CN1036285A - 在医疗诊断中使用的减少辐射的过滤器 - Google Patents

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Abstract

按照本发明，提供了一个X射线过滤器，它显著 降低了通常被检查物体吸收的低能辐射，而对所希望 的高能辐射没有明显影响。过滤器由一种或多种包 含一些元素作为主要成分的材料组成，这些元素从铝 和原子序数在26至50之间的元素中选出以具有这 样的X射线过滤特性，使得具有50Kev能量的X射 线的强度被降低到其正常辐射水平的约8％至约 35％。作为上述结构的效果，本发明过滤器从X射 线束中滤除了通常由检查物体吸收，并对检查物体的 辐射摄影成像无帮助的那些能量。

Description

本发明涉及X射线照相和透视，特别是关于在医疗和牙科诊断期间限制患者受到的X-射线辐射剂量的过滤器。
X-射线是在X-射线管中由于高速电子撞击一种靶物质而产生的，这种高速电子撞击并穿透靶物质的表面层，通过与靶原子的相互作用或撞击，电子的能量就赋予靶物质中的电子。
如果在轰击靶时，电子的能量通过与靶原子外层电子的一系列撞击而被消耗，则能量是以热量或可见光的形式被释放。在一系列的撞击之后，也会从靶上以背散射电子的形式发出电子，这些撞击造成大部分损失的能量贡献于靶发热，因而降低了X-射线管的寿命。
这种电子还会引起辐射撞击，放出其部分能量或者有时是全部能量给光子。由这些撞击产生的光子具有小于或等于电子放出的能量。
如果电子的能量足以与靶原子的内K层撞击，并从该层弹射出一个电子，那么，该被激发的靶原子在其外层上的电子进入该空缺的内层时，将返回它的基态并发射一个光子。这些跃迁的能量取决于组成靶物质的原子，因而发射的光子的能量是该靶原子所特有的。这种辐射在该技术领域中被称作为特征X-射线辐射，并且只有当轰击靶的电子能量高于撞击靶原子K层电子所需的能量时才会由X-射线管产生。
组成X-射线的光子能量直接与和靶分子撞击中电子放出的能量有关，正如大家知道的那样，光子的波长（λ）和其能量之间的关系是由Duana-Hunt公式表示的：
λ＝ 12.4/(KeV) A°
所以，这种过程引起各种波长的X-射线，构成该领域中所谓的连续X-射线谱。
X-射线穿透检查物体的能力取决于波长或X-射线光子的能量，也取决于被检查物体的组成-即它的化学元素，厚度和密度，就X-射线的波长或能量而言，一般，穿透能力与波长成反比或与能量成正比。于是，短波长（高能量）的X-射线具有比长波长（低能量）X-射线更强的穿透能力，对组成检查物体的化学元素来说，一般，元素的原子序数愈高，X-射线束穿透愈少。但是在接近这些元素吸收端限的波长或能量时，由于在这些点上X-射线吸收度的不连续性，这些通则不再成立。就检查物体的厚度和密度而言，一般，物体愈厚，密度愈大，它对X-射线的吸收能力也愈大，可以只有很少的X-射线通过该物体。穿透能力是这些因素的组合，这些因素与供X-射线照相局部诊断的物质的不同组成有关。于是在医疗诊断期间对X-射线设备工作参量的选择取决于被检查的物体，它的化学组成，厚度和密度。若需要更详细的描述，请参考医学物理学或放射学教科书。
由于低能量的X-射线通常无助于该方法的分辨力而只是由检查物体吸收和散射，所以在X-射线束接触被检查物体之前从射线束中去除这样一些X-射线是极其令人希望的。这样一些低能量的X-射线通常通过利用衰减器或过滤器从X-射线束中被除去。
相似于检查物体所起的作用，过滤器的衰减能力取决于组成该过滤器物质的化学组成，密度和厚度。以下的方程式代表了这些关系：
I＝I0e-μρX
其中I是被透射的辐射的强度，I0是入射辐射的强度，e是自然对数的底，μ是组成该过滤器物质化学元素的质量衰减系数，ρ是该过滤器物质的密度，而X是经过滤器物质的厚度。
在上述因素中，除了衰减系数μ外，所有其它因子与入射辐射的能量或频率无关。衰减系数随入射辐射的能量不同而变化，并与过滤器物质化学元素的原子序数有关。这些系数已由实验被确定，并可在例如由W.H.McMaster等人著的UCRL50174这样的发行的表中找到，这些表可在国立技术情报中心（Springfield，Va.，22151）获得。
