CN108844460A - 一种光电复合式破片群位置测试装置和测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种光电复合式破片群位置测试装置和测试方法，其中，测试装置包括测试装置主体、信号采集仪和上位机，其中，测试装置主体沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置，还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元，其中，探测光幕单元包括两个激光器和三个光电探测器阵列，激光器和光电探测阵列对应构成光幕并作为用于双线激光交汇的第一测试靶面，薄膜阵列测试单元布置在测试装置主体中间并具有第二测试靶面。本发明的激光和薄膜阵列光电复合法能够测试定向战斗部破片群散布位置，为破片群定向控制技术研究提供可靠的数据支撑。
Description
技术领域
本发明涉及光电测试技术领域，尤其涉及一种光电复合式破片群位置测试装置和测试方法。
背景技术
破片是战斗部毁伤效应的重要因素之一，而在指定区域破片的数量、位置则是衡量破片战斗部毁伤效应的重要参数之一。需要测试破片战斗部在指定区域破片位置分布。目前，常用的测量设备可以分为接触式测量和非接触式测量，主要的测试设备有纸靶板测量法、多光幕交汇测量法、双CCD交汇测量法、声靶等，均只能测试同一时间单个目标着靶的情况，当多个目标同时着靶时会得到大量伪目标，导致现有测试手段无法用于多个目标同时着靶的情况下的位置分布测试的问题，是兵器参数测试行业公认的技术难题之一。
针对两发弹丸同时着靶的情况，有研究者提出采用七个探测光幕阵列的方法对双管武器的弹丸着靶坐标进行测量，该装置和算法复杂，实际工程难以实现。还有研究者提出采用基于六光幕的测量原理，将每一个光幕细分成多个小光幕，实现对两发弹丸同时着靶情况下坐标的测量，该方法光幕组成复杂，当两发弹丸同时着靶且着靶位置处于同一个光幕区间时，系统同样无法区分，最终导致无法测量。
现有的专利也提出一些多目标同时着靶的坐标测量方法，但都存在一定的问题，如专利“双管齐射武器弹丸飞行速度与着靶坐标测量方法与装置”提出采用八个探测光幕阵列的方法对双管武器的弹丸着靶坐标进行测量，该系统装置和算法复杂，实际工程较难实现。如专利“多管齐射武器弹丸速度与着靶坐标测量装置与测量方法”提出采用基于六光幕的测量原理，将每一个光幕细分成多个小光幕，实现对多发弹丸同时着靶情况下坐标的测量，该方法光幕组成复杂，工程实现困难，当两发弹丸同时着靶且着靶位置处于同一个光幕区间时，系统同样无法区分，最终导致无法测量。专利“用于2-3发弹丸同时着靶的坐标测量装置及测量方法”提出一种基于高速彩色线阵CCD相机配合一字线激光光源的测量装置和方法，该方案所采用的高速线阵彩色相机价格昂贵，依赖进口，所以使得系统的价格较为昂贵，且该方法不能用于4发及以上弹丸同时着靶的情况。如专利“一种激光多目标立靶测量装置和测量方法”提出采用多组线激光与光电探测阵列空间叠加而成探测靶面，有N个目标同时着靶则需要N+1组线激光与光电探测器阵列，随着需要测试的同时到达的目标个数增加同时增加的靶面厚度，导致无法对小目标进行测试，例如破片群的测试则无法使用。
发明内容
本发明提供一种光电复合式破片群位置测试装置，用以解决现有技术中存在的技术问题。
本发明一方面提供一种光电复合式破片群位置测试装置，其包括测试装置主体、信号采集仪和上位机，其中，测试装置主体沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置，测试装置主体通过电缆线与信号采集仪相连接，信号采集仪通过电缆线与上位机相连接，测试装置还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元，其中，探测光幕单元包括两个激光器和三个光电探测器阵列，激光器和光电探测阵列对应构成光幕并作为用于双线激光交汇的第一测试靶面，薄膜阵列测试单元布置在测试装置主体中间并具有第二测试靶面。
