CN103515263A - 测试设备及测试方法 - Google Patents

测试设备及测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103515263A
CN103515263A CN201210198997.7A CN201210198997A CN103515263A CN 103515263 A CN103515263 A CN 103515263A CN 201210198997 A CN201210198997 A CN 201210198997A CN 103515263 A CN103515263 A CN 103515263A
Authority
CN
China
Prior art keywords
plug
test board
integrated test
transport part
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201210198997.7A
Other languages
English (en)
Inventor
林招庆
曹正中
蔡永昌
廖立涵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HEWEI TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
HEWEI TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HEWEI TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical HEWEI TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201210198997.7A priority Critical patent/CN103515263A/zh
Publication of CN103515263A publication Critical patent/CN103515263A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/20Sequence of activities consisting of a plurality of measurements, corrections, marking or sorting steps
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • B81C99/0035Testing
    • B81C99/005Test apparatus

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种测试设备及测试方法,该测试设备将一整合式测试板枢接一三维翻转装置,该整合式测试板具有测试区、储存部与第一插拔式传输部,并设置一具有第二插拔式传输部的控制装置,以通过该第二插拔式传输部插接该第一插拔式传输部,使该控制装置电性连接该整合式测试板。本发明通过插拔式传输部的设计,使该三维翻转装置作动时,该第一插拔式传输部与第二插拔式传输部间无任何电性连接,以提高该三维翻转装置旋转的速度与角度。

