CN103164303A - 电子装置错误检测系统及方法 - Google Patents

电子装置错误检测系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103164303A
CN103164303A CN201110423303.0A CN201110423303A CN103164303A CN 103164303 A CN103164303 A CN 103164303A CN 201110423303 A CN201110423303 A CN 201110423303A CN 103164303 A CN103164303 A CN 103164303A
Authority
CN
China
Prior art keywords
storage unit
error detection
latch units
electronic installation
rub
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201110423303.0A
Other languages
English (en)
Inventor
王康斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201110423303.0A priority Critical patent/CN103164303A/zh
Priority to TW100147861A priority patent/TW201327133A/zh
Priority to US13/564,793 priority patent/US20130159777A1/en
Publication of CN103164303A publication Critical patent/CN103164303A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

一种电子装置错误检测系统，用来对一被测装置进行检测，所述电子装置错误检测系统包括一上位机、一错误侦测锁存单元和一存储单元，所述错误侦测锁存单元连接到所述被测装置，所述错误侦测锁存单元侦测所述被测装置产生的错误信号，并将其保存到所述存储单元，所述上位机读取所述存储单元中的错误信号，并对其进行分析；本发明还包括一种电子装置错误检测方法。

Description

电子装置错误检测系统及方法
技术领域
本发明涉及一种检测系统及方法，尤指一种用于检测电子装置错误的检测系统及方法。
背景技术
服务器等电子装置在组装完成后，需要经过全面的功能测试来确定其是否为优良品，而服务器测试主要是针对服务器运行时可能出现的各种状况进行检测，然后解决所发生的问题，但是，传统的测试方法无法有效地捕捉到测试时的详细过程，不利于对所发生的问题进行分析而解决问题。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可锁存信号的电子装置错误检测系统及方法。
一种电子装置错误检测系统，用来对一被测装置进行检测，所述电子装置错误检测系统包括一上位机、一错误侦测锁存单元和一存储单元，所述错误侦测锁存单元连接到所述被测装置，所述错误侦测锁存单元侦测所述被测装置产生的错误信号，并将其保存到所述存储单元，所述上位机读取所述存储单元中的错误信号，并对其进行分析。
一种电子装置错误检测方法，包括以下步骤：
一错误侦测锁存单元对一被测装置进行侦测，并锁存所述被测单元产生的错误信号；
所述错误侦测锁存单元将锁存的错误信号存储到一存储单元中；及
一上位机读取所述存储单元中的错误信号，并对其进行分析。
相较于现有技术，上述电子装置错误检测系统和方法能锁存错误信号，从而方便分析错误原因。
附图说明
图1是本发明电子装置错误检测系统的一较佳实施方式的一框图。
图2是本发明电子装置错误检测方法的一较佳实施方式的一流程图。
主要元件符号说明
上位机 10
第一接口 11
控制单元 20
第二接口 21
存储单元 30
错误侦测锁存单元 40
指示单元 60
被测装置 80
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明电子装置错误检测系统一较佳实施例包括一上位机10、一控制单元20、一存储单元30、一错误侦测锁存单元40和一指示单元60，该检测系统用来对一被测装置80进行检测。
在一实施例中，该上位机10为一电脑，该上位机10通过一第一接口11连接到该控制单元20，该控制单元20包括一第二接口21，该第二接口21与该第一接口11相连，该第二接口21与该第一接口11为同类型的接口，例如同为串行接口或USB接口。
该存储单元30连接到该控制单元20，该错误侦测锁存单元40分别连接到该存储单元30、该指示单元60和该被测装置80，该错误侦测锁存单元40侦测该被测装置80被测过程中是否发生错误，若发生了错误，该错误侦测锁存单元40将该错误指令锁存，并让指示单元60指示发生了错误，例如让指示单元60闪烁，然后错误侦测锁存单元40将锁存的指令保存在存储单元30中，上位机10可通过控制单元20读取存储单元30中的错误指令，从而可对产生错误的原因进行分析，且被测装置80在测试过程中可能产生一串错误指令，这些错误指令均能被错误侦测锁存单元40所侦测到，并依次保存到存储单元30中，则上位机10通过分析这一串错误指令而可很容易地得到产生错误的原因。
该上位机10还可将调试信号通过该控制单元20存储到该存储单元30中，该控制单元20控制该错误侦测锁存单元40将调试信号传送给该被测装置80，从而对该被测装置80进行调试。
请参阅图2，其为该电子装置错误检测系统的流程图。
步骤201，错误侦测锁存单元40侦测被测装置80在测试过程中是否产生了错误信号，当发现了错误信号后，到步骤202。
步骤202，错误侦测锁存单元40将该错误信号锁存，且错误侦测锁存单元40控制指示单元60进行指示，然后到步骤203。
步骤203，错误侦测锁存单元40将锁存的错误信号存储到该存储单元30，然后到步骤204。
步骤204，该上位机10通过控制单元20读取存储在存储单元30中的错误信号，并对这些错误信号进行分析。

