CN112330737B - 平行检测方法、设备、存储介质及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种平行检测方法、设备、存储介质及装置，相较于现有的通过经纬仪、高度尺或水平仪进行平行检测的方式，本发明中通过在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置，在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息，根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果，根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行，克服了现有技术中无法准确判断待检测模组与待检测平板是否平行的缺陷，从而能够优化平行检测过程，以满足精确检测需求。
Description
技术领域
本发明涉及测量技术领域，尤其涉及一种平行检测方法、设备、存储介质及装置。
背景技术
目前，飞行时间(Time of Flight，TOF)模组是通过给目标物体连续发送发射不同波段的激光，然后传感器接收从物体返回的激光，通过计算发射和接收激光的飞行往返时间得到TOF模组与目标物体之间的距离。而TOF模组测试目标物体的距离前，需要验证TOF模组的测试环境，其中，最重要的验证项目是验证TOF模组平面是否与测试板平面平行。
现有技术中，验证TOF模组平面是否与测试板平面平行主要是通过经纬仪、高度尺或水平仪进行测试。但是，上述测试方式比较麻烦，并且使用仪器进行测试，会产生抖动，造成数据不准确。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种平行检测方法、设备、存储介质及装置，旨在解决如何优化平行检测过程的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种平行检测方法，所述平行检测方法包括以下步骤：
在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置；
在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；
根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式；
将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果；
根据所述比较结果确定所述待检测模组与所述待检测平板是否平行。
优选地，所述将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果的步骤，具体包括：
对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率；
对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率；
根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值；
判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果；
根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。
优选地，所述根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行的步骤之后，所述平行检测方法还包括：
在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略；
根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动；
在所述待检测平板移动完成后，返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，直至所述待检测模组与所述待检测平板平行。
优选地，所述在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息的步骤，具体包括：
查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息；
根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
优选地，所述根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式的步骤，具体包括：
根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标；
根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
优选地，所述在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，具体包括：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息；
根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置；
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
优选地，所述在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，具体包括：
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源；
在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种平行检测设备，所述平行检测设备包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的平行检测程序，所述平行检测程序配置为实现如上文所述的平行检测方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有平行检测程序，所述平行检测程序被处理器执行时实现如上文所述的平行检测方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种平行检测装置，所述平行检测装置包括：获取模块、选取模块、生成模块、比较模块和检测模块；
所述获取模块，用于在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置；
所述选取模块，用于在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；
所述生成模块，用于根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式；
所述比较模块，用于将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果；
所述检测模块，用于根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行。
