CN103455397A - 一种系统自检的方法、设备及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明的实施例公开一种系统自检的方法、设备及系统，涉及通信应用技术，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及系统自检过程中可靠性低的问题。该方法包括：系统自检的设备发送内存测试请求至管理设备；接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息；通过解析所述内存测试信息获取内存测试参数，所述内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。本发明的实施例应用于服务器上电自检。
Description
技术领域
本发明涉及通信应用技术，尤其涉及一种系统自检的方法、设备及系统。
背景技术
在现有服务器接通电源后，服务器的系统将进行一个自我检查的例行程序。这个过程通常称为POST上电自检（Power On Self Test）。其中POST上电自检将对系统中所有的硬件进行检测。这里POST上电自检过程主要由基本输入输出系统BIOS（Basic Input Output System）来完成，其中POST主要完成以下的任务：a、验证中央处理器CPU（Central Processing Unit）寄存器；b、验证BIOS本身的完整性，初始化BIOS；c、验证你的功能，例如直接内存存取DMA（Direct MemoryAccess）、定时器、中断控制器；d、发现、识别内存大小，验证内存；e、提供个结构对系统进行配置。以上主要为BIOS的基本功能，随着BIOS的发展，POST还具有如下功能：f、发现、初始化、以及美剧所有系统总线和设备；g、提供结构对系统进行配置；h、构建目标操作系统OS（Operating System）需要的系统环境。
在现有的POST上电自检过程中，服务器设备在上电后会首先读取BIOS的配置信息，并根据配置信息确定是否需要进行开机自检，若需要开机自检则会执行一次完整的内存测试流程；若没有配置信息，则系统不会进行内存测试，然后会调用引导加载器BootLoader加载相应的OS。
发明人发现现有技术中至少存在如下问题：在现有技术中系统开启自检由于需要进行完整的内存遍历，从而由于数据量较大启动自检的过程会很长，进而影响了系统整体的响应时间，并且在自检的过程中由于要进行完整的内存遍历，内存测试太过盲目性会存在漏测的问题，进而导致系统自检不精确。
发明内容
本发明的实施例提供一种系统自检的方法、设备及系统，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及系统自检过程中可靠性低的问题。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
第一方面，提供一种系统自检的方法，包括：
系统自检的设备发送内存测试请求至管理设备；
接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息；
通过解析所述内存测试信息获取内存测试参数，所述内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；
根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
结合第一方面，在第一种可能的实现方式中具体包括，所述发送内存测试请求至管理设备之前，还包括：
根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检，所述配置信息包含是否第一次上电自检信息；
若所述系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送所述内存测试请求至所述管理设备；
或者，
若所述系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
结合第一方面或第一方面中的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中具体包括，所述根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测，包括：
若所述内存测试信息包含所述内存测试参数，则根据所述内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应所述内存测试目标的内存测试策略信息；
根据所述内存测试策略信息对所述内存测试目标进行检测；
或者，
若所述内存测试信息不包含所述内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
结合第一方面或第一方面中第一种可能的实现方式或第一方面中第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中具体包括，所述根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测，还包括：
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至所述管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
结合第一方面，在第四种可能的实现方式中具体包括，所述发送内存测试请求至管理设备，还包括：
将所述内存测试请求发送至所述管理设备的功能管理接口。
结合第一方面或第一方面中的第四种可能的实现方式，在第五种可能的实现方式中具体包括，所述接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息，还包括：
接收所述管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
结合第一方面，在第六种可能的实现方式中具体包括，所述内存测试策略信息包括：所述内存检测的优先级，所述内存检测的次数以及所述内存检测超时时间。
第二方面，提供一种系统自检的方法，包括：
管理设备接收系统自检的设备发送的内存测试请求；
根据所述内存测试请求获取内存测试信息；
将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备，以便于所述系统自检的设备根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
结合第二方面，在第一种可能的实现方式中具体包括，所述根据所述内存测试请求获取内存测试信息，包括：
根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志，所述日志用于记录所述内存运行的状态信息，其中所述状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息；