Claims (7)

1.一种电子装置错误检测系统，用来对一被测装置进行检测，所述电子装置错误检测系统包括一上位机，其特征在于：所述电子装置错误检测系统还包括一错误侦测锁存单元和一存储单元，所述错误侦测锁存单元连接到所述被测装置，所述错误侦测锁存单元侦测所述被测装置产生的错误信号，并将其保存到所述存储单元，所述上位机读取所述存储单元中的错误信号，并对其进行分析。
2.如权利要求1所述的电子装置错误检测系统，其特征在于：一指示单元连接到所述错误侦测锁存单元，所述指示单元在所述错误侦测锁存单元侦测到错误信号时进行指示。
3.如权利要求1所述的电子装置错误检测系统，其特征在于：一控制单元连接在所述存储单元和所述上位机之间，所述控制单元通过串行接口或USB接口连接到所述上位机。
4.如权利要求3所述的电子装置错误检测系统，其特征在于：所述上位机将调试信号通过所述控制单元存储到所述存储单元中，所述控制单元控制所述错误侦测锁存单元将调试信号传送给所述被测装置，从而对所述被测装置进行调试。
5.一种电子装置错误检测方法，包括以下步骤：
一错误侦测锁存单元对一被测装置进行侦测，并锁存所述被测单元产生的错误信号；
所述错误侦测锁存单元将锁存的错误信号存储到一存储单元中；及
一上位机读取所述存储单元中的错误信号，并对其进行分析。
6.如权利要求5所述的电子装置错误检测方法，其特征在于：一指示单元在所述错误侦测锁存单元侦测到错误信号时进行指示。
7.如权利要求6所述的电子装置错误检测方法，其特征在于：所述错误侦测锁存单元一次存储多个错误信号到所述存储单元中。
CN201110423303.0A 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法 Pending CN103164303A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110423303.0A CN103164303A (zh) 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法
TW100147861A TW201327133A (zh) 2011-12-16 2011-12-21 電子裝置錯誤檢測系統及方法
US13/564,793 US20130159777A1 (en) 2011-12-16 2012-08-02 Testing system and method for testing electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110423303.0A CN103164303A (zh) 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103164303A true CN103164303A (zh) 2013-06-19

