CN103528803B - 测试摄像模组是否合格的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试摄像模组是否合格的装置及方法，在摄像模组平面正对的方向上设置一光信号发生模块，光信号发生模块包括呈栅状排列的多条发光单元，多条发光单元相互平行、间隔均匀、端部齐平。测试时发光单元形成的发光区域与摄像模组感光芯片平行且二者中心位于同一直线上，发光单元与感光芯片的长边平行。控制多个发光单元均打开一次，在此过程中采集感光芯片每个像素点感应信号的数据，对数据分析处理，得到每个像素点的俯仰角和摄像模组的左右倾斜角，最后根据规定的预设范围，判断摄像模组是否合格。利用上述方法测试摄像模组是否合格，无需手动对摄像模组的位置进行调节，极大的缩短了测试摄像模组的时间，提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及摄像模组技术领域，更具体地说，涉及一种测试摄像模组是否合格的装置及方法。
背景技术
光学触摸屏具有安装便携、精度高，响应速度快等优点，可应用于会议场所、商业展示场所、教育培训场所、展览展示、金融行业、部队诸多领域中。
光学触摸屏的核心部件是摄像模组，光学触摸屏中常用的摄像模组是线性摄像模组，这种摄像模组的感光芯片平面为矩形，感光芯片上沿长边方向具有一行并排的像素点，不同摄像模组的像素点数目不同。理想状况下，这行像素点在感光芯片沿长边方向的对称轴上，这样才能保证每个像素点接收不小于设定下限强度的光线。
但是，由于技术的限制、生产过程中各种因素的影响等等，摄像模组感光芯片的这行像素点的位置会有偏移，从而产生一定的俯仰角和左右倾斜角。俯仰角是指感光芯片的像素点和光源的连线与像素点的信号最强时的位置与光源的连线的夹角，左右倾斜角是指感光芯片的一行像素点所在的直线和感光芯片长边的夹角。
只有摄像模组的俯仰角和左右倾斜角均在合理的范围内，才能保证光学触摸屏功能的实现，因此，在组装光学触摸屏前首先需要对摄像模组的俯仰角和左右倾斜角进行测试，以筛选出不合格的摄像模组。
目前，测试摄像模组常用的方法为：将摄像模组与MCU（MicroControlUnit，微控制单元）相连，并将摄像模组固定在支架上，在摄像模组中心轴上、离摄像模组平面（即感光芯片所在平面）一定距离的位置处设置一点光源。打开点光源，在摄像模组平面内，通过沿摄像模组短边方向调节模组位置和以摄像模组中心轴为轴旋转摄像模组，并利用MCU实时收集摄像模组感应到的信号，分析每个像素点的感应信号的强弱，进而得到摄像模组的俯仰角和左右倾斜角，判断摄像模组是否合格。
虽然通过上述方法能够测试出摄像模组是否合格，但是，测试中需要对每个摄像模组做调整，且调整用时较长，测试每个摄像模组都需要不少于1分钟的时间，严重影响了摄像模组的测试效率。
发明内容
本发明提供了一种测试摄像模组是否合格的装置及方法，以实现快速测试摄像模组是否合格，提高测试效率。
为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：
一种测试摄像模组是否合格的装置，包括：光信号控制模块、光信号发生模块、感应信号采集模块、分析处理模块和判断模块；所述光信号控制模块与所述光信号发生模块相连，控制所述光信号发生模块为摄像模组的感光芯片提供光信号；所述光信号发生模块包括呈栅状排列的多个发光单元，所述多个发光单元均为条形结构，相互平行、间隔均匀、且端部齐平的排列于同一平面上，形成一矩形发光区域，所述发光区域与所述感光芯片平行，二者中心位于同一直线上，且所述多个发光单元与所述感光芯片的长边平行，所述光信号发生模块用于在所述光信号控制模块的控制下，分别将每个所述发光单元打开一次，以为所述感光芯片提供光信号；所述感应信号采集模块与所述摄像模组相连，用于在所述光信号发生模块分别将每个所述发光单元打开一次的过程中，实时采集所述感光芯片每个像素点的感应信号的数据，并将所述每个像素点的感应信号的数据发送给所述分析处理模块；所述分析处理模块用于接收所述感应信号采集模块发送的每个像素点的感应信号的数据，对所述每个像素点的感应信号的数据进行分析处理，得到所述每个像素点的俯仰角和所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块；所述判断模块内存储有俯仰角的预设范围和左右倾斜角的预设范围，所述判断模块用于接收所述分析处理模块发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述俯仰角的预设范围，并判断所述摄像模组的左右倾斜角是否超出所述左右倾斜角的预设范围，生成判断结果，并根据所述判断结果判断所述摄像模组是否合格。