本发明中，在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置，在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息，根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果，根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；相较于现有的通过经纬仪、高度尺或水平仪进行平行检测的方式，本发明中通过获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，根据当前投影图像选取目标参考点，并根据目标参考点确定当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，根据比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行，克服了现有技术中无法准确判断待检测模组与待检测平板是否平行的缺陷，从而能够优化平行检测过程，以满足精确检测需求。
附图说明
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的平行检测设备的结构示意图；
图2为本发明平行检测方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明平行检测方法一实施例的设备位置示意图；
图4为本发明平行检测方法一实施例的参考点示意图；
图5为本发明平行检测方法一实施例的曲线示意图；
图6为本发明平行检测方法第二实施例的流程示意图；
图7为本发明平行检测方法第三实施例的流程示意图；
图8为本发明平行检测装置第一实施例的结构框图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的平行检测设备结构示意图。
如图1所示，该平行检测设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口，对于用户接口1003的有线接口在本发明中可为USB接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(WIreless-FIdelity，WI-FI)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)存储器，也可以是稳定的存储器(Non-volatileMemory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对平行检测设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，认定为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及平行检测程序。
在图1所示的平行检测设备中，网络接口1004主要用于连接后台服务器，与所述后台服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于连接用户设备；所述平行检测设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的平行检测程序，并执行本发明实施例提供的平行检测方法。
基于上述硬件结构，提出本发明平行检测方法的实施例。
参照图2，图2为本发明平行检测方法第一实施例的流程示意图，提出本发明平行检测方法第一实施例。
步骤S10：在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置。
需要说明的是，本实施例的执行主体是所述平行检测设备，其中，所述平行检测设备可为个人电脑以及服务器等电子设备，还可为其他可实现相同或相似功能的设备，本实施例对此不作限制，在本实施例以及下述各实施例中，以平行检测设备为例对本发明平行检测方法进行说明。
需要说明的是，平行检测指令可以是终端设备通过预设通信连接发送的检测指令，其中，预设通信连接可以是预先建立的终端设备与平行检测设备之间的通信连接；镂空标准件可以是镂空正棱台或镂空圆台等器件，本实施中以镂空正棱台为例进行说明；待检测平板可以是用于检测飞行时间(Time of Flight，TOF)模组性能的测试平板；当前投影图像可以是光源产生的光线通过镂空标准件时，在待检测平板上产生的投影图像。
应当理解的是，在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像可以是在接收到平行检测指令时，直接获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
进一步地，考虑到实际应用中直接获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，势必会导致测试不准确。为克服这一缺陷，所述在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置，包括：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置，在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
需要说明的是，待检测模组可以是需要进行平行检测的发光模组，本实施例中以TOF模组为例进行说明；当前位置信息可以是当前时刻TOF模组的位置信息，本实施例对此不加以限制；目标测试位置可以是镂空标准件在进行平行检测时的放置位置。
应当理解的是，获取待检测模组的当前位置信息可以是通过通信连接接收待检测模组上报的当前位置信息；也可以是通过平行检测设备直接获取待检测模组的当前位置信息，本实施例对此不加以限制。
可以理解的是，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置可以是获取待检测模组的光源位置，并根据光源位置以及当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，也就是将与待检测模组平行，且距离待检测模组光源预设距离的位置作为目标测试位置，其中，预设距离可以根据实际情况进行设置，本实施例对此不加以限制。
进一步地，考虑到实际应用中，若单独设置测试光源来产生光线，势必会导致平行检测过程所涉及的设备过多，操作复杂。为克服这一缺陷，所述在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，包括：
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源，在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
需要说明的是，预设发光策略可以是用户预先设置的待检测模组的发光策略，本实施例对此不加以限制；检测光源可以是待检测模组执行预设发光策略时产生的光源。
应当理解的是，在镂空标准件移动至目标测试位置后，可以直接根据预设发光策略控制待检测模组运行，以使待检测模组产生检测光源，从而无需额外设置检测光源，简化检测操作。
此外，为了便于理解，参照图3设备位置示意图进行举例说明：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息为A位置信息；获取待检测模组的光源方向，并根据A位置信息以及光源方向确定镂空正棱台的目标测试位置为B位置，并控制镂空正棱台移动至B位置，在镂空正棱台移动至B位置后，根据预设发光策略控制待检测模组运行，以使待检测模组产生光源，在待检测模组产生光源后，光线会通过镂空正棱台在处于C位置的待检测平台上产生投影图像。