根据所述内存访问策略分析所述日志生成内存测试信息。
结合第二方面或第二方面中第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中具体包括，所述将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备之后，还包括：
若所述系统自检的设备根据所述内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则接收所述系统自检的设备发送的故障信息，并将所述故障信息添加至日志。
结合第二方面，在第三种可能的实现方式中具体包括，所述接收系统自检的设备发送的内存测试请求，还包括：
通过功能管理接口接收所述系统自检的设备发送的所述内存测试请求。
结合第二方面或第二方面中的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中具体包括，所述将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备，还包括：
通过功能管理接口发送所述内存测试信息至所述系统自检的设备。
第三方面，提供一种系统自检的设备，包括：
通信单元，用于发送内存测试请求至管理设备；
所述通信单元，还用于接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息；
解析单元，用于通过解析所述通信单元接收的所述内存测试信息获取内存测试参数，所述内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；
检测单元，用于根据所述解析单元获取的所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
结合第三方面，在第一种可能的实现方式中具体包括，所述系统自检的设备还包括：
判断单元，用于在发送内存测试请求至管理设备之前，根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检，所述配置信息包含是否第一次上电自检信息；
所述判断单元，还用于若所述系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送所述内存测试请求至所述管理设备；
或者，
所述判断单元，还用于若所述系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
结合第三方面或第三方面中的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中具体包括，所述解析单元，具体用于：
若所述内存测试信息包含所述内存测试参数，则根据所述内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应所述内存测试目标的内存测试策略信息；
根据所述内存测试策略信息对所述内存测试目标进行检测；
或者，
若所述内存测试信息不包含所述内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
结合第三方面或第三方面中第一种可能的实现方式或第三方面中第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中具体包括，所述检测设备，具体用于：
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至所述管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
结合第三方面，在第四种可能的实现方式中具体包括，所述通信单元，还用于将所述内存测试请求发送至所述管理设备的功能管理接口。
结合第三方面或第三方面中的第四种可能的实现方式，在第五种可能的实现方式中具体包括，所述通信单元，还用于接收所述管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
结合第三方面，在第六种可能的实现方式中具体包括，所述内存测试策略信息包括：所述内存检测的优先级，所述内存检测的次数以及所述内存检测超时时间。
第四方面，提供一种管理设备，包括：
通信单元，用于接收系统自检的设备发送的内存测试请求；
获取单元，用于根据所述通信单元接收的所述内存测试请求获取内存测试信息；
所述通信单元，还用于将所述获取单元获取的所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备，以便于所述系统自检的设备根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
结合第四方面，在第一种可能的实现方式中具体包括，所述获取单元，具体用于：
根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志，所述日志用于记录所述内存运行的状态信息，其中所述状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息；
根据所述内存访问策略分析所述日志生成内存测试信息。
结合第四方面或第四方面中第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中具体包括，所述通信单元还用于：在将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备之后，若所述系统自检的设备根据所述内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则接收所述系统自检的设备发送的故障信息，并将所述故障信息添加至日志。
结合第四方面，在第三种可能的实现方式中具体包括，所述通信单元，还用于通过功能管理接口接收所述系统自检的设备发送的所述内存测试请求。
结合第四方面或第四方面中的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中具体包括，所述通信单元，还用于通过功能管理接口发送所述内存测试信息至所述系统自检的设备。
第五方面，提供一种操作系统，包括：系统自检的设备和管理设备，其中，
所述系统自检的设备为第三方面或第三方面中的任一种可能的实现方式包括的系统自检设备；
所述管理设备为第四方面或第四方面中的任一种可能的实现方式包括的管理设备。
本发明实施例提供的系统自检的方法、设备及系统，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及系统自检过程中可靠性低的问题。
附图说明
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
图1为本发明的实施例提供的一种系统自检的方法的流程示意图；
图2为本发明的实施例提供的另一种系统自检的方法的流程示意图；
图3为本发明的实施例提供的又一种系统自检的方法的流程示意图；
图4为本发明的实施例提供的再一种系统自检的方法的流程示意图；