优选的，所述发光单元为发光条。
优选的，所述多个发光单元中相邻两个发光单元的间距为3mm～5mm，包括端点值。
本发明还提供了一种测试摄像模组是否合格的方法，该方法用于以上任一项所述的装置，所述方法包括：在所述光信号发生模块的一侧放置一摄像模组，使所述光信号发生模块的发光区域与所述摄像模组的感光芯片平行且二者中心位于同一直线上，并使所述光信号发生模块的多个发光单元与所述感光芯片的长边平行，将所述光信号发生模块与所述光信号控制模块相连，并将所述摄像模组与所述感应信号采集模块相连；利用所述光信号控制模块控制所述光信号发生模块分别将所述光信号发生模块的每个发光单元打开一次，以为所述感光芯片提供光信号；利用所述感应信号采集模块在所述光信号发生模块分别将每个发光单元打开一次的过程中，实时采集所述感光芯片每个像素点的感应信号的数据，并将所述每个像素点的感应信号的数据发送给所述分析处理模块；利用所述分析处理模块接收所述感应信号采集模块发送的每个像素点的感应信号的数据，对所述每个像素点的感应信号的数据进行分析处理，得到所述每个像素点的俯仰角和所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块；利用所述判断模块接收所述分析处理模块发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述判断模块内存储的俯仰角的预设范围，并判断所述摄像模组的左右倾斜角是否超出所述判断模块内存储的左右倾斜角的预设范围，生成判断结果，根据所述判断结果判断所述摄像模组是否合格。
与现有技术相比，本发明所提供的技术方案至少具有以下优点：
本发明所提供的测试摄像模组是否合格的装置及方法，在摄像模组平面正对的方向上设置一光信号发生模块，光信号发生模块包括呈栅状排列的多条发光单元，且多条发光单元相互平行、间隔均匀、端部齐平。测试时，多条发光单元形成的发光区域与摄像模组感光芯片平行且二者的中心位于同一直线上，并使多个发光单元与感光芯片的长边平行。利用光信号控制模块控制光信号发生模块的多个发光单元均打开一次，在此过程中采集感光芯片每个像素点的感应信号的数据，对采集到的数据进行分析处理，计算得到每个像素点的俯仰角和摄像模组的左右倾斜角，最后根据规定的预设范围，判断摄像模组是否合格。利用上述装置和方法测试摄像模组是否合格，程序化程度高，无需手动对摄像模组的位置进行调节，极大的缩短了测试摄像模组的时间，提高了测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例一所提供的测试摄像模组是否合格的装置的结构示意图；
图2为本发明实施例一所提供的测试摄像模组是否合格的装置的光信号发生模块的结构示意图；
图3为本发明实施例一所提供的测试摄像模组是否合格的装置测试时光信号发生模块与摄像模组的位置关系的示意图；
图4为本发明实施例一所提供的测试摄像模组是否合格的装置中所测试的摄像模组的结构示意图；
图5为本发明实施例一中每个像素点的俯仰角的示意图；
图6为本发明实施例一中摄像模组的左右倾斜角的示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。
在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
其次，本发明结合示意图进行详细描述，在详述本发明实施例时，为便于说明，表示装置结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本发明保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。