多年来，用于医疗和牙科诊断中最普遍的X-射线过滤器装置一直是用铝过滤器。例如，美国专利2，225，940公开了一个放在X-射线束通路中的V形金属片。此外，美国专利3，976，889公开了在牙科X-射线中利用不同厚度的铝过滤器来改变照射的水平。几乎所有商售的X-射线装置都有某个与约1.0至1.5毫米铝等同的固有的过滤。用于医疗和/或牙科用途的装置利用了附加的铝过滤。
利用铝之外的过滤器来过滤X-射线束中的低能量X-射线是美国专利4，499，591的主题内容，在该专利中，采用了127微米厚的镱过滤器来过滤X-射线束，使得射线束中低于20Kev的能量被消除。还有，Heinrick和Schuster.的“Reduction    of    Patient    Dose    by    Filtration    in    Pediatric    Fluogrscopy    and    Fluorography”（Ann.Radiol.（1976）Vol.19，57-66页）中利用了100微米的钼过滤器来去除X-射线束中低于20KeV的辐射。
Koedooder和Venema（Phys.Med.Biol.（1986）Vol.，585-600页）描述了一个计算机程序，研制用于计算用在一个千伏峰值（KVP）范围和不同的成象接收器下可能的过滤器材料。在他们的结果中，发现剂量的降低可达高至40%，但是，在大部分场合下，X-射线管的负荷被加倍，造成X-射线管的寿命降低。
在X-射线晶体衍射图和衍射研究中，具有较均匀的单色X-射线束是有用的。一直采用通过限制X-射线束波长的范围来产生这些比较均匀X-射线的过滤材料。所以在美国专利1，624，443中，发现利用具有比X-射线管的靶稍低原子量的过滤器会产生适合用于X-射线晶体衍射图的比较均一的X-射线束。这个专利在一个最佳实施例中公开了在钼靶情况下利用一个锆过滤器。利用与靶同样材料的过滤器也已表明可以引起一个比较均一的X-射线束。美国专利3，515，074公开了利用钼作为靶和过滤器，特别是用于哺乳动物照像中，在那里，已发现由钼靶发射的Kα线的能量水平在哺乳动物照像应用中对分辨肿瘤是很理想的。
由上可见，在与诊断X-射线打交道时，由于多余辐射剂量有害的影响而存在着危险。因此需要一个有效的X-射线过滤器来降低这样的剂量并且它要适合于现有的X-射线装备。
按照本发明，给出一个X-射线过滤器，它显著减少了通常由检查物体吸收的低能量辐射而对所需的高能量辐射没有明显的影响。该过滤器由一种或多种材料组成，作为其主要成份，含有从铝和原子序数在26至50之间的元素组成的组中选出的元素，该过滤器被选成具有这样的X-射线过滤特性，使50KeV能量的X-射线的强度降低到普通辐射水平的8%至35%。
在本发明的一个方面中，过滤器被埋在一薄的塑料层里，该塑料层在运送时对过滤器提供了保护，还在X-射线束接触过滤器时可以吸收一些由过滤器发出的二次辐射。
在本发明的另一个方面，该过滤器由单独一个元素材料构成的金属箔组成，该元素材料选自由铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆、铝或钼组成的组。
在本发明的另一个方面，该过滤器由最大厚度约为75微米的铌金属箔或一层铌金属箔与一些另外的过滤箔组合组成。
由于上面的结构，本发明的过滤器从X-射线束中滤去通常由检查物体吸收的能量，并且对检查物体的辐射照相成象没有影响。这是在没有什么（如果有的话）增加X-射线管的负荷下实现的，在其它情形下，增加其负荷会降低它的有效寿命。根据以下对本发明最佳实施方案的详细描述，将会理解本发明的这些和其它一些特征。
附图表示了本发明的一些最佳实施方案，其中。
图1是按本发明构成的一个过滤器的透视图;
图2是图1过滤器的剖视图;
图3是本发明过滤器放在适当位置下的一个X-射线诊断设备的正视图;