图5为本发明的实施例提供的一种系统自检的设备的结构示意图；
图6为本发明的实施例提供的另一种系统自检的设备的结构示意图；
图7为本发明的实施例提供的一种管理设备的结构示意图；
图8为本发明的另一实施例提供的一种系统自检的设备的结构示意图；
图9为本发明的另一实施例提供的一种管理设备的结构示意图；
图10为本发明实施例提供的一种设备上电自检的系统的结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
本发明实施例提供一种系统自检的方法，参照图1所示，系统自检的设备侧，具体包括：
101、系统自检的设备发送内存测试请求至管理设备。
这里在系统上电自检时，通过发送内存测试请求调用管理软件，使得通过管理软件根据该内存测试请求获取对应的内存测试信息，进而通过内存测试信息针对发生故障的位置进行对应的检测。其中，管理软件可以以管理设备为操作系统中的实施载体为例进行说明，具体不做限定。
102、系统自检的设备接收管理设备根据该内存测试请求生成的内存测试信息。
其中，内存测试信息包括故障检测发生的内存测试位置及对应内存测试位置的处理策略。
103、系统自检的设备通过解析内存测试信息获取内存测试参数。
这里系统自检的设备根据获取到的内存测试信息进行解析获取内存测试参数，该内存测试参数包括：内存测试目标和/或内存测试策略信息，其中，内存测试策略信息包括：内存测试的优先级，内存测试的次数以及内存测试超时时间。
具体的，系统自检的设备通过解析内存测试信息获取的内存测试参数可以为：故障位置中的每个综合测试与维护（系统）信息ITEM（Integrated Test and Maintenance(system)）以及内存测试策略信息，其中ITEM包括：套接字ID Socket ID，内存控制器ID Memory ControllerID，内存缓存器ID Memory Buff ID以及双列直插式存储模块IDDIMM ID，序列ID Rank ID。内存测试策略信息包括：内存测试优先级、内存测试次数以及内存测试超时时间。
104、系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
其中，若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至管理软件，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
这里当系统自检的设备发起的内存检测失败时，将故障信息发送至管理软件，使得管理软件根据本次测试发生的故障信息添加至日志中，以便系统自检的设备再次上电自检时根据该日志中记录的故障信息在对应的故障位置进行检测，进而缩短系统上电自检的时间，从而提高了系统上电自检的效率。
或者，
若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作操作；
或者，
若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
这里系统自检的设备根据该内存测试参数针对系统中发生故障的内存位置进行内存检测，缩短了系统上电自检的时间，提高了系统上电自检的效率。
本发明实施例提供一种系统自检的方法，参照图2所示，管理设备侧，具体包括：
201、管理设备接收系统自检的设备发送的内存测试请求。
202、管理设备根据该内存测试请求获取内存测试信息。
其中，内存测试信息包括故障检测发生的内存测试位置及对应内存测试位置的处理策略。
具体的，管理设备根据该内存测试请求获取内存测试信息具体如下所述：
在管理软件提供内存测试策略设置接口，用户可以对内存自检测试策略进行设置，管理软件收到内存测试请求后，首先启动内存故障分析引擎，其中管理软件中添加有内存故障分析引擎，该内存故障分析引擎至少包括内存测试位置以及内存测试策略的内容解析，其中，管理软件可以以管理设备为操作系统中的实施载体为例进行说明，具体不做限定。
a、内存故障分析引擎筛选与内存访问信息相关的日志，该日志包括：高速缓冲存储器信息Cache,内存控制器信息Memory Controller,内存缓存器信息Memory Buffer,双列直插式存储模块信息DIMM以及序列信息Rank。
这里内存故障分析引擎根据用户设定策略进行日志筛选，其中用户设定策略包括：根据时间顺序筛选与内存访问信息相关的日志，或根据内存测试时的内存故障级别记录筛选对应的日志。
本发明中用户的设定策略仅以根据时间顺序筛选与内存访问信息相关的日志，或根据内存测试时的内存故障级别记录筛选对应的日志为例进行说明，不作具体限定。
b、结合用户设定策略分析该日志。
c、根据分析该日志得到内存故障信息，并根据该内存故障信息生成内存测试参数，其中内存测试参数包括：内存测试目标和/或内存测试策略信息。
具体的，内存测试参数可以为：故障位置中的每个综合测试与维护（系统）信息ITEM（Integrated Test and Maintenance(system)）以及内存测试策略信息，其中ITEM包括：套接字ID Socket ID，内存控制器ID Memory Controller ID，内存缓存器ID Memory Buff ID以及双列直插式存储模块ID DIMM ID，序列ID Rank ID。内存测试策略信息包括：内存测试优先级、内存测试次数以及内存测试超时时间。
203、管理设备将内存测试信息发送至系统自检的设备，以便于系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
本发明实施例提供的系统自检的方法，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
具体的，以下结合具体的实施例进行说明。
可以在图1或图2的实施例的基础上，参照图3所示，本发明实施例提供了一种系统自检的方法，参照图3所示，为系统自检的设备根据内存测试请求调用管理软件完成系统上电自检的过程，具体步骤如下：
301、系统自检的设备根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检。
其中，配置信息包含是否第一次上电自检信息。
这里系统自检的设备上电，从闪存Flash中读取配置信息，判断当前系统自检的设备是否第一次上电。
其中，若系统自检的设备是第一次上电自检则执行步骤303，或者若系统自检的设备不是第一次上电自检则执行步骤302。
302、若系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送内存测试请求至管理设备。
或者，
303、若系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
这里若系统自检的设备不是第一次上电自检，则将内存测试功能的参数位置设置为全部，内存测试策略信息设置为第一次上电策略，即操作系统进行全遍历内存测试。
304、系统自检的设备发送内存测试请求至管理设备。
