具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种信号频率的校正方法,可以快速的使发射天线与接收天线的频率同步。本发明实施例还提供相应的频率校正的装置。以下分别详细说明。
实施例一
本实施例将从信号频率的校正装置的角度进行描述,其中,该信号频率的校正装置是多径信道模型装置,具体的,该信号频率的校正装置可以为自动频率控制(AFC,Automatic Frequency Control)装置,其中,为了描述方便,本实施例将该信号频率简称为频率,其中,为了描述方便,本实施例以该频率的校正装置为AFC装置为例进行描述。请参阅图1至图3。
一种信号频率校正的方法,包括:先根据发射信号获取相位,继而确定获取到的相位与发射信号的频偏的对应关系,然后根据获取到的相位来获取晶振电压,继而确定获取到的晶振电压与发射信号的频偏的对应关系,再根据相位与发射信号的频偏的对应关系和晶振电压与发射信号的频偏的对应关系对相位进行截取,使得在相同频偏下,相位与晶振电压的差值的绝对值最小。
如图1所示,具体流程可以如下:
101、根据发射信号获取相位;例如,具体可以如下:
当发射天线向接收天线发射信号时,会产生一段长训练序列,该长训练序列的一个周期长度L为256码chip,其中,为了描述方便,本实施例中将该长训练序列称为第一长训练序列。将接收到的该第一长训练序列依次输入缓冲区,该缓冲区可以对输入的第一长训练序列起延时作用,经过缓冲区的延迟后,会得到第二长训练序列。
可选的,可以对第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算,得到乘法运算的结果,例如,具体可以如下:
101a、将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的实部相乘,得到第一数据;
101b、将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的实部相乘,得到第二数据;
101c、将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第三数据;
101d、将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第四数据。
以上得到的四组数据即是对第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算得到的结果。
可选的,可以对得到的乘法运算的结果进行加法运算,得到相位的实部和虚部。需说明的是,对乘法运算的结果进行加法运算是在始终保持一定长度的情况下进行累加,具体可以如下:
101g、将乘法运算中得到的第一数据与第二数据相加,得到相位的实部;
101h、将乘法运算中得到的第三数据与第四数据相减,得到相位的虚部。
其中,根据发射信号获取相位具体可参阅图2,图2是根据发射信号获取相位的流程图。具体的实现可以如下:
其中,将发射信号产生的第一长训练序列送入AFC装置中的缓冲模块(FIFO,First In First Out)进行储存,该缓冲模块为先入先出缓冲模块,其中,存储实部的可以是FIFOA,存储虚部的可以是FIFOB,其中,FIFO模块可以实现第一长训练序列的延时,得到第二长训练序列。
首先,对第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算,得到四组数据,其中,对将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的实部相乘,得到第一数据;将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的实部相乘,得到第二数据;将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第三数据;将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第四数据。然后将乘法运算得到的该四组数据进行加法运算,其中,将乘法运算中得到的第一数据与第二数据相加,得到相位的实部;将乘法运算中得到的第三数据与第四数据相减,得到相位的虚部。
需说明的是,以上只是在1chip长训练序列下进行加法运算的结果,在一个周期长训练序列内,需要对前述乘法运算和加法运算的结果进行累加,其中,可以将上述结果送入窗口window中进行累加。
例如,可以通过输入FIFO的值和FIFO输出的值共轭相乘得到最佳的相位的值S,具体可通过下面的式子进行计算:
S=(I+jQ)×(I′-jQ′)
其中,I为输入FIFO的相位的实部值;
I′为输出FIFO的相位的实部值;
Q为输入FIFO的相位的虚部值;
Q′为输出FIFO的相位的虚部值。