图4是图3典型设备的X-射线波谱，显示了过滤后的与未过滤的谱;以及
图5是图3设备的X-射线波谱，显示了利用本发明第二个实施方案过滤器下未过滤的和过滤后的谱。
图1和2表示了一个总的用10表示的本发明过滤器的最佳实施方案，由一个最好选自铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆或钼中的一个单体材料构成的金属箔组成。特别适合的结构是厚度厚至75微米的铌，40至60微米较好，铌金属箔最佳的厚度是50微米。这种金属箔被埋在一张彩色纸板14中，上面的颜色被用作标记该过滤器材料和它的厚度或要被应用场合的手段。一层塑料罩层复盖和包裹过滤器12和纸板封皮14，起着过滤器保护罩的作用。除此之外，纸板14和塑料罩层16还起着当X-射线与该金属箔接触时吸收由金属箔12发射的一些二次辐射，同时也减少或消除了金属箔与空气的接触，因而减少了氧化。一个用于将过滤器固定到X-射线装置上的装置连在过滤器10的一侧，图中是一条双面胶带18。将过滤器加到X-射线装置上的方法将在下面加以讨论。
图2是图1过滤器10的截面图，清楚地表明了金属箔12，纸板封皮14和塑料罩层材料16之间的关系。
图3表示一个典型的铅基结构的X-射线发生设备，该设备包括一个具有阴极22和旋转阳极24的X-射线管。阴极里装有灯丝（未画出），由电流加热时在阴极周围产生电子云。当从一个发生器（也未画出）来的高电压加在阴极22与阳极之间时，围绕阴极电子云中的电子被加速成电子束的形式飞向由适合做靶的金属材料组成的阳极24，最通常的情况下，靶由钨构成。当电子束撞击靶材料时，靶材料吸收电子束的能量并且像前面说明过的那样，引起X-射线的产生。
由于阳极24的结构，X射线在很大程度上被聚焦并从该X射线设备20通过口26被发射出来。口26通常由固有过滤作用与大约0.5毫米的铝片相等效的玻璃或塑料做成的窗口组成。在典型的应用中，从管子发射的X-射线束通过使用一个准直器38被聚焦，准直器38的用途是将X-射线束引导到只复盖照射检查物体所需要的面积范围。这通过调节光圈32和36设定准直器的开口34来实现。
X-射线设备也具有固有的或附加的过滤作用，其通常与2.5至3.5毫米的铝相等效，以从射线束中去除非常低能量的X射线，这些低能量射线通常在被检查物体最初的几毫米内就被吸收。这些极低能量的X射线对辐射照相的分辨率决无丝毫帮助，而仅仅帮助增加了检查物体的照射剂量。一旦X射线通过被检查物体42，它们由一个辐射检测器，例如一个成象倍增器进行检测或者直接到一个辐射成象的胶片40上。
过滤器10被加在该设备中，从图上可看出是在管子30的口26和准直器38之间。用双面胶带18通过或者将它贴到管30的口26上或者贴到附加的铝过滤器上将过滤器安装到该设备上。另外，在不可能这样做的应用中，即在某些牙科应用中，可以将它固定在准直器的开口上。
图4通常显示了由图3的X射线设备发射的X射线的波谱。该设备用钨做靶并具有与3.5毫米铝相等效的过滤作用，工作在80KVP的加速电压下，产生一个具有最小波长约为0.15°A和钨的分别大约0.21A°和0.18A°的特征Kα和Kβ辐射的连续谱。实线表示了在用50微米的铌过滤器过滤之前该设备发射的正常X射线束辐射的波谱。长虚线是50微米铌过滤器的衰减特性。原子序数为41的铌在大约0.65A°处有一个K吸收端限以及在大约4.58A°处有一个L1吸收端限（图中未画出）。短虚线表示通过该铌过滤器后X射线束的波谱。从大约0.25A°到0.65A°处的K吸收端限之前的这些X射线波长，有明显的降低，就在0.65A°的K吸收端限前的地方，只有大约3%的入射的正常辐射未被该过滤器吸收。在这之后，正常的X射线束辐射被衰减到实际上所有辐射都被吸收。
