CN103053222B - 用于有机发光二极管的监督电路 - Google Patents

Abstract

本发明涉及监督电路（10），其用于通过检测电路（20）来监督有机发光二极管器件（1），检测电路（20）用于检测有机发光二极管器件（1）的故障状态并用于响应于检测到的有机发光二极管器件（1）的故障状态产生判决信号，所述检测到的故障状态的持续时间等于或大于时间间隔。响应于判决信号，可以通过诸如双稳态电路的开关电路（30）对于有机发光二极管器件（1）形成旁路并且使得有机发光二极管器件（1）不工作。故障状态可以包括有机发光二极管器件（1）具有较低阻抗或“短路”以及较高阻抗或“开路”。监督电路（10）还防止对于有机发光二极管器件（1）不当地形成旁路。监督电路（10）可以是自治电路，仅通过有机发光二极管器件（1）接收功率，可以是自动电路，在关闭之后自动复位自身。

Description

用于有机发光二极管的监督电路

技术领域

本发明涉及用于监督有机发光二极管器件的监督电路。

本发明还涉及一种包括监督电路的系统以及监督有机发光二极管器件的方法。这种系统的范例是灯和其他发光二极管系统。

背景技术

US2005/0174064A1公开了一种故障容忍度得到改进的有机发光二极管设备。为了实现这个目的，将无源电流限制部件串联连接到电致发光二极管，从而减小显示器中暗有机发光二极管线缺陷的可能性。这是一种无源方案。

DE10358447B3公开了一种照明布置，WO2010/051832A1公开了一种电路布置和用于操作OLED的方法，US2010/0049454A1公开了一种发光二极管故障监测。

发明内容

本发明的目的是提供一种以更积极方式监督有机发光二极管器件的监督电路。其他目的是提供一种系统和方法。

根据第一方面，提供了一种用于监督有机发光二极管器件的监督电路，监督电路包括

-检测电路，用于检测有机发光二极管器件的故障状态并用于响应于检测到的持续时间等于或大于一定时间间隔的故障状态而产生判决信号，所述故障状态为短路缺陷，以及

-开关电路，用于响应于所述判决信号，对于所述有机发光二极管器件形成旁路。

检测电路检测有机发光二极管器件的故障状态。这样的故障状态包括有机发光二极管器件具有较低或过低阻抗，也称为“短路”。如果有机发光二极管器件形成包括经由恒流驱动器馈电的有机发光二极管器件串的系统的一部分，“短路”可能导致热点，因为局部功率密度可能获得较高或过高的值，该热点可能进一步损伤系统和/或对人有危险。响应于这种故障状态的检测，在其持续时间等于或大于一定时间间隔的条件下，产生判决信号。响应于所述判决信号，开关电路对于所述有机发光二极管器件形成旁路。这样，以更积极的方式监督了有机发光二极管器件。

监督电路还在以下意义上是有利的：故障状态应当具有等于或大于一定时间间隔的持续时间的所述条件可以防止对于有机发光二极管器件不当地形成旁路，例如，响应于诸如打开的转变和/或响应于来自恒流驱动器的变化电流，诸如AC电流或带波纹的电流。

有机发光二极管器件可以包括一个或多个串联和/或并联连接的有机发光二极管单元。时间间隔是大于零的最小时间间隔。

由检测电路界定了监督电路的实施例，所述检测电路被布置成检测所述有机发光二极管器件的另一故障状态，并响应于检测到的另一持续时间等于或大于另一时间间隔的另一故障状态而产生另一判决信号，并且所述开关电路布置成响应于所述另一判决信号对于所述有机发光二极管器件形成旁路，所述另一故障状态为开路缺陷。这样的另一种故障状态包括，有机发光二极管器件具有较高或过高阻抗，也称为“开路”。如果有机发光二极管器件形成包括通过恒流驱动器馈电的一串有机发光二极管器件的系统的一部分，“开路”可能导致整个串不工作。这种监督电路是有利的，因为它能够对两种故障状态，即“开路”和“短路”都做出反应，并且针对每种故障状态可以选择各自的时间间隔。另一时间间隔是大于零的另一最小时间间隔。

由开关电路界定了监督电路的实施例，所述开关电路包括，在导通模式中较低电阻路径，其在一定电流下表现出小于所述有机发光二极管器件在同样一定电流下的正向电压降的正向电压降，并包括在不导通模式中较高电阻路径，其在一定电压下表现出小于在同样一定电压下有机发光二极管器件电流的泄漏电流。这种监督电路是有利的，因为两种明确定义的模式都允许监督电路更优化地工作。

