CN103150072A - 触控装置及其触控方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种触控装置及其触控方法。所述触控装置包括触控面板、信号产生单元、电感以及检测单元。触控面板具有多个触控区域。信号产生单元用以产生驱动信号。电感耦接于触控面板及信号产生单元之间，以传送驱动信号至这些触控区域。检测单元耦接触控面板及信号产生单元，以接收这些触控区域输出的多个触控信号，并依据驱动信号的输出时序及这些触控信号计算这些触控区域的电容值变化，以检测触控面板的触控点。其中，驱动信号的频率相同于触控面板的参考电容值与电感的电感值的谐振频率。本发明可提高触控装置的感测灵敏度。

Description

触控装置及其触控方法

技术领域

本发明涉及一种触控装置，且尤其涉及一种电容式的触控装置。

背景技术

近年来，随着无线移动通信和信息家电的快速发展与进步，为了达到更便利、体积更轻巧化以及更加直觉化的操作而消除人们与电脑装置之间的隔阂，许多信息产品已由传统的键盘或鼠标等输入装置，转变为使用触控面板（Touch Panel）作为输入装置。其中，由于电容式触控面板的触控检测效果较为良好，因此大量关于电容式触控面板的触控技术应运而生。

在传统的触控感测机制中，一般的触控感测电路(sensor IC)通常是利用计数不同电容值下的感测电容的充放电次数来判断对应的触控区域是否被触碰。举例来说，触控感测电路可设定一个充放电次数的临界值，当充放电次数高于所设定的临界值时则触控感测电路判断对应的触控区域被触碰，以藉此实现触控感测的机制。然而，利用此方式的触控感测机制的灵敏度较低，若是利用触控笔等接触面积较小的触控方式时，由于电容变化量相对手指触控时来得较小，将使得触控感测电路可能会产生误判而无法精确地判断触控面板是否被触碰。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提供一种触控装置，特别是有关于一种电容式触控装置，利用谐振原理检测触控信号的峰值电压变化量来判断触控面板的电容变化量，藉此可提高触控装置的感测灵敏度。

本发明提出一种触控装置，包括触控面板、信号产生单元、电感以及检测单元。触控面板具有多个触控区域。信号产生单元用以产生驱动信号。电感耦接于触控面板及信号产生单元之间，以传送驱动信号至这些触控区域。检测单元耦接触控面板及信号产生单元，以接收这些触控区域输出的多个触控信号，并依据驱动信号的输出时序及这些触控信号计算这些触控区域的电容值变化，以检测触控面板的触控点。其中，驱动信号的频率相同于触控面板的参考电容值与电感的电感值的谐振频率。

本发明提出一种触控方法，包括：通过电感将驱动信号依序传送至触控面板的多个触控区域；接收对应这些触控区域输出的多个触控信号；依据驱动信号的输出时序及这些触控信号，计算这些触控区域的电容值变化；以及依据这些触控区域的电容值变化，检测触控面板的触控点。

本发明实施例的触控装置可依据触控信号的峰值电压的变化来计算触控面板上的各个触控区域的电容值是否产生改变，并据以检测触控面板上的触控点，并且可提高触控装置的感测灵敏度。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1为本发明一实施例的触控装置的示意图。