实施例一
本实施例提供了一种测试摄像模组是否合格的装置，如图1所示，该装置包括：光信号控制模块101、光信号发生模块102、感应信号采集模块103、分析处理模块104和判断模块105；
所述光信号控制模块101与所述光信号发生模块102相连，控制所述光信号发生模块102为摄像模组106的感光芯片301提供光信号；
如图2所示，所述光信号发生模块102包括呈栅状排列的多个发光单元201，所述多个发光单元201均为条形结构，相互平行、间隔均匀、且端部齐平的排列于同一平面上，形成一矩形发光区域202，如图3所示，所述发光区域202与所述感光芯片301平行，二者中心O’和O位于同一直线上，且所述多个发光单元201与所述感光芯片301的长边平行，所述光信号发生模块102用于在所述光信号控制模块101的控制下，分别将每个所述发光单元201打开一次，以为所述感光芯片301提供光信号；
所述感应信号采集模块103与所述摄像模组106相连，用于在所述光信号发生模块102分别将每个所述发光单元201打开一次的过程中，实时采集所述感光芯片301每个像素点的感应信号的数据，并将所述每个像素点的感应信号的数据发送给所述分析处理模块104；
所述分析处理模块104用于接收所述感应信号采集模块103发送的每个像素点的感应信号的数据，对所述每个像素点401的感应信号的数据进行分析处理，得到所述每个像素点的俯仰角和所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组106的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块105；
所述判断模块105内存储有俯仰角的预设范围和左右倾斜角的预设范围，所述判断模块105用于接收所述分析处理模块104发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组106的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述俯仰角的预设范围，并判断所述摄像模组106的左右倾斜角是否超出所述左右倾斜角的预设范围，生成判断结果，并根据所述判断结果判断所述摄像模组106是否合格。
本实施例中，所述摄像模组106的基本结构如图4所示，为线性模组，即摄像模组的感光芯片301为一矩形，其四条边分为一组相对的长边和一组相对的短边，感光芯片301的具有多个沿长边方向并排呈一行的像素点401。
所述光信号发生模块102优选的应该包括一基板，该基板的表面为平面，多个发光单元202设置于该基板的表面；每个发光单元202的长度并不限定，优选为400mm左右；相邻两个发光单元202之间的间距可根据实际情况进行设定，优选为3mm～5mm，包括端点值；发光单元202的数量可根据所需要得到的俯仰角和左右倾斜角的精度（即测试精度）选择，数量越多，则俯仰角和左右倾斜角的精度越高；所述发光单元202优选为发光条，更优选为LED发光条。
本实施例对所述光信号发生模块102与所述摄像模组106之间的距离并不限定，可根据实际情况选择，优选为500mm左右。
所述分析处理模块104更具体的工作过程为：接收所述感应信号采集模块103发送的每个像素点的感应信号的数据，根据所述每个像素点的感应信号的数据，比较所述每个像素点在不同的所述发光单元打开时感应信号的强弱，得到所述每个像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元的位置，根据相邻两个发光单元之间的间距，进一步得到所述每个像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元与发光区域中心的垂直距离，结合所述光信号发生单元与所述摄像模组之间的距离，利用正切函数计算得到所述每个像素点的俯仰角；任取两个像素点，计算这两个像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元之间的距离，结合两个像素点之间的距离，利用正弦函数计算得到所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块。