这里若系统自检的设备不是第一次上电自检，则根据步骤302所述根据内存测试请求调用管理软件，其中，管理软件可以以管理设备为操作系统中的实施载体为例进行说明，具体不做限定。
305、管理设备接收系统自检的设备发送的内存测试请求。
306、管理设备根据该内存测试请求获取内存测试信息。
其中，内存测试信息包括故障检测发生的内存测试位置及对应内存测试位置的处理策略。
具体的，管理软件根据该内存测试请求获取内存测试信息，包括：
在管理软件提供内存测试策略设置接口，用户可以对内存自检测试策略进行设置，管理软件收到内存测试请求后，首先启动内存故障分析引擎，其中管理软件中添加有内存故障分析引擎，该内存故障分析引擎至少包括内存测试位置以及内存测试策略的内容解析。
a、管理软件根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志。
这里日志用于记录内存运行的状态信息，其中状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息。
具体的，该日志中的状态信息可以为：高速缓冲存储器信息Cache,内存控制器信息Memory Controller,内存缓存器信息Memory Buffer,双列直插式存储模块信息DIMM以及序列信息Rank。
b、管理软件根据内存访问策略分析日志生成内存测试信息。
具体的，内存测试信息中：故障位置中的每个综合测试与维护（系统）信息ITEM（Integrated Test and Maintenance(system)）以及内存测试策略信息，其中ITEM包括：套接字ID Socket ID，内存控制器IDMemory Controller ID，内存缓存器ID Memory Buff ID以及双列直插式存储模块ID DIMM ID，序列ID Rank ID。内存测试策略信息包括：内存测试优先级、内存测试次数以及内存测试超时时间。
307、管理设备将该内存测试信息发送至系统自检的设备。
308、系统自检的设备接收管理设备根据内存测试请求生成的内存测试信息。
309、系统自检的设备通过解析该内存测试信息获取内存测试参数。
这里系统自检的设备根据获取到的内存测试信息进行解析获取内存测试参数，该内存测试参数包括：内存测试目标和/或内存测试策略信息，其中，内存测试策略信息包括：内存测试的优先级，内存测试的次数以及内存测试超时时间。
具体的，系统自检的设备内增加一个内存测试解析器，该内存测试解析器用于解析内存测试信息，其中至少包含有待测的内存测试位置信息和/或内存测试策略信息，该通过解析内存测试信息获取的内存测试参数可以为：故障位置中的每个综合测试与维护（系统）信息ITEM（Integrated Test and Maintenance(system)）以及内存测试策略信息，其中ITEM包括：套接字ID Socket ID，内存控制器ID Memory ControllerID，内存缓存器ID Memory Buff ID以及双列直插式存储模块IDDIMM ID，序列ID Rank ID。内存测试策略信息包括：内存测试优先级、内存测试次数以及内存测试超时时间。
具体的，系统自检的设备通过解析该内存测试信息获取内存测试参数，包括：
309a、若内存测试信息包含内存测试参数，则根据内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应内存测试目标的内存测试策略信息。
309b、系统自检的设备根据内存测试策略信息对内存测试目标进行检测。
这里系统自检的设备在内存测试程序中添加内存测试参数，即内存测试位置以及对应的内存测试策略，根据添加的内存测试参数将对应的内存测试位置进行检测，若检测成功则启动系统；若不成功则不启动系统，并向用户发出告警提示信息。
或者，
309c、若内存测试信息不包含内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
这里若内存测试信息中不包含内存测试参数，则该系统内部没有或未发现故障位置，能够直接调用引导加载器BootLoader加载启动操作系统。
310、系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
其中，在系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测中，以以下三种情况为例进行说明：
a、若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
这里当系统自检的设备发起的内存检测失败时，将故障信息发送至管理软件，使得管理软件根据本次测试发生的故障信息添加至日志中，以便系统再次上电自检时根据该日志中记录的故障信息在对应的故障位置进行检测，进而缩短系统上电自检的时间，从而提高了系统上电自检的效率。
其中，对应情况a、若系统根据内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则管理软件接收系统发送的故障信息，并将故障信息添加至日志。
或者，
b、若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
c、若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
这里系统根据该内存测试参数针对系统中发生故障的内存位置进行内存检测，缩短了操作系统上电自检的时间，提高了操作系统上电自检的效率。
本发明实施例提供的系统自检的方法，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
可以在图1或图2的实施例的基础上，参照图4所示，本发明实施例提供了一种系统自检的方法，参照图4所示，为系统自检的设备通过管理设备的功能管理接口接收根据内存测试请求生成的内存测试信息的过程。具体步骤如下：
401、系统自检的设备根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检。
其中，配置信息包含是否第一次上电自检信息。
这里系统自检的设备上电，从闪存Flash中读取配置信息，判断当前系统自检的设备是否第一次上电。
其中，若系统自检的设备是第一次上电自检则执行步骤403，或者若系统自检的设备不是第一次上电自检则执行步骤402。
402、若系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送内存测试请求至管理设备。
或者，
403、若系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
这里若系统自检的设备不是第一次上电自检，则将内存测试功能的参数位置设置为全部，内存测试策略信息设置为第一次上电策略，即操作系统进行全遍历内存测试。
404、系统自检的设备将内存测试请求发送至管理设备的功能管理接口。
405、管理设备通过功能管理接口接收系统自检的设备发送的内存测试请求。
406、管理设备根据该内存测试请求获取内存测试信息。
其中，内存测试信息包括故障检测发生的内存测试位置及对应内存测试位置的处理策略。