图2为本发明一实施例的检测单元的电路示意图。

图3A与3B为本发明一实施例的触控装置的信号波形示意图。

图4为本发明另一实施例的触控装置的示意图。

图5为本发明再一实施例的触控装置的示意图。

图6为本发明一实施例的触控方法的示意图。

上述附图中的附图标记说明如下：

100、300、400：触控装置

110、310、410：触控面板

120、320、420：信号产生单元

130、330、430：检测单元

132：第一多工器

134：取样放大器

136：取样电路

138：电容

140、340、440：电感

350：第二多工器

450：第三多工器

Ec1～Ecn：列电极

Er1～Erm：行电极

TA_11～TA_mn：触控区域

SW1～SW4：开关

s_c：控制信号组

s_d：驱动信号

s_t1～s_tk：触控信号

s_t1a～s_t1b：波形

V_p：峰值电压

V_pb：峰值基准电压

S600～S608：步骤

具体实施方式

为了提升电容式触控面板的灵敏度，在本发明实施例中利用电感与电容电路的谐振原理，进行触控点的检测。

图1为本发明一实施例的触控装置的示意图。请参照图1，在本实施例中，触控装置100包括触控面板110、信号产生单元120、检测单元130以及电感140。触控面板110具有多个触控区域TA_11～TA_mn，其中m、n为正整数，依据触控面板110的解析度需求而定。信号产生单元120用以产生驱动信号s_d。电感140耦接于触控面板110及信号产生单元120之间，以传送驱动信号s_d至触控区域TA_11～TA_mn。

检测单元130耦接触控面板110及信号产生单元120。检测单元130接收触控区域TA_11～TA_mn所输出的多个触控信号s_t1～s_tk，k为正整数，且k值可依据触控区域的个数而设计。其中，检测单元130依据驱动信号s_d的输出时序及触控信号s_t1～s_tk计算触控区域TA_11～TA_mn的电容值变化，并据以检测并输出触控面板110的触控点PT，亦即触控位置。

在本实施例中，触控面板110为电容式触控面板(capacitive touch panel)，对于电容式触控面板而言，其每一触控区域的感测藉由检测对应触控区域的电容值的变化而判断该区域是否有触碰事件发生。

从另一观点，触控面板110可例如为互容式(mutual capacitance)的触控面板或是自容式(self capacitance)的触控面板。其中，互容式的触控面板对应感测触控面板中电极与电极间的互感电容(mutual capacitor)的电容值改变，以输出感测信号s_t1～s_tk，而自容式的触控面板则对应感测触控面板中各个电极(sensor pattern)与地(ground)之间的电容值改变，以输出感测信号s_t1～s_tk。

具体来说，在本实施例中，由于电感140与触控面板110中各触控区域TA_11～TA_mn的等效电容可分别等效为一串联电路架构，而此串联电路架构利用谐振电路(resonant circuit)的电路原理，未受触碰的各触控区域TA_11～TA_mn的等效电容值C与电感140的电感值L相互抵销时，可等效为纯电阻电路，并且称驱动信号s_d的频率为谐振电路的谐振频率：

$\frac{1}{2\mathrm{\π}}\sqrt{\mathrm{LC}}$

亦即此串联电路架构的等效阻抗为反应于电感140的电感值L以及对应的触控区域TA_11～TA_mn的等效电容值C而决定。在本实施例中，由于电感140的电感值L为固定，而触控面板的电容值反应于各触控区域TA_11～TA_mn是否被触碰而产生变化，故各触控区域TA_11～TA_mn对应的等效阻抗将会反应于各触控区域TA_11～TA_mn的等效电容值C的变化而对应地改变，而对应于各个触控区域TA_11～TA_mn所测量到的触控信号s_t1～s_tk的峰值电压亦将随之变化。换言之，触控信号s_t1～s_tk的峰值电压变化将与触控区域TA_11～TA_mn的电容值变化相关。

详细而言，在触控装置100中，信号产生单元120可产生频率相同于触控面板110未受触碰时的参考电容值C与电感140的电感值L的谐振频率的驱动信号s_d。在本实施例中，所述的参考电容值可为触控区域TA_11～TA_mn于未被触碰时分别对应的多个电容值的平均值，或者触控区域TA_11～TA_mn于未被触碰时分别对应的多个电容值中的最大电容值与最小电容值的平均值。此外，在其他实施例中，参考电容值亦可为触控区域TA_11～TA_mn被触碰时分别对应的电容值的平均值，或者触控区域TA_11～TA_mn被触碰时分别对应的电容值的最大电容值与最小电容值的平均值，参考电容值C亦有其他算法，本发明不加以赘述，未受到触碰的电容值即为参考电容值C。