需要说明的是，“所述每个像素点的俯仰角”是指像素点和该像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元的最短连线与像素点和该像素点在感光芯片沿长边方向的对称轴上的投影点的连线的夹角。如图5所示，假设A点为感光芯片上的某个像素点，B点为该像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元的位置点，C点为位于发光区域的中心，则该像素点的俯仰角为θ1，由于像素点与发光区域的中心的垂直距离p（即A点和C点的距离）和像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元与中间位置的发光单元的距离q（B点和C点的距离）已知，因此该像素点的俯仰角为q与p的比值的反正切值。
“所述摄像模组的左右倾斜角”是指感光芯片的一行像素点所在的直线和感光芯片长边的夹角。如图6所示，摄像模组的左右倾斜角为感光芯片的一行像素点所在的直线602与感光芯片的长边方向的对称轴601的夹角θ2，当求摄像模组的左右倾斜角θ2时，可在一行像素点中任取两像素点D点和E点，由于D点与E点之间的距离m和D点与E点在感光芯片沿长边方向的对称轴上的投影距离之差n（即D点的感应信号最强时对应打开的发光单元与E点的感应信号最强时对应打开的发光单元之间的距离）已知，因此摄像模组的左右倾斜角为n与m的比值的反正弦值。
需要说明的是，本实施例中由于光信号发生模块的多个发光单元的排布十分密集，相邻两个发光单元之间的距离为毫米级，并且某个像素点感应信号最强时对应打开的发光单元应该是所有发光单元中与该像素点距离最近的一个发光单元，因此可近似的认为某个像素点感应信号最强时对应打开的发光单元与该像素点所在的、平行于感光芯片长边的直线相互平行，从而也就可以认为该像素点在感光芯片沿长边方向的对称轴上的投影距离近似的等于该像素点感应信号最强时对应打开的发光单元与多个发光单元所形成的发光区域中间位置之间的距离。多个发光单元的排布越密集计算得到的摄像模组的左右倾斜角就会越精确。
所述判断模块105具体的工作过程为：接收所述分析处理模块104发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述俯仰角的预设范围，一旦出现某个像素点的俯仰角超出所述俯仰角的预设范围，则判断所述摄像模组不合格，判断所述摄像模组的左右倾斜角是否超出所述左右倾斜角的预设范围，如果是，则判断所述摄像模组不合格，只有当所有像素点的俯仰角均在所述俯仰角的预设范围内，并且摄像模组的左右倾斜角在所述左右倾斜角的预设范围内时，才判断摄像模组合格。
另外，所述判断模块105内所存储的俯仰角的预设范围和左右倾斜角的预设范围需根据所需要的测试精度结合实际情况而定，本实施例对此并不进行限定。
本实施例所提供的测试摄像模组是否合格的装置，设置有光信号控制模块101、光信号发生模块102、感应信号采集模块103、分析处理模块104和判断模块105，无需调整摄像模组的位置，仅需将光信号发生模块102的每个发光单元各打开一次，采集该过程中各个像素点感应信号的数据，经过分析处理计算得到俯仰角和左右倾斜角，进而可判断摄像头是否合格，从而节省了调整摄像模组所需的时间，缩短了测试摄像模组的周期，提高了测试效率。
实施例二
本实施例提供了一种测试摄像模组是否合格的方法，该方法用于实施例一所述的装置，所述方法包括：
步骤S71：在所述光信号发生模块的一侧放置一摄像模组，使所述光信号发生模块的发光区域与所述摄像模组的感光芯片平行且二者中心位于同一直线上，并使所述光信号发生模块的多个发光单元与所述感光芯片的长边平行，将所述光信号发生模块与所述光信号控制模块相连，并将所述摄像模组与所述感应信号采集模块相连；
步骤S72：利用所述光信号控制模块控制所述光信号发生模块分别将所述光信号发生模块的每个发光单元打开一次，以为所述感光芯片提供光信号；