具体的，管理软件根据该内存测试请求获取内存测试信息，包括：
在管理软件提供内存测试策略设置接口，用户可以对内存自检测试策略进行设置，管理软件收到内存测试请求后，首先启动内存故障分析引擎，其中管理软件中添加有内存故障分析引擎，该内存故障分析引擎至少包括内存测试位置以及内存测试策略的内容解析。
a、管理软件根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志。
这里日志用于记录内存运行的状态信息，其中状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息。
具体的，该日志中的状态信息可以为：高速缓冲存储器信息Cache,内存控制器信息Memory Controller,内存缓存器信息Memory Buffer,双列直插式存储模块信息DIMM以及序列信息Rank。
b、管理软件根据内存访问策略分析日志生成内存测试信息。
具体的，内存测试信息中：故障位置中的每个综合测试与维护（系统）信息ITEM（Integrated Test and Maintenance(system)）以及内存测试策略信息，其中ITEM包括：套接字ID Socket ID，内存控制器IDMemory Controller ID，内存缓存器ID Memory Buff ID以及双列直插式存储模块ID DIMM ID，序列ID Rank ID。内存测试策略信息包括：内存测试优先级、内存测试次数以及内存测试超时时间。
407、管理设备将该内存测试信息发送至系统自检的设备。
408、系统通过功能管理接口获取该管理软件反馈的内存测试信息。
409、系统自检的设备接收管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
具体的，系统自检的设备内增加一个内存测试解析器，该内存测试解析器用于解析内存测试信息，其中至少包含有待测的内存测试位置信息和/或内存测试策略信息，该通过解析内存测试信息获取的内存测试参数可以为：故障位置中的每个综合测试与维护（系统）信息ITEM（Integrated Test and Maintenance(system)）以及内存测试策略信息，其中ITEM包括：套接字ID Socket ID，内存控制器ID Memory ControllerID，内存缓存器ID Memory Buff ID以及双列直插式存储模块IDDIMM ID，序列ID Rank ID。内存测试策略信息包括：内存测试优先级、内存测试次数以及内存测试超时时间。
这里系统在内存测试程序中添加内存测试参数，即内存测试位置以及对应的内存测试策略，根据添加的内存测试参数将对应的内存测试位置进行检测。其中，内存测试通过增加内存测试参数，将输入待测试内存位置信息和内存测试策略位置信息，启动内存测试程序进行针对性测试。
410、系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
其中，在系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测中，以以下三种情况为例进行说明：
a、若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
这里当系统自检的设备发起的内存检测失败时，将故障信息发送至管理软件，使得管理软件根据本次测试发生的故障信息添加至日志中，以便系统再次上电自检时根据该日志中记录的故障信息在对应的故障位置进行检测，进而缩短系统上电自检的时间，从而提高了系统上电自检的效率。
其中，对应情况a、若系统根据内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则管理软件接收系统发送的故障信息，并将故障信息添加至日志。
或者，
b、若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
c、若系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
这里系统根据该内存测试参数针对系统中发生故障的内存位置进行内存检测，缩短了操作系统上电自检的时间，提高了操作系统上电自检的效率。
本发明实施例提供的系统自检的方法，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
本发明提供的实施例不仅适用于服务器领域，还可以应用于个人PC领域以及嵌入式设备中，本发明仅以适用于服务器领域为例进行说明，不作具体限定。
本发明实施例提供一种系统自检的设备5，该系统自检的设备可以为通信系统中的任一种服务器，以可以实现本发明的实施例所提供的上述任一系统自检的方法为准，参照图5所示，包括：
通信单元51，用于发送内存测试请求至管理设备；
通信单元51，还用于接收管理设备根据该内存测试请求生成的内存测试信息；
解析单元52，用于通过解析通信单元接收的内存测试信息获取内存测试参数，该内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；
检测单元53，用于根据解析单元获取的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
本发明实施例提供的系统自检的设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
可选的，系统自检的设备5，参照图6所示，还包括：
判断单元54，用于在发送内存测试请求至管理设备之前，根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检，该配置信息包含是否第一次上电自检信息；
判断单元54，还用于若系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送内存测试请求至管理设备；
或者，
判断单元54，还用于若系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
可选的，解析单元53，具体用于：
若内存测试信息包含内存测试参数，则根据内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应内存测试目标的内存测试策略信息；
根据内存测试策略信息对内存测试目标进行检测；
或者，
若内存测试信息不包含内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
可选的，检测设备54，具体用于：
若根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
或者，
若根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
若根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