由开关电路界定了监督电路的实施例，所述开关电路是双稳态开关电路，其响应于所述判决信号和/或所述另一判决信号，从不导通模式切换到导通模式，并且一旦流经所述开关电路的一定电流下降到最小值以下就从所述导通模式切换回所述不导通模式。

双稳态开关电路仅需要从不导通模式切换到导通模式的脉冲且在关闭之前不从导通模式切换回不导通模式。

由监督电路界定了监督电路的实施例，所述监督电路是自治电路，仅通过所述有机发光二极管器件接收功率且不接收任何其他功率，所述监督电路是自动电路，在关闭所述有机发光二极管器件之后自动使自身复位且然后在打开所述有机发光二极管器件之后自动设置自身。这种监督电路是有利的，因为它是自治电路和自动电路。

由检测电路界定了监督电路的实施例，所述检测电路包括用于从所述有机发光二极管器件两端的工作电压推导导出电压的第一电路，并包括用于将所述导出电压与参考电压比较的第二电路，从而可以通过过低的导出电压检测到所述有机发光二极管器件的故障状态，并包括用于对来自所述第二电路的输出信号进行积分或低通滤波或延迟的第三电路，使得响应于检测到的持续时间等于或大于所述时间间隔的故障状态，可以产生判决信号，所述开关电路包括晶闸管或三端双向可控硅开关或晶体管或继电器，使得响应于所述判决信号，可以对于所述有机发光二极管器件形成旁路。有机发光二极管器件两端的工作电压是故障状态的良好指示。“短路”形式的故障状态将导致导出电压具有较低或过低值。积分或低通滤波或延迟允许生成并定义所述时间间隔。

由第一电路、第二电路和第三电路界定了监督电路的实施例，所述第一电路包括电阻分压器，所述第二电路包括比较器或运算放大器或晶体管或微控制器，所述第三电路包括积分电路或滤波电路或延迟电路。

由检测电路界定了监督电路的实施例，所述检测电路包括用于从所述有机发光二极管器件两端的工作电压推导导出电压和另一导出电压的第四电路，并包括用于将所述导出电压与参考电压比较的第五电路，从而可以通过过低的导出电压检测到所述有机发光二极管器件的故障状态，并包括用于对来自所述第五电路的输出信号进行积分或低通滤波或延迟的第六电路，使得响应于检测到的持续时间等于或大于所述时间间隔的故障状态，可以产生判决信号，并包括第七电路，用于将所述另一导出电压与另一参考电压比较，从而能够检测到由于过高的另一导出电压所致的所述有机发光二极管器件的另一故障状态，并包括第八电路，用于对来自第七电路的输出信号进行积分或低通滤波或延迟，使得响应于检测到的另一持续时间等于或大于所述另一时间间隔的另一故障状态，可以产生另一判决信号，所述开关电路包括晶闸管或三端双向可控硅开关或晶体管或继电器，使得响应于所述判决信号和/或所述另一判决信号，可以对于所述有机发光二极管器件形成旁路。有机发光二极管器件两端的工作电压是故障状态的良好指示。“短路”形式的故障状态将导致导出电压具有较或过低值。“开路”形式的故障状态将导致导出电压具有较高或过高值。积分或低通滤波或延迟允许生成并定义时间间隔。

由第四电路、第五和第七电路以及第六和第八电路界定了监督电路的实施例，所述第四电路包括电阻分压器，所述第五和第七电路每个或一起包括比较器或运算放大器或晶体管或微控制器，所述第六和第八电路每个或一起包括积分电路或滤波电路或延迟电路。

由相同和/或通过同一元件导出的参考电压和另一参考电压界定了监督电路的实施例。这是一个低成本方案。

由包括微控制器的检测电路界定了监督电路的实施例。这是一个灵活的方案。

根据第二方面，提供了一种系统，包括监督电路，还包括并联耦合到监督电路的有机发光二极管器件。

该系统的实施例被界定为，其还包括连接到所述有机发光二极管器件的另一有机发光二极管器件，以便形成串，其中所述串并联耦合到所述监督电路并被这一监督电路监督或其中所述另一有机发光二极管器件并联耦合到另一监督电路并被这一另一监督电路监督。用于两个或更多有机发光二极管器件的一个监督电路是低成本方案，但如果有机发光二极管器件中仅有一个表现出故障，则对于两者都将形成旁路并且两者都不工作。每个有机发光二极管器件一个监督电路是更昂贵的方案，但如果有机发光二极管器件中仅有一个表现出故障，将仅对于这一个形成旁路并且仅这一个不工作，对于其它的将不形成旁路并且其它的将保持工作。