其中,FIFO模块可以对各窗口进行累加,然后通过加上输入FIFO的值并减去FIFO输出的值来实现乘法运算和加法运算,其中,可以将加法运算中所得的相位的实部和虚部送入各窗口中,进行下一步的加法运算,例如,可以将加法运算中所得的单个相位的实部送给windowA,将加法运算中计算所得的单个相位的虚部送给windowB,然后各自将窗口中的值进行累加,具体的,可以将累加的值存入实部寄存器中,相位的实部即是实部寄存器的的值加上输入windowA的值并减去输出windowA的值,相位的虚部即是实部寄存器的值加上windowB的值并减去输出windowB的值,由此输出具体的相位的实部和相位的虚部。
其中,通过上述步骤得到了相位的实部和相位的虚部后,还需要对该相位的实部和相位的虚部进行相位估计,得到相位。具体的,可以利用鉴相器的算法得到,可参见现有技术,此处不再赘述。
需说明的是,得到的该相位可以反应发射信号的频偏的大小。例如,输出的相位为M位,其中,M可以取24。其中,该相位的取值范围可以为-π~π。
102、确定步骤101中获得的相位与发射信号的频偏的对应关系;例如,具体可以如下:
可以通过仿真获取相位与频偏的对应关系,具体的,可以对该AFC装置发射具有一定频率的发射信号,通过步骤101可以获得相位。例如,获得的相位可以是2QN格式的24位相位,该相位包括了1位符号位,2位整数位和21位小数位。其中,根据相位特性,可以取该相位的高14位。
优选的,可以以根据发射信号的频率为7324Hz和4883Hz为例进行描述。通过仿真可以得到:当发射7324Hz的发射信号时,通过AFC装置,可以得到相位,其中,该相位对应的二进制数值为0100 1011 0110 00,而该二进制大于等于4824,又如,当发射4883Hz的发射信号时,通过AFC装置,可以得到相位,其中,该相位对应的二进制数值为0011 0010 0100 01,而该二进制大于等于3217,可以分别用如下形式表示:
7324Hz对应于:0100 1011 0110 00≥4824;
4883Hz对应于:0011 0010 0100 01≥3217。
其中,对上述结果进行进一步计算:
4824/7324=0.6587,3217/4883=0.6588。
综上可得,频偏每增加1Hz,相位增加0.6588。因此,50Hz的频率对应的相位增长为:50×0.6588=33
103、根据步骤102中获取到的相位以获取晶振电压;例如,具体可以通过以下步骤获得晶振电压,请参阅图3,图3是本发明实施例中获取晶振电压的流程图:
103a、根据步骤102中获取到的相位得到相位变化量的绝对值;
其中,当发射天线向接收天线发射信号时,可以通过步骤102得到相位,此时,可将该相位记录下来,并且由这个记录的相位可以计算出该相位在当前帧的变化量和该变化量的绝对值,其中,相位在当前帧的变化量即为频偏值。
103b、将步骤103a中得到的相位变化量的绝对值与预设值进行比较,若相位变化量的绝对值大于预设值,则对相位进行更新;
其中,步骤103a中得到了相位变化量的绝对值,可以将该相位变化量的绝对值与预设值进行比较,若相位变化量的绝对值大于预设值,则需要对该相位进行更新;
需说明的是,由于噪声的影响,每帧计算出的相位会出现不稳定的情形,需要去掉由于噪声引入的高频抖动,需要对相位进行更新调整,让连续输入的若干帧中估计出来的相位是一个稳定的值,使得该相位即使有抖动,也是低频的抖动。具体可以通过以下方式实现相位变化量的绝对值的更新:
将相位与该相位对应的滤波系数进行乘法计算和加法计算。具体可参见现有技术,此处不再赘述。可选的,滤波系数可以为1/16、3/16、5/16或7/16,其中,对该滤波系数的数值不做限定,只需要满足低通滑动滤波特效即可。
103c、将相位进行模数转换,得到晶振电压。
对步骤102中获得的相位以及步骤103b中更新后的相位进行模数转换,其中,模数转换可以将模拟信号转换为数字信号,例如,该相位为N位相位时,对相位进行模数转换后可以得到一个用二进制代码来表示的晶振电压。其中,N为晶振电压的模数宽度,例如N可以取14。
104、获取步骤103中得到的晶振电压与发射信号的频偏的对应关系,
根据通过对AFC装置发射具有一定频率的发射信号,通过步骤103可以获得晶振电压,得到晶振电压与频偏的对应关系,需说明的是,获得的晶振电压值具有一定误差,但该误差是测量中不可避免的,可以忽略不计。
其中,通过大量的实验,发射信号的频率与对应的晶振电压可以如表一所示:
表一:频率与晶振电压的对应关系
频率(MHz) |
晶振电压(V) |
340.002400 |
2.64 |
340.001400 |
2.30 |
340.000400 |
1.86 |
339.999400 |
1.42 |
339.998400 |
1.00 |
339.997400 |
0.56 |
339.996400 |
0.12 |
根据上述关系可得,每增加1KHz的频率,电压分别增加0.34V、0.44V、0.46V、0.4V、0.44V和0.44V,对上述结果计算平均值,可得,每增加1KHz的频率对应约4.13V的晶振电压变化。因此,3KHz频偏对应约1.24v左右晶振电压变化。
105、根据步骤102得到的相位与发射信号的频偏的对应关系和步骤104得到的晶振电压与发射信号的频偏的对应关系对相位进行截取。