优选地，测试装置主体为矩形框架并与水平面呈垂直布置，其包括第一边框、第二边框、第三边框和固定框。
优选地，激光器分别设置在测试装置主体的下部两侧。
优选地，激光器通过激光器架固定在测试装置主体下部，激光器的位置与第一测试靶面下边沿相距一定距离。
优选地，光电探测器阵列分别设置在第一边框、第二边框和第三边框上，光电探测器阵列包括若干个高灵敏度的光电传感器。
优选地，薄膜阵列测试单元包括木板和薄膜阵列，薄膜阵列粘附在木板上。
优选地，薄膜阵列由若干开关薄膜相互拼接而成。
优选地，每个开关薄膜包括上、下两个导体极板，在开关薄膜拼接形成薄膜阵列后，薄膜阵列中每一列的上极板相互连接并引出第一信号线，薄膜阵列中每一行的下极板相互连接并引出第二信号线，上位机对第一信号线和第二信号线进行编码处理。
优选地，测试装置主体的底部与两个底座固定连接，两个底座通过连接杆相连接，在连接杆上设置水平仪，每个底座上设有两组调节装置，每组调节装置包括调整旋钮、螺柱以及底脚，调整旋钮设置在螺柱的顶端，螺柱穿过底座与底座相连接并且随旋钮的旋转上下移动。
本发明的另一方面提供一种光电复合式破片群位置测试方法，其采用上述任一项技术方案中的测试装置，其包括以下步骤：
(1)在预定测试位置的弹道上，将测试装置主体布置在距破片战斗部炸点一定距离处，测试装置主体中的第一测试靶面面向炸点方向布置，观测水平仪并通过调整旋钮和底脚，使得测试装置主体处于水平状态；
(2)以一侧的激光器的发光点为原点，以两个激光器发光点的连线为x轴建立平面坐标系XOY，其中，设置两个激光器发光点之间的距离为L，位于第一边框上以及位于另一侧边框上的光电探测阵列和一侧激光器发光点分别在竖直方向和水平方向上的距离为L；
(3)当M枚破片穿过第一测试靶面时，每个激光器通过M个破片在与激光器对应的光电探测阵列上留下M个投影，M个破片穿过薄膜阵列形成的第二测试靶面对应的H个通道输出信号，其中2M大于H；
(4)信号采集仪识别出M个破片通过每个激光器在对应的光电探测阵列上留下的投影的位置坐标和产生信号的开关薄膜的编号；
(5)分别连接每个激光器的发光点和每一个破片投影点，形成2M条直线，从破片飞行方向上看，通过上位机计算所有2M条直线的交点坐标并作为待选破片着靶点集，同时上位机根据产生信号的开关薄膜的编号得到破片着靶位置范围；
(6)上位机将待选破片着靶点集中每个坐标代入破片着靶位置范围，满足开关薄膜所得着靶坐标范围的交点坐标点即为破片着靶点，不满足即为伪目标，即得到M枚破片着靶坐标计算结果。
本发明的激光和薄膜阵列光电复合法能够测试定向战斗部破片群散布位置，为破片群定向控制技术研究提供可靠的数据支撑。
附图说明
图1为本发明涉及的光电复合式破片群位置测试装置的结构示意图；
图2为本发明涉及的光电复合式破片群位置测试装置的结构示意图；
图3为本发明涉及的光电复合式破片群位置测试装置的结构示意图；
图4为本发明涉及的破片群位置测试方法的示意图；
图5为本发明涉及的破片群位置测试方法的误差分析示意图；
图6为本发明涉及的破片群位置测试方法的误差分析示意图。
其中，1、第一边框；2、第二边框；3、第三边框；4、线路板；5、光电传感器阵列；6、狭缝；7、激光器；8、薄膜阵列；9、下极板；10、上极板；11、固定框；12、激光器架；13、连接杆；14、底座；15、信号采集仪；16、上位机；17、测试装置主体；18、螺柱；19、旋钮；20、底脚；21、圆形水平仪；22、木板；23、第一木板槽；24、第二木板槽；25、第三木板槽。
具体实施方式
本发明实施例提供一种光电复合式破片群位置测试装置，用以解决现有技术中存在的技术问题。