由如下内容界定系统的实施例：所述有机发光二极管器件可连接到恒流驱动器，所述恒流驱动器用于向所述有机发光二极管器件供应DC电流或AC电流或具有纹波的电流。

根据第三方面，提供了一种用于监督有机发光二极管器件的方法，该方法包括

-检测有机发光二极管器件的故障状态并响应于检测到的持续时间等于或大于一定时间间隔的故障状态而产生判决信号，所述故障状态为短路缺陷，以及

-响应于所述判决信号，对于所述有机发光二极管器件形成旁路。

一种发现可以是，故障状态的开始可能与非故障状态的开始没有不同，为避免混淆，并不立即采取动作，而是仅在过去一定时间间隔之后采取动作。

基本构思可以是，响应于检测到的持续时间等于或大于一定时间间隔的故障状态，要对于有机发光二极管器件形成旁路。

已经解决了提供以更积极方式监督有机发光二极管器件的监督电路的问题。

另一优点可以是，所述条件可以防止对于有机发光二极管器件不当地形成旁路。

本发明的这些和其他方面将从下文描述的实施例变得显而易见并参考其加以阐述。

附图说明

在附图中：

图1示出了包括监督电路的系统，

图2示出了监督电路的第一实施例，

图3示出了监督电路的第二实施例，

图4示出了第二实施例的第一实施方式，

图5示出了第二实施例的第二实施方式，

图6示出了第二实施例的第三实施方式，

图7示出了第二实施例的第四实施方式，

图8示出了第二实施例的第五实施方式，

图9示出了包括用于监督两个有机发光二极管器件的一个监督电路的系统，

图10示出了包括两个监督电路的系统，每个监督电路都用于监督其自己的有机发光二极管器件，

图11示出了第一实施例的第一实施方式，

图12示出了第一实施例的第二实施方式，以及

图13示出了第一实施例的第三实施方式。

具体实施方式

有机发光二极管器件的故障状态可以包括，有机发光二极管器件具有较低阻抗或过低阻抗或“低于正常”阻抗，也称为“短路”。替代性地，这样的故障状态可以包括有机发光二极管器件具有较高阻抗或过高阻抗或“高于正常”阻抗，也称为“开路”。如果有机发光二极管器件形成包括一串有机发光二极管器件的系统的一部分，经由恒流驱动器为有机发光二极管器件馈电，有机发光二极管器件之一“短路”可以导致热点，因为局部功率密度可能得到较高或过高的值，热点可能进一步损伤系统和/或可能对人有危险。对于理想的“短路”而言，在有缺陷的有机发光二极管器件两端将出现零电压，但更实际地讲，对于非理想的“短路”而言，在有缺陷的有机发光二极管器件两端将出现小于工作电压（正常电压）的电压，可以在有缺陷的有机发光二极管器件两端或在整个串两端检测到这种情况。对于形成包括一串由恒流驱动器馈电的有机发光二极管器件的系统的一部分的有机发光二极管器件而言，有机发光二极管器件之一的“开路”可能导致整个串停止工作。对于理想的“开路”而言，在有缺陷的有机发光二极管器件两端将出现无穷大电压，但更实际地讲，对于非理想的“开路”而言，在有缺陷的有机发光二极管器件两端将出现大于工作电压（正常电压）的电压，可以在有缺陷的有机发光二极管器件两端或在整个串两端检测到这种情况。

在图1中，系统40被示为包括并联耦合到有机发光二极管器件1的监督电路10。监督电路10包括检测电路20，用于检测有机发光二极管器件1的故障状态，并响应于检测到的持续时间等于或大于一定时间间隔的故障状态而产生判决信号。监督电路10还包括开关电路30，用于响应于判决信号对于有机发光二极管器件1形成旁路。开关电路30并联耦合到检测电路20。

