CN103428718B - 一种提高断续发射dtx检测性能的方法及装置 - Google Patents

一种提高断续发射dtx检测性能的方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种提高断续发射DTX检测性能的方法及装置，其中，该方法计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息，与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，如果比对结果一致，则检测到发射端；否则，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。本发明能够提高在复杂环境下，信号检测的准确度，从而提高系统的抗干扰能力。

Description

一种提高断续发射DTX检测性能的方法及装置
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域，特别涉及一种提高断续发射（DTX）检测性能的方法及装置。
背景技术
在长期演进（LongTermEvolution，LTE）等系统中，为了判断用户设备（UE）从基站接收的混合自动重传请求（Hybrid-ARQ，HARQ）是确认（ACK）还是否定确认（NACK）或是判断UE是否发送了资源请求（SR），就需要对上行控制信道（PUCCH）进行检测。根据LTE211协议，多个UE将使用相同频率资源码分发送信息，其中UE根据自身需求可能将信息发送在多个指定码道其中的一个。所以需要检测对应码道上UE是否发送了数据，即DTX检测。
目前DTX检测方法主要是通过计算码道上信号质量以及信功率设定判断门限。认为超过门限则发送了数据，未到达门限则未发送数据。
而在信号条件比较复杂的情况下，由于多径、时延以及多设备间相互影响，使DTX检测时，容易出现漏检、虚检测等问题，可能会极大的影响流量。
发明内容
为了解决上述DTX检测时，容易出现漏检、虚检测等问题，本发明提供了一种提高断续发射DTX检测性能的方法及装置，本发明能够提高在复杂环境下，信号检测的准确度，从而提高系统的抗干扰能力。
本发明的提高断续发射DTX检测性能的方法，计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息，与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，如果比对结果一致，则检测到发射端；否则，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。
其中，预先根据天线间距离和不同天线上的相位差x以及信号的波长λ，计算出天线的入射角度θ，并记录该UE的信号时延信息，将该入射角度θ和信号时延信息保存。
其中，根据下列公式计算入射角度θ：
cosθ·l=(x+2π·n)·λ
其中，l为天线间距离；x为相位差；λ为波长；n为周期。
其中，所述信号包括用户设备的接入信号RACH、数据导频信号RS、或者探测参考信号SRS。
其中，在利用入射角度和信号时延信息进行检测时，进一步设置信号质量和信号功率的门限检测。
本发明的提高断续发射DTX检测性能的装置，包括检测单元和判断单元，其中，所述检测单元，用于计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息；判断单元，用于将检测单元计算的入射角度和记录的信号时延信息与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，在比对结果一致时，认为检测到发射端；在比对结果不一致时，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。
此外，还可以进一步包括预存储单元，用于预先根据天线间距离和不同天线上的相位差x以及信号的波长λ，计算出天线的入射角度θ，并记录该UE的信号时延信息，将该入射角度θ和信号时延信息保存。
其中，在所述预存储单元中，根据下列公式计算入射角度θ：
cosθ·l=(x+2π·n)·λ
其中，l为天线间距离；x为相位差；λ为波长；n为周期。
其中，所述信号包括用户设备的接入信号RACH、数据导频信号RS、或者探测参考信号SRS。
其中，所述检测单元，在利用入射角度和信号时延信息进行检测时，进一步设置信号质量和信号功率的门限检测。
本发明的有益效果是：依照本发明的提高断续发射DTX检测性能的方法及装置，能够解决现有技术中由于多径、时延以及外部设备的相互影响导致DTX的虚检和漏检测问题，能够提高复杂环境下，信号检测的准确度，提高了系统的抗干扰能力。
附图说明
图1为本发明的天线入射角的示意图；
图2为本发明的DTX检测的流程图。
具体实施方式
以下，参考附图1~2详细描述本发明的提高断续发射DTX检测性能的方法及装置。
方法实施例
本发明的方法包括下列步骤：
步骤1：根据用户设备（UE）发射的信号信息，计算不同天线上的相位差x，根据天线间距离和不同天线上的相位差x以及信号的波长λ，计算出天线的入射角度θ，并记录该UE的信号时延信息，将该入射角度θ和信号时延信息保存到资料库。
其中，该信号可以为用户设备的接入信号（RACH）、数据导频（RS）、探测参考信号（SRS）等。另外，如图1所示，可以根据下列公式计算入射角度θ：
cosθ·l=(x+2π·n)·λ
其中，l为天线间距离；x为相位差；n为周期。