步骤S20：在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
可以理解的是，在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息可以是查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
需要说明的是，预设标准曲线关系式可以是在完全平行条件下，经过多次测试，得到的两平面平行的标准曲线关系式；标准参考点可以是测试获得标准曲线关系式的过程中，选取的标准参考点；
应当理解的是，在完全平行条件下，将镂空正棱台的顶点作为标准参考点，根据标准参考点的坐标进行曲线拟合得到预设标准曲线关系式，多次测试，获得两平面平行下的理论曲线。
应当理解的是，查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点可以是在预设映射关系表中查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，所述预设映射关系表中包含预设标准曲线关系式与标准参考点之间的对应关系，所述对应关系可以根据用户需求进行设置，本实施例对此不加以限制。
可以理解的是，获取所述标准参考点的参考信息可以是获取标准参考点的特征信息，例如，本实施例中，标准参考点的特征信息可以是标准参考点为镂空正棱台的顶点。
应当理解的是，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点可以是根据参考信息对当前投影图像进行识别，获得目标参考点。
在具体实现中，例如，如图4参考点示意图所示，在当前投影图像中，选取镂空正棱台的顶点a、b、c、d作为目标参考点。
步骤S30：根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
需要说明的是，当前坐标可以是目标参考点在目标坐标轴上的坐标，其中，目标坐标轴可以是以当前投影图像的中心点为坐标原点形成的二维坐标轴。
应当理解的是，根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式可以是根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
需要说明的是，预设曲线拟合模型可以是两点式求直线方程模型以及点斜式求直线方程模型等，本实施例中以为两点式求直线方程模型例进行说明。
应当理解的是，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式可以是根据当前坐标通过两点式求直线方程模型生成目标参考点的当前曲线关系式。
步骤S40：将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果。
应当理解的是，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果可以是对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率，对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率，根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果，根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。
可以理解的是，当前曲线关系式对应的当前曲线如图5曲线示意图所示，本实施例对此不加以限制。
需要说明的是，预设阈值可以是根据用户需求进行设置，本实施例对此不加以限制。
应当理解的是，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值可以是计算当前斜率差值的绝对值，并判断所述绝对值是否大于预设阈值，获得判断结果。
可以理解的是，在判断结果为当前斜率差值大于预设阈值时，判定当前曲线关系式与预设曲线关系式相似；在判断结果为当前斜率差值小于或等于预设阈值时，判定当前曲线关系式与预设曲线关系式不相似。
步骤S50：根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行。
应当理解的是，根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行可以是在当前曲线关系式与预设曲线关系式相似时，判定待检测模组与待检测平板平行；在当前曲线关系式与预设曲线关系式不相似时，判定待检测模组与待检测平板不平行。
在第一实施例中，在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置，在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息，根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果，根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；相较于现有的通过经纬仪、高度尺或水平仪进行平行检测的方式，本发明中通过获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，根据当前投影图像选取目标参考点，并根据目标参考点确定当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，根据比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行，克服了现有技术中无法准确判断待检测模组与待检测平板是否平行的缺陷，从而能够优化平行检测过程，以满足精确检测需求。
参照图6，图6为本发明平行检测方法第二实施例的流程示意图，基于上述图2所示的第一实施例，提出本发明平行检测方法的第二实施例。
在第二实施例中，所述步骤S10，包括：
步骤S101：在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息。
需要说明的是，平行检测指令可以是终端设备通过预设通信连接发送的检测指令，其中，预设通信连接可以是预先建立的终端设备与平行检测设备之间的通信连接；待检测模组可以是需要进行平行检测的发光模组，本实施例中以飞行时间(Time of Flight，TOF)模组为例进行说明；当前位置信息可以是当前时刻TOF模组的位置信息，本实施例对此不加以限制。
应当理解的是，获取待检测模组的当前位置信息可以是通过通信连接接收待检测模组上报的当前位置信息；也可以是通过平行检测设备直接获取待检测模组的当前位置信息，本实施例对此不加以限制。
步骤S102：根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置。
需要说明的是，镂空标准件可以是镂空正棱台或镂空圆台等器件，本实施中以镂空正棱台为例进行说明；目标测试位置可以是镂空标准件在进行平行检测时的放置位置。
应当理解的是，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置可以是获取待检测模组的光源位置，并根据光源位置以及当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，也就是将与待检测模组平行，且距离待检测模组光源预设距离的位置作为目标测试位置，其中，预设距离可以根据实际情况进行设置，本实施例对此不加以限制。