在图2中，示出了监督电路10的第一实施例。根据这个第一实施例，检测电路20包括第一电路100，用于从有机发光二极管器件1两端的工作电压推导导出电压，并且检测电路20包括第二电路200，用于将导出电压与参考电压比较，从而可以通过过低的导出电压检测到有机发光二极管器件1的故障状态。所述参考电压例如由源201供应和/或从有机发光二极管器件1两端的工作电压导出。检测电路20还包括第三电路300，用于对来自第二电路200的输出信号进行积分或低通滤波或延迟，使得响应于持续时间等于或大于所述时间间隔的检测到的故障状态，可以产生判决信号。开关电路30包括例如晶闸管或三端双向可控硅开关或晶体管或继电器，使得响应于判决信号，对于有机发光二极管器件1可以形成旁路。第一电路100包括例如电阻分压器，第二电路200包括例如比较器或运算放大器或晶体管或微控制器，第三电路300包括例如积分电路或滤波电路或延迟电路。

在图3中，示出了监督电路10的第二实施例。根据这个第二实施例，检测电路20包括第四电路400，用于从有机发光二极管器件1两端的工作电压推导导出电压和另一导出电压，并且检测电路20包括第五电路500，用于将导出电压与参考电压比较，从而可以通过过低的导出电压检测到有机发光二极管器件1的故障状态。所述参考电压例如由源501供应和/或从有机发光二极管器件1两端的工作电压导出。检测电路20还包括第六电路600，用于对来自第五电路500的输出信号进行积分或低通滤波或延迟，使得响应于持续时间等于或大于所述间隔的检测到的故障状态，可以产生判决信号。检测电路20还包括第七电路700，用于将另一导出电压与另一参考电压比较，使得可以通过过高的另一导出电压检测到有机发光二极管器件1的另一故障状态。所述另一参考电压例如由源701供应和/或从有机发光二极管器件1两端的工作电压导出。检测电路20还包括第八电路800，用于对来自第七电路700的输出信号进行积分或低通滤波或延迟，使得响应于另一持续时间等于或大于另一时间间隔的检测到的另一故障状态，可以产生另一判决信号。通过控制开关电路30的第九电路900组合（例如通过或运算或加运算）来自第六和第八电路600和800的输出信号。开关电路30包括例如晶闸管或三端双向可控硅开关或晶体管或继电器，使得响应于判决信号和/或另一判决信号，对于有机发光二极管器件1可以形成旁路。第四电路400包括例如电阻分压器，第五和第七电路500、700的每个或一起包括例如比较器或运算放大器或晶体管或微控制器，第六和第八电路600、800的每个或一起包括例如积分电路或滤波电路或延迟电路。优选地，参考电压和另一参考电压相同和/或通过同一元件导出，例如经温度补偿的电压参考和/或带隙参考。

在图4中，示出了第二实施例的第一实施方式。根据这种第一实施方式，将三个电阻器411-413彼此串联耦合并一起形成并联耦合到有机发光二极管器件（这里未示出）的分压器。三个电阻器411-413形成图3所示的第四电路400的可能实现方式。电阻器411和412之间的互连耦合到晶体管711的控制电极。晶体管711的第一主电极耦合到电阻器411的另一侧，第二主电极通过电阻器811耦合到二极管911的阳极。电阻器412和413之间的互连耦合到晶体管511的控制电极。晶体管511的第一主电极耦合到电阻器413的另一侧，第二主电极耦合到二极管912的阳极。二极管911的阳极进一步通过电容器812耦合到电阻器413的另一侧，二极管912的阳极进一步通过过电容器612耦合到电阻器413的另一侧并通过电阻器611耦合到电阻器411的另一侧。二极管911和912的阴极彼此耦合并耦合到晶闸管31的控制电极。晶闸管31的主电极耦合到电阻器411和413的另一侧。晶体管711形成图3所示第七电路700的可能实现方式。晶体管511形成图3所示第五电路500的可能实现方式。电阻器811和电容器812形成图3所示第八电路800的可能实现方式。电阻器611和电容器612形成图3所示第六电路600的可能实现方式。二极管911和912形成图3所示第九电路900的可能实现方式。二极管911和912，例如根据或运算或加运算组合来自前面电路的输出信号，使得通过电容器612和812实现的积分时间彼此解耦。结果，可以彼此独立地选择时间间隔。最后，每个晶体管511和711的控制电极和第一主电极之间出现的晶体管电压被用作参考电压，因此这里晶体管511和711进一步形成图3所示的电路501和701的可能实现方式。

