TWI578292B - 漏光檢測系統及方法 - Google Patents

Description

漏光檢測系統及方法

本發明涉及一種漏光檢測系統及方法。

目前，很多手機、掌上電腦及平板電腦等電子裝置之螢幕都存在或多或少之邊緣漏光現象。在電子裝置出廠之前都需要進行螢幕漏光檢測。傳統之漏光檢測大多採用人工通過肉眼進行檢測。然而，人工檢測方法需要耗費較多之時間，且需要較多之人力，效率較低，且無法保證檢測結果之準確性。

有鑑於此，有必要提供一種快速且較為準確之檢測待測螢幕是否漏光之漏光檢測系統。

還有必要提供一種快速且較為準確之檢測待測螢幕是否漏光之漏光檢測方法。

所述漏光檢測系統，應用於一電子裝置中，對一待測螢幕進行漏光檢測，所述漏光檢測系統包括：

獲取模組，用於獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值；

劃分模組，用於將待測螢幕中相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點，並根據各被測點中包含之每個圖元之亮度值計算得到每個被測點之亮度值；

區域定義模組，用於根據各被測點之位置，將處於所述待測螢幕中心位置之若干個被測點組成之區域定義為參考區域，將所述參考區域周圍之其他被測點組成之區域定義為被測區域；及

檢測模組，用於將各個被測區域中每個被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值進行比較，檢測所述被測區域之各被測點是否漏光。

所述光檢測方法，應用於一電子裝置中，對一待測螢幕進行漏光檢測，所述漏光檢測方法包括：

獲取步驟，獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值；

劃分步驟，將待測螢幕中相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點，並根據各被測點中包含之每個圖元之亮度值計算得到每個被測點之亮度值；

區域定義步驟，根據各被測點之位置，將處於所述待測螢幕中心位置之若干個被測點組成之區域定義為參考區域，將所述參考區域周圍之其他被測點組成之區域定義為被測區域；及

檢測步驟，將各個被測區域中每個被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值進行比較，檢測所述被測區域是否漏光。

相較於先前技術，本發明漏光檢測系統及方法獲取待測螢幕各圖元之亮度值，將相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點。然後根據各被測點之位置，將所有被測點劃分為參考區域及被測區域，根據各個被測區域亮度值與所述參考區域亮度值判斷所述被測區域是否漏光，並記錄漏光之被測區域之位置，達到了快速準確地檢測待測螢幕是否漏光及待測螢幕漏光位置之技術效果。

1．．．電子裝置

10．．．處理器

30．．．記憶體

50．．．亮度獲取器件

70．．．漏光檢測系統

71．．．獲取模組

72．．．劃分模組

73．．．區域定義模組

74．．．檢測模組

75．．．記錄模組

圖1為本發明漏光檢測系統之運行環境示意圖。

圖2為本發明本發明漏光檢測系統區域劃分時之區域劃分示意圖。

圖3為本發明漏光檢測方法一較佳實施例之流程圖。

下面將結合附圖對本發明作具體介紹。請一併參閱圖1和圖2，圖1為本發明漏光檢測系統之運行環境示意圖。圖2為本發明漏光檢測系統區域劃分時之區域劃分示意圖。電子裝置1包括處理器10、記憶體30、亮度獲取器件50及漏光檢測系統70。所述漏光檢測系統70用於對一待測螢幕（手機或PDA等電子設備之螢幕）進行漏光檢測。

本實施例中，電子裝置1優選為，但不限於，工業相機。所述亮度獲取器件50可設置在工業相機之鏡頭模組上。於漏光檢測時，開啟待測螢幕，並將工業相機之鏡頭對準待測螢幕，通過所述亮度獲取器件50獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值。優選地，為提高檢測精度，所述亮度獲取器件50可根據各圖元在不同方向上之亮度值之加權平均值作為各圖元之亮度值。在其他實施方式中，所述電子裝置1也可為一電腦，所述電腦與一外置之包括所述亮度獲取器件50之鏡頭模組相連接。

所述漏光檢測系統70用於根據所述亮度獲取器件50獲得之待測螢幕各圖元之亮度值，檢測待測螢幕是否存在漏光現象。具體地，所述漏光檢測系統70包括獲取模組71、劃分模組72、區域定義模組73、檢測模組74及記錄模組75。上述各模組可以軟體程式之形式儲存於所述記憶體30中，並由所述處理器10控制各功能模組之執行。

所述獲取模組71用於獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值。具體地，所述獲取模組71發出指令至所述亮度獲取器件50，以控制所述亮度獲取器件50獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值，然後所述獲取模組71通過所述亮度獲取器件50獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值。優選地，為提高檢測精度，所述待測螢幕開啟後被放入一個密封之黑暗環境中，且所述螢幕之顯示顏色被設置為單一顏色，如灰色。同時，將待測螢幕之顯示亮度設置為最高。

所述劃分模組72用於將待測螢幕中相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點，並根據各被測點包含之每個圖元之亮度值計算得到每個被測點之亮度值。由於人眼不能辨別單一圖元之亮度，為了使檢測結果與人眼檢測結果相吻合，將若干個（比如，100個）圖元劃分為人眼能夠識別之一個被測點。在本實施例中，每個被測點之亮度值為其包括之全部圖元之亮度平均值。