步骤S103：在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
应当理解的是，在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像可以是在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据待检测模组的当前位置信息确定待检测模组的当前位置，并在待检测模组的当前位置放置测试光源，控制测试光源运行，在测试光源产生所述光线时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
进一步地，考虑到实际应用中，若单独设置测试光源来产生光线，势必会导致平行检测过程所涉及的设备过多，操作复杂。为克服这一缺陷，所述步骤S103，包括：
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源；
在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
需要说明的是，预设发光策略可以是用户预先设置的待检测模组的发光策略，本实施例对此不加以限制；检测光源可以是待检测模组执行预设发光策略时产生的光源。
应当理解的是，在镂空标准件移动至目标测试位置后，可以直接根据预设发光策略控制待检测模组运行，以使待检测模组产生检测光源，从而无需额外设置检测光源，简化检测操作。
此外，为了便于理解，参照图3设备位置示意图进行举例说明：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息为A位置信息；获取待检测模组的光源方向，并根据A位置信息以及光源方向确定镂空正棱台的目标测试位置为B位置，并控制镂空正棱台移动至B位置，在镂空正棱台移动至B位置后，根据预设发光策略控制待检测模组运行，以使待检测模组产生光源，在待检测模组产生光源后，光线会通过镂空正棱台在处于C位置的待检测平台上产生投影图像。
在第二实施例中，在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置，在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像；本实施通过待检测模组的当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并在镂空标准件移动至目标测试位置后，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，从而能够提高平行检测的准确性。
在第二实施例中，步骤S20，包括：
步骤S201：查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息。
需要说明的是，预设标准曲线关系式可以是在完全平行条件下，经过多次测试，得到的两平面平行的标准曲线关系式；标准参考点可以是测试获得标准曲线关系式的过程中，选取的标准参考点；
应当理解的是，在完全平行条件下，将镂空正棱台的顶点作为标准参考点，根据标准参考点的坐标进行曲线拟合得到预设标准曲线关系式，多次测试，获得两平面平行下的理论曲线，如图5曲线示意图所示。
应当理解的是，查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点可以是在预设映射关系表中查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，所述预设映射关系表中包含预设标准曲线关系式与标准参考点之间的对应关系，所述对应关系可以根据用户需求进行设置，本实施例对此不加以限制。
可以理解的是，获取所述标准参考点的参考信息可以是获取标准参考点的特征信息，例如，本实施例中，标准参考点的特征信息可以是标准参考点为镂空正棱台的顶点。
步骤S202：根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
应当理解的是，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点可以是根据参考信息对当前投影图像进行识别，获得目标参考点。
在具体实现中，例如，如图4参考点示意图所示，在当前投影图像中，选取镂空正棱台的顶点a、b、c、d作为目标参考点。
可以理解的是，获取所述目标参考点的当前位置信息可以是获取目标参考点在所述当前投影图像中的当前位置。
在第二实施例中，通过查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息，从而能够准确在当前投影图像上选取目标参考点。
在第二实施例中，所述步骤S30，包括：
步骤S301：根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标。
需要说明的是，当前坐标可以是目标参考点在目标坐标轴上的坐标，其中，目标坐标轴可以是以当前投影图像的中心点为坐标原点形成的二维坐标轴。
步骤S302：根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
需要说明的是，预设曲线拟合模型可以是两点式求直线方程模型以及点斜式求直线方程模型等，本实施例中以为两点式求直线方程模型例进行说明。
应当理解的是，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式可以是根据当前坐标通过两点式求直线方程模型生成目标参考点的当前曲线关系式。
在第二实施例中，通过根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式；从而能够快速、准确生成目标参考点的当前曲线关系式。
参照图7，图7为本发明平行检测方法第三实施例的流程示意图，基于上述图2所示的第一实施例，提出本发明平行检测方法的第三实施例。
在第三实施例中，所述步骤S40，包括：
步骤S401：对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率。
应当理解的是，对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率可以是直接对当前曲线关系式进行信息解析，获得当前曲线斜率。
可以理解的是，当前曲线关系式对应的当前曲线如图5曲线示意图所示，本实施例对此不加以限制。
步骤S402：对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率。
可以理解的是，对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率可以是直接对预设标准曲线关系式进行信息解析，获得标准曲线斜率。
步骤S403：根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值。
可以理解的是，根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值可以是计算当前曲线斜率以及标准曲线斜率之间的当前斜率差值。
步骤S404：判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果。
需要说明的是，预设阈值可以是根据用户需求进行设置，本实施例对此不加以限制。
应当理解的是，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值可以是计算当前斜率差值的绝对值，并判断所述绝对值是否大于预设阈值，获得判断结果。