针对图4的示范性值可以是，对于积分时间常数τ=RC，对于电路800，τ（开路）=τ（高）=100msec，对“开路”的延迟反应可以是大约6msec，对于积分时间常数τ=RC，对于电路600，τ（短路）=τ（低）=20msec，对“短路”的延迟反应可以是大约6msec。对于积分时间常数τ=RC，对于电路800，τ（开路）=τ（高）=100μsec，对“开路”的延迟反应可以是大约6μsec，对于积分时间常数τ=RC，对于电路600，τ（短路）=τ（低）=20msec，对“短路”的延迟反应可以是大约6msec。并且对于积分时间常数τ=RC，对于电路800，τ（开路）=τ（高）=100msec，对“开路”的延迟反应可以是大约6msec，对于积分时间常数τ=RC，对于电路600，τ（短路）=τ（低）=100msec，对“短路”的延迟反应可以是大约30msec。当然，其他值是可能的，不被排除在外。

在图5中，示出了第二实施例的第二实施方式。这一第二实施方式与第一实施方式的不同之处仅在于用连接替代了二极管911。在二极管912之后，组合来自前面电路的输出信号。结果，通过电容器612和812实现的积分时间不再彼此解耦。

针对图5的示范性值可以是，对于积分时间常数τ=RC，对于电路800，τ（开路）=τ（高）=100msec，对“开路”的延迟反应可以是大约2msec，对于积分时间常数τ=RC，对于电路600，τ（短路）=τ（低）=20msec，对“短路”的延迟反应可以是大约9msec。当然，其他值是可能的，不被排除在外。

在图6中，示出了第二实施例的第三实施方式。根据这种第三实施方式，将三个电阻器414-416彼此串联耦合并一起形成并联耦合到有机发光二极管器件（这里未示出）的分压器。三个电阻器414-416形成图3所示的第四电路400的可能实现方式。电阻器414和415之间的互连耦合到晶体管711的控制电极。晶体管711的第一主电极耦合到电阻器414的另一侧，第二主电极通过电阻器813耦合到二极管912的阴极。电阻器415和416之间的互连耦合到晶体管511的控制电极。晶体管511的第一主电极耦合到电阻器416的另一侧，第二主电极耦合到二极管912的阳极。二极管912的阳极通过电容器614进一步耦合到电阻器416的另一侧，并通过电阻器613耦合到电阻器414的另一侧。二极管912的阴极进一步耦合到晶闸管31的控制电极。晶闸管31的主电极耦合到电阻器414和416的另一侧。晶体管711形成图3所示第七电路700的可能实现方式。晶体管511形成图3所示第五电路500的可能实现方式。电阻器813形成图3所示第八电路800的可能实现方式。电阻器613和电容器614形成图3所示第六电路600的可能实现方式。这明显示出了在存在第六电路600对来自第五电路500的输出信号进行积分或低通滤波或延迟时，第八电路800是非必要的电路，因为这里第八电路800仅包括电阻器813，电阻器813既不是积分电路也不是滤波电路，也不是延迟电路。二极管912形成图3所示第九电路900的可能实现方式。在二极管912之后，组合来自前面电路的输出信号。第三实施方式为“开路”故障提供最小延迟。

图6的示范性值可以是，对于“开路”的延迟反应可以大约为1μsec，对于电路600的积分时间常数τ=RC，τ（短路）=τ（低）=20msec，对“短路”的延迟反应可以是大约6msec。当然，其他值是可能的，不被排除在外。

在图7中，示出了第二实施例的第四实施方式。根据这种第四实施方式，将三个电阻器417-419彼此串联耦合并一起形成并联耦合到有机发光二极管器件（这里未示出）的分压器。三个电阻器417-419形成图3所示的第四电路400的可能实现方式。电阻器417和418之间的互连耦合到晶体管711的控制电极。晶体管711的第一主电极耦合到电阻器417的另一侧，第二主电极通过电阻器814耦合到晶闸管31的控制电极。这里未使用电阻器418和419之间的互连，因此可以组合电阻器418和419。晶闸管31的控制电极进一步通过电容器815耦合到电阻器419的另一侧。晶闸管31的主电极耦合到电阻器417和419的另一侧。晶体管711形成图3所示第七电路700的可能实现方式。电阻器814和电容器815形成图3所示第八电路800的可能实现方式。这清楚地表明，在存在第八电路800对来自第七电路700的输出信号进行积分或低通滤波或延迟时，第五和第六和第九电路500和600和900各自都是非必要的电路，因为这里它们并不存在。第四实施方式仅可以检测“开路”故障。