所述區域定義模組73用於根據各被測點之位置（如各被測點包括之所有圖元之座標值），將處於所述待測螢幕中心位置之若干個被測點組成之區域定義為參考區域，將所述參考區域周圍之其他被測點組成之區域定義為被測區域。優選地，所述參考區域之面積為待測螢幕總面積之一半，且所述參考區域之中心為所述待測螢幕之中心。

如圖2所示，所述區域定義模組73可將所述待測螢幕包括之被測點劃分為25個區域，為方便描述，將所述25個區域按順時針順序分別編號為A1~A25。其中處於中心位置之區域A25為參考區域，所述參考區域A25之中心為所述待測螢幕之中心，且所述參考區域A25之面積為待測螢幕面積之一半。所述參考區域A25周圍之A1~A24等區域分別由一個或若干個被測點組成，且A1~A24被統一定義為所述被測區域。一般而言，待測螢幕之漏光通常為邊緣漏光，而中心區域由於位於待測螢幕之中心位置，待測螢幕之漏光一般不會影響到所述中心區域。因此，可以將所述中心區域作為檢測待測螢幕之邊緣區域是否漏光之參考區域。

所述檢測模組74用於將被測區域中每個被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值進行比較，以檢測所述被測區域之各被測點是否漏光。具體地，所述檢測模組74首先計算出所述被測區域中各被測點之亮度值分別與參考區域之亮度值之差值，並計算每個差值與所述參考區域之亮度值之比值。然後，當任意一個計算得到之比值大於或等於一預設值時，所述檢測模組74則判斷所述待測螢幕存在漏光。其中，大於所述預設值之比值所對應之被測點即為存在漏光之被測點。所述預設值可以根據實際需要預先進行設定。本實施例中，每個被測點之亮度值為其包括之全部圖元之亮度平均值，所述參考區域之亮度值為其包括之所有被測點之亮度值之平均值。

所述記錄模組75用於將上述漏光之被測點之資訊記錄在所述記憶體30中。所述記錄之資訊包括存在漏光之被測點之編號及/或所述存在漏光之被測點包括之所有圖元點之座標值等。在其他實施方式中，所述記錄模組75還用於記錄上述計算得到之漏光之被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值相對應之比值，所述比值體現了所述被測點之漏光程度。

特別地，若所述參考區域之亮度值過高，則表示所述參考區域也存在漏光。有鑒於此，本實施例中，所述檢測模組74還用於通過判斷所述參考區域之亮度值是否大於或等於一預設之極限亮度值來檢測所述參考區域是否存在漏光。當所述參考區域之亮度值大於或等於所述預設之極限亮度值時，則認為所述待測螢幕存在整體漏光現象。

所述記錄模組75還用於當所述參考區域存在漏光時，將所述參考區域之亮度值記錄在所述記憶體30中。

下面結合圖3對本發明漏光檢測方法進行介紹。請參閱圖3，其為本發明漏光檢測方法一較佳實施例之流程圖。

步驟S100，所述獲取模組71獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值。

步驟S200，所述劃分模組72將待測螢幕中相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點，並根據各被測點包含之每個圖元之亮度值得到每個被測點之亮度值。在本實施例中，所述被測點之亮度值為所述被測點中包括之全部之圖元之亮度值之平均值。

步驟S300，所述區域定義模組73根據各被測點之位置（如各被測點包括之所有圖元之座標值），將處於所述待測螢幕中心位置之若干個被測點組成之區域定義為參考區域，將所述參考區域周圍之其他被測點定義為被測區域。優選地，所述參考區域之面積為待測螢幕總面積之一半，且所述參考區域之中心為所述待測螢幕之中心。

步驟S400，所述檢測模組74根據被測區域中每個被測點之亮度值以及所述參考區域之亮度值，檢測所述被測區域之各被測點是否漏光。當所述被測區域之任意被測點漏光時，進入步驟S500；否則，流程結束。檢測被測區域是否存在漏光之詳細方法見上述對檢測模組74之詳細描述。

步驟S500，所述記錄模組75將上述存在漏光之被測點之資訊記錄在所述記憶體30中。在其他實施方式中，所述記錄之資訊包括存在漏光之被測點之編號及/或所述存在漏光之被測點包括之所有圖元點之座標值等。在其他實施方式中，在所述步驟S500中，所述記錄模組75還用於記錄上述計算得到之漏光之被測點與所述參考區域之亮度值相對應之比值，所述比值體現了所述被測點之漏光程度。

步驟S600，所述檢測模組74還通過判斷所述參考區域之亮度值是否大於或等於一預設之極限亮度值來檢測所述參考區域是否存在漏光。當所述參考區域亮度值大於或等於所述預設之極限亮度值時，則認為所述待測螢幕存在整體漏光現象，進入步驟S700。否則，流程結束。

