转换,以测试该待测装置在不同位置不同频段的电磁辐射值。又如,在测量产品是否符合设计规范时,需要移动或转动该产品以进行全面的测量。
然而,在测试中有可能使得该待测物的位置出现偏差,从而影响实际的测试结果。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种测试监控系统及方法,可识别待测物在测试过程中的位置是否发生偏移,并在该待测物的位置发生偏移时进行预警。
一种测试监控系统,运行于控制装置中,该控制装置与测试装置、摄像装置及测试平台连接,所述测试平台上放置有待测装置,该系统包括:设置模块,用于构建坐标系,并依据该坐标系设置所述待测装置在所述测试平台上的多个正常测试位置;控制模块,用于在测试开始后改变所述待测装置的位置或者角度;影像获取模块,用于从所述摄像装置处获取所述待测装置的影像;影像识别模块,用于根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移;及预警模块,用于在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警提示。
一种测试监控方法,运行于控制装置中,该控制装置与测试装置、摄像装置及测试平台连接,所述测试平台上放置有待测装置,该方法包括如下步骤:构建坐标系;依据该坐标系设置所述待测装置在所述测试平台上的多个正常测试位置;在测试开始后改变所述待测装置的位置或者角度;从所述摄像装置处获取所述待测装置的影像;根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移;及在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警提示。
相较于现有技术,所述的测试监控系统及方法,可识别待测物在测试过程中的位置是否发生偏移,并在该待测物的位置发生偏移时进行预警,从而确保测试结果的准确性。
附图说明
图1是本发明测试监控系统的较佳实施方式的应用环境图。
图2是本发明测试监控系统的较佳实施方式的功能模块图。
图3-图5是本发明测试监控方法的较佳实施方式的测试平台转动示意图。
图6是本发明测试监控方法的较佳实施方式的流程图。
主要元件符号说明
控制装置 1
测试监控系统 10
设置模块 100
控制模块 102
影像获取模块 104
影像识别模块 106
预警模块 108
处理器 11
存储装置 12
显示器 13
测试装置 2
测试平台 20
摄像装置 22
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示,是本发明测试监控系统的较佳实施方式的运行环境图。所述的测试监控系统10应用于控制装置1中,该控制装置1与多个测试装置2相连接,从而实现远程控制多个测试装置2对待测装置进行相关测试,并获取测试结果。
所述的多个测试装置2可以放置在多个实验室中,也可以放置在一个实验室中测试相同或不同的项目,所述的控制装置1可以放置在控制室中,以对各个测试装置2进行远程控制。如图1所示的运行环境图仅为举例说明,实际应用中并不局限于此,所述控制装置1及多个测试装置2可以根据实际的测试需求进行排配。所述的控制装置1可以是计算机、服务器等装置。所述的多个测试装置2可以是各种类型的测试装置、测试机台或计算机等装置。所述的待测装置可以是电子装置或其他类型的待测物品。
每个测试装置2可以与一个测试平台20相连接,该测试平台20也可以是测试装置2的一部分。所述测试平台20可用于放置待测装置,该测试平台20可以进行转动或移动,以便于所述测试装置2对待测装置的不同位置进行相关的测量。例如,在测试电子装置(待测装置)的电磁辐射时,所述测试平台20可以进行预定角度(例如,360度)的旋转以测试该电子装置在不同角度的测试信号。
此外,每个测试装置2还与一个或者多个摄像装置22(图1中仅示出一个)相连接,所述的摄像装置22可以是摄像头或者其他拍摄影像、视频的装置。所述的摄像装置22用于根据预设条件拍摄影像或视频,例如,所述的摄像装置22可以用来拍摄测试过程,待测装置的状况、测试结果等,在本较佳实施方式中,所述的摄像装置22可根据预设条件拍摄待测装置的位置,该预设条件可以是预设角度、预设拍摄时间间隔、拍摄的数据类型(例如,影像或者视频等)、转动角度、转动速率、转动间隔、转动时间等。
例如,运用一个或者多个摄像装置22,可以对放置在所述测试平台20上的待测装置的位置进行监控,如拍摄该待测装置的影像以识别该待测装置的位置。当待测装置的位置发生了偏移时,测试数据或测试结果将会受到影响。
利用如上所述的各个装置,在本较佳实施方式中,所述的测试监控系统10可以获取不同的摄像装置22所拍摄的数据(例如,影像或者视频等),并识别所拍摄的数据以判断待测装置的位置是否发生偏移,并在待测装置的位置发生了偏移后进行预警提示。
如图2所示,是本发明测试监控系统的较佳实施方式的功能模块图。所述控制装置1还包括处理器11、存储装置12及显示器13。
所述的处理器11用于执行所述测试监控系统10以及所述控制装置1内安装的各类软件,例如操作系统等。所述的存储装置12,可以是所述控制装置1的内存,还可以是可外接于该控制装置1的存储设备,如SM卡(Smart Media Card,智能媒体卡)、SD卡(Secure Digital Card,安全数字卡)、移动硬盘等。所述的存储装置12用于存储各类数据,例如,测试程序、测试参数、利用所述测试监控系统10设置、获取的数据等信息。
所述的显示器13用于显示各类可视化数据,例如,测试过程、测试数据、所拍摄的影像等。