依据上述，当触控面板110进行初始化时，驱动信号s_d与触控信号s_t1～s_tk不会有相位变化，亦即在触控面板110未被触碰且驱动信号s_d的频率等同于上述谐振频率的状况下，检测单元130可记录触控信号s_t1～s_tk的峰值电压作为多个峰值基准电压。

当触控面板110受到触碰，而造成触控信号s_t1～s_tk与驱动信号s_d产生相位上的位移(phase shift)时，检测单元130会利用电容存储触控信号s_t1～s_tk，检测到达一稳定状态的峰值电压，并且根据当电容变化率小于10%时，电容变化量与电压变化量呈线性正相关，因此可以根据峰值电压变化量判断触控区域TA_11～TA_mn的电容值变化量。换句话说，当触控面板110的任一触控区域TA_11～TA_mn被触碰时，检测单元130可依据对应的触控信号s_t1～s_tk的峰值电压变化来计算触控区域TA_11～TA_mn的电容值变化，进而检测并输出触控面板110的触控点PT。

此外，若是检测单元130判断电容变化率大于10%的情况下，其亦可藉由控制切换开关(未示出)来选择切换耦接至具有不同电感值的电感来匹配电容变化率大于10%的变化区间，例如电容变化率为10%至20%的区间，以使电容变化量与电压变化量呈线性正相关，故本发明不以此为限。

为了更进一步地说明本发明实施例的触控感测方式，图2为本发明一实施例的检测单元的电路示意图。请参照图2，检测单元130包括第一多工器132、取样放大器134、取样电路136以及开关SW1。第一多工器132具有多个输入端耦接触控面板110以分别接收对应的触控信号s_t1～s_tk，并且第一多工器132具有输出端以依序输出触控信号s_t1～s_tk。

取样放大器134具有第一输入端、第二输入端以及输出端。取样放大器134的第一输入端耦接第一多工器132的输出端以接收触控信号s_t1～s_tk，取样放大器134的第二输入端耦接接地电压GND。

取样电路136耦接取样放大器134的输出端以接收放大后的触控信号s_t1～s_tk，其中取样电路136包括电容138。取样电路136受控于控制信号组s_c而利用电容138来存储触控信号s_t1～s_tk。

举例来说，取样电路136可利用开关SW2、SW3及SW4与电容138的电路架构来实现，其中各个开关SW2、SW3及SW4可依据控制信号组s_c中之对应的控制信号而导通或截止，并藉以取样触控信号s_t1～s_tk使得电容138反应于触控信号s_t1～s_tk而充电，并据以存储触控信号s_t1～s_tk。其中，控制信号组s_c及其对应于各个开关的控制信号可由信号产生单元120所提供。

其后，取样电路136可进一步地将电容138所存储的触控信号s_t1～s_tk输出至类比数位转换器(未示出)以进行后端的信号处理来检测并输出触控面板110的触控点。

在此，所述的取样电路136的电路架构仅为举例，任何可对触控信号s_t1～s_tk进行取样以及保持动作的电路架构皆不脱离本实施例的取样电路136的范围。

此外，图3A与3B为本发明一实施例的触控装置的信号波形示意图。在此以自容式触控面板为例，且以触控区域TA_11的驱动与感测来进行说明。在图3A的实施例中，驱动信号s_d是以弦波信号为例；另外，在图3B的实施例中，驱动信号s_d则是以方波信号为例。此外，其他实施例中，驱动信号s_d亦可为梯形波或三角波信号，本发明不以此为限。

请同时参照图1与图3A，在触控面板110进行初始化时，触控区域TA_11依据弦波形式的驱动信号s_d而产生对应于未被触控的状态下的触控信号s_t1（如波形s_t1a所示），此时的触控信号s_t1与驱动信号s_d之间不具有相位差。

当触控区域TA_11被碰触时，触控区域TA_11的等效电容值会改变，可以根据以下公式算出等效阻抗值：

$Z=R+j(X_L-X_C)=R+j(\mathrm{\ωL}-\frac{1}{\mathrm{\ωC}})=R+j(2\mathrm{\πfL}-\frac{1}{2\mathrm{\πfC}})$