过滤器材料的选择取决于诊断技术的要求，因为不同的技术会要求不同的X射线波谱。对于X射线设备工作在55Kev至110Kev峰值电压的大多数医用或牙用诊断技术来说，任何一种其主要成分是原子序数在26至50之间的元素的材料都适合用于衰减X射线束。原子序数在26至50的元素在大约7Kev和30Kev之间具有K吸收端限，因而在这些KVP范围里不会呈现明显的K端限现象，所以通常起非特殊过滤器的作用。对过滤器材料的选择还取决于是否能获得适合于过滤器结构形式、特别是适当厚度金属箔形式的材料。
由于这些材料、特别是可以金属箔形式获得的这些元素的特性，所需的过滤器比较薄，通常是在200微米或更小的数量级里变化，产生X射线过滤器较好的材料具有30至120微米数量级的厚度，最好的形成X射线过滤器的材料具有30至70微米数量级的厚度。这在下表中被阐述，表中列出了推荐的金属箔过滤器材料以及优选的厚度。
原子序号    元素    厚度范围    最佳厚度
26    Fe    50-250    125
27    Co    50-225    125
28    Ni    50-200    100
29    Cu    50-180    120
30    Zn    60-205    125
38    Sr    100-305    205
39    Y    55-165    100
40    Zr    35-105    70
41    Nb    25-75    50
42    Mo    20-60    40
43    Tc    15-50    35
44    Ru    15-45    30
46    Pd    15-40    30
47    Ag    15-45    30
48    Cd    20-50    35
49    In    20-60    40
50    Sn    20-55    35
原子序数在26到50之间、不能以金属箔形式获得的那些元素可以通过将它们与其它一种材料形成合金而被利用。对形成合金特别有用的是铝。按本发明构成的过滤器很方便地适合用于现有的X射线装置，可以减少患者的辐射而不会显著地增加费用。这种过滤器还有减少从X射线源来的入射散射辐射的附加优点，从而降低了对可能受到照射的设备操作人员的辐射水平。
如果希望从X射线束中去除能量接近铌的K吸收端限的辐射而对诊断来说是重要区域（一般从0.15A°至约0.4A°）的衰减不带来明显的增加，则可以采用组合过滤器。组合过滤器含有一种或多种有多于一种元素组成的材料，这些元素从铝和原子序数在26到50之间的元素中选出。组合过滤器可以通过各个金属箔层构成或者通过将这些材料形成合金并成为单独的箔层来组成。材料以及组成材料的元素的选择取决于所希望的X射线的波谱，而波谱又取决于具体的应用。
如图5所示，采用了由25微米铌和50微米硒组成的组合过滤器。曲线的基本内容与图4相同，实线是未过滤的谱，长虚线是该组合过滤器的衰减图，而短虚线是过滤后的谱。如图中可清楚地看出的那样，采用了与铌组合的K吸收端限约为0.98A°的硒，组合过滤器从X射线束中去除了大体上比0.6A°更长波长的所有X射线。
于是，在图5所示的例子中，当应用是希望用波长小于大约0.4A°的X射线束时，这种铌和硒的组合特别有用。如果希望一个更硬的射线束，即波长低于0.3A°或0.2A°的射线束，那么应当选择去除比此更长波长X射线的过滤器材料。例如，K吸收端限在约0.42A°的锡或K吸收端限在约0.44A°的铟或者K吸收端限在0.48A°左右的银会是有用的。上述的或衰减特性类似的其它材料可以与一种或多种K吸收端限在约0.6A°至1.0A°范围的材料、例如周期表中从锝至锗的材料结合使用。
如前所述，选取材料的最佳厚度取决于密度和衰减系数。通常，过滤器总的厚度应当选得使该厚度与50Kev下的密度与衰减系数一起相乘得到的乘积是在约0.15至约0.45的范围中，最好在约0.25至0.35。在组合过滤器中，每个单独元素的该乘积之和应当在上面这个范围中。对于由两个单独元素组成的组合过滤器的情况，每个单独元素最好应当在约0.075至约0.225的范围中，尤其以在约0.125至约0.175更好。
在以下的实例中，进一步说明本发明过滤器的应用：