由步骤102可得,3KHz频偏对应相位输出为:3000/50*33=1980,将该值转换成二进制数为:0001 1110 1111 00。
由步骤104可得,3KHz频偏对应约1.24v左右晶振电压变化,其中,根据14位宽的相位特性,即十六进制中的3FF对应3.3V电压,则1.24v电压对应的相位为:1.24/(3.3/3FF)=1 1000 0010。
在具有相同频偏的情况下,可以对相位进行截取,使得相位与晶振电压的差值的绝对值最小。具体的,是对相位进行截取,选取最接近晶振电压的相位。
因此,以下根据晶振电压与发射信号的频偏的对应关系对发射信号的频偏对应的相位输出进行截取,即根据二进制数1 1000 0010对二进制数00011110 1111 00进行截取,选取0001 1110 1111 00中最接近1 1000 0010的数位。优选的,可从最高位开始截取,即第十四位开始截取,以下是对0001 1110 111100截取到第九位以下的截取过程:
[9]:0001 11<1 1000 0010;
[8]:0001 111<1 1000 0010;
[7]:0001 1110<1 1000 0010;
[6]:0001 1110 1<1 1000 0010;
[5]:0001 1110 11<1 1000 0010;
[4]:0001 1110 111<1 1000 0010;
[3]:0001 1110 1111>1 1000 0010。
综上可得,对相位截取到[4]位时,最接近晶振电压,由此即可快速的校正频率。
由上可知,本发明采用先根据发射信号获取相位,继而确定获取到的相位与发射信号的频偏的对应关系,然后根据相位获取晶振电压,继而确定获取到的晶振电压与发射信号的频偏的对应关系,再根据相位与发射信号的频偏的对应关系和晶振电压与发射信号的频偏的对应关系对相位进行截取,使得在相同频偏下,相位与晶振电压的差值的绝对值最小。本实施例通过晶振电压来确定自适应收敛最快的相角的截取办法,可以快速的使发射天线与接收天线的频率同步。采用本实施例的方法对频率进行校正,具有较强的鲁棒性,并且能广泛运用于各种室内和室外的多径信道模型。
实施例二
为了更好地实施以上方法,本发明实施例还提供一种信号频率的校正装置,该信号频率的校正装置可以为自动频率控制(AFC,Automatic FrequencyControl)装置,其中,为了描述方便,本实施例将该信号频率简称为频率。如图4所示,该频率校正的装置具体可以包括第一获取模块201、第一确定模块202、第二获取模块203、第二确定模块204和截取模块205。
第一获取模块201,用于根据发射信号获取相位;
第一确定获取202,用于确定第一获取模块中获取到的相位与发射信号的频偏的对应关系;
第二获取模块203,用于根据第一获取模块201获取到的相位来获取晶振电压;
第二确定模块204,用于确定第二获取模块中获取到的晶振电压与发射信号的频偏的对应关系;
截取模块205,用于根据第一确定模块中确定到的相位与频偏的对应关系和第二确定模块中确定到的晶振电压与频偏的对应关系,对相位进行截取,使得在相同频偏下,相位与晶振电压的差值的绝对值最小。
下面以具体实施例对本发明技术方案进行详细描述,请参阅图5,图5是第一获取模块201和第二获取模块203的交互关系流程图。
其中,该频率校正的装置中的第一获取模块201具体还包括:缓冲模块2011、乘法器2012、加法器2013和鉴相器2014。
具体的,缓冲模块2011,用于接收发射信号产生的第一长训练序列,并对第一长训练序列进行延时,得到第二长训练序列;
乘法器2012,用于对缓冲模块中获得的第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算,得到乘法运算的结果。其中,对第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算,具体可以如下:先将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的实部相乘,得到第一数据,然后将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的实部相乘,得到第二数据,再将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第三数据,再将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第四数据。以上得到的四组数据即是对第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算得到的结果。
加法器2013,用于将乘法器中获得的乘法运算的结果进行加法运算,得到相位的实部和虚部。其中,对乘法运算的结果进行加法运算,具体可以如下:将乘法运算中得到的第一数据与第二数据相加,得到相位的实部,然后将乘法运算中得到的第三数据与第四数据相减,得到相位的虚部。
鉴相器2014,用于将加法器中的相位的实部和虚部进行相位估计,得到相位,相位位于-π和π之间。