其中，X_L=2πfL为电感的感抗值，

为电容的容抗值(单位:欧姆)

并且使得触控区域TA_11依据驱动信号s_d而产生对应于被触碰的状态下的触控信号s_t1（如波形s_t1b所示），其中由于等效电容值的改变使得谐振电路带有电容性，故检测单元130所接收到的触控信号s_t1与驱动信号s_d具有相位差。因此，检测单元130可基于所接收到的触控信号s_t1与驱动信号s_d之间的相位差而据以判断触控区域TA_11被触碰而输出对应的触控点PT。

另一方面，请同时参照图1、图2与图3B，在触控面板110进行初始化时，触控区域TA_11依据驱动信号s_d而产生对应于未被触碰的状态下的触控信号s_t1（如波形s_t1a所示），此时检测单元130接收触控信号s_t1并且利用取样电路136对电容138进行充电，当其到达一稳定状态的峰值电压则定义为峰值基准电压V_pb。

当触控区域TA_11被碰触时，触控区域TA_11的等效电容值会改变，其中触控区域TA_11的等效电容值可利用上述的公式计算出。此时，检测单元130将会接收到如波形s_t1b所示的触控信号s_t1。检测单元130将基于所接收到的触控信号s_t1而利用取样电路136对电容138进行充电，当其到达一稳定状态的峰值电压V_p以及峰值基准电压V_pb来计算触控区域TA_11的电容值变化，并据以判断触控区域TA_11被触碰而输出对应的触控点PT。

举例来说，当触控区域TA_11未被触碰时，其电容值可例如为5pF，而检测单元130所记录的峰值基准电压可例如为1.892伏特(V)。当触控区域TA_11被触碰而使得电容值提升至5.1pF时，检测单元130所检测到触控信号s_t1的峰值电压将对应地提升至例如为1.994V。由此可知，当触控区域TA_11的等效电容值产生0.1pF的电容值变化时，则触控信号s_t1的峰值电压将会对应地产生102毫伏特(mV)的变化。换言之，触控区域TA_11的电容值变化量与触控信号s_t1的峰值电压变化量可于特定的变化区间内(例如电容值变化量小于10%的变化区间)呈正相关。上述电容值变化量与峰值电压的变化量为用以说明，此为依据触控面板的设计而定，以一实验例而言，预设电感值为470微亨利(Uh)，例如0.01pF的电容变化量可能对应至10毫伏特的峰值电压变化量，1pF的电容变化量可能对应至1.125伏特的峰值电压变化量。此外，由于电感的大小与谐振频率f成正相关，因此若欲增加触控面板的灵敏度，可提高电感的电感值。

相较于传统的利用检测电容路径的充放电次数来判断触控区域TA_11～TA_mn是否被触碰的触控感测方式，本实施例的触控装置100可藉由检测触控信号s_t1～s_tk的峰值电压变化来判断触控区域TA_11～TA_mn是否被触碰，进而提高了触控装置的感测灵敏度。如此一来，就算是利用触控面积较小的触控媒介(例如触控笔等)来触碰触控面板110，检测单元110亦可依据触控信号s_t1～s_tk的峰值电压的变化而准确地判读对应的触控区域TA_11～TA_mn是否被触碰。

在以下图4与图5实施例的说明中，将分别以互容式与自容式的触控架构为例来说明本发明实施例的触控装置。

图4为本发明另一实施例的触控装置的示意图。在此，触控面板310为互容式触控面板，且是以具有m行n列触控区域TA_11～TA_mn的互容式触控面板为例。其中，触控区域TA_11～TA_mn为由纵向排列的行(row)电极Er1～Erm与横向排列的列(column)电极Ec1～Ecn的重叠区域所形成。

请参照图4，触控装置300包括触控面板310、信号产生单元320、检测单元330、电感340以及第二多工器350。其中，信号产生单元320以及检测单元330的运作方式大致相同图1所示的信号产生单元120以及检测单元130，故于此不再赘述。