Description

测试设备及测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试设备,尤其是关于一种三维动态的测试设备及测试方法。
背景技术
目前半导体封装件的种类繁多,如:光电装置(opto electronic devices)或微机电系统(Micro Electro Mechanical Systems,MEMS)等,而该微机电系统的种类繁多,如影像传感组件、射频组件(RF circuits)、加速计(accelerators)、陀螺仪(gyroscopes)、微制动器(micro actuators)或压力传感器(process sensors)等。
随着半导体封装件的电性功能增加,半导体封装件的检测方式也越重要,以确保产品的良率。对于陀螺仪而言,除了一般线路测试的外,通常还会测试运动状态(如倾斜角度)的可靠度。一般用于测试陀螺仪的设备包含三维翻转装置,以提供各种方向运动状态的测试。然而,该三维翻转装置的作动空间很大,因而会有缠绕外围电线的问题,所以必须限制该三维翻转装置的作动路径以避开外围电线,致使某些方位角度无法测量。
因此,业界遂发展出一种避免缠绕外围电线的测试设备,可参考中国台湾专利第201128194号或如图1所示,现有测试设备1包括一三维翻转装置10、一承载台11、一第一控制装置12以及一第二控制装置13。该三维翻转装置10具有一架体100、连结该架体100的一第一轴件101与一第二轴件102,该第一轴件101与第二轴件102相互垂直,且该第一轴件101枢接该承载台11。该承载台11上设有一第一无线传输部110与多个测试座111,且该第一无线传输部110电性连接该些测试座111,以发射测试信息。该第一控制装置12可为一般笔记型计算机,其具有一第二无线传输部120与内存(图略),用以接收测试信息与储存信息,且该第一与第二无线传输部110、120可为一蓝牙传输模块、射频传输模块或其它等效的无线传输模块。该第二控制装置13设于该架体100上且具有电源模块130,该第二控制装置13用以控制该三维翻转装置10进行翻转、该些测试座111与该第一无线传输部110的信息传输控制、测试流程控制、数据的编码转码等相关检测控制。
由上可知,现有测试设备1是通过第一与第二无线传输部110、120的设计而达到完全无线化,以克服缠绕外围电线的问题,所以使该三维翻转装置10的旋转不受限,以提升测试的品质。
然而,于同时使用多台现有测试设备1时,各台设备的第一与第二无线传输部110、120的信号容易互相干扰,导致该第一控制装置12所接收的信息不正确。
此外,当该三维翻转装置10旋转时,该些测试座111与该第一无线传输部110会进行信息传输,若该三维翻转装置10的旋转速度过快或角度不适当,将影响信息传输的稳定性与正确性,所以该三维翻转装置10的旋转仍需维持一定范围的速度与角度,以致于无法进一步提高该三维翻转装置10的旋转速度与角度。
又,现有测试设备1中,该第二控制装置13设于该架体100上,所以容易遭外力碰撞而损坏。
另外,现有测试设备1中,该内存设于外部的计算机(即该第一控制装置12)中,若该计算机遗失或感染病毒,将导致整台测试设备1无法运作。
因此,如何克服上述现有技术中的种种问题,实已成目前亟欲解决的课题。
发明内容
为克服上述现有技术的问题,本发明的主要目的在于提供一种测试设备及测试方法,以提高该三维翻转装置旋转的速度与角度。
本发明的测试设备通过将所需的电子模块整合于一整合式测试板上,再将该整合式测试板枢接该三维翻转装置,该整合式测试板具有测试区、第一插拔式传输部、及电性连接该第一插拔式传输部的储存部,并设置一具有第二插拔式传输部的控制装置,以通过该第二插拔式传输部插接该第一插拔式传输部,使该控制装置电性连接该整合式测试板。
因此,利用本发明的测试设备进行测试,可得到一种测试方法,其包括:将测试件置放于该整合式测试板的测试区上;接着,翻转该三维翻转装置,且该整合式测试板量测该测试件,以储存量测所得的信息;之后,停止翻转该三维翻转装置;接着,将该控制装置的第二插拔式传输部插接于该第一插拔式传输部上,以令该控制装置获得量测所得的信息。
由上可知,本发明的测试设备及测试方法,通过该第一与第二插拔式传输部的设计,无需使用无线通讯设备,所以可避免现有控制装置接收不正确信息的问题。
此外,通过插拔式传输部的设计,使该三维翻转装置作动时,该第一与第二插拔式传输部间无任何电性连接,以提高该三维翻转装置的旋转速度与角度。
又,其所需的电子模块整合于该整合式测试板上,所以于该架体上可无任何电子模块,因而该电子模块不易遭外力碰撞而损坏。
另外,其将该储存部设于该整合式测试板中,所以使用者不需担心计算机遗失或感染病毒等现有技术的问题。
附图说明
图1为现有测试设备的立体示意图;以及
图2为本发明测试设备的立体示意图。
其中,附图标记说明如下:
1、2 测试设备;
10、20 三维翻转装置;
100、200 架体;
101、201 第一轴件;
102、202 第二轴件;
11 承载台;
110 第一无线传输部;
111、211a 测试座;
12 第一控制装置;
120 第二无线传输部;
13 第二控制装置;
130 电源模块;
21 整合式测试板;
210 第一插拔式传输部;
211 测试区;
212 电子模块;
22 控制装置;
22a、22b 传输线;
220 第二插拔式传输部;
23 取放装置;
3 测试件。
具体实施方式
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式,本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点及功效。