步骤2：进行DTX检测时，计算该信道上UE信号的入射角度和信号时延信息，与步骤1中保存的入射角度θ和信号时延信息进行比对，如果相符，则检测到发射端，并执行步骤3；否则，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送；
步骤3：根据检测到的信号和最新的UE信息更新资料库。具体如图2所示。
另外，在进行DTX检测时，可以在利用入射角度和信号时延信息进行检测时，进一步设置信号质量和信号功率的检测门限，从而提高检测结果的准确程度。
装置实施例
本发明的提高断续发射DTX检测性能的装置，包括检测单元和判断单元，其中，所述检测单元，用于计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息；判断单元，用于将检测单元计算的入射角度和记录的信号时延信息与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，在比对结果一致时，认为检测到发射端；在比对结果不一致时，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。
此外，还可以进一步包括预存储单元，用于预先根据天线间距离和不同天线上的相位差x以及信号的波长λ，计算出天线的入射角度θ，并记录该UE的信号时延信息，将该入射角度θ和信号时延信息保存。
其中，在所述预存储单元中，根据下列公式计算入射角度θ：
cosθ·l=(x+2π·n)·λ
其中，l为天线间距离；x为相位差；λ为波长；n为周期。
其中，所述信号包括用户设备的接入信号RACH、数据导频信号RS、或者探测参考信号SRS。
其中，所述检测单元，在利用入射角度和信号时延信息进行检测时，进一步设置信号质量和信号功率的检测门限，从而进一步提高检测结果的准确程度。
此外，还需要说明的是，本发明并不局限于LTE系统的DTX检测，还可以适用其它信号或设备的DTX检测。
综上所述，依照本发明的提高断续发射DTX检测性能的方法及装置，能够解决现有技术中由于多径、时延以及外部设备的相互影响导致DTX的虚检和漏检测问题，能够提高复杂环境下，信号检测的准确度，提高了系统的抗干扰能力。
以上是为了使本领域普通技术人员理解本发明，而对本发明所进行的详细描述，但可以想到，在不脱离本发明的权利要求所涵盖的范围内还可以做出其它的变化和修改，这些变化和修改均在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种提高断续发射DTX检测性能的方法，其特征在于，计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息，与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，如果比对结果一致，则检测到发射端；否则，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：
预先根据天线间距离和不同天线上的相位差x以及信号的波长λ，计算出天线的入射角度θ，并记录该UE的信号时延信息，将该入射角度θ和信号时延信息保存。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据下列公式计算入射角度θ：
cosθ·l＝(x+2π·n)·λ；
其中，l为天线间距离；x为相位差；λ为波长；n为周期。
4.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述信号包括用户设备的接入信号RACH、数据导频信号RS、或者探测参考信号SRS。
5.如权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，在利用入射角度和信号时延信息进行检测时，进一步设置信号质量和信号功率的检测门限，对检测结果作进一步检测。
6.一种提高断续发射DTX检测性能的装置，其特征在于，包括检测单元和判断单元，其中，所述检测单元，用于计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息；
判断单元，用于将检测单元计算的入射角度和记录的信号时延信息与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，在比对结果一致时，认为检测到发射端；在比对结果不一致时，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，进一步包括预存储单元，用于预先根据天线间距离和不同天线上的相位差x以及信号的波长λ，计算出天线的入射角度θ，并记录该UE的信号时延信息，将该入射角度θ和信号时延信息保存。
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，在所述预存储单元中，根据下列公式计算入射角度θ：
cosθ·l＝(x+2π·n)·λ
其中，l为天线间距离；x为相位差；λ为波长；n为周期。
9.如权利要求6至8中任一项所述的装置，其特征在于，所述信号包括用户设备的接入信号RACH、数据导频信号RS、或者探测参考信号SRS。
10.如权利要求6至8中任一项所述的装置，其特征在于，所述检测单元，在利用入射角度和信号时延信息进行检测时，进一步通过设置信号质量和信号功率的检测门限，对检测结果作进一步检测。
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