在本实施例中，第二多工器350具有一输入端与多个输出端，第二多工器350输入端耦接电感340以通过电感340接收驱动信号s_d，且第二多工器350的输出端则分别耦接对应的行电极Er1～Erm（等同于耦接一列的触控区域）。信号产生单元320所产生的驱动信号s_d经由电感340传送至第二多工器350后，第二多工器350将驱动信号s_d逐行提供至触控面板310的触控区域TA_11～TA_1n、TA_21～TA_2n、…、TA_m1～TA_mn，以使触控面板310输出对应于各个触控区域TA_11～TA_mn的触控信号s_t1～s_tk。

详细而言，信号产生单元320可通过第二多工器350的切换而将驱动信号s_d逐行地提供至每一行电极Er1、Er2、…、Erm，使得同一行电极上的各个列电极Ec1～Ecn反应于其与行电极Er1、Er2、…、Erm间的电容值变化而输出对应于每一触控区域TA_11～TA_1n、TA_21～TA_2n、…、TA_m1～TA_mn的触控信号s_t1～s_tk。

举例来说，在驱动信号s_d通过第二多工器350提供至行电极Er1时，各个列电极Ec1～Ecn会反应于行电极Er1上的驱动信号s_d而输出分别对应触控区域TA_11～TA_1n的触控信号s_t1～s_tk，例如列电极Ec1输出对应于触控区域TA_11的触控信号s_t1，列电极Ec2输出对应于触控区域TA_12的触控信号s_t2，以此类推。接着，在检测单元330接收到对应于触控区域TA_11～TA_1n的触控信号s_t1～s_tk后，驱动信号s_d会反应于第二多工器350的切换而被提供至行电极Er2。相似地，各个列电极Ec1～Ecn输出分别对应于触控区域TA_21～TA_2n的触控信号s_t1～s_tk，例如列电极Ec1输出对应于触控区域TA_21的触控信号s_t1，列电极Ec2输出对应于触控区域TA_22的触控信号s_t2，以此类推。藉此，第二多工器350会依据上述方式而依序地切换并且将驱动信号s_d提供至每一行电极Er1～Erm，使得检测单元330得到对应于每一触控区域TA_11～TA_mn的触控信号s_t1～s_tk。

另一方面，第二多工器350亦可以反向的顺序来依序逐行地提供驱动信号s_d，例如依序将驱动信号s_d提供至行电极Erm、Erm-1、…、Er2、Er1。

此外，在其他实施例中，触控面板310亦可藉由自容式的感测方式来驱动。举例来说，第二多工器350可更进一步地将驱动信号s_d依序提供至每一行电极Er1～Erm，接着将驱动信号s_d依序提供每一列电极Ec1～Ecn，使得每一行电极Er1～Erm与每一列电极Ec1～Ecn分别反应于所接收的驱动信号s_d而回传触控信号s_t1～s_tk。然后，检测单元330可接收每一行电极Er1～Erm与每一列电极Ec1～Ecn所产生的触控信号s_t1～s_tk。

在触控面板310中，触控区域TA_11～TA_mn所对应的电容值会依据是否被触碰而变化，并且触控信号s_t1～s_tk的峰值电压会分别对应触控区域TA_11～TA_mn的电容值而决定。因此，检测单元330可依据触控信号s_t1～s_tk的峰值电压与峰值基准电压间的差异来计算触控区域TA_11～TA_mn的电容值的变化，并据以检测触控面板310的触控点，亦即检测触控区域TA_11～TA_mn是否被碰触。

另一方面，图5为本发明再一实施例的触控装置的示意图。在此，触控面板410为自容式触控面板，且同样地是以具有m行n列触控区域TA_11～TA_mn的自容式触控面板为例。其中，触控区域TA_11～TA_mn为分别对应以阵列排列的多个电极的电极区域。

请参照图5，触控装置400包括触控面板410、信号产生单元420、检测单元430、电感440以及第三多工器450。其中，信号产生单元420以及检测单元430的运作方式大致相同于图1所示的信号产生单元320以及检测单元330，故于此不再赘述。