在图8中，示出了第二实施例的第五实施方式。根据这种第五实施方式，将三个电阻器420-422彼此串联耦合并一起形成并联耦合到有机发光二极管器件（这里未示出）的分压器。三个电阻器420-422形成图3所示的第四电路400的可能实现方式。电阻器421和422之间的互连耦合到晶体管511的控制电极。晶体管511的第一主电极耦合到电阻器422的另一侧，第二主电极耦合到晶闸管31的控制电极。这里未使用电阻器420和421之间的互连，因此可以组合电阻器420和421两者。晶闸管31的控制电极进一步通过电阻器616耦合到电阻器420的另一侧，并进一步通过电容器617耦合到电阻器422的另一侧。晶闸管31的主电极耦合到电阻器420和422的另一侧。晶体管511形成图3所示第五电路500的可能实现方式。电阻器616和电容器617形成图3所示第六电路600的可能实现方式。这明显示出了在存在第六电路600对来自第五电路500的输出信号进行积分或低通滤波或延迟时，第七和第八和第九电路700和800和900各自都是非必要的电路，因为这里它们并不存在。第五实施方式仅可以检测“短路”故障。

在图9中，系统40被示为包括一个监督电路10，用于监督两个有机发光二极管器件1和2。这是一种低成本的方案，但如果有机发光二极管器件中仅有一个表现出故障，对于两者都将形成旁路并且两者都将不工作。

在图10中，系统40被示为包括两个监督电路10和11，每个都用于监督其自己的有机发光二极管器件1和2。这是一种更昂贵的方案，但如果有机发光二极管器件中仅有一个表现出故障，则仅对于这个形成旁路并且仅这个不工作，对于另一个将不形成旁路并且其保持工作状态。

在图11中，示出了第一实施例的第一实施方式。根据这种第一实施方式，将两个电阻器111-112彼此串联耦合并一起形成并联耦合到有机发光二极管器件（这里未示出）的分压器。两个电阻器111-112形成图2所示第一电路100的可能实现方式。电阻器111和112之间的互连耦合到晶体管211的控制电极。晶体管211的第一主电极耦合到电阻器112的另一侧，第二主电极耦合到晶闸管31的控制电极。晶闸管31的控制电极进一步通过电阻器311耦合到电阻器111的另一侧，并进一步通过电容器312耦合到电阻器112的另一侧。晶闸管31的主电极耦合到电阻器111和112的另一侧。晶体管211形成图2所示第二电路200的可能实现方式。电阻器311和电容器312形成图2所示第三电路300的可能实现方式。最后，将晶体管211的控制电极和第一主电极之间存在的晶体管电压用作参考电压，因此这里晶体管211进一步形成图2所示电路201的可能实现方式。

图11的示范性值可以是，R（112）=5kΩ，R（111）=30kΩ，R（311）=1.2kΩ，C（312）=5μF，使得τ=RC=6msec。当然，其他值是可能的，不被排除在外。

在图12中，示出了第一实施例的第二实施方式。这一第二实施方式与第一实施方式的不同之处仅在于用模拟晶闸管行为的两个晶体管32和33替代了晶闸管31。晶体管32的第一主电极耦合到电阻器111的另一侧。晶体管32的第二主电极耦合到晶体管33的控制电极并耦合到晶体管211的第二主电极。晶体管33的第一主电极耦合到电阻器112的另一侧。晶体管32的控制电极耦合到晶体管33的第二主电极。

在图13中，示出了第一实施例的第三实施方式。这种第三实施方式与第一实施方式的不同仅在于用运算放大器212替代了晶体管211，其中运算放大器212的倒相输入连接到互连，其中运算放大器212的非倒相输入通过源202连接到电阻器112的另一侧，且其中运算放大器212的输出通过电阻器313连接到晶闸管31的控制电极，控制电极进一步通过电容器314耦合到电阻器112的另一侧。晶闸管31的主电极耦合到电阻器111和112的另一侧并耦合到运算放大器212的电源端子。运算放大器212形成图2所示第二电路200的可能实现方式。电阻器313和电容器314形成图2所示第三电路300的可能实现方式。最后，源202形成图2所示电路201的可能实现方式。

考虑到图4-8和11-13，显然对于图3所示的第二实施例，可以处理“开路”故障以及“短路”故障，对于图2所示的第一实施例，仅可以处理一种故障，即“开路”故障或“短路”故障。