为了便于数据的统计，可为光信号发生模块的每个发光单元编号。假如测试时，所述光信号发生模块竖直放置，则可将光信号控制模块的多个发光单元由上至下依次编号：第1发光条、第2发光条、第3发光条、…、第n发光条。
同样为了便于数据的统计，在将每个发光单元各打开一次的过程中，可按顺序依次打开每个发光单元，如：从第1发光单元、第2发光单元、…、第n发光单元依次打开。
步骤S73：利用所述感应信号采集模块在所述光信号发生模块分别将每个发光单元打开一次的过程中，实时采集所述感光芯片每个像素点的感应信号的数据，并将所述每个像素点的感应信号的数据发送给所述分析处理模块；
假如所测试的摄像模组共包含1000个像素点，则打开第1发光单元时采集到的每个像素点的感应信号的数据为：X1[1000]={2000，1990，2010，…，2300}，打开第2发光单元时采集到的每个像素点的感应信号的数据为：X2[1000]={2010，1900，2000，…，2200}，…，打开第n发光单元时采集到的每个像素点的感应信号的数据为：Xn[1000]={2010，1900，2000，…，2200}。
步骤S74：利用所述分析处理模块接收所述感应信号采集模块发送的每个像素点的感应信号的数据，对所述每个像素点的感应信号的数据进行分析处理，得到所述每个像素点的俯仰角和所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块；
根据所接收的数据X1[1000]、X2[1000]、…、Xn[1000]，比较所述每个像素点在不同的发光单元打开时感应信号的强弱，如：比较如第一个像素点的数据X1[1]、X2[1]、X3[1]、X4[1]、…、Xn[1]，如果上述数据中X2[1]最大，则可以认为第一个像素点偏向第2发光单元，则第一个像素点的俯仰角为第2发光单元和n个发光单元构成的发光区域的中心的垂直距离（即相邻两个发光单元之间的距离乘以（n-3）/2所得的值）与摄像模组和发光区域的中心的距离之比的反正切值，同理，可以得到其它像素点的俯仰角。
计算摄像模组的左右倾斜角时，可任取两个像素点，计算这两个像素点的感应信号最强时对应打开的发光单元之间的距离，结合两个像素点之间的距离，利用正弦函数计算得到所述摄像模组的左右倾斜角。
需要说明的是，由于摄像模组的像素点并不能构成一条理想的直线，当摄像模组的像素点左右倾斜时，不同区域的像素点的倾斜程度会不一致，因此，在计算摄像模组的俯仰角时，优选的可取几组像素点，从而多求得几个左右倾斜角，进行判断。
步骤S75：利用所述判断模块接收所述分析处理模块发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述判断模块内存储的俯仰角的预设范围，并判断所述摄像模组的左右倾斜角是否超出所述判断模块内存储的左右倾斜角的预设范围，生成判断结果，根据所述判断结果判断所述摄像模组是否合格。
判断每个像素点的俯仰角是否超出俯仰角的预设范围时，一旦出现某个像素点的俯仰角超出预设范围，则判断摄像模组不合格；
判断摄像模组的左右倾斜角是否超出左右倾斜角的预设范围时，如果是，则判断摄像模组不合格；
只有当所有像素点的俯仰角均在俯仰角的预设范围内，并且摄像模组的左右倾斜角在左右倾斜角的预设范围内时，才判断摄像模组合格。
需要说明的是，当需要更高精度的测试时，仅需增加发光单元的数量，即可得到更精确的俯仰角和左右倾斜角。
另外，本实施例中仅以对线性摄像模组的测试为例进行说明，本实施例所提供的测试方法同样适用于面阵形式的摄像模组（即摄像模组感光芯片的像素点呈面阵形式排布），测试方法与本实施例类似，再次并不赘述。
本实施例所提供的测试摄像模组的方法，不需要手动对摄像模组的位置进行调节，极大的缩短了测试摄像模组的周期，可将测试一个摄像模组的时间从现有技术中的不少于1分钟缩短至少于10秒钟，从而提高了测试速率。
并且，现有技术中的测试方法需要手动对摄像模组的位置进行调节，测试精度低，采用本实施例所提供的测试方法，可通过增加发光单元的数量提高测试精度，测试精度更高。
虽然本发明已以较佳实施例披露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案作出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