须知,本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供本领域技术人员了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,所以不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时,本说明书中所引用的如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”及“一”等用语,也仅为便于叙述的明了,而非用以限定本发明可实施的范围,其相对关系的改变或调整,在无实质变更技术内容下,当也视为本发明可实施的范畴。
请参阅图2,本发明提供一种测试设备2,其包括:一组三维翻转装置20、一枢接该三维翻转装置20的整合式测试板21、一插拔式电性连接该整合式测试板21的控制装置22、以及一电性连接该控制装置22的取放装置23。
所述的三维翻转装置20具有一架体200、连结该架体200的第一轴件201与第二轴件202,该第一轴件201与第二轴件202相互垂直,且该第一轴件201枢接该整合式测试板21。
所述的整合式测试板21具有至少一测试区211、一第一插拔式传输部210、多个电子模块212、及电性连接该第一插拔式传输部210且为多个电子模块212所用的储存部(设于该整合式测试板21内部,因而图未示),而该储存部为内存。
于本实施例中,该整合式测试板21具有相对的两表面,且该测试区211设于该整合式测试板21的至少一表面上,并于该测试区211上具有多个测试座(multi-site socket)211a,以同时承载多个测试件3。
此外,该第一插拔式传输部210外露于该整合式测试板21表面。
又,该电子模块212可为旋转角度自我检测模块(on-board self-calibratemodule)、电源供应模块、嵌入式自动化测试模块(embedded on-boardautomatic test equipment)、动态信号连结(Dynamic Ducking)模块、内存。其中,该旋转角度自我检测模块用以确认自动化机械(如三维翻转装置20)旋转角度无误;该嵌入式自动化测试模块将测试所需的模块嵌入该整合式测试板21中,例如:电源供应模块、DC电性量测模块、功能测试模块、多任务器(MUX)模块、继电器(Relay)模块、微控制器(MCU)模块等;该动态信号连结模块电性连接该第一插拔式传输部210。
所述的控制装置22具有对应该第一插拔式传输部210的第二插拔式传输部220,以通过该第二插拔式传输部220插接该第一插拔式传输部210,使该控制装置22电性连接该整合式测试板21。
于本实施例中,该控制装置22可为PLC系统,且通过该动态信号连结模块依据测试内容的需求,动态调整该自动化测试模块与该控制装置22之间的信号传输线22a的连结与解除连结,也就是该第一与第二插拔式传输部210,220之间的连结与分离。
再者,该第一插拔式传输部210具有插口,而该第二插拔式传输部220则具有插头。于另一实施例中,也可为该第一插拔式传输部210具有插头,而该第二插拔式传输部220具有插口。
所述的取放装置23为机械手臂,且以另一传输线22b电性连接该控制装置22。有关取放装置23的种类繁多,并无特别限制。
本发明还提供一种测试方法,其应用所述的测试设备2测量如陀螺仪的测试件3,其流程如下所述。
首先,将多个测试件3置放于该整合式测试板21的测试区211上;此时,该第一与第二插拔式传输部210,220为相互分离。
接着,该三维翻转装置20通过第一轴件201与第二轴件202进行前、后、左、右、上、下方向的翻转(如图2所示的旋转箭头),且该整合式测试板21量测该些测试件3,以储存量测所得的信息于该储存部中。
接着,当测试结束后,停止翻转该三维翻转装置20,再将该控制装置22的第二插拔式传输部220以自动化控制方式插接于该第一插拔式传输部210上,令该控制装置22获得量测所得的信息。实际上,当测试结束后,可不需立即将该第二插拔式传输部220插接该第一插拔式传输部210,也就是可依工艺需求,控管插接的时程。
最后,该动态信号连结模块分析该量测信息,以令该控制装置22操作该取放装置23取出该测试区211上的测试件3。实际上,是将良好的测试件3取至下一阶段的工艺,而将不良的测试件3取至一收集区(图略),借以控管产品的品质。
综上所述,本发明测试设备2及其测试方法,主要通过第一与第二插拔式传输部210,220的设计,而非现有无线传输的设计,所以于同时使用多台测试设备2时,各台设备的传输部的信号不会互相干扰,因而该控制装置22不会接收错误讯息。
此外,通过插拔式传输部的设计,当该三维翻转装置20作动时,该第一与第二插拔式传输部210,220间无任何电性连接,也就是不需进行信息传输,所以该三维翻转装置20的旋转不会影响信息传输的稳定性与正确性,因而本发明能提高该三维翻转装置20的旋转速度与角度,使该三维翻转装置20的作动不受限。
又,其所需的电子模块212整合于该整合式测试板21上,所以于该架体200上无任何电子组件,因而该些电子模块212不易遭外力碰撞而损坏,特别是该些嵌入式自动化测试模块更不易遭外力碰撞。
另外,本发明的测试设备2通过将该储存部(如内存)设于该整合式测试板21中,因而不需使用外部的计算机,所以使用者不需担心计算机遗失或感染病毒等现有技术的问题,因而有效避免整台测试设备2因控制装置22故障而无法运作的问题。也就是,当该控制装置22故障后,本发明的测试设备2仍可先进行测试,将测试后的数据储存于该储存部中,待该控制装置22更新或修复后,再将该第一与第二插拔式传输部210,220连结以作传输。因此,本发明的测试设备2可一面进行测试作业,一面进行该控制装置22的更新或修复,以节省工艺时间。
上述实施例仅用以例示性说明本发明的原理及其功效,而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下,对上述实施例进行修改。因此本发明的权利保护范围,应如权利要求书所列。