可选的，通信单元51，还用于将内存测试请求发送至管理设备的功能管理接口。
进一步，可选的，通信单元51，还用于接收管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
可选的，内存测试策略信息包括：内存检测的优先级，内存检测的次数以及内存检测超时时间。
本发明实施例提供的系统自检的设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
本发明实施例提供一种管理设备6，可以实现本发明的实施例所提供的上述任一系统自检的方法为准，参照图7所示，包括：
通信单元61，用于接收系统自检的设备发送的内存测试请求；
获取单元62，用于根据通信单元接收的内存测试请求获取内存测试信息；
通信单元61，还用于将获取单元获取的内存测试信息发送至系统自检的设备，以便于系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
本发明实施例提供的管理设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
可选的，获取单元62，具体用于：
根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志，该日志用于记录内存运行的状态信息，其中状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息；
根据内存访问策略分析日志生成内存测试信息。
可选的，通信单元61还用于：在将内存测试信息发送至系统自检的设备之后，若系统自检的设备根据内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则接收系统自检的设备发送的故障信息，并将故障信息添加至日志。
可选的，通信单元61，还用于通过功能管理接口接收系统自检的设备发送的内存测试请求。
进一步，可选的，通信单元61，还用于通过功能管理接口发送内存测试信息至系统自检的设备。
其中，管理软件可以以管理设备为系统中的实施载体为例进行说明，具体不做限定。
本发明实施例提供的管理设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
本发明的实施例提供一种系统自检的设备7，参照图8所示，该系统自检的设备7包括：至少一个处理器71、存储器72、通信接口73和总线74，该至少一个处理器71、存储器72和通信接口73通过总线74连接并完成相互间的通信。
该总线74可以是工业标准体系结构（Industry StandardArchitecture，简称为ISA）总线、外部设备互连（Peripheral Component，简称为PCI）总线或扩展工业标准体系结构（Extended Industry StandardArchitecture，简称为EISA）总线等。该总线74可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图8中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。其中：
存储器72用于存储可执行程序代码，该程序代码包括计算机操作指令。存储器72可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器（non-volatile memory），例如至少一个磁盘存储器。
处理器71可能是一个中央处理器（Central Processing Unit，简称为CPU），或者是特定集成电路（Application Specific Integrated Circuit，简称为ASIC），或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。
通信接口73，主要用于实现本实施例中的装置之间的通信。
其中，处理器71，用于通过至少一个通信接口73发送内存测试请求至管理设备；
处理器71，还用于通过至少一个通信接口73接收管理设备根据该内存测试请求生成的内存测试信息；
处理器71，还用于通过内存测试信息获取内存测试参数，该内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；
处理器71，用于根据该内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
本发明实施例提供的系统自检的设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
可选的，处理器71，还用于在通过至少一个通信接口73发送内存测试请求至管理设备之前，根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检，该配置信息包含是否第一次上电自检信息；
处理器71，还用于若系统自检的设备不是第一次上电自检，则通过至少一个通信接口73发送内存测试请求至管理设备；
或者，
处理器71，还用于若系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
可选的，处理器71，具体还用于：
若内存测试信息包含内存测试参数，则根据内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应内存测试目标的内存测试策略信息；
根据内存测试策略信息对内存测试目标进行检测；
或者，
若内存测试信息不包含内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
可选的，处理器71，具体用于：
若根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
或者，
若根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
若根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
可选的，处理器71，还用于将内存测试请求通过至少一个通信接口73发送至管理设备的功能管理接口。
进一步，可选的，处理器71，还用于通过至少一个通信接口73接收管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
可选的，内存测试策略信息包括：内存检测的优先级，内存检测的次数以及内存检测超时时间。
本发明实施例提供的系统自检的设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
本发明的实施例提供一种管理设备8，参照图9所示，该管理设备8包括：至少一个处理器81、存储器82、通信接口83和总线84，该至少一个处理器81、存储器82和通信接口83通过总线84连接并完成相互间的通信。