如图1所示，图1示出了一种光电复合式破片群位置测试装置，其包括测试装置主体17和智能信号采集仪15，其中，测试装置主体17沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置，其中，测试装置主体17通过电缆线与智能信号采集仪15相连接。光电复合式破片群位置测试装置还包括上位机16，智能信号采集仪15通过电缆线与上位机16相连接。
进一步地，继续参照图2-4所示，测试装置主体17为矩形框架形状的结构，具体地，其包括第一边框1、第二边框2、第三边框3和固定框11，其中，第一边框1的两端分别与第二边框2和第三边框3相连接，第二边框2和第三边框3相互平行，第二边框2和第三边框3的下部通过固定框11连接，第一边框1和固定框11相互平行，这样，测试装置主体17能够与水平面呈垂直布置并且优选可采用一体式设计，使得测试装置主体1能够独立完成对目标着靶信号的采集、处理，最终得到目标的着靶坐标位置。
更进一步地，测试装置主体17通过位于两侧的底座14稳定放置在水平地面上，具体地，第二边框2和第三边框3的底部分别与底座11固定连接，位于两侧的底座14通过连接杆13相连接，在连接杆13上设置圆形水平仪21，这样使得测试装置主体17能够更加稳定的固定。每个底座14上设有两组调节装置，两组调节装置分别设置在测试装置主体17的两侧，每组调节装置包括调整旋钮19、螺柱18以及底脚20，调整旋钮19设置在螺柱18的顶端，螺柱18穿过底座14并与底座14相连接并且随旋钮19的旋转上下移动，每组调节装置用于支撑测试装置主体17。在进行调节时，调整旋钮19用于调整测试装置主体17呈水平布置，通过圆形水平仪21能够观测测试装置主体17的水平程度。
测试装置主体17还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元，其中，探测光幕单元包括两个激光器7和三个光电探测器阵列5，这样，两个激光器7和三个光电探测阵列5对应构成光幕，作为用于双线激光交汇的第一测试靶面。其中，两个激光器7分别设置在测试装置主体17的下部两侧，具体地，每个激光器7通过激光器架12固定在测试装置主体17下部的连接杆13上。作为一种优选，激光器7选用90°线激光器，这样可以满足第一测试靶面大小的要求。作为另一种优选，激光器7选用635nm波长的红外激光器，635nm波长的红外激光器的发光强度是波长为650nm的红外激光器的两倍，可以保证光电传感器的最佳接收效果。两个激光器7的位置距离测试靶面下边沿相距一定距离。作为一种优选，距离设定为50mm，这样可以使第一测试靶面与薄膜阵列8形成的测试靶面结合效果更理想，也可使防止破片距离激光器7过近，从而导致测试误差过大。三个光电探测器阵列5分别设置在第一边框1、第二边框2和第三边框3上，光电探测器阵列5包括线路板4和若干个高灵敏度的光电传感器，光电传感器布置在线路板4上，在光电探测器阵列5的上方设有狭缝6，这样能够有效满足探测需求。作为一种优选，光电传感器的面积为5.29mm2。
薄膜阵列测试单元布置在第一边框1、第二边框2、第三边框3和固定框11之间，其具有第二测试靶面，并置于第一测试靶面的区域范围中。其中，薄膜阵列测试单元包括木板22和薄膜阵列8，薄膜阵列8粘附在木板22上。具体地，薄膜阵列8由若干开关薄膜相互拼接而成。作为一种优选，薄膜阵列8选择质地薄、柔软、密度低、灵敏度好的开关薄膜。在制作薄膜阵列8时，将拼接好的开关薄膜直接帖附在木板22的表面，以达到较好的探测效果，然后，将粘贴好薄膜阵列8的木板22固定在第一边框1、第二边框2、第三边框3和固定框11之间。为了便于薄膜阵列测试单元的安装和更换，在第一边框1上设置有第一木板槽23，在第二边框2上设置有第二木板槽24，在固定框11上设置第三卡槽25，将粘附有薄膜阵列8的木板22从第三边框3的一侧插入，从而固定在三个卡槽之间。
具体地，每个开关薄膜包括上、下两个导体极板，在开关薄膜拼接形成薄膜阵列8后，薄膜阵列8中每一列的上极板9相互连接并引出第一信号线，薄膜阵列8中每一行的下极板10相互连接并引出第二信号线，通过上位机16对薄膜阵列8引出的第一信号线和第二信号线进行编码处理，按照从左到右，从下到上的顺序编写序号。