Claims (4)
1.一种测试摄像模组是否合格的装置，其特征在于，包括：光信号控制模块、光信号发生模块、感应信号采集模块、分析处理模块和判断模块；
所述光信号控制模块与所述光信号发生模块相连，控制所述光信号发生模块为摄像模组的感光芯片提供光信号；
所述光信号发生模块包括呈栅状排列的多个发光单元，所述多个发光单元均为条形结构，相互平行、间隔均匀、且端部齐平的排列于同一平面上，形成一矩形发光区域，所述发光区域与所述感光芯片平行，二者中心位于同一直线上，且所述多个发光单元与所述感光芯片的长边平行，所述光信号发生模块用于在所述光信号控制模块的控制下，分别将每个所述发光单元打开一次，以为所述感光芯片提供光信号；
所述感应信号采集模块与所述摄像模组相连，用于在所述光信号发生模块分别将每个所述发光单元打开一次的过程中，实时采集所述感光芯片每个像素点的感应信号的数据，并将所述每个像素点的感应信号的数据发送给所述分析处理模块；
所述分析处理模块用于接收所述感应信号采集模块发送的每个像素点的感应信号的数据，对所述每个像素点的感应信号的数据进行分析处理，得到所述每个像素点的俯仰角和所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块；
所述判断模块内存储有俯仰角的预设范围和左右倾斜角的预设范围，所述判断模块用于接收所述分析处理模块发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述俯仰角的预设范围，并判断所述摄像模组的左右倾斜角是否超出所述左右倾斜角的预设范围，生成判断结果，并根据所述判断结果判断所述摄像模组是否合格；
其中，所述俯仰角是指感光芯片的像素点和光源的连线与像素点的信号最强时的位置与光源的连线的夹角，所述左右倾斜角是指感光芯片的一行像素点所在的直线和感光芯片长边的夹角。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述发光单元为发光条。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述多个发光单元中相邻两个发光单元的间距为3mm～5mm，包括端点值。
4.一种测试摄像模组是否合格的方法，其特征在于，用于权利要求1～3任一项所述的装置，所述方法包括：
在所述光信号发生模块的一侧放置一摄像模组，使所述光信号发生模块的发光区域与所述摄像模组的感光芯片平行且二者中心位于同一直线上，并使所述光信号发生模块的多个发光单元与所述感光芯片的长边平行，将所述光信号发生模块与所述光信号控制模块相连，并将所述摄像模组与所述感应信号采集模块相连；
利用所述光信号控制模块控制所述光信号发生模块分别将所述光信号发生模块的每个发光单元打开一次，以为所述感光芯片提供光信号；
利用所述感应信号采集模块在所述光信号发生模块分别将每个发光单元打开一次的过程中，实时采集所述感光芯片每个像素点的感应信号的数据，并将所述每个像素点的感应信号的数据发送给所述分析处理模块；
利用所述分析处理模块接收所述感应信号采集模块发送的每个像素点的感应信号的数据，对所述每个像素点的感应信号的数据进行分析处理，得到所述每个像素点的俯仰角和所述摄像模组的左右倾斜角，并将所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息发送给所述判断模块；
利用所述判断模块接收所述分析处理模块发送的所述每个像素点的俯仰角的信息和所述摄像模组的左右倾斜角的信息，判断所述每个像素点的俯仰角是否超出所述判断模块内存储的俯仰角的预设范围，并判断所述摄像模组的左右倾斜角是否超出所述判断模块内存储的左右倾斜角的预设范围，生成判断结果，根据所述判断结果判断所述摄像模组是否合格；
其中，所述俯仰角是指感光芯片的像素点和光源的连线与像素点的信号最强时的位置与光源的连线的夹角，所述左右倾斜角是指感光芯片的一行像素点所在的直线和感光芯片长边的夹角。
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