实例1
一个罩在塑料中的50微米的铌过滤器被放在由一个3相6脉冲单元组成的准直器的正面，具有和3.5毫米铝等效的总的过滤作用。进入的剂量用一个Victoreen辐照仪测量。在有和没有铌过滤器下拍了一系列剖视辐射照片，为了在辐射照片上获得同一光强度，对过滤后的辐射照片的辐射略微地增加8至10%，由于这种辐射的微少增加，对剂量减小量已作修正。
表1    测得的进入剂量
KV范围    无试验过    有试验过    %剂量
（KVP）    滤器    滤器    减少
40    .9毫伦琴/毫安秒    .22毫伦琴/毫安秒    72%
50    2.0    .55    72%
60    3.4    1.21    64%
70    5.0    2.1    58%
80    6.7    3.1    54%
表1显示在有和没有铌过滤器下取得的进入剂量测量值之间有显著的减小。这种剂量的减小在较低的KVP下最为显著。
实例2
这一实验是用一个通用三相电发生器和一个具有在150KVP下和1.5毫米铝等效的固有过滤作用的自动射线束限制装置进行的。辐射探测器用的是Red    Check    Plus，型号06-526。附加过滤与2.0毫米的铝相等效，使得总的过滤作用与3.5毫米的铝相等效。由于大多数X射线检查是在75至100KVP下进行的，所以，发生器在以下设定值下使用：mA＝200;时间-.35秒;KVP-80。
在以下的条件下，进行了一半数值层厚的实验并对获得的辐射剂量进行比较：
a）正常工作-在源和探测器之间只有3.5毫米铝或等同物。
b）与a）完全一样，只是在该范围的源处附加一个100微米的镱。
c）与a）完全一样，只是在该范围的源处附加了50微米的铌。
d）与a）完全一样，只是在该范围的源处附加25微米的铌。
运行情况    附加的过滤作用    剂量mR    %剂量减少
（与A比较）
A）正常运行
0    262
1mm    210
2mm    176
3mm    148
4mm    124
5mm    107
一半数值层厚＝3.7mmAl。
B）对A附加100微米镱
0    149    44
1mm    128    39
2mm    112    37
3mm    95    36
4mm    83    33
一半数值层厚＝4.85mmAl。
C）对A附加50微米铌
0    138    48
1mm    118    44
2mm    99    44
3mm    83    44
4mm    72    42
5mm    64    40
一半数值层厚＝4.35mmAl。
D）对A附加25微米铌
0    175    34
1mm    148    30
2mm    125    29
3mm    107    28
4mm    91    27
5mm    79    26
一半数值层厚＝4.25mmAl。
实例3
用了5cm，10cm，15cm，和20cm深的水模型来进行试验。水中放一个分级光劈以提供一个可以测量的光密度（O.D）。采用Siemens    Tridoros    Optimatic    800发生器用0.6焦点尺寸进行试验。试验在115cm    FFD下用Keithly35055数字式辐射剂量仪完成的。试验前在80KV下测得的HVL（一半数值层厚）是3.8mmAl。在准直器外测对3.8mmAl加上一个50微米的铌过滤器，其结果如下：
模型    附加过滤    辐射    管电压    剂量    %剂量减少
5cm    10毫安秒    63KV    28.4mR
5cm    0.05mm    Nb    10mAs    63KV    10.2mR    64%
5cm    0.05mm    Nb    12mAs    63KV    16mR    44%
5cm    4mm    Al    10mAs    63KV    10.2mR    64%