步驟S700，所述記錄模組75將所述參考區域之亮度值記錄在所述記憶體30中。

相較於先前技術，本發明漏光檢測系統及方法獲取待測螢幕各圖元之亮度值，將相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點。然後根據各被測點之位置，將所有被測點劃分為參考區域及被測區域，根據各個被測區域亮度值與所述參考區域亮度值判斷所述被測區域是否漏光，並記錄漏光之被測區域之位置。達到了快速準確地檢測待測螢幕是否漏光及待測螢幕漏光位置之技術效果。

以上實施例僅用以說明本發明之技術方案而非限制，儘管參照較佳實施例對本發明進行了詳細說明，本領域之普通技術人員應當理解，可以對本發明之技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案之精神和範圍。

1．．．電子裝置

10．．．處理器

30．．．記憶體

50．．．亮度獲取器件

70．．．漏光檢測系統

71．．．獲取模組

72．．．劃分模組

73．．．區域定義模組

74．．．檢測模組

75．．．記錄模組

Claims (10)

1. 一種漏光檢測系統，應用於一電子裝置中，對一待測螢幕進行漏光檢測，其中，所述漏光檢測系統包括：
   獲取模組，用於獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值；
   劃分模組，用於將待測螢幕中相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點，並根據各被測點中包含之每個圖元之亮度值計算得到每個被測點之亮度值；
   區域定義模組，用於根據各被測點之位置，將處於所述待測螢幕中心位置之若干個被測點組成之區域定義為參考區域，將所述參考區域周圍之其他被測點組成之區域定義為被測區域；及
   檢測模組，用於將各個被測區域中每個被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值進行比較，檢測所述被測區域之各被測點是否漏光。
2. 如申請專利範圍第1項所述之漏光檢測系統，其中，所述被測點之亮度值為所述被測點包括之全部圖元之亮度平均值，所述參考區域之亮度值為所述參考區域內所有被測點之亮度值之平均值。
3. 如申請專利範圍第1項所述之漏光檢測系統，其中，所述檢測模組計算出所述被測區域中各被測點之亮度值分別與所述參考區域之亮度值之差值，以及上述得到之每個差值與所述參考區域之亮度值之比值，當任意一個計算得到之比值大於或等於一預設值時，所述檢測模組判斷與該比值相對應之一個被測點漏光，所述被測區域漏光。
4. 如申請專利範圍第1項所述之漏光檢測系統，其中，所述檢測模組還用於通過將所述參考區域之亮度值與一預設之極限亮度值進行比較，從而檢測所述參考區域是否漏光，其中，當所述參考區域之亮度值大於或等於預設之極限亮度值時，所述檢測模組判斷所述參考區域漏光。
5. 如申請專利範圍第3或4項所述之漏光檢測系統，其中，該系統還包括：
   記錄模組，用於將檢測到之漏光之被測點之資訊以及漏光之各被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值之比值記錄在電子裝置之記憶體中，並當所述參考區域存在漏光時，將所述參考區域之亮度值記錄在所述記憶體中。
6. 一種漏光檢測方法，應用於一電子裝置中，對一待測螢幕進行漏光檢測，其中，所述漏光檢測方法包括：
   獲取步驟，獲取所述待測螢幕各圖元之亮度值；
   劃分步驟，將待測螢幕中相鄰之若干個圖元劃分為一個被測點，並根據各被測點中包含之每個圖元之亮度值計算得到每個被測點之亮度值；
   區域定義步驟，根據各被測點之位置，將處於所述待測螢幕中心位置之若干個被測點組成之區域定義為參考區域，將所述參考區域周圍之其他被測點組成之區域定義為被測區域；及
   檢測步驟，將各個被測區域中每個被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值進行比較，檢測所述被測區域是否漏光。
7. 如申請專利範圍第6項所述之漏光檢測方法，其中，所述被測點之亮度值為所述被測點包括之全部圖元之亮度平均值，所述參考區域之亮度值為所述參考區域內所有被測點之亮度值之平均值。
8. 如申請專利範圍第6項所述之漏光檢測方法，其中，在所述判斷步驟中，計算出所述被測區域中各被測點之亮度值分別與所述參考區域之亮度值之差值，以及上述得到之每個差值與所述參考區域之亮度值之比值，當任意一個計算得到之比值大於或等於一預設值時，所述檢測步驟判斷與該比值對應之一個被測點漏光，所述被測區域漏光。
9. 如申請專利範圍第6項所述之漏光檢測方法，其中，所述檢測步驟包括：
   通過將所述參考區域之亮度值與一預設之極限亮度值進行比較，從而檢測所述參考區域是否漏光；其中，當所述參考區域之亮度值大於或等於預設之極限亮度值時，所述檢測步驟判斷所述參考區域漏光。
10. 如申請專利範圍第8或9項所述之漏光檢測方法，其中，該漏光檢測方法還包括：
    記錄步驟，將檢測到之漏光之被測點之資訊以及漏光之各被測點之亮度值與所述參考區域之亮度值之比值記錄在電子裝置之記憶體中，並當所述參考區域存在漏光時，將所述參考區域之亮度值記錄在所述記憶體中。