优选地，开关电路30包括，在导通模式中，较低电阻路径，其在一定电流下表现出小于有机发光二极管器件1在同样的一定电流下的正向电压降的正向电压降，和/或包括，在不导通模式中，较高电阻路径，其在一定电压下，表现出小于在同样的一定电压下的有机发光二极管器件电流的泄漏电流。为了使得监督电路10更加鲁棒，开关电路30可以是双稳态开关电路，其响应于判决信号和/或另一判决信号，从不导通模式切换到导通模式，和/或一旦流经开关电路30的一定电流下降到最小值以下，就从导通模式切换回不导通模式。优选地，监督电路10是自治电路，仅通过有机发光二极管器件1（的端子）接收功率，不接收任何其他功率，和/或监督电路10是自动电路，在关闭有机发光二极管器件1之后自动使自身复位，且然后在打开有机发光二极管器件1之后自动再次设置自身。可能地，为了使监督电路10更加灵活，检测电路20可以包括微控制器。

在附图中，由附图标记表示元件。在第一和第二元件彼此直接连接的情况下，以及在它们通过第三元件间接彼此连接的情况下，它们彼此耦合。可以将每个元件分成更小元件，可以将几个元件组合成更大元件。对于每幅图，尤其对于图2和3，很多替代实施方式将是可能的。例如，在恒流驱动器向有机发光二极管器件供应AC电流的情况下，可以通过有源电路或通过电容器分压器替代地实现电路100和400。可能需要增加整流元件，例如二极管或整流器电桥。类似地，对于电路200（可能有300）和500（可能有600）和700（可能有800），替代性地可以引入能够（例如通过微分）检测一定电压跳变的电路（可能具有一定持续时间或一定的时间导数等），从而可以避免源201和501和701等。图1-3中所示的任何方框都可以是独立的集成电路或可以是集成电路的一部分和/或图1-3的每幅中示出的任何两个或更多方框可以是同一集成电路的部分或可以是不同集成电路的部分。最后，图1-3所示的任何方框都可以包括一个或多个集成电路。

总之，本发明涉及监督电路10，其用于通过检测电路20来监督有机发光二极管器件1，检测电路20用于检测有机发光二极管器件1的故障状态并用于响应于检测到的有机发光二极管器件1的故障状态产生判决信号，所述检测到的故障状态的持续时间等于或大于时间间隔。响应于判决信号，可以通过诸如双稳态电路的开关电路30对于有机发光二极管器件1形成旁路并且使得有机发光二极管器件1不工作。故障状态可以包括有机发光二极管器件1具有较低阻抗或“短路”以及较高阻抗或“开路”。监督电路10还防止对于有机发光二极管器件1不当地形成旁路。监督电路10可以是自治电路，仅通过有机发光二极管器件1接收功率，可以是自动电路，在关闭之后自动复位自身。

尽管已经在附图和前面的描述中详细例示和描述了本发明，但这样的例示和描述被认为是例示性或示范性的而非限制性的；本发明不限于公开的实施例。通过研究附图、公开的内容和所附权利要求，本领域的技术人员在实践请求保护的本发明时能够理解和实现所公开实施例的其他变化。在权利要求中，“包括”一词不排除其他元件或步骤，不定冠词“一”不排除多个。在互不相同的从属权利要求中列举某些手段的简单事实并不表示不能有利地使用这些手段的组合。权利要求中的任何附图标记不应被解释为限制范围。

Claims (15)

1.一种用于监督有机发光二极管器件（1）的监督电路（10），所述监督电路（10）包括

-检测电路（20），用于检测所述有机发光二极管器件（1）的故障状态并用于响应于检测到的持续时间等于或大于一定时间间隔的故障状态而产生判决信号，所述故障状态为短路缺陷，以及

-开关电路（30），用于响应于所述判决信号，对于所述有机发光二极管器件（1）形成旁路。

2.根据权利要求1所述的监督电路（10），所述检测电路（20）被布置成检测所述有机发光二极管器件（1）的另一故障状态，并响应于检测到的另一持续时间等于或大于另一时间间隔的另一故障状态而产生另一判决信号，并且所述开关电路（30）布置成响应于所述另一判决信号对于所述有机发光二极管器件（1）形成旁路，所述另一故障状态为开路缺陷。

3.根据权利要求2所述的监督电路（10），所述开关电路（30）包括，在导通模式中较低电阻路径，所述较低电阻路径在一定电流下表现出小于所述有机发光二极管器件（1）在同样一定电流下的正向电压降的正向电压降，并且包括在不导通模式中较高电阻路径，所述较高电阻路径在一定电压下表现出小于在同样一定电压下有机发光二极管器件电流的泄漏电流。