在本实施例中，第三多工器450具有输入端与多个输出端，第三多工器450的输入端耦接电感440以通过电感440接收驱动信号s_d，且第三多工器450的输出端则分别耦接触控区域TA_11～TA_mn。信号产生单元420所产生的驱动信号s_d经由电感440传送至第三多工器450后，第三多工器450将依序提供驱动信号s_d至各个触控区域TA_11～TA_mn，以使各个触控区域TA_11～TA_mn输出对应的触控信号s_t1～s_tk。

详细而言，信号产生单元320可通过第三多工器450的切换而将驱动信号s_d依序地提供至触控面板410的触控区域TA_11～TA_mn。举例来说，第三多工器450可依序切换以提供驱动信号s_d至第一行的每一个触控区域（如TA_11、TA_12、…、TA_1n），再提供驱动信号s_d至第二行的每一个触控区域（如TA_21～TA_2n），其余则以此类推。并且，驱动信号s_d提供至每一行的每一个触控区域的方向可由图示的左方至右方、由图示的右方至左方、或者由图示的中间左右切换至触控面板410的外围，其可依据本领域通常知识都自行设计。

此外，上述驱动信号s_d的提供顺序为由第一行、第二行至最后一行，但在其他实施例中，驱动信号s_d的提供顺序亦可由最后一行至第一行，本发明实施例不以此为限。

另一方面，第三多工器450亦可依序切换以提供驱动信号s_d至第一列的每一个触控区域（如TA_11、TA_21、…、TA_m1），再提供驱动信号s_d至第二列的每一个触控区域（如TA_12～TA_m2），其余则以此类列。并且，驱动信号s_d提供至每一行的每一个触控区域的方向可由图示的上方至下方、由图示的下方至上方、或者由图示的中间上下切换至触控面板410的外围，其可依据本领域通常知识都自行设计。

此外，上述驱动信号s_d的提供顺序为由第一列、第二列至最后一列，但在其他实施例中，驱动信号s_d的提供顺序亦可由最后一列至第一列，本发明实施例不以此为限。

进一步地来说，上述所述驱动信号s_d提供至对应的触控区域TA_11～TA_mn的提供顺序为用以教示，而本领域常知识者可自行设定而以任意驱动顺序来使第三多工器450对应地提供驱动信号s_d至对应的触控区域TA_11～TA_mn，且本发明不以此为限。

对于自容式的触控面板410来说，触控区域TA_11～mn所对应的电容值会依据是否被触碰而变化，并且触控信号s_t1～s_tk的峰值电压会分别对应触控区域TA_11～TA_mn的电容值而决定。因此，检测单元430可依据触控信号s_t1～s_tk的峰值电压与峰值基准电压间的差异来计算触控区域TA_11～TA_mn的电容值的变化，并据以检测触控面板410的触控点，亦即检测触控区域TA_11～TA_mn是否被碰触。

值得注意的是，在本实施例中，检测单元430通过不同的传输路径来接收驱动信号s_d与触控信号s_t1～s_t1k。但在本发明一实施例中，检测单元430可经由与驱动信号s_d相同的传输路径来接收触控信号s_t1～s_tk，亦即触控区域TA_11～TA_mn经由对应的传输路径接收驱动信号s_d后，再对应地经由相同的传输路径回传触控信号s_t1～s_tk至检测单元430。

图6为本发明一实施例的触控方法的示意图。请参照图6，在步骤S600中，首先通过电感（如电感140、340或440）将驱动信号（如驱动信号s_d）依序传送至显示面板（如触控面板110、310或410）的触控区域。接着，在触控区域接收到驱动信号后，各个触控区域会反应于驱动信号而产生并输出多个触控信号（如触控信号s_t1～s_tk），使得检测单元（如检测单元130、330或430）接收触控区域所输出的触控信号（步骤S602）。接着，在检测单元依据驱动信号的输出时序及触控信号来计算触控区域的电容值变化（步骤S604）后，检测单元会进一步地依据触控区域的电容值变化来检测触控面板的触控点（步骤S606）。