步骤S405：根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。
可以理解的是，在判断结果为当前斜率差值大于预设阈值时，判定当前曲线关系式与预设曲线关系式相似；在判断结果为当前斜率差值小于或等于预设阈值时，判定当前曲线关系式与预设曲线关系式不相似。、
在第三实施例中，对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率，对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率，根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果，根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果，从而能够快速获得当前曲线关系式与预设曲线关系式的比较结果。
在第三实施例中，所述步骤S50之后，还包括：
步骤S60：在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略。
需要说明的是，当前移动策略可以是当前时刻对待检测平板进行移动的策略。
应当理解的是，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略可以是在当前斜率差值为正值时，表示待检测平板在目标参考点处后倾，此时，需要将前移作为当前移动策略；在当前斜率差值为负值时，表示待检测平板在目标参考点处前倾，此时，需要将后移作为当前移动策略。
步骤S70：根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动。
可以理解的是，在当前移动策略为前移时，控制待检测平板的目标参考点处前移；在当前移动策略为后移时，控制待检测平板的目标参考点处后移。
步骤S80：在所述待检测平板移动完成后，返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，直至所述待检测模组与所述待检测平板平行。
应当理解的是，在待检测平板移动完成后，并不能完全保证待检测模组与待检测平板平行。因此，还需要返回平行检测步骤，以检测移动后的待检测模组与待检测平板是否平行。
在第三实施例中，通过在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略，根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动，在所述待检测平板移动完成后，返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，直至所述待检测模组与所述待检测平板平行，从而能够自动调整待检测平板的位置，以使待检测模组与所述待检测平板完全平行。
此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有平行检测程序，所述平行检测程序被处理器执行时实现如上文所述的平行检测方法的步骤。
此外，参照图8，本发明实施例还提出一种平行检测装置，所述平行检测装置包括：获取模块10、选取模块20、生成模块30、比较模块40和检测模块50；
所述获取模块10，用于在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置。
需要说明的是，平行检测指令可以是终端设备通过预设通信连接发送的检测指令，其中，预设通信连接可以是预先建立的终端设备与平行检测设备之间的通信连接；镂空标准件可以是镂空正棱台或镂空圆台等器件，本实施中以镂空正棱台为例进行说明；待检测平板可以是用于检测飞行时间(Time of Flight，TOF)模组性能的测试平板；当前投影图像可以是光源产生的光线通过镂空标准件时，在待检测平板上产生的投影图像。
应当理解的是，在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像可以是在接收到平行检测指令时，直接获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
进一步地，考虑到实际应用中直接获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，势必会导致测试不准确。为克服这一缺陷，所述在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置，包括：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置，在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
需要说明的是，待检测模组可以是需要进行平行检测的发光模组，本实施例中以TOF模组为例进行说明；当前位置信息可以是当前时刻TOF模组的位置信息，本实施例对此不加以限制；目标测试位置可以是镂空标准件在进行平行检测时的放置位置。
应当理解的是，获取待检测模组的当前位置信息可以是通过通信连接接收待检测模组上报的当前位置信息；也可以是通过平行检测设备直接获取待检测模组的当前位置信息，本实施例对此不加以限制。
可以理解的是，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置可以是获取待检测模组的光源位置，并根据光源位置以及当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，也就是将与待检测模组平行，且距离待检测模组光源预设距离的位置作为目标测试位置，其中，预设距离可以根据实际情况进行设置，本实施例对此不加以限制。
进一步地，考虑到实际应用中，若单独设置测试光源来产生光线，势必会导致平行检测过程所涉及的设备过多，操作复杂。为克服这一缺陷，所述在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，包括：
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源，在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
需要说明的是，预设发光策略可以是用户预先设置的待检测模组的发光策略，本实施例对此不加以限制；检测光源可以是待检测模组执行预设发光策略时产生的光源。
应当理解的是，在镂空标准件移动至目标测试位置后，可以直接根据预设发光策略控制待检测模组运行，以使待检测模组产生检测光源，从而无需额外设置检测光源，简化检测操作。
此外，为了便于理解，参照图3设备位置示意图进行举例说明：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息为A位置信息；获取待检测模组的光源方向，并根据A位置信息以及光源方向确定镂空正棱台的目标测试位置为B位置，并控制镂空正棱台移动至B位置，在镂空正棱台移动至B位置后，根据预设发光策略控制待检测模组运行，以使待检测模组产生光源，在待检测模组产生光源后，光线会通过镂空正棱台在处于C位置的待检测平台上产生投影图像。
所述选取模块20，用于在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
可以理解的是，在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息可以是查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