采用本实施例涉及的光电复合式破片群位置测试装置，能够对破片群位置进行测试，其测试原理如下：当破片穿过双线激光交汇的第一测试靶面，激光器7通过破片在对应光电探测器阵列5上留下投影，光电探测器阵列5产生信号，并通过电缆线传输给信号采集仪15进行处理，信号采集仪15将处理结果传输到上位机16，上位机16分析得到产生信号的光电探测器阵列中对应光电传感器的位置，再由上位机16结合光电传感器的位置与激光器7位置的连线可以得到交点坐标，其中，交点坐标中包含真实破片着靶坐标和伪目标；
破片穿过薄膜阵列8形成的第二测试靶面时，破片穿透开关薄膜导通了阵列薄膜8的上极板10和下极板9，使得对应的两个通道输出信号，并通过电缆线传输给信号采集仪15进行处理，信号采集仪15将处理结果传输到上位机16，上位机16通过分析得到破片穿过的开关薄膜的位置，再由薄膜阵列定位识别模型确定破片着靶坐标范围；上位机16依据定位识别模型，去除用于双线激光交汇的第一测试靶面所得坐标中的伪目标，得到满足开关薄膜所得破片位置范围的破片着靶坐标。
上述光电复合式破片群位置测试装置能够实现对多个破片同时着靶情况的位置测试，具体操作步骤如下：
(1)在预定测试位置的弹道上，将测试装置主体17布置在距破片战斗部炸点一定距离处，测试装置主体17中的第一测试靶面面向炸点方向布置，观测圆形水平仪21并通过调整旋钮19和底脚14，使得测试装置主体17处于水平状态；
(2)如图4所示，以一侧(例如左侧)的激光器7的发光点为原点，以两个激光器7发光点的连线为x轴建立平面坐标系XOY，其中，设置两个激光器7发光点之间的距离为L，位于第一边框1上以及位于另一侧边框(例如右侧)上的光电探测阵列5和一侧激光器7发光点分别在竖直方向和水平方向上的距离为L；
(3)当M枚破片穿过第一测试靶面时，每个激光器7通过M个破片在与激光器7对应的光电探测阵列5上留下M个投影，M个破片穿过薄膜阵列8形成的第二测试靶面对应的H个通道输出信号，其中2M大于H；
(4)信号采集仪15识别出M个破片通过每个激光器7在对应的光电探测阵列5上留下的投影的位置坐标和产生信号的开关薄膜的编号；
(5)分别连接每个激光器7的发光点和每一个破片投影点，形成2M条直线，从破片飞行方向上看，通过上位机16计算所有2M条直线的交点坐标并作为待选破片着靶点集，同时上位机16根据产生信号的开关薄膜的编号得到破片着靶位置范围；
(6)上位机16将待选破片着靶点集中每个坐标代入破片着靶位置范围，满足开关薄膜所得着靶坐标范围的交点坐标点即为破片着靶点，不满足即为伪目标，即得到M枚破片着靶坐标计算结果；
上述破片群位置测试方法所采用的具体计算方法包括：
(1)如图5所示，上位机16通过计算破片在光电探测器阵列5上的投影点与对应激光器7发光点连线形成的所有交点坐标，获取所有破片可能着靶位置。当有n枚破片同时着靶时，n枚破片在光电传感器阵列5的投影有2n个，投影点与激光器7发光点连线形成m个交点，其中m＝n2，第m个交点对应的投影点坐标为(Xm1,Ym1)，(Xm2,Ym2)，分别与激光器7发光点所在坐标点(0,0)，(L,0)连线，则第m个交点的坐标为：
其中m∈[1,n2]，且Xm∈[0,L]，Ym∈[0,L]。
(2)破片穿过薄膜阵列8形成的第二测试靶面，对应的开关薄膜的两个信号线输出信号，经上位机16分析可以得知相应的信号线编码，产生信号的开关薄膜所在行数为i，所在列数为j，则ij位置的开关薄膜产生信号时，可以确定破片可能着靶范围模型：
(3)将用于双线激光交汇的第一测试靶面与薄膜阵列8形成的第二测试靶面相结合，将通过第一测试靶面定位所得全部可能结果带入通过第二测试靶面所得破片着靶坐标范围，若不等式成立则可认为该坐标为破片着靶坐标，并保存，若不成立则认为该坐标为伪目标，应舍弃，其中，破片着靶坐标真伪识别模型为：
