CN103164302A - 电子装置错误检测系统及方法 - Google Patents

电子装置错误检测系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103164302A
CN103164302A CN201110423288XA CN201110423288A CN103164302A CN 103164302 A CN103164302 A CN 103164302A CN 201110423288X A CN201110423288X A CN 201110423288XA CN 201110423288 A CN201110423288 A CN 201110423288A CN 103164302 A CN103164302 A CN 103164302A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
detecting
unit
error
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201110423288XA
Other languages
English (en)
Inventor
郭利文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201110423288XA priority Critical patent/CN103164302A/zh
Priority to TW100147780A priority patent/TW201327131A/zh
Priority to US13/564,791 priority patent/US20130154662A1/en
Publication of CN103164302A publication Critical patent/CN103164302A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2868—Complete testing stations; systems; procedures; software aspects
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2874—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Power Sources (AREA)

Abstract

一种电子装置错误检测系统，用来对一被测装置进行检测，所述电子装置错误检测系统包括一上位机、一存储单元、一电源状况侦测单元、一温度侦测单元及一错误信号侦测单元，所述电源状况侦测单元、温度侦测单元、错误信号侦测单元均连接到所述被测装置，所述电源状况侦测单元侦测所述被测装置的电源的状况，并产生对应的电源状况信号，所述温度侦测单元侦测所述被测装置的温度状况并产生对应的温度状况信号，所述错误信号侦测单元侦测所述被测装置产生的运行错误信号，所述电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号均被保存到所述存储单元，所述上位机读取所述存储单元中的这些信号，并对其进行分析；本发明还包括一种电子装置错误检测方法。