下面以具体实施例对第一获取模块201进行详细描述,请参阅图2:
其中,发射信号中的长训练序列首先送入第一获取模块201中的缓冲模块201,其中,该缓冲模块201具体为FIFO(First In First Out,先入先出缓冲)模块,该缓冲模块为先入先出缓冲模块,其中,存储实部的是FIFO A,存储虚部的是FIFO B。该FIFO模块可以实现第一长训练序列的延时,得到第二长训练序列。
首先,对第一长训练序列和第二长训练序列进行逐点乘法运算,得到四组数据,其中,对将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的实部相乘,得到第一数据;将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的实部相乘,得到第二数据;将第一长训练序列的实部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第三数据;将第一长训练序列的虚部与第二长训练序列的虚部相乘,得到第四数据。然后将乘法运算得到的该四组数据进行加法运算,其中,将乘法运算中得到的第一数据与第二数据相加,得到相位的实部;将乘法运算中得到的第三数据与第四数据相减,得到相位的虚部。
需说明的是,以上只是在1chip长训练序列下进行加法运算的结果,在一个周期长训练序列内,需要对前述乘法运算和加法运算的结果进行累加,其中,可以将上述结果送入窗口window中进行累加。
例如,可以通过输入FIFO的值和FIFO输出的值共轭相乘得到最佳的相位的值S,具体可通过下面的式子进行计算:
S=(I+jQ)×(I′-jQ′)
其中,I为输入FIFO的相位的实部值;
I′为输出FIFO的相位的实部值;
Q为输入FIFO的相位的虚部值;
Q′为输出FIFO的相位的虚部值。
请参阅图2,累加器是在始终保持一定长度的情况下实现累加功能的。具体的,FIFO模块可以对各窗口进行累加,然后通过加上输入FIFO的值并减去FIFO输出的值来实现乘法运算和加法运算。具体的,可以将加法运算中所得的相位的实部和虚部送入各窗口中,进行下一步的加法运算,例如,可以将加法运算中所得的单个相位的实部送给windowA,将加法运算中计算所得的单个相位的虚部送给windowB。然后各自将窗口中的值进行累加,具体的,可以将累加的值存入实部寄存器中,相位的实部即是实部寄存器的的值加上输入windowA的值并减去输出windowA的值,相位的虚部即是实部寄存器的值加上windowB的值并减去输出windowB的值,由此输出具体的相位的实部和相位的虚部。
其中,通过上述步骤得到了相位的实部和相位的虚部后,需要将该值送入鉴相器中以对该相位的实部和相位的虚部进行相位估计,得到相位。其中,得到的该相位可以反应发射信号的频偏的大小。例如,输出的相位为M位,其中,M可以取24。其中,该相位的取值范围可以为-π~π。
其中,该频率校正的装置中的第二获取模块203具体还包括:相位转换模块2031、比较模块2032、滤波模块2033和电压转换模块2034。
具体的,相位转换模块2031,用于对鉴相器2014输出的相位进行相位转换,得到相位变化量的绝对值;
比较模块2032,用于接收相位转换模块中得到的相位变化量的绝对值,并将相位变化量的绝对值与预设值进行比较,若相位变化量的绝对值大于预设值,则对相位变化量的绝对值进行更新;
滤波模块2033,可以去掉由于噪声引入的高频抖动,将反馈控制字在帧间的进行更新调整,让连续若干帧中估计出来的反馈控制字表现成一个稳定的值。具体的,可以用于对控制字模块中需要进行更新的相位变化量的绝对值进行更新,其中,通过将相位与相位对应的滤波系数进行乘法运算和加法运算,得到更新后的相位,其中,滤波系数为1/16、3/16、5/16或7/16。
电压转换模块2034,用于将相位进行模数转换,得到晶振电压。
以上各个装置的具体实施可参见前面实施例,此处不再赘述。
由上可知,本发明先由第一获取模块201根据发射信号获取相位,然后经第一确定模块202确定第一获取模块201获取到的相位与发射信号的频偏的对应关系,再由第二获取模块203根据第一获取模块201中获取到的相位来获取晶振电压,再经第二确定模块204确定第二获取模块203中获取到的晶振电压与发射信号的频偏的对应关系,最后由截取模块204根据相位与发射信号的频偏的对应关系和晶振电压与发射信号的频偏的对应关系对相位进行截取。本实施例通过晶振电压来确定自适应收敛最快的相角的截取办法,可以快速的使发射天线与接收天线的频率同步。采用本实施例的方法对信号频率进行校正,具有较强的鲁棒性,并且能广泛运用于各种室内和室外的多径信道模型。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上对本发明所提供的一种信号频率的校正方法和装置进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本发明实施例的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。