10cm    20mAs    77KV    94mR
10cm    0.05mm    Nb    20mAs    77KV    50mR    47%
10cm    0.05mm    Nb    25mAs    77KV    73mR    22%
10cm    3mm    Al    20mAs    77KV    51mR    46%
15cm    32mAs    96KV    283mR
15cm    0.05mm    Nb    32mAs    96KV    170mR    40%
15cm    0.05mm    Nb    40mAs    96KV    215mR    24%
15cm    3mm    Al    50mAs    96KV    172mR    39%
20cm    50mAs    117KV    715mR
20cm    0.05mm    Nb    50mAs    117KV    453mR    37%
20cm    0.05mm    Nb    64mAs    117KV    569mR    20%
20cm    3mmAl    50mAs    117KV    460mR    36%
实例4
在下表显示的条件下拍取了一系列的脊柱和腹部辐射照相。剂量测量值是用一个Capintec辐射剂量计得到的。
项目    FFD    KVP    mA    时间    未过滤剂量    过滤后剂量    %剂量减少
颈脊骨    40    70    100    .1    31    7    78
腰脊骨    40    90    300    .2    556    264    54
全脊骨    72    90    300    .2    110    50    55
腹部    72    90    100    .2    110    50    55
用铌过滤器下取得的胶片给有经验的放射科专家判断，断定比未过滤时的胶片具有更好的清晰度。
实例5
在有50微米铌过滤器下用WEBER牙科X射线装置在70KVP和10mA下进行试验。发现为了在有铌过滤器下获得同等的对照度和胶片质量，辐照时间要增加到只有铝过滤器时的1.5至2倍。在只有铝过滤器的正常工作时，辐照时间通常是0.2至0.3秒，在用了铌过滤器时，它们是0.3至0.5秒。剂量减少量被表示在下表中：
过滤器    辐照时间    剂量    MR    %剂量减少
Al    0.2    116    69%
Nb    0.2    36
Al    0.2    116    50.9%
Nb    0.3    57
Al    0.2    116    37.9%
Nb    0.4    72
Al    0.3    171    66.7%
Nb    0.3    57
Al    0.3    171    57.9%
Nb    0.4    72
Al    0.3    171    50.3%
Nb    0.5    85
Al    0.3    171    30.4%
Nb    0.6    102
所以，在普通的工作情形下，50微米的铌过滤器引起患者辐照剂量下降30至50%。
虽然，这里详细描述了本发明的各种具体实施方案，但是，在不脱离本发明要旨或所附权利要求范围的情况下，本领域的专业人员可以对之作出各种变型。

Claims (20)

1、一个用于医学或牙科诊断用X射线设备，包括一个X射线源，它在检查要经受该源的X射线束辐照的检查物体时工作在约55Kev至约110Kev的峰值电压下。
所说设备包括一个过滤器，它显著降低由检查物体吸收的低能量辐射，而对该源的所希望的高能辐射没有明显的影响，所说过滤器被选取具有这样的过滤特性，使得50Kev能量的X射线强度被降低到正常辐射水平的约8%至约35%。