Description

电子装置错误检测系统及方法
技术领域
本发明涉及一种检测系统及方法，尤指一种用于检测电子装置错误的检测系统及方法。
背景技术
服务器等电子装置在组装完成后，需要经过全面的功能测试来确定其是否为优良品，而服务器测试主要是针对服务器运行时可能出现的各种状况进行检测，然后解决所发生的问题，但是，传统的测试方法无法有效地捕捉到测试时的详细过程，不利于对所发生的问题进行分析而解决问题。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可锁存信号的电子装置错误检测系统及方法。
一种电子装置错误检测系统，用来对一被测装置进行检测，所述电子装置错误检测系统包括一上位机、一存储单元、一电源状况侦测单元、一温度侦测单元及一错误信号侦测单元，所述电源状况侦测单元、温度侦测单元、错误信号侦测单元均连接到所述被测装置，所述电源状况侦测单元侦测所述被测装置的电源的状况，并产生对应的电源状况信号，所述温度侦测单元侦测所述被测装置的温度状况并产生对应的温度状况信号，所述错误信号侦测单元侦测所述被测装置产生的运行错误信号，所述电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号均被保存到所述存储单元，所述上位机读取所述存储单元中的这些信号，并对其进行分析。
一种电子装置错误检测方法，包括以下步骤：
一电源状况侦测单元侦测一被测装置在测试过程中电源电压是否正常，当发现电源不正常时产生对应的电源状况信号，并将其锁存到一锁存单元中；
一温度侦测单元侦测所述被测装置在测试过程中温度是否正常，当发现温度不正常时产生对应的温度状况信号，并将其锁存到所述锁存单元中；
一错误信号侦测单元侦测所述被测装置在测试过程中是否产生了运行错误信号，当发现了运行错误信号后将其锁存到锁存单元；
将所述锁存单元中的电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号保存到一存储单元中；及
一上位机读取所述存储单元中的信号，并对其进行分析。
相较于现有技术，上述电子装置错误检测系统和方法能锁存错误信号，从而方便分析错误原因。
附图说明
图1是本发明电子装置错误检测系统的一较佳实施方式的一框图。
图2是本发明电子装置错误检测方法的一较佳实施方式的一流程图。
主要元件符号说明
上位机 10
第一接口 11
处理单元 20
第二接口 21
存储单元 30
单元 40
电源状况侦测单元 51
温度侦测单元 52
错误信号侦测单元 53
被测装置 80
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明电子装置错误检测系统一较佳实施例包括一上位机10、一处理单元20、一存储单元30、一锁存单元40、一电源状况侦测单元51、一温度侦测单元52和一错误信号侦测单元53，该检测系统用来对一被测装置80进行检测。
在一实施例中，该上位机10为一电脑，该上位机10通过一第一接口11连接到该处理单元20，该处理单元20包括一第二接口21，该第二接口21与该第一接口11相连，该第二接口21与该第一接口11为同类型的接口，例如同为串行接口或USB接口。
该存储单元30连接到该处理单元20，该锁存单元40分别连接到该存储单元30、该电源状况侦测单元51、该温度侦测单元52和该错误信号侦测单元53，该电源状况侦测单元51、温度侦测单元52和错误信号侦测单元53分别连接到该被测装置80，该电源状况侦测单元51侦测该被测装置80在测试过程中其电源的各种状况，例如侦测电压是否过高或过低、电压的输出是否稳定等，且电源状况侦测单元51根据侦测到的电源状况产生对应的电源状况信号，该锁存单元40可锁存该电源状况信号。
该温度侦测单元52侦测该被测装置80在测试过程中的温度状况，例如侦测温度是否过高等，且温度侦测单元52根据侦测到的温度状况产生对应的温度状况信号，该锁存单元40可锁存该温度状况信号。
该错误信号侦测单元53侦测该被测装置80在被测过程中是否产生了运行错误信号，若产生了运行错误信号，该错误信号侦测单元53将该运行错误信号传输给该锁存单元40锁存。
该锁存单元40将锁存在其中的电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号保存到该存储单元30，上位机10可通过处理单元20读取存储单元30中的电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号，从而可对被测装置80的运行状况进行分析。
该上位机10还可将调试信号通过该处理单元20存储到该存储单元30中，该处理单元20控制该错误信号侦测单元53将调试信号传送给该被测装置80，从而对该被测装置80进行调试。
请参阅图2，其为该电子装置错误检测系统的流程图。
步骤201，电源状况侦测单元51侦测被测装置80在测试过程中电源电压是否正常，当发现电源不正常时产生对应的电源状况信号，并将其锁存到锁存单元40中。
步骤202，温度侦测单元52侦测被测装置80在测试过程中温度是否正常，当发现温度不正常时产生对应的温度状况信号，并将其锁存到锁存单元40中。
步骤203，错误信号侦测单元53侦测被测装置80在测试过程中是否产生了运行错误信号，当发现了运行错误信号后将其锁存到锁存单元40。
步骤204，将锁存单元40中的电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号保存到存储单元30中。
步骤205，该上位机10通过处理单元20读取存储在存储单元30中的电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号，并对这些信号进行分析。

Claims (7)

1.一种电子装置错误检测系统，用来对一被测装置进行检测，所述电子装置错误检测系统包括一上位机，其特征在于：所述电子装置错误检测系统还包括一存储单元、一电源状况侦测单元、一温度侦测单元及一错误信号侦测单元，所述电源状况侦测单元、温度侦测单元、错误信号侦测单元均连接到所述被测装置，所述电源状况侦测单元侦测所述被测装置的电源的状况，并产生对应的电源状况信号，所述温度侦测单元侦测所述被测装置的温度状况并产生对应的温度状况信号，所述错误信号侦测单元侦测所述被测装置产生的运行错误信号，所述电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号均被保存到所述存储单元，所述上位机读取所述存储单元中的这些信号，并对其进行分析。
2.如权利要求1所述的电子装置错误检测系统，其特征在于：一锁存单元分别连接到所述电源状况侦测单元、温度侦测单元和错误信号侦测单元，所述锁存单元先锁存所述电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号，然后将其从所述锁存单元保存到所述存储单元。
3.如权利要求1所述的电子装置错误检测系统，其特征在于：一处理单元连接在所述存储单元和所述上位机之间，所述处理单元通过串行接口或USB接口连接到所述上位机。
4.如权利要求3所述的电子装置错误检测系统，其特征在于：所述上位机将调试信号通过所述处理单元存储到所述存储单元中，所述控制单元控制所述错误信号侦测单元将调试信号传送给所述被测装置，从而对所述被测装置进行调试。
5.一种电子装置错误检测方法，包括以下步骤：
一电源状况侦测单元侦测一被测装置在测试过程中电源电压是否正常，当发现电源不正常时产生对应的电源状况信号，并将其锁存到一锁存单元中；
一温度侦测单元侦测所述被测装置在测试过程中温度是否正常，当发现温度不正常时产生对应的温度状况信号，并将其锁存到所述锁存单元中；
一错误信号侦测单元侦测所述被测装置在测试过程中是否产生了运行错误信号，当发现了运行错误信号后将其锁存到锁存单元；
将所述锁存单元中的电源状况信号、温度状况信号和运行错误信号保存到一存储单元中；及
一上位机读取所述存储单元中的信号，并对其进行分析。
6.如权利要求5所述的电子装置错误检测方法，其特征在于：一处理单元连接在所述存储单元和所述上位机之间，所述处理单元通过串行接口或USB接口连接到所述上位机。
7.如权利要求6所述的电子装置错误检测方法，其特征在于：所述上位机通过所述处理单元读取存储在所述存储单元中的信号。
CN201110423288XA 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法 Pending CN103164302A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110423288XA CN103164302A (zh) 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法
TW100147780A TW201327131A (zh) 2011-12-16 2011-12-21 電子裝置錯誤檢測系統及方法
US13/564,791 US20130154662A1 (en) 2011-12-16 2012-08-02 Testing system and method for electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110423288XA CN103164302A (zh) 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103164302A true CN103164302A (zh) 2013-06-19