(4)当目标穿过测试靶面时，由于目标的直径不同，目标着靶位置不同，定位误差也不同将测试靶面分为Ⅰ，Ⅱ两个区域，其中最大误差出现在两个区域临界处，破片位于两个区域的交界处偏向Ⅰ或正中间时，测量误差计算公式为：
其中a″为破片在光电探测器投影区域的左边沿与激光器7连线与y轴夹角，b″为破片在光电探测器投影区域中心点与激光器7连线与光电探测器投影区域的左边沿与激光器7连线的夹角；
(5)每两个开关薄膜之间的距离设为u，u的大小受限于最小目标破片大小，最小破片直径u′要略大于当破片处于k处时误差最大，最大误差为
为了更直观的介绍本实施例，如图4所示，列举了5枚破片同时到达靶面情况下破片群位置测试过程。图4中随机给出了5个目标，分别用①②③④⑤表示，其他未标示的点为伪目标；即激光立靶通过第一测试靶面产生17个伪目标，通过薄膜阵列8的第二测试靶面产生了3个假目标，具体的，五个破片同时着靶，两个激光器7在光电探测阵列5上留下投影A(0,y1)、B(0,y2)、C(x1,L)、D(x2,L)、E(x3,L)、F(x4,L)、G(x5,L)、H(x6,L)、I(L,y3)、J(L,y4)；薄膜阵列8输出信号通道为Ai3、Ai6、Ai9、Ai14、Ai15、Ai16，A4j、A5j、A7j、A8j、A10j；又已知两个激光器7发光点坐标为(0,0)、(L,0)，此时以5枚片同时着靶为例，则m∈[1:25]，根据直线交点坐标公式，可由上位机16计算得到全部有效坐标。
假设薄膜阵列8下边沿与x轴距离h，薄膜阵列8中每个开关薄膜是边长为a的正方形结构，两个开关薄膜之间间隔为u；
则根据破片着靶处开关薄膜编号可得破片位置范围如下：
破片①位置范围：
破片②位置范围：
破片③位置范围：和
破片④位置范围：和
破片⑤位置范围：和
伪目标位置范围：和
和
将通过基于双线激光交汇的第一测试靶面所得坐标带入通过薄膜阵列8所形成第二测试靶面所得破片位置范围，即可剔除伪目标，得到最后破片位置坐标。
如图5所示,给出了双线激光交汇立靶误差分析示意图，当目标穿过靶面时，由于目标的直径不同，目标着靶位置不同，定位误差也不同。
破片位于两个区域的交界处偏向Ⅰ或正中间时，测量误差计算公式为：
图6所示为薄膜阵列8误差分析示意图，每两个开关薄膜之间的距离设为u，u的大小受限于最小目标破片大小，最小破片直径u′要略大于当破片处于k处时误差最大，最大误差为
根据误差公式以及破片着靶位置、破片尺寸等参数即可得到破片着靶位置测试误差大小。
本发明实施例提供的装置不仅可以测得实施例中介绍的5个破片同时到达的情况，理论上还可以识别更多破片同时到达，同时也能测试有一定时间间隔的破片位置，理论上可以满足实际破片测试要求。同时，若减小薄膜阵列8中开关薄膜的尺寸，则可以达到更高精度的测量。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种光电复合式破片群位置测试装置，其包括测试装置主体(17)、信号采集仪(15)和上位机(16)，其中，所述测试装置主体(17)沿着破片飞散方向并距战斗部炸点一定距离处设置，所述测试装置主体(17)通过电缆线与所述信号采集仪(15)相连接，所述信号采集仪(15)通过电缆线与所述上位机(16)相连接，所述测试装置还包括探测光幕单元和薄膜阵列测试单元，其中，所述探测光幕单元包括两个激光器(7)和三个光电探测器阵列(5)，所述激光器(7)和所述光电探测阵列(5)对应构成光幕并作为用于双线激光交汇的第一测试靶面，所述薄膜阵列测试单元布置在所述测试装置主体(17)中间并具有第二测试靶面。
2.根据权利要求1所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述测试装置主体(17)为矩形框架并与水平面呈垂直布置，其包括第一边框(1)、第二边框(2)、第三边框(3)和固定框(11)。
3.根据权利要求2所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述激光器(7)分别设置在所述测试装置主体(17)的下部两侧。