需要说明的是，预设标准曲线关系式可以是在完全平行条件下，经过多次测试，得到的两平面平行的标准曲线关系式；标准参考点可以是测试获得标准曲线关系式的过程中，选取的标准参考点；
应当理解的是，在完全平行条件下，将镂空正棱台的顶点作为标准参考点，根据标准参考点的坐标进行曲线拟合得到预设标准曲线关系式，多次测试，获得两平面平行下的理论曲线。
应当理解的是，查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点可以是在预设映射关系表中查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，所述预设映射关系表中包含预设标准曲线关系式与标准参考点之间的对应关系，所述对应关系可以根据用户需求进行设置，本实施例对此不加以限制。
可以理解的是，获取所述标准参考点的参考信息可以是获取标准参考点的特征信息，例如，本实施例中，标准参考点的特征信息可以是标准参考点为镂空正棱台的顶点。
应当理解的是，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点可以是根据参考信息对当前投影图像进行识别，获得目标参考点。
在具体实现中，例如，如图4参考点示意图所示，在当前投影图像中，选取镂空正棱台的顶点a、b、c、d作为目标参考点。
所述生成模块30，用于根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
需要说明的是，当前坐标可以是目标参考点在目标坐标轴上的坐标，其中，目标坐标轴可以是以当前投影图像的中心点为坐标原点形成的二维坐标轴。
应当理解的是，根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式可以是根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
需要说明的是，预设曲线拟合模型可以是两点式求直线方程模型以及点斜式求直线方程模型等，本实施例中以为两点式求直线方程模型例进行说明。
应当理解的是，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式可以是根据当前坐标通过两点式求直线方程模型生成目标参考点的当前曲线关系式。
所述比较模块40，用于将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果。
应当理解的是，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果可以是对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率，对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率，根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果，根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。
可以理解的是，当前曲线关系式对应的当前曲线如图5曲线示意图所示，本实施例对此不加以限制。
需要说明的是，预设阈值可以是根据用户需求进行设置，本实施例对此不加以限制。
应当理解的是，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值可以是计算当前斜率差值的绝对值，并判断所述绝对值是否大于预设阈值，获得判断结果。
可以理解的是，在判断结果为当前斜率差值大于预设阈值时，判定当前曲线关系式与预设曲线关系式相似；在判断结果为当前斜率差值小于或等于预设阈值时，判定当前曲线关系式与预设曲线关系式不相似。
所述检测模块50，用于根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行。
应当理解的是，根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行可以是在当前曲线关系式与预设曲线关系式相似时，判定待检测模组与待检测平板平行；在当前曲线关系式与预设曲线关系式不相似时，判定待检测模组与待检测平板不平行。
在本实施例中，在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置，在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息，根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果，根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；相较于现有的通过经纬仪、高度尺或水平仪进行平行检测的方式，本发明中通过获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，根据当前投影图像选取目标参考点，并根据目标参考点确定当前曲线关系式，将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，根据比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行，克服了现有技术中无法准确判断待检测模组与待检测平板是否平行的缺陷，从而能够优化平行检测过程，以满足精确检测需求。
在一实施例中，所述比较模块40，还用于对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率，对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率，根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值，判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果，根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果；
在一实施例中，所述检测模块50，用于在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略，根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动，在所述待检测平板移动完成后，返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，直至所述待检测模组与所述待检测平板平行；
在一实施例中，所述选取模块20，用于查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息，根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；
在一实施例中，所述生成模块30，还用于根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标，根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式；
在一实施例中，所述获取模块10，还用于在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息，根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置，在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像；