Claims (8)

1.一种测试设备,其包括:
三维翻转装置;
整合式测试板,其枢接该三维翻转装置,且具有测试区、第一插拔式传输部及电性连接该第一插拔式传输部的储存部;以及
控制装置,其具有第二插拔式传输部,以通过该第二插拔式传输部插接该第一插拔式传输部,使该控制装置电性连接该整合式测试板。
2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,该三维翻转装置具有架体、连结该架体的第一轴件与第二轴件,该第一轴件与第二轴件相互垂直,且该第一轴件枢接该整合式测试板。
3.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,该整合式测试板具有相对的两表面,且该测试区设于该整合式测试板的至少一表面上。
4.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,该整合式测试板还具有旋转角度自我检测模块、电源供应模块、嵌入式自动化测试模块以及动态信号连结模块。
5.一种测试方法,其包括:
提供一测试设备,其包含控制装置、三维翻转装置以及枢接该三维翻转装置的整合式测试板,该整合式测试板具有测试区、第一插拔式传输部、及电性连接该第一插拔式传输部的储存部,且该控制装置具有第二插拔式传输部;
将测试件置放于该整合式测试板的测试区上;
翻转该三维翻转装置,以令该整合式测试板量测该测试件,且通过该储存部储存量测所得的信息;
停止翻转该三维翻转装置;以及
将该控制装置的第二插拔式传输部插接于该第一插拔式传输部上,以令该控制装置获得量测所得的信息。
6.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,该三维翻转装置具有架体、连结该架体的第一轴件与第二轴件,该第一轴件与第二轴件相互垂直,且该第一轴件枢接该整合式测试板。
7.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,该整合式测试板具有相对的两表面,且该测试区设于该整合式测试板的至少一表面上。
8.根据权利要求5所述的测试方法,其特征在于,该整合式测试板还具有旋转角度自我检测模块、电源供应模块、嵌入式自动化测试模块以及动态信号连结模块。
CN201210198997.7A 2012-06-15 2012-06-15 测试设备及测试方法 Pending CN103515263A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210198997.7A CN103515263A (zh) 2012-06-15 2012-06-15 测试设备及测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210198997.7A CN103515263A (zh) 2012-06-15 2012-06-15 测试设备及测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103515263A true CN103515263A (zh) 2014-01-15

Family

ID=49897771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210198997.7A Pending CN103515263A (zh) 2012-06-15 2012-06-15 测试设备及测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103515263A (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104535799A (zh) * 2014-12-29 2015-04-22 杭州士兰微电子股份有限公司 用于惯性传感器的测试装置及方法
CN106767903A (zh) * 2016-11-29 2017-05-31 中国直升机设计研究所 一种试验夹具

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201128194A (en) * 2010-02-12 2011-08-16 King Yuan Electronics Co Ltd Rotary three-dimensional dynamic testing equipment
CN102193005A (zh) * 2010-03-03 2011-09-21 京元电子股份有限公司 直线往复式三维动态测试设备
CN202126416U (zh) * 2011-06-17 2012-01-25 上海现代科技发展有限公司 高精密透视成像检测设备

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201128194A (en) * 2010-02-12 2011-08-16 King Yuan Electronics Co Ltd Rotary three-dimensional dynamic testing equipment
CN102193005A (zh) * 2010-03-03 2011-09-21 京元电子股份有限公司 直线往复式三维动态测试设备
CN202126416U (zh) * 2011-06-17 2012-01-25 上海现代科技发展有限公司 高精密透视成像检测设备

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104535799A (zh) * 2014-12-29 2015-04-22 杭州士兰微电子股份有限公司 用于惯性传感器的测试装置及方法
CN106767903A (zh) * 2016-11-29 2017-05-31 中国直升机设计研究所 一种试验夹具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9052201B2 (en) Calibration system for simultaneous calibration of multiple motion capture elements
CN101339471B (zh) 输入设备、控制设备、控制系统以及控制方法
CN105900039B (zh) 为多个存储器技术提供平台支持的设备、系统和方法
CN105324219A (zh) 用于外围设备的快速连接的模块化可重新构造的工作单元
CN102968377A (zh) 一种基于虚拟机技术的机载软件系统测试通用平台
CN108115686B (zh) 一种模块化装置的构建提示方法及系统
US20210181288A1 (en) Test apparatus which tests semiconductor chips
JP6065417B2 (ja) センサーユニット並びに電子機器および運動体
CN105067846A (zh) 一种bga封装芯片的测试夹具
CN103515263A (zh) 测试设备及测试方法
JP2013253939A5 (zh)
EP2842131B1 (en) Calibration system for simultaneous calibration of multiple motion capture elements
CN203643181U (zh) 一种自动测试设备
CN201491271U (zh) 一种三维空间定位移动通信终端
CN102692525A (zh) Pci卡辅助测试装置
CN104112480A (zh) 用于测试半导体装置的设备和方法
CN217133316U (zh) 芯片测试工具及芯片测试装置
CN102262399A (zh) 机台运动控制系统
TWI470231B (zh) Test equipment and test methods
CN205210259U (zh) 一种eMMC测试电路
CN203037681U (zh) 用于辅助信号眼图量测的夹具装置
CN102692526A (zh) 辅助测试装置
CN203232412U (zh) 同步高精度动态信号数据采集功能卡
CN203190969U (zh) 一种用于测量作业平台倾斜角度的传感装置
CN102253878B (zh) Sas接口输出信号侦测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20140115