所说过滤器包括一种或多种含有选自铝和原子序数在26至50之间元素中的一些元素的材料。
2、如权利要求1所述的X-射线设备，其中所说过滤器由单独一种元素材料的金属箔组成。
3、如权利要求2所述的X-射线设备，其中所说的元素材料是从铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆、铝或钼中选出的。
4、一个如权利要求1所述的X射线设备，其中所说过滤器至少包括有一个最大厚度为75微米的铌金属箔。
5、一个与用于医学或牙科诊断的X射线设备一起使用的过滤器，其中的X射线设备包括一个工作在约55Kev至110Kev之间的峰值电压下的X射线源和一个要接受该源辐照的检查物体;
所说过滤器显著降低由检查物体吸收的低能量辐射，而对该源的所希望的高能辐射没有明显影响，所说过滤器被选成具有这样的特性，使得具有50Kev能量的X射线强度被降低到正常辐射水平的约8%至约35%。
所说过滤器包括至少一种元素材料，该元素材料是从铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆、铝和钼中选出。
6、一个如权利要求5所述的过滤器，其中所说过滤器由单独一种元素材料的金属箔组成。
7、一个如权利要求6所述的过滤器，其中所说的元素材料是从铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆或钼中选出。
8、一个如权利要求5所述的过滤器，其中所说过滤器至少包括有一个最大厚度约为75微米的铌金属箔。
9、一个如权利要求8所述的过滤器，其中所说的铌金属箔具有的最佳厚度在约25至约75微米的范围中。
10、一个如权利要求9所述的过滤器，其中所说的铌金属箔具有约50微米的厚度。
11、一个如权利要求8所述的过滤器，包括与具有最大厚度为约75微米的所说铌金属箔组合的一些辅助过滤箔。
12、一个如权利要求5所述的过滤器，它被罩在一透明罩壳中。
13、一个如权利要求12所述的过滤器，其中所说的透明罩壳由一种柔性塑料组成。
14、一个如权利要求13所述的过滤器，包括一个在所说透明罩壳内的彩色背景，该彩色背景中的彩色用于认辨关于该过滤器的特定信息。
15、如权利要求14所述的过滤器，其中，所说的彩色背景由一个纸板材料组成，而所说的透罩壳由一种可挠曲的塑料组成，使所说的过滤器总体具有挠性。
16、一种降低在医学或牙科诊断时经受X射线束辐照的检查物体的辐射剂量的方法，该方法包括：
从一个X射线设备向检查物体发射一个具有最大能量在约55Kev至约110Kev之间的穿透辐射束，所说X射线设备包括一个工作在约55Kev至约110Kev之间的一个峰值电压下的X射线源，并具有等效于2至4毫米铝的固有过滤作用。
将一个过滤器安装在所说X射线源和所说检查物体之间，所说过滤器显著降低了由检查物体吸收的低能量辐射，而对该源的所希望的高能辐射没有明显影响，所说过滤器由一种或多种包含一些元素作为主要成分的材料组成，这些元素从铝和原子序数在26至50之间的元素中选出以具有使具有50Kev的辐射强度被降低到正常辐射水平的约8%至约35%的X射线过滤特性。
用过滤后的辐射辐照所说检查物体，结果使大多数过滤后的辐射都通过所说患者。
探测从所说被检查物体出来的过滤后的辐射，以及
对该出来的过滤后的辐射进行处理，以得出一个与该出来的过滤后的辐射相对应的检查物体的辐射摄影象。
17、一个如权利要求16所述的方法，其中所说的过滤器由一个单独元素的材料做成的金属箔。
18、一个如权利要求17所述的方法，其中所说的元素材料是从铌、铜、银、锡、铁、镍、锌、锆、铝或钼中选出。
19、一个如权利要求18所述的方法，其中所说的过滤器至少包括有一个具有最大厚度为约75微米的铌金属箔。
20、一个如权利要求19所述的方法，其中所说的铌金属箔的最佳厚度在约25至75微米的范围中。
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