在一实施例中，所述获取模块10，还用于在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源，在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
本发明所述平行检测装置的其他实施例或具体实现方式可参照上述各方法实施例，此处不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。词语第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序，可将这些词语解释为名称。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器镜像(Read Only Memory image，ROM)/随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种平行检测方法，其特征在于，所述平行检测方法包括以下步骤：
在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置；
在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；
根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式；
将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果；
根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；
所述将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果的步骤，具体包括：
对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率；
对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率；
根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值；
判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果；
根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。
2.如权利要求1所述的平行检测方法，其特征在于，所述根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行的步骤之后，所述平行检测方法还包括：
在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时，根据所述当前斜率差值确定当前移动策略；
根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动；
在所述待检测平板移动完成后，返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，直至所述待检测模组与所述待检测平板平行。
3.如权利要求1所述的平行检测方法，其特征在于，所述在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息的步骤，具体包括：
查找预设标准曲线关系式对应的标准参考点，并获取所述标准参考点的参考信息；
根据所述参考信息在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息。
4.如权利要求1所述的平行检测方法，其特征在于，所述根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式的步骤，具体包括：
根据所述当前位置信息确定所述目标参考点的当前坐标；
根据所述当前坐标通过预设曲线拟合模型生成所述目标参考点的当前曲线关系式。
5.如权利要求1-4中任一项所述的平行检测方法，其特征在于，所述在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，具体包括：
在接收到平行检测指令时，获取待检测模组的当前位置信息；
根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置，并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置；
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
6.如权利要求5所述的平行检测方法，其特征在于，所述在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤，具体包括：
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后，根据预设发光策略控制所述待检测模组运行，以使所述待检测模组产生检测光源；
在所述待检测模组产生所述检测光源时，获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
7.一种平行检测设备，其特征在于，所述平行检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的平行检测程序，所述平行检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的平行检测方法的步骤。
8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有平行检测程序，所述平行检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的平行检测方法的步骤。
9.一种平行检测装置，其特征在于，所述平行检测装置包括：获取模块、选取模块、生成模块、比较模块和检测模块；
所述获取模块，用于在接收到平行检测指令时，获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像，所述镂空标准件与待检测模组平行设置；
所述选取模块，用于在所述当前投影图像上选取目标参考点，并获取所述目标参考点的当前位置信息；
所述生成模块，用于根据所述当前位置信息生成所述目标参考点的当前曲线关系式；
所述比较模块，用于将所述当前曲线关系式与预设曲线关系式进行比较，获得比较结果；
所述检测模块，用于根据所述比较结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行；
所述比较模块，还用于对所述当前曲线关系式进行信息提取，获得当前曲线斜率；对预设标准曲线关系式进行信息提取，获得标准曲线斜率；根据所述当前曲线斜率以及所述标准曲线斜率确定当前斜率差值；判断所述当前斜率差值是否大于预设阈值，获得判断结果；根据所述判断结果生成所述当前曲线关系式与所述预设曲线关系式的比较结果。
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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