在本实施方式中,所述测试监控系统10包括多个功能模块,分别是:设置模块100、控制模块102、影像获取模块104、影像识别模块106以及预警模块108。
所述的设置模块100,用于构建坐标系,并依据该坐标系设置所述待测装置在所述测试平台20上的多个正常测试位置。所述正常测试位置可通过坐标来进行设置。
例如,由于下文介绍的待测装置在所述测试平台20上的位置是利用所拍摄的影像进行识别的,该坐标系可以是在获取的影像基础上进行构建,例如影像的像素等。此外,还可根据其他测试需求或测试条件进行设置,例如,在所述显示器13的某个点作为原点来构建特定的坐标系。
所述设置模块100还可设置误差范围。
所述的控制模块102,用于在测试开始后改变所述待测装置的位置或者角度。所述控制模块102可根据预设的控制参数控制待测装置的位置发生变化,所述控制参数包括,但不限于:转动角度、移动距离、速度、时间等。所述控制模块102可以通过控制放置所述待测装置的测试平台20进行相关运动(例如,平移、旋转等),还可通过控制夹持该待测装置的力臂等未示于图中的工具控制待测装置的位置。详细介绍可参考下文的举例说明。
所述的影像获取模块104,用于从所述一个或多个摄像装置22处获取所述待测装置的影像。若所述摄像装置22所提供的是视频片段,所述的影像获取模块104可根据预设参数(例如,时间间隔、截取影像数量等)截取该视频片段的部分影像作为后续识别的依据。
所述的影像识别模块106,用于根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移。在本较佳实施方式中,所述的影像识别模块106可基于坐标系的基础上对所述待测装置的坐标位置进行识别,并与正常测试位置的坐标参数进行比对。详细介绍可参考下文的举例说明。
下文结合上述控制模块102、影像获取模块104、影像识别模块106的功能进行举例介绍。
在第一实施方式中,所述的设置模块100预先设置多个时间参数及多个对应于不同时间参数的正常测试位置,所述时间参数可自测试开始后进行及时,例如,所述的设置模块100设置测试开始15秒后待测装置应该处于的正常测试位置的坐标参数。
当所述控制模块102在测试开始后改变所述待测装置或者测试平台的位置时,例如,使该待测装置或测试平台进行水平移动或垂直移动等,所述的影像识别模块106根据所设置的时间参数选择相应时间点拍摄的所述待测装置的影像,识别影像中所述待测装置的位置是否位于对应的正常测试位置,并在影像中所述待测装置的位置未处于正常测试位置时确定所述待测装置的位置发生偏移。
在第二实施方式中,所述的设置模块100设置的多个正常测试位置对应于所述测试平台20的多个角度。所述的设置模块100依据如下方法设置所述待测装置的正常测试位置:预设多个角度;获取所述测试平台20位于预设角度且所述待测装置处于正常测试位置时的影像模板;在所述坐标系的基础上确定所述影像模板中待测装置的正常测试位置的坐标参数;以及关联该正常测试位置的坐标参数与预设角度。
当所述控制模块102在测试开始后改变所述待测装置的角度时,例如旋转该待测装置所处于的测试平台20,参考如图3-图5所示,所述待测装置在测试过程中会进行旋转,该旋转可以通过对测试平台20的控制实现,还可通过其他方式实现。
所述的影像识别模块106选择所述测试平台位于预设角度时的待测装置的影像,识别影像中所述待测装置的位置是否位于对应的正常测试位置,并在影像中所述待测装置的位置未处于正常测试位置时确定所述待测装置的位置发生偏移。
例如,所述的影像识别模块106在所述坐标系的基础上识别所选择的影像中所述待测装置的位置坐标,对比该识别的位置坐标与相应的正常测试位置的坐标参数,并确定所述待测装置的位置是否发生偏移。又如,在其他实施方式中,所述的影像识别模块106可以通过图片比对的方法来确定某个预设角度的影像模板与所选择的影像,从而确定该待测装置的位置是否发生偏移。
所述的预警模块108,用于在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警提示。所述预警模块108可通过预先设置的多个预警方式进行预警,包括:闪灯、语音预警、在所述显示器13上显示预警信息等方式或者上述方式的结合。
此外,在其他实施方式中,所述的控制装置1还可以与通讯装置(未示于图中)连接,所述的预警模块108在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警指令至所述的通讯装置,并根据该预警指令控制所述通讯装置拨打预设号码或发送预设信息以提示用户。
如图6所示,是本发明测试监控方法的较佳实施方式的流程图。首先,步骤S2,所述的设置模块100构建坐标系,并依据该坐标系设置所述待测装置在所述测试平台20上的多个正常测试位置。
步骤S4,开始测试后,所述的控制模块102改变所述待测装置的位置或者角度。
步骤S6,所述的影像获取模块104从所述一个或多个摄像装置22处获取所述待测装置的影像。
步骤S8,所述的影像识别模块106根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移。若所述待测装置的位置没有发生偏移,流程返回至步骤S6。
若所述待测装置的位置发生了偏移,于步骤S10,所述的预警模块108发出预警提示,然后,结束本流程。所述预警模块108可通过预先设置的多个预警方式进行预警,包括:闪灯、语音预警、在所述显示器13上显示预警信息等方式或者上述方式的结合。
以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照以上较佳实施方式对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (4)