4.根据权利要求3所述的监督电路（10），所述开关电路（30）是双稳态开关电路，其响应于所述判决信号和/或所述另一判决信号，从所述不导通模式切换到所述导通模式，并且一旦流经所述开关电路（30）的一定电流下降到最小值以下就从所述导通模式切换回所述不导通模式。

5.根据权利要求1所述的监督电路（10），所述监督电路（10）是自治电路，仅通过所述有机发光二极管器件（1）接收功率且不接收任何其他功率，并且所述监督电路（10）是自动电路，在关闭所述有机发光二极管器件（1）之后自动使自身复位且然后在打开所述有机发光二极管器件（1）之后自动设置自身。

6.根据权利要求1所述的监督电路（10），所述检测电路（20）包括用于从所述有机发光二极管器件（1）两端的工作电压推导导出电压的第一电路（100），并包括用于将所述导出电压与参考电压比较的第二电路（200），从而能够通过过低的导出电压检测到所述有机发光二极管器件（1）的故障状态，并包括用于对来自所述第二电路（200）的输出信号进行积分或低通滤波或延迟的第三电路（300），使得响应于检测到的持续时间等于或大于所述时间间隔的故障状态，能够产生判决信号，所述开关电路（30）包括晶闸管或三端双向可控硅开关或晶体管或继电器，使得响应于所述判决信号，能够对于所述有机发光二极管器件（1）形成旁路。

7.根据权利要求6所述的监督电路（10），所述第一电路（100）包括电阻分压器，所述第二电路（200）包括比较器或运算放大器或晶体管或微控制器，所述第三电路（300）包括积分电路或滤波电路或延迟电路。

8.根据权利要求2所述的监督电路（10），所述检测电路（20）包括用于从所述有机发光二极管器件（1）两端的工作电压推导导出电压和另一导出电压的第四电路（400），并包括用于将所述导出电压与参考电压比较的第五电路（500），从而能够通过过低的导出电压检测到所述有机发光二极管器件（1）的故障状态，并包括用于对来自所述第五电路（500）的输出信号进行积分或低通滤波或延迟的第六电路（600），使得响应于检测到的持续时间等于或大于所述时间间隔的故障状态，能够产生判决信号，并包括第七电路（700），用于将所述另一导出电压与另一参考电压比较，从而能够通过过高的另一导出电压检测到所述有机发光二极管器件（1）的另一故障状态，并包括第八电路（800），用于对来自第七电路（700）的输出信号进行积分或低通滤波或延迟，使得响应于检测到的另一持续时间等于或大于所述另一时间间隔的另一故障状态，能够产生另一判决信号，所述开关电路（30）包括晶闸管或三端双向可控硅开关或晶体管或继电器，使得响应于所述判决信号和/或所述另一判决信号，能够对于所述有机发光二极管器件（1）形成旁路。

9.根据权利要求8所述的监督电路（10），所述第四电路（400）包括电阻分压器，所述第五和第七电路（500，700）每个或一起包括比较器或运算放大器或晶体管或微控制器，所述第六和第八电路（600，800）每个或一起包括积分电路或滤波电路或延迟电路。

10.根据权利要求8所述的监督电路（10），所述参考电压和所述另一参考电压是相同的和/或是通过相同元件导出的。

11.根据权利要求1所述的监督电路（10），所述检测电路（20）包括微控制器。

12.一种系统（40），包括根据权利要求1所述的监督电路（10），并且还包括并联耦合到所述监督电路（10）的有机发光二极管器件（1）。

13.根据权利要求12所述的系统（40），还包括连接到所述有机发光二极管器件（1）的另一有机发光二极管器件（2），以便形成串，其中所述串并联耦合到所述监督电路（10）并被这一监督电路（10）监督或者其中所述另一有机发光二极管器件（2）并联耦合到另一监督电路（11）并被这一另一监督电路（11）监督。

14.根据权利要求12所述的系统（40），所述有机发光二极管器件（1）连接到恒流驱动器，所述恒流驱动器用于向所述有机发光二极管器件（1）供应DC电流或AC电流或具有纹波的电流。

15.一种监督有机发光二极管器件（1）的方法，所述方法包括

-检测所述有机发光二极管器件（1）的故障状态并响应于检测到的持续时间等于或大于一定时间间隔的故障状态而产生判决信号，所述故障状态为短路缺陷，以及

-响应于所述判决信号，对于所述有机发光二极管器件（1）形成旁路。