Family

ID=48587413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110423303.0A Pending CN103164303A (zh) 2011-12-16 2011-12-16 电子装置错误检测系统及方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20130159777A1 (zh)
CN (1) CN103164303A (zh)
TW (1) TW201327133A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103309788A (zh) * 2013-07-03 2013-09-18 曙光信息产业(北京)有限公司 系统监控的实现方法和系统调试的实现装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1003048B (it) * 1972-03-17 1976-06-10 Honeywell Inf Systems Dispositivo per verificare il cor retto comportamento di unita circui tali integrate sequenziali
US6546507B1 (en) * 1999-08-31 2003-04-08 Sun Microsystems, Inc. Method and apparatus for operational envelope testing of busses to identify halt limits
JP3447638B2 (ja) * 1999-12-24 2003-09-16 日本電気株式会社 半導体装置のテスト方法及びシステム並びに記録媒体
US7149640B2 (en) * 2002-06-21 2006-12-12 King Tiger Technology, Inc. Method and system for test data capture and compression for electronic device analysis
US7421632B2 (en) * 2006-05-31 2008-09-02 Verigy (Singapore) Pte. Ltd. Mapping logic for controlling loading of the select ram of an error data crossbar multiplexer
US8738977B2 (en) * 2006-08-31 2014-05-27 Agere Systems Llc Yield-enhancing device failure analysis
CN100558111C (zh) * 2007-02-05 2009-11-04 华为技术有限公司 城域以太网提供多业务组网下的可靠性处理方法及系统
US8006136B2 (en) * 2007-10-08 2011-08-23 Wurldtech Security Technologies Automatic grammar based fault detection and isolation
US8838406B2 (en) * 2008-11-11 2014-09-16 Advantest (Singapore) Pte Ltd Re-configurable test circuit, method for operating an automated test equipment, apparatus, method and computer program for setting up an automated test equipment
KR20100103212A (ko) * 2009-03-13 2010-09-27 삼성전자주식회사 복수개의 테스트 모듈을 구비하는 테스트 보드 및 이를 구비하는 테스트 시스템
US8386857B2 (en) * 2010-04-28 2013-02-26 Tektronix, Inc. Method and apparatus for measuring symbol and bit error rates independent of disparity errors
US9059879B2 (en) * 2011-07-08 2015-06-16 Infineon Technologies Ag Test signal generation and application in receivers
US8533655B1 (en) * 2011-11-15 2013-09-10 Xilinx, Inc. Method and apparatus for capturing data samples with test circuitry
US8963573B2 (en) * 2011-12-22 2015-02-24 Cisco Technology, Inc. Universal test system for testing electrical and optical hosts
US8793536B2 (en) * 2012-08-22 2014-07-29 Tektronix, Inc. Test and measurement instrument with auto-sync for bit-error detection

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103309788A (zh) * 2013-07-03 2013-09-18 曙光信息产业(北京)有限公司 系统监控的实现方法和系统调试的实现装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20130159777A1 (en) 2013-06-20
TW201327133A (zh) 2013-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20180107196A1 (en) Method of Detecting Home Appliance Bus Control System
CN101778307B (zh) 机顶盒功能测试装置
CN101093462B (zh) 数据库应用集群压力测试自动化方法
CN103376380B (zh) 一种测试系统及方法
CN105070321B (zh) 存储器件的快速测试电路及方法
CN105425201B (zh) 用于智能电能表软件可靠性检测的计量芯片模拟测试方法
US8996928B2 (en) Devices for indicating a physical layer error
US20130111268A1 (en) Testing device capable of simulating plugging and unplugging operations and method thereof
CN107992399A (zh) 一种内存条状态检测方法、装置及系统
CN107544366A (zh) 一种自动控制系统中冗余传感器信号采集及处理方法
US20140325285A1 (en) Serial attached scsi expander and method for debugging faults thereof
CN106354636A (zh) 一种检测代码的方法及装置
CN103164303A (zh) 电子装置错误检测系统及方法
CN102778632A (zh) 对变压器绕组故障类型直接预报和识别的双规识别法
CN105117334A (zh) 一种基于xml的测试需求描述及其实现方法
CN107907838A (zh) 一种冗余电源模块测试系统及方法
CN107562593A (zh) 一种验证内存ecc功能的自动化测试方法与系统
CN104158852A (zh) 一种低压集抄集中器与本地通讯模块信息交互检测系统
CN102541705A (zh) 计算机的测试方法和工装板
CN202267870U (zh) 一种事件顺序记录系统的测试分析装置
CN103164302A (zh) 电子装置错误检测系统及方法
CN104038380A (zh) 服务器主板检测系统及方法
CN104243222A (zh) 网络设备性能测试方法及测试装置和测试系统
CN112903211A (zh) 一种检测燃气管道严密性的设备及方法
CN113515507B (zh) 应用于大坝渗水检测的方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C05 Deemed withdrawal (patent law before 1993)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130619