1.一种测试监控系统,运行于控制装置中,该控制装置与多个测试装置、多个摄像装置及测试平台连接,所述测试平台上放置有待测装置,其特征在于,该系统包括:
设置模块,用于构建坐标系,并依据该坐标系设置所述待测装置在所述测试平台上的多个正常测试位置;
控制模块,用于在测试开始后改变所述待测装置的位置或者角度;
影像获取模块,用于从所述摄像装置处获取所述待测装置的影像;
影像识别模块,用于根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移;及
预警模块,用于在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警提示;
其中:
所述的设置模块设置所述多个正常测试位置对应于所述待测装置的多个角度;
所述的控制模块在测试开始后改变所述待测装置的角度;及
所述的影像识别模块选择所述待测装置位于预设角度时的影像,识别影像中所述待测装置的位置是否位于对应的正常测试位置,并在影像中所述待测装置的位置未处于正常测试位置时确定所述待测装置的位置发生偏移。
2.如权利要求1所述的测试监控系统,其特征在于,所述的设置模块依据如下方法设置所述待测装置的正常测试位置:
获取所述待测装置位于预设角度且处于正常测试位置时的影像模板;及
在所述坐标系的基础上确定所述影像模板中待测装置的正常测试位置的坐标参数。
3.一种测试监控方法,运行于控制装置中,该控制装置与测试装置、摄像装置及测试平台连接,所述测试平台上放置有待测装置,其特征在于,该方法包括如下步骤:
构建坐标系;
依据该坐标系设置所述待测装置在所述测试平台上的多个正常测试位置;
在测试开始后改变所述待测装置的位置或者角度;
从所述摄像装置处获取所述待测装置的影像;
根据预设的正常测试位置判断影像中所述待测装置的位置是否发生偏移;及
在所述待测装置的位置发生偏移时发出预警提示;
其中:
若测试开始后改变所述待测装置的角度,该方法还包括:
选择所述待测装置位于预设角度时的影像,其中,所述预设角度对应所设置的正常测试位置;及
识别影像中所述待测装置的位置是否位于对应的正常测试位置,在影像中所述待测装置的位置未处于正常测试位置时确定所述待测装置的位置发生偏移。
4.如权利要求3所述的测试监控方法,其特征在于,所述正常测试位置通过如下步骤进行设置:
获取所述待测装置位于预设角度且处于正常测试位置时的影像模板;及
在所述坐标系的基础上确定所述影像模板中待测装置的正常测试位置的坐标参数。
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Inventor after: Luo Xian

Inventor after: Long Fei

Inventor after: Zhu Xiaojun

Inventor after: Xu Jingjin

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Inventor after: Yu Zheng

Inventor after: Liu Fen

Inventor after: Wang Yixi

Inventor after: Feng Hao

Inventor after: Zou Chengcheng

Inventor after: Cha Zhiyong

Inventor after: Zhan Wei

Inventor before: He Dengqian

Inventor before: Yang Yongsheng

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