除此之外，关于通过电感将驱动信号传送至触控区域（步骤S600）及计算触控区域的电容值变化（步骤S606）的详细步骤可参照上述图1至图5实施例，故于此不再赘述。

综上所述，本发明实施例的触控装置可依据触控信号的峰值电压的变化来计算触控面板上的各个触控区域的电容值是否产生改变，并据以检测触控面板上的触控点，并且可提高触控装置的感测灵敏度。

虽然本发明已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定的范围为准。

Claims (14)

1.一种触控装置，包括：

一触控面板，具有多个触控区域；

一信号产生单元，用以产生一驱动信号；

一电感，耦接于该触控面板及该信号产生单元之间，以传送该驱动信号至该些触控区域；以及

一检测单元，耦接该触控面板及该信号产生单元，以接收所述多个触控区域输出的多个触控信号，并依据该驱动信号的输出时序及所述多个触控信号计算所述多个触控区域的电容值变化，以检测该触控面板的一触控点；

其中，该驱动信号的频率为该触控面板的一参考电容值与该电感的电感值的谐振频率。

2.如权利要求1所述的触控装置，其中该检测单元包括：

一第一多工器，具有多个输入端耦接该触控面板以分别接收对应的所述多个触控信号，并且具有一输出端以依序输出所述多个触控信号；

一取样放大器，具有一第一输入端、一第二输入端以及一输出端，该第一输入端耦接该第一多工器的该输出端以接收所述多个触控信号，该第二输入端耦接一接地电压；

一取样电路，耦接该取样放大器的该输出端以接收放大后的所述多个触控信号，用以取样所述多个触控信号的峰值电压。

3.如权利要求1所述的触控装置，其中该检测单元依据所述多个触控信号的峰值电压变化计算所述多个触控区域的电容值变化。

4.如权利要求3所述的触控装置，其中当该触控面板于未受触碰状态，所述多个触控信号的峰值电压为多个峰值基准电压，当该触控面板于受到触碰状态，该检测单元依据所述多个峰值基准电压及所述多个触控信号的峰值电压判断所述多个触控区域的电容值变化。

5.如权利要求1所述的触控装置，其中该触控面板为一互容式触控面板，且该触控信号逐行提供至所述多个触控区域。

6.如权利要求5所述的触控装置，还包括一第二多工器，具有一输入端耦接该电感以通过该电感接收该驱动信号，并且具有多个输出端分别耦接一行的所述多个触控区域。

7.如权利要求1所述的触控装置，其中该触控面板为一自容式触控面板。

8.如权利要求7所述的触控装置，还包括一第三多工器，具有一输入端耦接该电感以通过该电感接收该驱动信号，并且具有多个输出端分别耦接所述多个触控区域。

9.如权利要求1所述的触控装置，其中该参考电容值为所述多个触控区域对应的电容值的平均值。

10.如权利要求1所述的触控装置，其中该参考电容值为所述多个触控区域对应的电容值的一最大电容值与一最小电容值的平均值。

11.如权利要求1所述的触控装置，其中该驱动信号为正弦波、方波、梯形波及三角波的其中之一。

12.一种触控方法，包括：

通过一电感将一驱动信号依序传送至一触控面板的多个触控区域；

接收对应所述多个触控区域输出的多个触控信号；

依据该驱动信号的输出时序及所述多个触控信号，计算所述多个触控区域的电容值变化；以及

依据所述多个触控区域的电容值变化，检测该触控面板的一触控点。

13.如权利要求12所述的触控方法，其中依据该驱动信号的输出时序及所述多个触控信号，计算所述多个触控区域的电容值变化的步骤包括：

依据所述多个触控信号的峰值电压变化计算所述多个触控区域的电容值变化。

14.如权利要求13所述的触控方法，其中依据所述多个触控信号的峰值电压变化计算所述多个触控区域的电容值变化的步骤包括：

将该触控面板未受触碰状态下的所述多个触控信号的峰值电压作为多个峰值基准电压；以及

依据所述多个峰值基准电压及所述多个触控信号的峰值电压判断所述多个触控区域的电容值变化。

Images