4.根据权利要求3所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述激光器(7)通过激光器架(12)固定在所述测试装置主体(17)下部，所述激光器(7)的位置与所述第一测试靶面下边沿相距一定距离。
5.根据权利要求2所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述光电探测器阵列(5)分别设置在所述第一边框(1)、所述第二边框(2)和所述第三边框(3)上，所述光电探测器阵列(5)包括若干个高灵敏度的光电传感器。
6.根据权利要求2所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述薄膜阵列测试单元包括木板(22)和薄膜阵列(8)，所述薄膜阵列(8)粘附在所述木板(22)上。
7.根据权利要求6所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述薄膜阵列(8)由若干开关薄膜相互拼接而成。
8.根据权利要求7所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，每个所述开关薄膜包括上、下两个导体极板，在所述开关薄膜拼接形成所述薄膜阵列(8)后，所述薄膜阵列(8)中每一列的上极板(9)相互连接并引出第一信号线，所述薄膜阵列(8)中每一行的下极板(10)相互连接并引出第二信号线，所述上位机(16)对所述第一信号线和所述第二信号线进行编码处理。
9.根据权利要求1所述的光电复合式破片群位置测试装置，其附加技术特征在于，所述测试装置主体(17)的底部与两个底座(14)固定连接，两个所述底座(14)通过连接杆(13)相连接，在所述连接杆(13)上设置水平仪(21)，每个所述底座(14)上设有两组调节装置，每组所述调节装置包括调整旋钮(19)、螺柱(18)以及底脚(20)，所述调整旋钮(19)设置在所述螺柱(18)的顶端，所述螺柱(18)穿过所述底座(14)与所述底座(14)相连接并且随所述旋钮(19)的旋转上下移动。
10.一种光电复合式破片群位置测试方法，其采用上述任一项权利要求所述的测试装置，其包括以下步骤：
(1)在预定测试位置的弹道上，将测试装置主体(17)布置在距破片战斗部炸点一定距离处，测试装置主体(17)中的第一测试靶面面向炸点方向布置，观测水平仪(21)并通过调整旋钮(19)和底脚(14)，使得测试装置主体(17)处于水平状态；
(2)以一侧的激光器(7)的发光点为原点，以两个激光器(7)发光点的连线为x轴建立平面坐标系XOY，其中，设置两个激光器(7)发光点之间的距离为L，位于第一边框(1)上以及位于另一侧边框上的光电探测阵列(5)和一侧激光器(7)发光点分别在竖直方向和水平方向上的距离为L；
(3)当M枚破片穿过第一测试靶面时，每个激光器(7)通过M个破片在与激光器(7)对应的光电探测阵列(5)上留下M个投影，M个破片穿过薄膜阵列(8)形成的第二测试靶面对应的H个通道输出信号，其中2M大于H；
(4)信号采集仪(15)识别出M个破片通过每个激光器(7)在对应的光电探测阵列(5)上留下的投影的位置坐标和产生信号的开关薄膜的编号；
(5)分别连接每个激光器(7)的发光点和每一个破片投影点，形成2M条直线，从破片飞行方向上看，通过上位机(16)计算所有2M条直线的交点坐标并作为待选破片着靶点集，同时上位机(16)根据产生信号的开关薄膜的编号得到破片着靶位置范围；
(6)上位机(16)将待选破片着靶点集中每个坐标代入破片着靶位置范围，满足开关薄膜所得着靶坐标范围的交点坐标点即为破片着靶点，不满足即为伪目标，即得到M枚破片着靶坐标计算结果。
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