Family

ID=48587412

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110423288XA Pending CN103164302A (zh) 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20130154662A1 (zh)
CN (1) CN103164302A (zh)
TW (1) TW201327131A (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016036383A1 (en) * 2014-09-05 2016-03-10 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Backup power and load discovery

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2788680B2 (ja) * 1991-06-10 1998-08-20 キヤノン株式会社 電子機器及びそのデータ入出力制御方法
CN101216442B (zh) * 2007-01-04 2010-06-02 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 散热装置热阻值测试仪
US7690839B2 (en) * 2007-08-21 2010-04-06 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd. Thermal testing apparatus
TWI445967B (zh) * 2010-07-15 2014-07-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電子元器件的物理應力自動測量系統及方法
US8533655B1 (en) * 2011-11-15 2013-09-10 Xilinx, Inc. Method and apparatus for capturing data samples with test circuitry

Also Published As

Publication number Publication date
US20130154662A1 (en) 2013-06-20
TW201327131A (zh) 2013-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101093462B (zh) 数据库应用集群压力测试自动化方法
CN101996121B (zh) Usb端口测试装置及测试方法
CN103207820B (zh) 基于raid卡日志的硬盘的故障定位方法及装置
US7797584B2 (en) SATA interface tester and testing method
CN102929755B (zh) 一种cpu模块地址和数据总线的故障检测方法
CN101599035A (zh) Usb端口测试装置及方法
CN107526664B (zh) 一种服务器异常掉电快速定位方法和装置
CN103809147A (zh) 一种交流电表故障自诊断方法
US9158646B2 (en) Abnormal information output system for a computer system
CN102375775B (zh) 一种具有检测系统不可恢复错误指示信号的计算机系统
CN104239174A (zh) Bmc远程调试系统及方法
CN102681928B (zh) 计算机系统的异常信息输出系统
CN106095647A (zh) 一种实时监控希捷硬盘电压的方法
CN116665748B (zh) 一种用于闪存芯片的自动化测试设备及其测试方法
CN112579366B (zh) 硬盘在位检测系统
CN103164302A (zh) 电子装置错误检测系统及方法
CN102541705A (zh) 计算机的测试方法和工装板
CN116008787A (zh) 待测器件dut异常识别方法、装置及设备
CN105068903A (zh) 一种硬盘检测修复系统和装置
Li et al. Board-level Functional Test Selection Based on Fault Tree Analysis
CN103164303A (zh) 电子装置错误检测系统及方法
CN103969492A (zh) 处理器电压的检测装置及方法
CN104459562A (zh) 开关机测试装置
CN104794042A (zh) 电脑检测系统及方法
CN104679625A (zh) 电脑系统及其测试方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C05 Deemed withdrawal (patent law before 1993)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130619