该总线84可以是工业标准体系结构（Industry StandardArchitecture，简称为ISA）总线、外部设备互连（Peripheral Component，简称为PCI）总线或扩展工业标准体系结构（Extended Industry StandardArchitecture，简称为EISA）总线等。该总线84可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图9中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。其中：
存储器82用于存储可执行程序代码，该程序代码包括计算机操作指令。存储器82可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器（non-volatile memory），例如至少一个磁盘存储器。
处理器81可能是一个中央处理器（Central Processing Unit，简称为CPU），或者是特定集成电路（Application Specific Integrated Circuit，简称为ASIC），或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。
通信接口83，主要用于实现本实施例中的装置之间的通信。
其中，处理器81，用于通过至少一个通信接口83接收系统自检的设备发送的内存测试请求。
处理器81，还用于根据该内存测试请求获取内存测试信息；
处理器81，用于将内存测试信息通过至少一个通信接口83发送至系统自检的设备，以便于系统自检的设备根据内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
本发明实施例提供的管理设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
可选的，处理器81，具体用于：
根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志，该日志用于记录内存运行的状态信息，其中状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息；
根据内存访问策略分析日志生成内存测试信息。
可选的，处理器81还用于：在将内存测试信息发送至系统自检的设备之后，若系统自检的设备根据内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则通过至少一个通信接口83接收系统自检的设备发送的故障信息，并将故障信息添加至日志。
可选的，处理器81，还用于通过功能管理接口接收系统自检的设备发送的内存测试请求。
进一步，可选的，处理器81，还用于通过功能管理接口发送内存测试信息至系统自检的设备。
其中，管理软件可以以管理设备为系统中的实施载体为例进行说明，具体不做限定。
本发明实施例提供的管理设备，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
本发明实施例提供一种操作系统9，参照图10所示，包括：系统自检的设备91和管理设备92，其中，
该系统自检的设备91为图5或图6所述的任一系统自检的设备；
该管理设备92为图7所述的管理设备；
或者，
该系统自检的设备91为图8所述的系统自检设备；
该管理设备92为图9所述的管理设备。
本发明实施例提供的操作系统，系统自检的设备通过发送内存测试请求至管理设备，使得管理设备根据该内存测试请求筛选与内存信息相关的日志，并根据预设的内存访问策略分析该日志生成内存测试信息，进而通过反馈内存测试信息至系统自检的设备进行对应位置的检测，解决了开机自检时开启和关闭内存自测试功能时存在的开机响应时间长，以及操作系统自检过程中可靠性低的问题。
通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可以用硬件实现，或固件实现，或它们的组合方式来实现。当使用软件实现时，可以将上述功能存储在计算机可读介质中或作为计算机可读介质上的一个或多个指令或代码进行传输。计算机可读介质包括计算机存储介质和通信介质，其中通信介质包括便于从一个地方向另一个地方传送计算机程序的任何介质。存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质。以此为例但不限于：计算机可读介质可以包括RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其他光盘存储、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质。此外。任何连接可以适当的成为计算机可读介质。例如，如果软件是使用同轴电缆、光纤光缆、双绞线、数字用户线（DSL）或者诸如红外线、无线电和微波之类的无线技术从网站、服务器或者其他远程源传输的，那么同轴电缆、光纤光缆、双绞线、DSL或者诸如红外线、无线和微波之类的无线技术包括在所属介质的定影中。如本发明所使用的，盘（Disk）和碟（disc）包括压缩光碟（CD）、激光碟、光碟、数字通用光碟（DVD）、软盘和蓝光光碟，其中盘通常磁性的复制数据，而碟则用激光来光学的复制数据。上面的组合也应当包括在计算机可读介质的保护范围之内。
总之，以上所述仅为本发明技术方案的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (25)
1.一种系统自检的方法，其特征在于，包括：
系统自检的设备发送内存测试请求至管理设备；
接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息；
通过解析所述内存测试信息获取内存测试参数，所述内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；
根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述发送内存测试请求至管理设备之前，还包括：
根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检，所述配置信息包含是否第一次上电自检信息；
若所述系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送所述内存测试请求至所述管理设备；
或者，
若所述系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测，包括：
若所述内存测试信息包含所述内存测试参数，则根据所述内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应所述内存测试目标的内存测试策略信息；
根据所述内存测试策略信息对所述内存测试目标进行检测；
或者，
若所述内存测试信息不包含所述内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
4.根据权利要求1～3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测，还包括：
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至所述管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述发送内存测试请求至管理设备，还包括：
将所述内存测试请求发送至所述管理设备的功能管理接口。
6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，所述接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息，还包括：
接收所述管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述内存测试策略信息包括：所述内存检测的优先级，所述内存检测的次数以及所述内存检测超时时间。
8.一种系统自检的方法，其特征在于，包括：
管理设备接收系统自检的设备发送的内存测试请求；
根据所述内存测试请求获取内存测试信息；
将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备，以便于所述系统自检的设备根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述内存测试请求获取内存测试信息，包括：
根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志，所述日志用于记录所述内存运行的状态信息，其中所述状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息；
根据所述内存访问策略分析所述日志生成内存测试信息。
10.根据权利要求8或9所述的方法，其特征在于，所述将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备之后，还包括：
若所述系统自检的设备根据所述内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则接收所述系统自检的设备发送的故障信息，并将所述故障信息添加至日志。
11.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述接收系统自检的设备发送的内存测试请求，还包括：
通过功能管理接口接收所述系统自检的设备发送的所述内存测试请求。
12.根据权利要求8或11所述的方法，其特征在于，所述将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备，还包括：
通过功能管理接口发送所述内存测试信息至所述系统自检的设备。
13.一种系统自检的设备，其特征在于，包括：
通信单元，用于发送内存测试请求至管理设备；
所述通信单元，还用于接收所述管理设备根据所述内存测试请求生成的内存测试信息；
解析单元，用于通过解析所述通信单元接收的所述内存测试信息获取内存测试参数，所述内存测试参数包括内存测试目标和/或内存测试策略信息；
检测单元，用于根据所述解析单元获取的所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
14.根据权利要求13所述的系统自检的设备，其特征在于，所述系统自检的设备还包括：
判断单元，用于在发送内存测试请求至管理设备之前，根据预先存储的配置信息判断是否为第一次上电自检，所述配置信息包含是否第一次上电自检信息；
所述判断单元，还用于若所述系统自检的设备不是第一次上电自检，则发送所述内存测试请求至所述管理设备；
或者，
所述判断单元，还用于若所述系统自检的设备是第一次上电自检，则对操作系统进行全部遍历检测。
15.根据权利要求13或14所述的系统自检的设备，其特征在于，所述解析单元，具体用于：
若所述内存测试信息包含所述内存测试参数，则根据所述内存测试参数解析获取内存测试所需的内存测试目标以及对应所述内存测试目标的内存测试策略信息；
根据所述内存测试策略信息对所述内存测试目标进行检测；
或者，
若所述内存测试信息不包含所述内存测试参数，则结束上电自检启动操作系统。
16.根据权利要求13～15任一项所述的系统自检的设备，其特征在于，所述检测设备，具体用于：
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则将故障信息添加至所述管理设备，并向用户发出告警信息，且不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则发送告警信息至用户，并不启动操作系统；
或者，
若根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测成功，则启动操作系统。
17.根据权利要求13所述的系统自检的设备，其特征在于，所述通信单元，还用于将所述内存测试请求发送至所述管理设备的功能管理接口。
18.根据权利要求13或17所述的系统自检的设备，其特征在于，所述通信单元，还用于接收所述管理设备通过功能管理接口转发的内存测试信息。
19.根据权利要求13所述的系统自检的设备，其特征在于，所述内存测试策略信息包括：所述内存检测的优先级，所述内存检测的次数以及所述内存检测超时时间。
20.一种管理设备，其特征在于，包括：
通信单元，用于接收系统自检的设备发送的内存测试请求；
获取单元，用于根据所述通信单元接收的所述内存测试请求获取内存测试信息；
所述通信单元，还用于将所述获取单元获取的所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备，以便于所述系统自检的设备根据所述内存测试参数触发对应内存位置的内存检测。
21.根据权利要求20所述的设备，其特征在于，所述获取单元，具体用于：
根据预设的内存访问策略筛选对应内存信息的日志，所述日志用于记录所述内存运行的状态信息，其中所述状态信息包括缓存信息、内存控制器状态、内存缓存器状态、存储模块状态以及序列信息；
根据所述内存访问策略分析所述日志生成内存测试信息。
22.根据权利要求20或21所述的设备，其特征在于，所述通信单元还用于：在将所述内存测试信息发送至所述系统自检的设备之后，若所述系统自检的设备根据所述内存测试信息中的内存测试参数触发对应内存位置的内存检测失败，则接收所述系统自检的设备发送的故障信息，并将所述故障信息添加至日志。
23.根据权利要求20所述的设备，其特征在于，所述通信单元，还用于通过功能管理接口接收所述系统自检的设备发送的所述内存测试请求。
24.根据权利要求20或23所述的设备，其特征在于，所述通信单元，还用于通过功能管理接口发送所述内存测试信息至所述系统自检的设备。
25.一种操作系统，其特征在于，包括：系统自检的设备和管理设备，其中，
所述系统自检的设备为权利要求13～19中所述的任一系统自检设备；
所述管理设备为权利要求20～24中所述的任一管理设备。
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |