CN102742105A - 电线的导体接触检测装置、电线的导体接触检测方法以及电线的导体接触检测程序 - Google Patents
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Abstract
一种检测切入电线的切入刃和电线的导体的接触的电线的导体接触检测装置。该导体接触检测装置具备:探测部,能够探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量;以及接触状态判定处理部,根据所述探测部的输出信号,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触。
Description
技术领域
本发明涉及对切入刃和电线的导体的接触进行检测的技术,例如涉及在对电线的被覆进行剥线时对剥线刃和芯线的接触进行检测的技术。
背景技术
通常,使用剥线刃对电线的被覆进行剥线。在剥线刃切入电线的被覆时,如果剥线刃接触到芯线,将对芯线造成损伤。
以往,作为在对电线的被覆进行剥线时检测剥线刃和芯线的接触的技术,存在专利文献1所公开的技术。
在专利文献1中,通过在对电线的被覆进行剥线时,检测剥线刃和电线的芯线有无导通,从而来检测剥线刃和电线的芯线的接触。
专利文献1:日本特开平6-253430号公报
发明内容
但是,在专利文献1公开的技术中,为了检测剥线刃和电线的芯线有无导通,除了要剥线的部分以外,还需要使检查用的电极与电线的芯线电连接,而如何进行该连接成为重要的问题。特别是,为了关于调整为规定长度并切断的电线进行上述接触检测,需要针对切断了的电线,分别使检查用的电极电连接到芯线,这变得缺乏实现性。
因此,本发明的目的在于能够更简易地检测切入到电线的切入刃和电线的导体的接触。
为了解决上述课题,第1方式提供一种电线的导体接触检测装置,对切入电线的切入刃和电线的导体的接触进行检测,该电线的导体接触检测装置的特征在于,具备:探测部,能够探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量;以及接触状态判定处理部,根据所述探测部的输出信号,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触。
关于第2方式,在第1方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述探测部是能够对包含由于电线的导体和切入刃的接触而产生的振动频率在内的频带的振动进行探测的振动探测部。
关于第3方式,在第1或者第2方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述探测部是具有100kHz~300kHz的范围内的共振频率的共振型AE传感器。
关于第4方式,在第1~第3方式中的任意一个方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述接触状态判定处理部针对分割所述判定对象期间而得到的多个判定期间的每一个判定是否满足每个期间的接触判定基准,根据每个期间的判定结果判定剥线刃和芯线有无接触。
关于第5方式,在第4方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述接触状态判定处理部在基于所述探测部的输出信号的与每个期间的能量对应的量超过预先设定的能量阈值时,判定为满足每个期间的接触判定基准。
关于第6方式,在第4或者第5方式涉及的电线的导体接触检测装置中,在满足所述每个期间的接触判定基准的数量超过预先设定的接触判定数量时,所述接触状态判定处理部判定为电线的导体和切入刃有接触。
关于第7方式,在第1~第3方式中的任意一个方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述接触状态判定处理部根据与所述判定对象期间中的能量对应的量,判定电线的导体和切入刃有无接触。
关于第8方式,在第7方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述接触状态判定处理部根据所述判定对象期间中的能量的变化程度进行校正,而求出与所述判定对象期间中的能量对应的量。
关于第9方式,在第1~第3方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中,所述接触状态判定处理部根据所述判定对象期间中的能量的持续性,判定电线的导体和切入刃有无接触。
关于第10方式,在第9方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述接触状态判定处理部根据所述探测部的输出信号中包含的频率分量,判定所述判定对象期间中的能量有无持续性。
关于第11方式,在第1~第10方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中,所述判定对象期间包括所述切入刃切入所述电线的期间。
关于第12方式,在第1~第11方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中,所述判定对象期间包括所述切入刃切入所述电线而停止之后的期间。
关于第13方式,在第1~第12方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中,所述判定对象期间包括切入所述电线的切入刃向所述电线的端部侧相对移动而去除被覆时的期间。
关于第14方式,在第1~第13方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中,还具备:一对切入刃,能够切入电线的被覆;以及刃驱动部,使所述一对切入刃接近以及远离移动。
关于第15方式,在第14方式涉及的电线的导体接触检测装置中,所述探测部被设置为与所述一对切入刃的至少一方接触。
关于第16方式,在第1~第15方式中的任意一项涉及的电线的导体接触检测装置中,所述探测部构成为能够探测与由于电线的芯线和作为对电线的被覆进行剥线的剥线刃的所述切入刃的接触而发生的能量对应的物理量。
第17方式提供一种电线的导体接触检测方法,对切入电线的切入刃和电线的导体的接触进行检测,该电线的导体接触检测方法的特征在于,具备:(a)进行包括使切入刃切入电线的处理的加工处理的步骤;(b)探测与在所述步骤(a)中发生的能量对应的物理量的步骤;以及(c)根据所述步骤(b)中的探测结果,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触的步骤。
第18方式提供一种电线的导体接触状态检测程序,用于探测与在包括使切入刃切入电线的处理的加工处理中发生的能量对应的物理量,根据其探测结果,判定电线的导体和切入刃有无接触,该电线的导体接触状态检测程序的特征在于,用于使计算机实现如下步骤:(A)取得与在包括使切入刃切入电线的处理的加工处理中发生的能量对应的物理量的探测结果的步骤;以及(B)根据所述步骤(A)中的探测结果,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触的步骤。
根据第1方式,通过探测部探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量。于是,能够根据判定对象期间中的能量的发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触。由此,能够更简易地检测切入到电线的切入刃和电线的导体的接触。
根据第2方式,能够更高效地探测由于电线的导体和切入刃的接触而产生的振动能量。
特别,通常,对于由于由金属形成的切入刃、和由金属形成的导体接触而产生的振动的频率,在100kHz~300kHz的范围内易于观测。因此,通过如第3方式那样,作为探测部,使用具有100kHz~300kHz的范围内的共振频率的共振型AE传感器,能够更可靠地检测导体和切入刃的接触。
根据第4方式,针对分割上述判定对象期间而得到的多个判定期间的每一个判定是否满足每个期间的接触判定基准,根据每个期间的判定结果判定剥线刃和芯线有无接触,所以能够更正确地判定导体和切入刃有无接触。
根据第5方式,能够根据与切入刃和导体的接触所引起的能量对应的量的大小,判定每个期间的导体和切入刃的接触可能性。
根据第6方式,能够根据与切入刃和导体的接触所引起的能量对应的量的大小及其持续状态,判定每个期间的导体和切入刃的接触可能性。
对于电线的导体和切入刃的接触所引起的能量,以某种程度持续的方式发生。因此,通过如第7方式那样,根据与判定对象期间中的能量对应的量判定电线的导体和切入刃有无接触,能够更高精度地判定电线的导体和切入刃有无接触。
另外,导体和切入刃的接触所引起的能量变化被观测为比较平稳的变化。因此,通过如第8方式那样,根据上述判定对象期间中的能量的变化程度进行校正,来求出与上述判定对象期间中的能量对应的量,从而能够更可靠地判定导体和切入刃有无接触。
对于电线的导体和切入刃的接触所引起的能量,以某种程度持续的方式发生。因此,通过如第9方式那样,上述接触状态判定处理部根据期间中的能量的持续性判定电线的导体和切入刃有无接触,从而能够更高精度地判定电线的导体和切入刃有无接触。
根据第10方式,能够通过在上述判定对象期间中是否持续发生由于电线的导体和切入刃的接触而发生的频率分量,判定导体和切入刃有无接触。
另外,如果在切入刃切入到电线时接触到导体,则发生比较大的能量。因此,如果如第11方式那样,上述判定对象期间包括上述切入刃切入到上述电线的期间,则能够更正确地判定切入刃和导体有无接触。
另外,即使在切入刃停止了的状态下,也能观察切入刃和导体的接触所引起的能量。另外,在切入刃停止了的状态下,其他主要原因所致的噪声发生被抑制。因此,通过如第12方式那样,上述判定对象期间包括上述切入刃切入到上述电线并停止之后的期间,能够更正确地判定切入刃和导体有无接触。
进而,在切入刃去除被覆时,如果切入刃和导体接触,则仍能观察到其引起的能量。因此,通过如第13方式那样,上述判定对象期间包括切入到上述电线的切入刃向上述电线的端部侧相对移动而去除上述被覆时的期间,从而能够更正确地判定切入刃和导体有无接触。
根据第14方式,能够一边简易地检测导体和切入刃的接触,一边实现切入到电线的作业。
根据第15方式,由于探测部与切入刃接触,所以能够更可靠地探测切入刃和导体的接触。
根据第16方式,能够简易地检测剥线刃和芯线的接触。
根据第17方式,探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量。于是,能够根据判定对象期间中的能量的发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触。由此,能够更简易地检测切入到电线的切入刃和电线的导体的接触。
根据第18方式,探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量。于是,能够根据期间中的能量的发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触。由此,能够更简易地检测切入到电线的切入刃和电线的导体的接触。
附图说明
图1是示出实施方式1涉及的电线剥线处理装置的概略侧面图。
图2是示出剥线刃和电线的说明图。
图3是示出剥线刃正常地切入到了电线的状态的说明图。
图4是示出剥线刃接触到芯线的状态的说明图。
图5是示出接触状态判定处理部的硬件结构的框图。
图6是示出由接触状态判定处理部进行的接触状态判定处理的流程图。
图7是示出实施方式2涉及的接触状态判定处理部的硬件结构的框图。
图8是接触状态判定处理部的功能框图。
图9是示出由接触状态判定处理部进行的接触状态判定处理的流程图。
图10是示出振幅波形和剥线刃的移动速度的经时变化的例子以及判定范围例子的图。
图11是示出图10中的箭头A1的切入状态的说明图。
图12是示出图10中的箭头A2的切入状态的说明图。
图13是示出图10中的箭头A3的切入状态的说明图。
图14是示出使剥线能正常地进行的情况下的振幅波形例子的图。
图15是按时间顺序示出使剥线能正常地进行的情况下的振动能量量的分布的图。
图16是示出外来噪声混入了的情况下的振幅波形例子的图。
图17是按照时间顺序示出外来噪声混入了的情况下的振动能量量的分布的图。
图18是示出在芯线中发生了损伤的情况下的振幅波形例子的图。
图19是按照时间顺序示出在芯线中发生了损伤的情况下的振动能量量的分布的图。
图20是示出实施方式3涉及的根据输出信号波形数据直接地求出判定对象期间中的能量的处理的流程图。
图21是示出波形例子的说明图。
图22是示出与波形形状的上升程度对应的系数例子的图。
图23是示出根据有效值运算处理后的波形数据求出判定对象期间中的能量的处理的流程图。
图24是示出输出信号波形数据例子的图。
图25是示出根据输出信号波形数据进行了有效值运算处理(或者平均值运算)的波形数据例子的图。
图26是示出根据有效值运算处理后的波形数据求出判定对象期间中的能量的其他处理的流程图。
图27是示出实施方式4涉及的判定处理的流程图。
图28是示出每个频率分量的能量分布的一个例子的图。
图29是示出变形例涉及的判定处理的流程图。
图30是示出每个频率分量的能量分布的一个例子的图。
图31是示出其他变形例涉及的判定处理的流程图。
图32是示出加权系数的例子的图。
图33是示出被强调了的能量分布波形例子的图。
图34是示出其他变形例涉及的判定处理的流程图。
图35是示出其他变形例涉及的判定处理的流程图。
图36是示出用于求出每个频率分量的能量分布的其他例子的说明图。
图37是示出用于求出每个频率分量的能量分布的其他例子的说明图。
图38是示出应用对象涉及的变形例的说明图。
图39是示出应用对象涉及的变形例的说明图。
(符号说明)
10:电线剥线处理装置;14A、14B:剥线刃;16:刃驱动部;20:电线保持部;22:被覆去除驱动部;28:剥线处理控制部;40:芯线接触检测装置;42:振动探测部;50:接触状态判定处理部;55:外部存储装置;55a:接触检测程序;55b:判断基准;152a:比较部;152b:判定部;155a:接触检测程序;155b:阈值;155c:规定值;200、W:电线;201、Wa:芯线;203:屏蔽层;210:切入刃。
具体实施方式
以下,说明实施方式涉及的电线的导体接触状态检测装置。此处,在下述各实施方式中,以将电线的导体接触状态检测装置应用于芯线接触检测装置的例子进行说明,该芯线接触检测装置在用剥线刃对电线的被覆进行剥线时,检测剥线刃和芯线的接触。
<实施方式1>
在实施方式1中,说明包括下述实施方式2~实施方式4的基本结构。
图1是示出电线剥线处理装置10的概略侧面图。该电线剥线处理装置10具备电线剥线单元12和芯线接触检测装置40。
电线剥线单元12是用于对电线W的端部的被覆Wb进行剥皮的装置,具备一对剥线刃14A、14B、刃驱动部16、电线保持部20以及被覆去除驱动部22。
一对剥线刃14A、14B形成为能够切入到电线W的被覆Wb的刃形状。在被覆Wb中,使用聚氯乙烯等制的绝缘树脂部件。此处,一对剥线刃14A、14B的顶端部形成为大致V字状地凹陷的V字刃形状(参照图2)。而且,该V字刃形状部分形成为能够切入到电线W的被覆Wb(参照图3)。另外,剥线刃14A、14B的形状不限于上述例,例如,也可以是大致圆弧状凹刃形状。
刃驱动部16构成为能够使一对剥线刃14A、14B接近以及分离地移动。此处,刃驱动部16具有一对刃支撑部17A、17B、以可移动的方式支撑刃支撑部17A、17B的螺栓部18、以及使螺栓部18旋转的马达19。
螺栓部18沿着规定方向(此处上下方向)配设,且绕其中心轴旋转自如地支撑。在螺栓部18的一端侧部分18a中,形成了沿着规定的螺旋方向的螺栓槽,在螺栓部18的另一端侧部分18b中,形成了沿着相逆的螺旋方向的螺栓槽。
马达19由伺服马达等能够进行旋转量的驱动控制的马达构成,以能够将其旋转驱动力传递给螺栓部18的方式配设。此处,马达19的驱动轴部与螺栓部18直接地连结。另外,构成为能够根据马达19的旋转驱动,使螺栓部18在正逆两个方向上旋转。
一对刃支撑部17A、17B形成为长条状部件,在各自的顶端部,固定支撑有剥线刃14A、14B。另外,在一方的刃支撑部17A的基端部,形成了能够与螺栓部18的一端侧部分18a螺合的螺合部17Aa,在另一方的刃支撑部17B的基端部,形成了能够与螺栓部18的另一端侧部分18b螺合的螺合部17Ba。
而且,以使一对剥线刃14A、14B的顶端部相对向的姿势,将一方的刃支撑部17A的螺合部17Aa与螺栓部18的一端侧部分18a螺合,并且将另一方的刃支撑部17B的螺合部17Ba与螺栓部18的另一端侧部分18b螺合。在该状态下,构成为通过对马达19向正方向或者逆方向进行旋转控制,从而能够使一对剥线刃14A、14B接近地移动或者分离地移动。
不过,作为刃驱动部,不限于上述结构,也可以是通过空气气缸、油压气缸、线性马达等驱动的结构,并且,也可以是对一对剥线刃14A、14B分别独立地进行驱动的结构。
电线保持部20被构成为能够以将电线W的端部配设于一对剥线刃14A、14B之间的姿势,保持该电线W。作为这样的电线保持部20,例如,能够采用通过空气气缸、液压气缸等致动器的驱动,对一对把持爪进行开闭驱动的公知的卡盘机构等,总之,能够采用能够保持电线的结构。
被覆去除驱动部22构成为赋予通过使一对剥线刃14A、14B和上述电线保持部20向分离方向移动而去除电线W的端部的被覆Wb的运动的机构。此处,被覆去除驱动部22由空气气缸、液压气缸等致动器等构成,构成为使上述电线保持部20向远离一对剥线刃14A、14B的方向移动。
该电线剥线单元12在剥线处理控制部28的控制下,如下所述对电线W的端部的被覆Wb进行剥线。
即,在使一对剥线刃14A、14B分离移动了的状态下,在一对剥线刃14A、14B之间配设电线W的端部,通过电线保持部20保持电线W(参照图2)。在该状态下,通过刃驱动部16的驱动,使一对剥线刃14A、14B接近地移动。于是,在一对剥线刃14A、14B的V字刃形状部分所包围的区域中配设了芯线Wa的状态下,V字刃形状部分切入到被覆Wb(参照图3)。这样,如果在使V字刃形状部分切入到了被覆Wb的状态下,通过被覆去除驱动部22的驱动使一对剥线刃14A、14B和电线保持部20向分离方向移动,则被覆Wb中的比V字刃形状部分前端侧的部分从由电线保持部20保持的电线W部分起被去除,在电线W的端部中芯线Wa露出。另外,根据从剥线处理控制部28对电线剥线单元12提供的动作信号,进行上述动作。在该动作信号中,包括与一对剥线刃14A、14B的动作控制相关的指令,例如一对剥线刃14A、14B的驱动开始指令、与在使一对剥线刃14A、14B切入到被覆Wb的状态下应停止的位置对应的目标位置指令等。将该动作信号作为表示一对剥线刃14A、14B的动作定时的信号而输入到后述的接触状态判定处理部50。
此处,在一对剥线刃14A、14B切入到被覆Wb时,有时一对剥线刃14A、14B接触到芯线Wa(参照图4)。如果剥线刃14A、14B接触到芯线Wa,则对芯线造成损伤或者发生芯线断裂等,而可能成为接触不良或者断线等的主要原因。
芯线接触检测装置40构成为在如上所述用剥线刃14A、14B对电线W的被覆Wb进行剥线时,检测剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触的装置。
即,芯线接触检测装置40具备振动探测部42、和接触状态判定处理部50。
振动探测部42构成为能够探测与由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触而发生的能量对应的物理量,更具体而言,构成为能够探测包含由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触而产生的振动频率在内的频带的振动。
即,在芯线Wa和剥线刃14A、14B接触而在芯线Wa中产生了损伤等破坏的情况下,根据AE(Acoustic Emission,声发射)而发生AE波。因此,振动探测部42构成为能够探测包含由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的AE波的振动频率在内的频带的振动。该AE波具有呈现与由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触而发生的振动能量对应的物理量的波形,该波形的振幅值表示与由于接触而发生的能量对应的值。另外,在本申请中,由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触而产生的振动频率是指,由于该接触而产生的主要的范围的振动频率、或者、由于该接触而产生的主要的特定的振动频率。
通常,芯线Wa由金属形成,并且,剥线刃14A、14B也由金属形成。另外,对于由于金属的破坏而发生的AE波,在100kHz~300kHz的范围内衰减少而易于观测。因此,振动探测部42优选能够探测相对于100kHz~300kHz的范围部分地或者整体地重复的频带的振动。更优选为,振动探测部42能够在100kHz~300kHz的范围内高灵敏度地探测振动,更具体而言,优选振动探测部42是具有100kHz~300kHz的范围内的共振频率的共振型AE传感器。更优选为,是具有200kHz的共振频率的共振型AE传感器。
此处,振动探测部42以与剥线刃14A接触的方式被安装固定。更具体而言,使振动探测部42的探测面与剥线刃14A的一主面接触,来安装固定振动探测部42。能够通过螺杆系紧、粘接等各种安装构造,进行振动探测部42的安装固定。另外,对于振动探测部42的安装位置,只要是不妨碍上述剥线作业的位置,则既可以是在剥线刃14A自身,也可以是在保持剥线刃14A的部分等。这样,通过以使振动探测部42与剥线刃14A接触的方式安装固定,能够更可靠地探测由于芯线Wa和剥线刃14A的接触而产生的AE波的振动。
另外,由于芯线Wa和剥线刃14B的接触而产生的AE波也经由电线W、剥线刃14A等而传递到振动探测部42。因此,由于芯线Wa和剥线刃14B的接触而产生的AE波的振动也能够通过振动探测部42探测。不过,振动探测部42也可以分别设置于一对剥线刃14A、14B。
将来自该振动探测部42的振动探测信号作为例如具有与所探测到的振动对应的电压的模拟信号,输入到接触状态判定处理部50。
图5是示出接触状态判定处理部50的硬件结构的框图。接触状态判定处理部50构成为能够执行根据从上述振动探测部42输入的探测信号,也就是根据振动探测部42的输出信号,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定芯线Wa和剥线刃14A、14B有无接触的处理。
此处,判定对象期间是指,具有从某一时间至其他时间的幅度的期间,判定对象期间中的能量发生状况是指,与具有这样的幅度的期间中的能量相应的量、变化状况、或者断续状况等的含义,而并非仅根据特定的时间中的瞬间的能量的值来判定有无接触的含义。
更具体而言,接触状态判定处理部50是由CPU52、ROM53、RAM54、外部存储装置55等经由总线51相互连接的一般的计算来机构成。ROM53保存有基本程序等,RAM54被用作CPU52进行规定的处理时的作业区域。外部存储装置55由闪速存储器或者硬盘装置等非易失性存储装置构成。在外部存储装置55中,保存有用于进行芯线接触检测处理的接触检测程序55a。被构成为通过作为主控制部的CPU52依照该接触检测程序55a中记述的步骤进行运算处理,如后所述实现检测剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触的各种功能。另外,在以下的各实施方式中说明的各处理也是在接触检测程序155a中作为执行步骤被记述的处理,通过CPU52依照接触检测程序155a进行规定的运算处理来实现。接触检测程序55a是通常被预先保存于外部存储装置55等存储器而被使用的程序,但也可以以在CD-ROM或者DVD-ROM、外部的闪速存储器等记录介质中记录的方式(程序产品)来提供,或者,经由网络从外部服务器通过下载等来提供,并追加或者更换地保存于外部存储装置55等存储器。另外,上述接触状态判定处理部50进行的一部分或者全部的功能也可以通过专用的逻辑电路等硬件地实现。
另外,在外部存储装置55中,保存有成为进行上述芯线接触检测处理时的基准的判断基准55b。
另外,在该接触状态判定处理部50中,探测信号输入电路部56、输出电路部57a、输入电路部57b、输入部58、显示部59也与总线51连接。
探测信号输入电路部56具有放大电路、滤波器电路、AD变换电路等。另外,被构成为如果以模拟信号输入由振动探测部42得到的振动探测信号,则经由放大电路以及滤波器电路,输入到AD变换电路而变换为数字信号。另外,作为滤波器电路,例如,优选使用具有与金属的破坏所引起的AE波相应的100kHz~300kHz的通过区域的带通滤波器。将由该探测信号输入电路部56变换为数字信号的振动探测信号例如作为振幅值经时地变化的波形数据,存储到RAM54或者外部存储装置55,并供给到后述的接触检测处理。
输出电路部57a是在CPU52的控制下,向其他机器输出控制信号等的输出电路。对输入电路部57b,通过本输入电路部57b,输入来自外部的诸多信号、此处来自剥线处理控制部28的动作信号。
输入部58由各种开关、触摸面板等构成,被构成为除了上述判断基准55b的输入设定指示以外,还能够接收针对接触状态判定处理部50的诸多指示。
显示部59由液晶显示装置、灯等构成,被构成为能够在CPU52的控制下,显示接触状态的判定结果等诸多信息。
图6是示出由接触状态判定处理部50进行的接触状态判定处理的流程图。
在接触状态判定处理开始之后,接触状态判定处理部50在步骤T1中,根据来自电线剥线单元12的动作信号,取得判定对象数据。判定对象数据优选为与包括剥线刃14A、14B切入到电线W的至少一部分的期间在内的判定对象期间对应的数据。更优选为,将该范围设定为在剥线刃14A、14B切入到电线W时有可能与芯线Wa接触的期间、例如从剥线刃14A、14B切入到电线W的途中至停止或者至即将停止之前的期间。上述判定范围也可以是以通过电线剥线单元12进行的剥线刃14A、14B的动作开始指令时或者动作停止指令为基准而截出了一定期间的范围。或者,在反馈了剥线刃14A、14B的速度信息或者位置信息的情况下,也可以根据该速度信息或者位置信息截出。在根据速度信息截出判定范围的情况下,例如,鉴于剥线刃14A、14B在切入到电线W之后速度逐渐降低而停止,也可以以剥线刃14A、14B从最高速度减速了某种程度的期间截出。
在下一步骤T2中,根据所取得的判定对象数据,分析判定对象期间中的能量的发生状况。更具体而言,根据上述判定对象数据,根据表示多个时刻下的能量的大小的值(数据),计算出与能量的发生状况对应的评价值。作为这样的评价值,例如,考虑与针对分割判定对象期间而得到的多个判定期间的规定条件的充足性相关的评价值、表示与判定对象期间中的能量相应的量的评价值或者表示判定对象期间中的能量的持续性的评价值、表示能量的变化程度的评价值(例如,波形的瞬间的斜率、平均的斜率等)等。对于它们的更具体的例子,在实施方式2~4中说明。
在下一步骤T3中,判断所分析的能量的发生状况是否满足判断基准55b。判断基准55b是用于对在剥线刃14A、14B切入到被覆Wb时等芯线Wa和剥线刃14A、14B的非接触状态期间中的能量的发生状况、以及在剥线刃14A、14B和芯线Wa接触的期间所观察的能量的发生状况进行区分的判断基准(阈值等),是实验性经验性地决定,并预先保存到存储部55。
然后,如果判定为满足判断基准55b,则判定为有接触,输出其判定结果。根据判定结果,在显示部59中显示有接触的意思。或者,根据判定结果,将使剥线处理停止的意思的信号提供给电线剥线单元12。由此,在电线剥线单元12侧,接收该信号而使剥线处理临时停止即可。
另一方面,如果判断为不满足判断基准55b,则判定为无接触。由此,继续实施剥线作业等。
根据如以上那样构成的芯线接触检测装置、芯线接触检测方法以及芯线接触检测程序,如果剥线刃14A、14B和芯线Wa接触,则通过振动探测部42探测此时的振动。于是,能够根据从振动探测部42输入的振动探测信号,判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触。由此,即使在对电线W的被覆Wb进行剥线时,未使检查用的电极与芯线电连接等,也能够简易地检测芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触。
另外,根据以下的理由,能够抑制噪声的影响的同时,更正确地判定剥线刃和芯线的接触。
首先,在来自振动探测部42的振动探测信号中,不仅包含剥线刃和芯线的接触所致的振动,而且还包含其他各种外来噪声。其他各种外来噪声一般大于剥线刃和芯线的接触所致的振动引起的大小。于是,在简单地当所探测到的振动的振幅超过规定值时判定为剥线刃14A、14B和芯线Wa有接触的手法中,无法排除上述外来噪声的影响,难以进行正确的判定。
但是,在剥线刃和芯线的接触期间中,剥线刃和芯线的接触所致的振动在某种程度持续地发生。相对于此,各种外来噪声仅在机械的其他部分的金属彼此的碰撞或者摩擦期间中发生,相比于剥线刃和芯线的接触所致的振动发生期间,一般时间比较短。
因此,如果如本实施方式那样,在判定对象期间中,根据由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触而发生的能量的发生状况,判定芯线Wa和剥线刃14A、14B有无接触,则即使是大的外来噪声,只要其发生时间充分短,就能够抑制该外来噪声的影响。因此,能够更正确地判定剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触。
以下,以本实施方式1为前提,根据实施方式2~4,说明更具体的结构。另外,在下述各实施方式的说明中,有时对与本实施方式1中说明的结构同样的结构附加同一符号等而省略说明。
<实施方式2>
在实施方式2中,说明接触状态判定处理部根据与将判定对象期间分割为多个而得到的判定期间中的能量相对应的量,针对多个期间的每一个判定是否满足每个期间的接触判定基准,根据每个期间的判定信号,判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触的结构。
图7是示出接触状态判定处理部50的硬件结构的框图。接触状态判定处理部50被构成为能够执行根据从上述振动探测部42输入的探测信号,针对多个判定期间的每一个判定是否满足每个期间的接触判定基准,并根据每个期间的判定结果,判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触的作为接触状态判定处理部50的处理。
更具体而言,接触状态判定处理部50是由CPU52、ROM53、RAM54、外部存储装置55等经由总线51相互连接的一般的计算机构成。ROM53保存有基本程序等,RAM54被用作CPU52进行规定的处理时的作业区域。外部存储装置55由闪速存储器或者硬盘装置等非易失性的存储装置构成。在外部存储装置55中,保存有用于进行后述的芯线接触检测处理的接触检测程序155a。被构成为通过作为主控制部的CPU52依照该接触检测程序155a中记述的步骤进行运算处理,实现如后所述检测剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触的各种功能。接触检测程序155a通常被预先保存于外部存储装置55等存储器而被使用,但也可以以CD-ROM或者DVD-ROM、外部的闪速存储器等记录介质中记录的方式(程序产品)提供,或者,经由网络从外部服务器通过下载等来提供,并追加或者更换地保存于外部存储装置55等存储器。另外,上述接触状态判定处理部50进行的一部分或者全部的功能也可以通过专用的逻辑电路等硬件地实现。
另外,在外部存储装置55中,保存有成为进行上述芯线接触检测处理时的基准的作为能量阈值的阈值155b、作为接触判定数量的规定值155c。对于这些阈值155b以及规定值155c,在后叙述。
另外,在该接触状态判定处理部50中,探测信号输入电路部56、输出电路部57a、输入电路部57b、输入部58、显示部59也与总线51连接。
探测信号输入电路部56具有放大电路、滤波器电路、AD变换电路等。另外,被构成为如果以模拟信号输入由振动探测部42得到的振动探测信号,则经由放大电路以及滤波器电路,输入到AD变换电路而变换为数字信号。另外,作为滤波器电路,例如,优选使用具有与金属的破坏所引起的AE波相对应的100kHz~300kHz的通过区域的带通滤波器。将由该探测信号输入电路部56变换为数字信号的振动探测信号例如作为振幅值经时地变化的波形数据,存储到RAM54或者外部存储装置55,并供给到后述的接触检测处理。
输出电路部57a是在CPU52的控制下,向其他机器输出控制信号等的输出电路。对输入电路部57b,通过本输入电路部57b,输入来自外部的诸多信号、此处来自剥线处理控制部28的动作信号。
输入部58由各种开关、触摸面板等构成,除了能够接收上述阈值155b、规定值155c的输入设定指示以外,还能够接收针对接触状态判定处理部50的诸多指示。
显示部59由液晶显示装置、灯等构成,被构成为能够在CPU52的控制下,显示接触状态的判定结果等诸多信息。
图8是接触状态判定处理部50的功能框图。如该图所示,接触状态判定处理部50具备作为比较部152a和判定部152b的功能。通过如上所述CPU52依照接触检测程序155a进行规定的运算处理来实现这些各功能。
比较部152a根据所输入的振动探测信号,参照上述阈值,判定是否满足每个期间的接触判定基准。将所输入的振动探测信号中的成为判定范围的期间(判定对象期间)分割为多个,并针对该分割出的每个期间,进行该判定。然后,比较部152a将其比较结果提供给判定部152b。
判定部152b根据由上述比较部152a得到的每个期间的判定结果,参照上述规定值,判定剥线刃和芯线有无接触,输出其判定结果。判定结果被用于电线剥线单元12的停止控制、向显示部59进行的显示等。
图9是示出由接触状态判定处理部50进行的接触状态判定处理的流程图。
在接触状态判定处理开始之后,接触状态判定处理部50在步骤S71中,根据来自电线剥线单元12的动作信号,以规定的判定范围,截出表示由振动探测部42探测到的振动的波形数据。此处,判定范围优选包括剥线刃14A、14B切入到电线W的至少一部分的期间。更优选为,将该范围设定为在剥线刃14A、14B切入到电线W时有可能与芯线Wa接触的期间、例如从剥线刃14A、14B切入到电线W的途中至停止或者至即将停止之前的期间。上述判定范围也可以是以通过电线剥线单元12进行的剥线刃14A、14B的动作开始指令时或者动作停止指令为基准而截出了一定期间的范围。或者,在反馈了剥线刃14A、14B的速度信息或者位置信息的情况下,也可以根据该速度信息或者位置信息截出。在根据速度信息截出判定范围的情况下,例如,鉴于剥线刃14A、14B在切入到电线W之后速度逐渐降低而停止,也可以以剥线刃14A、14B从最高速度减速了某种程度的期间截出。
在下一步骤S72中,根据所采样的波形数据,将上述判定范围分割为多个期间,针对各个期间的每一个,计算振动探测信号表示的振动能量量(包括与实际的振动对应的能量量)。将由振动探测部42探测的振动的能量量表示为与振幅波形的振幅的大小对应的量。因此,对于振动能量量,通过各期间中的上述波形数据的振幅值(绝对值)的平均值、累计值、有效值(既可以是所谓近似地计算出的有效值,也可以是真的有效值)、或者如后述的实施方式3或者实施方式4那样根据波形数据的振幅值、有效值等作为与振动能量量对应的值近似地计算出的值、或者、各期间中的代表值等来表示。总之,根据振动探测信号,取得与在各期间中探测到的振动能量对应的量即可。判定范围分割为至少2个即可。另外,判定范围通常可以均等地分割为多个,但不是必须要均等地分割。
在下一步骤S73中,将所计算出的振动能量量的值分别与阈值155b进行比较,对振动能量量的值超过了阈值155b的数量进行计数。此处,阈值155b是大于在剥线刃14A、14B切入到被覆Wb时观察的振幅值(优选稍微大的程度)的值,是实验性经验性地决定的,并预先保存于存储部55。另外,在振动能量量的值与阈值155b相同的情况下,既可以在计数数量上加上计数,也可以不加上计数。然后,如果关于所有期间的比较结束,则进入下一步骤S74。
在步骤S74中,判定计数数量是否超过规定值155c。此处,规定值155c表示这样一种基准值,该基准值示出在判定范围中,振动能量量的值超过了阈值155b的期间的比例是哪种程度时,判定为剥线刃14A、14B与芯线Wa接触。上述规定值155c通常是2以上的值,根据分割判定范围而得到的期间的长度、上述阈值155b等而实验性经验性地决定,并预先保存于存储部55。
然后,如果判定为计数数量超过了规定值,则判定为有接触,输出其判定结果。根据判定结果,在显示部59中显示有接触的意思。或者,根据判定结果,将使剥线处理停止的意思的信号提供给电线剥线单元12。由此,在电线剥线单元12侧,接收该信号而使剥线处理临时停止即可。
另一方面,如果判定为计数数量未超过规定值,则判定为无接触。由此,继续实施剥线作业等。
在计数数量等于规定值的情况下,既可以判定为有接触,也可以判定为有接触。
根据如以上那样构成的芯线接触检测装置、芯线接触检测方法以及芯线接触检测程序,如果剥线刃14A、14B和芯线Wa接触,则通过振动探测部42探测此时的振动。于是,能够根据从振动探测部42输入的振动探测信号,判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触。由此,即使在对电线W的被覆Wb进行剥线时未使检查用的电极与芯线电连接等,也能够简易地检测芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触。
另外,根据以下的理由,能够抑制噪声的影响的同时,更正确地判定剥线刃和芯线的接触。
首先,在来自振动探测部42的振动探测信号中,不仅包含剥线刃和芯线的接触所致的振动,而且还包含其他各种外来噪声。其他各种外来噪声一般大于剥线刃和芯线的接触所致的振动引起的大小。而且,在外来噪声的发生源是从机械的其他部分产生的金属彼此的碰撞或者摩擦所致的发生源的情况下,剥线刃和芯线的接触所引起的振动频率和外来噪声的频率相似。因此,难以使判定所需的信号和外来噪声分离。于是,在简单地当所探测到的振动的振幅超过了规定值时判定为剥线刃14A、14B和芯线Wa有接触的手法中,无法排除上述外来噪声的影响,难以进行正确的判定。
但是,在剥线刃和芯线的接触期间中,剥线刃和芯线的接触所致的振动以某种程度持续地发生。相对于此,各种外来噪声仅在机械的其他部分的金属彼此的碰撞或者摩擦期间中发生,相比于剥线刃和芯线的接触所致的振动发生期间,一般时间比较短。
因此,如果如本实施方式那样,根据振动探测信号,针对多个期间的每一个计算振动能量量而对振动能量量的值超过了阈值155b的数量进行计数,在判定为计数数量超过了规定值的情况下,判定为有接触,则即使是大的外来噪声,只要其发生时间充分短,就能够抑制该外来噪声的影响,能够更正确地判定剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触。
另外,通过将各期间中的振动能量量的值与阈值155b进行比较,能够通过比较简易的处理,判定是否满足每个期间的接触判定基准。
另外,通过在各期间中的振动能量量的值超过了阈值155b的计数数量超过规定值155c时,判定为剥线刃14A、14B和芯线Wa有接触,能够比较地简易地判定有无接触。
另外,如果上述动作范围包括剥线刃14A、14B切入到电线W的期间,则能够在该期间中更正确地判定剥线刃和芯线有无接触。
此处,说明判定范围(判定对象期间)的其他设定例子。图10示出剥线刃14A、14B开始剥线处理而达到了最高速度之后至剥线刃14A、14B减速的同时充分切入到被覆Wb而即将停止之前的期间中的、振幅波形和剥线刃14A、14B的移动速度的经时变化例子。在图10中,在箭头A1所示的时间中,如图11所示,剥线刃14A、14B是即将切入到被覆Wb之前状态,在箭头A2所示的时间中,如图12所示,剥线刃14A、14B是切入到了被覆Wb的状态,在箭头A3所示的时间中,如图13所示,剥线刃14A、14B成为充分切入到了被覆Wb的状态。
在上述实施方式中,说明了将判定范围设定为从剥线刃14A、14B切入到电线W的途中至停止或者至即将停止之前的期间T1的例子。
判定范围不限于这样的情况,也可以设定为由于剥线刃14A、14B和电线W的接触而有可能发生振动的各种期间。
例如,判定范围也可以设定为包括剥线刃14A、14B切入到电线W而停止之后的期间Ta在内的期间T2。
即,确认了即使是剥线刃14A、14B切入到电线W而停止了的状态下,虽然是短期间,但仍探测到剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触所致的振动。
因此,能够通过包括剥线刃14A、14B切入到电线W而停止之后的期间Ta在内的判定期间T2,如上所述,判定有无接触。而且,切入到电线W而停止之后的期间Ta是剥线刃14A、14B的驱动机构部分的动作停止了的状态,所以外来噪声的发生被抑制。因此,通过包括该期间Ta而作为判定期间,能够更正确地判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触。
另外,例如,判定范围也可以设定为包括切入到电线W的剥线刃14A、14B向电线W的端部侧相对移动而去除被覆Wb时的期间Ta在内的期间T3。
即,确认了即使在使切入到电线W的剥线刃14A、14B向电线W的端部侧相对移动而去除被覆Wb时,也探测到剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触所致的振动。因此,通过包括去除被覆Wb的期间Tb在内的期间T3,也能够如上所述判定有无接触。
另外,判定范围也可以是仅包括剥线刃14A、14B切入到电线W而停止之后的期间Ta的期间、或者、仅包括去除被覆Wb的期间Tb的期间等。即,只要是由于剥线刃14A、14B和电线W的接触而能够发生振动的期间,则可以设定为任意的期间。这样的判定范围(判定对象期间)的设定还能够同样地应用于上述实施方式1、实施方式3以及4等。
另外,也可以将上述判定范围分区为多个,并针对每个分区将阈值设定为不同的值。例如,也可以相对剥线刃14A、14B切入到电线W的期间中的阈值,将剥线刃14A、14B切入到电线W而停止之后的期间Ta的阈值设定为更小的值。
此处,根据实际的实验结果,说明在剥线处理时表示的振动的振幅波形、与针对每个期间计算出的振动能量量的分布的关系。
图14示出能够使剥线正常地进行的情况、即在芯线Wa中不产生损伤、切断等而能良好地仅去除了被覆Wb的情况下的上述判定范围中的时间(s)与振幅(V)的关系(振幅波形)。在该情况下,虽然在判定范围初期例外地观测到振幅较大的部位,但整体上呈现比较小的振幅波形。
图15是将上述判定范围分区为20而计算每个期间的振动能量量,并按照时间顺序示出了所计算出的振动能量量的分布的图。如该图所示,在能使剥线正常地进行的情况下,振动能量量的分布在2个期间中超过0.1(V),除此以外,都为大致0.1(V)以下,为比较低的值。
图16示出能够使剥线正常地进行、并且外来噪声混入了的情况下的振幅波形。在该情况下,在判定范围中期,观测到起因于外来噪声而振幅极端地变大的部位,在其他部位呈现比较小的振幅波形。
图17是按照时间顺序示出图16的振动能量量的分布的图。如该图所示,在判定范围中期,观测到起因于外来噪声而振动能量量变得比较大的部位。其他部位与上述图15所示的情况相同。
图18示出在剥线处理中在芯线Wa上发生了损伤的情况下的振幅波形。在该情况下,在判定范围整体中,观测到比较大的振幅。
图19是按照时间顺序示出图18的振动能量量的分布的图。如该图所示,在判定范围整体中,振动能量量变得比较大。
如这些所示,确认了在能够使剥线正常地进行的情况下,多个期间中的振动能量量比较小,并且,即使存在外来噪声的影响,也仅在比较少的数量的期间中振动能量量变大。
另一方面,可知在剥线刃14A、14B接触到芯线Wa的情况下,在更多的期间中由于振动所致的振动能量量变大。
因此,确认了通过将上述阈值155b、规定值155c等设定为适合的值,以排除外来噪声的影响所致的振动能量量的变化,从而能够排除外来噪声的影响,能够更正确地判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触。
另外,实际上,根据芯线Wa、被覆Wb的材质、形状、剥线刃14A、14B的材质、形状、剥线刃14A、14B的动作状况等,实验性经验性地设定上述那样的阈值、规定值。
另外,在上述实施方式中,通过针对每个期间判定振动能量量是否超过阈值,来判定是否满足每个期间的接触判定基准,但这不是必须那样的。例如,也可以根据每个期间的波形形状(例如,振幅的变化程度、与某基准波形的波形比较)等,判定是否满足每个期间的接触判定基准。
总之,将判定范围分割为多个,并针对所分割的每个期间判定是否满足某一判定基准即可。
另外,即使在这样的情况下,在满足该判定基准的数量超过预先设定的接触判定数量时,也能够判定为剥线刃和芯线有接触。
另外,在本实施方式中,规定值也可以是1,在该情况下,只要在所分割的期间的任意一个中判断为能量的量超过阈值155b,就判断为有接触。
另外,在本实施方式中,也可以去掉针对所分割的期间求出的能量的量的最大值以及最小值中的某一方来进行上述判定处理。由此,能够去掉偶发的事情等所致的不稳定的主要原因,更可靠地判定有无接触。
<实施方式3>
在实施方式3中,说明接触状态判定处理部50根据与判定对象期间中的能量对应的量来判定芯线Wa和剥线刃14A、14B有无接触的例子。
即,如上所述,以某种程度持续地观察剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触所致的振动能量(参照图18)。相对于此,各种外来噪声仅发生在机械的其他部分的金属彼此的碰撞或者摩擦期间中,相比于剥线刃14A、14B和芯线Wa的接触所致的振动发生期间,一般时间比较短(参照图16)。
因此,通过基于与某种程度持续性的判定对象期间中的能量对应的量,能够抑制外来噪声的影响,更可靠地判定芯线Wa和剥线刃14A、14B有无接触。此处,与判定对象期间中的能量对应的量既可以是从来自振动探测部42的输出信号波形数据直接地得到的值、或者、也可以是对输出信号波形数据进行加工而得到的数据(例如,有效值运算处理后的数据、或者针对每一定期间进行了平均值运算处理后的数据等)。另外,与判定对象期间中的能量对应的量也可以是根据这些数据近似计算或者简易计算而得到的值。以下的实施方式3A、3B是更具体的例子。
<实施方式3A>
在实施方式3A中,说明根据来自振动探测部42的输出信号波形数据直接地求出与判定对象期间中的能量对应的量(实施方式1中的评价值、以下为便于说明有时简称为“能量”),在该能量的值超过了规定的阈值(判断基准)时判定为有接触的例子。
对于判定对象数据的取得步骤(步骤T1)、是否满足判断基准的处理(步骤T3)等,与实施方式1中的图6相同,所以以根据来自振动探测部42的输出信号波形数据直接地求出判定对象期间中的能量的处理为中心而进行说明。
图20是示出根据输出信号波形数据直接地求出判定对象期间中的能量的处理的流程图,图21是示出波形例子的说明图。另外,对于对象波形,只要是由振动探测部42表示与由于接触而发生的能量对应的物理量的波形,则既可以是电压波形,也可以是电流波形。
在本处理中,概略上在判定对象期间P中,求出超过规定的基准等级阈值的能量的量,根据该能量的量判定有无接触。基准等级阈值被设定为超过在电线剥线处理装置10的非动作状态下观察的等级的值。由此,主要求出以电线剥线处理装置10的动作为主要原因而发生的能量的量。另外,对于在判定对象期间P中观察到多个超过规定的基准等级阈值的区域的情况下的处理,在后面说明。
图20所示的流程图示出简略地求出等级(振幅)超过规定的基准等级阈值的区域的面积的处理。即,如果将等级超过了上述基准等级阈值的时间轴上的位置设为t1、将之后等级低于基准等级阈值的时间轴上的位置设为t2、在t1至t2的期间中将波形的峰值设为h,则根据(t2-t1)×h÷2的式子,计算能量的量。另外,式中的值2是常数,所以如果在判定有无接触的阈值中预先考虑了该点,则该值2也可以省略。
说明图20所示的流程图。另外,在下述中,所谓时刻表示判定对象期间P中的波形的横轴的位置(时间、采样点等),在初期,被设定为判定对象期间的初始时刻。另外,在下述处理中,所谓当前值是表示在成为判断对象的时刻下的能量的量的值(等级值、振幅值等),除了过零的判定(参照步骤S8)以外,用绝对值(在当前值是负的情况下使符号反转)来表示。
在步骤S1中,判断变量t1a是否记录结束。变量t1a是用于临时保存具有超过基准等级阈值的当前值的时刻的变量,初期是未记录状态(例如,0)。如果判断为不是变量t1a记录结束(已保存了一些时刻),则进入步骤S2,如果判断为记录结束,则进入步骤S14。
在步骤S2中,判断是否为基准等级阈值<当前值。如果判断为“是”则进入步骤S3,对变量t1a写入当前的时刻,之后,进入步骤S4。另一方面,如果在步骤S2中,判断为“否”则进入步骤S4。另外,在基准等级阈值=当前值的情况下,可以进入任一处理。通过这些步骤S1~S3,将当前值超过了基准等级阈值的时刻记录到变量t1a。
另一方面,在步骤S14中,判断变量t2a是否记录结束。变量t2a是用于临时保存具有低于基准等级阈值的当前值的时刻的变量,初期是未记录状态(例如,0)。如果判断为变量t2a记录结束(已保存了一些时刻),则进入步骤S4,如果判断为记录未结束,则进入步骤S15。
在步骤S15中,判断是否为基准等级阈值>当前值。如果判断为“是”,则进入步骤S16,对变量t2a写入当前的时刻,之后,进入步骤S14。另外,在基准等级阈值=当前值的情况下,可以进入任一处理。通过这些步骤S14~S16,将当前值低于基准等级阈值的时刻记录到变量t2a。
在步骤S4中,判定是否为h<当前值。如果步骤S4中的判定结果为“是”则进入步骤S5,在对变量h写入了当前值之后,进入步骤S6。另一方面,如果步骤S4中的判定结果为“否”,则进入步骤S6。变量h是用于保存具有超过基准等级阈值的当前值的时刻的变量,通过针对多个时刻反复上述步骤S4、S5,最终记录包括该多个时刻的期间中的峰值。
在步骤S6中,对时刻加上1(使时刻进入接下来的时刻),进入下一步骤S7。
在步骤S7中,根据时刻是否对应于判定对象期间的结束时刻等,来判断判定波形是否结束。然后,如果判断为判定波形未结束,则进入步骤S8,如果判断为是判定波形结束,则进入步骤S17。
在步骤S8中,判断是否过零。通过与等级(振幅)相关的当前值和其前一个值是否处于跨越零等级的关系,来判断是否过零。步骤S8是判断与比步骤S6之前的步骤S1~S5、S14~S16相关的处理是否为针对波形表示的半周期量的一个山中的最终的时刻的处理的步骤,如果步骤S8中的判断结果为“是”则返回步骤S1,反复以后的处理。另一方面,如果在步骤S8中判断为“是”,则进入步骤S9。
在步骤S9中,判断变量t1a的记录是否结束,如果判断为“否”则进入步骤S17,如果判断为“是”则进入步骤S10。
在步骤S10中,判断变量t1的记录是否结束。如果判断结果为“否”,则进入步骤S11,对变量t1写入变量t1a的值。变量t1在初期是未记录状态(例如,保存有0),通过经过步骤S10、S11,最初写入的变量t1a的值被写入变量t1,得到超过上述基准等级阈值的时间轴上的最初的位置而作为变量t1的值。之后,进入步骤S12。
在步骤S12中,在变量t2中保存变量t2a的值,之后,进入步骤S13。通过本步骤S12,得到低于基准等级阈值的时间轴上的位置而作为变量t2的值。
在下一步骤S13中,对变量t1a、t2a进行清零(设为未记录状态),之后,返回步骤S1。
另一方面,在步骤S17中,判断变量t1的记录是否结束,如果判断为“否”则结束处理。即,在未产生具有超过基准等级阈值的当前值的时刻的情况下,结束处理。另一方面,如果在步骤S17中,判断为“是”,则进入步骤S18。
在步骤S18中,判断变量t2a的记录是否结束,如果判断为“否”则进入步骤S19,如果判断为“是”则进入步骤S20。在步骤S19中,在变量t2中保存当前的时刻。即,在由于当前值低于基准等级阈值之前的判定波形结束而未得到变量t2的情况下,简单地在变量t2中保存当前的时刻。之后,进入步骤S20。
在步骤S20中,将各变量的值代入(t2-t1)×h÷2,计算能量的量。
然后,在该能量的量超过了规定的阈值(判断基准)时判定为有接触。在该能量的量等于规定的阈值的情况下,既可以判断为有接触、也可以判断为无接触。
但是,如果直至判定对象期间P结束为止,反复图20所示的处理,则有可能观察到多个超过基准等级阈值的区域,而与其对应地,计算出多个能量的量。在该情况下,既可以在多个计算值中的某一个超过了阈值的情况下判定为有接触、或者、也可以针对多个计算值分别与规定的阈值进行比较并在超过规定阈值的计数数量超过了规定计数阈值的情况下判断为有接触。或者,也可以通过将多个计算值的最大值与阈值进行比较来判定有无接触、或者、也可以通过将多个计算值的平均值或者合计值与阈值进行比较来判定有无接触。
另外,在本实施方式中,将等级低于基准等级阈值的时间轴上的位置设为t2,但也可以将波形的峰值h出现的时刻设为t2,与上述同样地,通过(t2-t1)×h÷2,计算能量的量。也可以省略式中的值2的点与上述相同。
在该情况下,在判定对象期间P中计算出多个能量的量的情况下的有无接触的判定例子如上所述。
但是,发明者经过讨论,确认了由于芯线的接触和剥线刃14A、14B的接触而产生的波形形状呈现比较缓慢地上升的形状,由于电气的噪声、机械的冲击而产生的波形形状呈现比较急剧的上升形状。
因此,根据判定对象期间中的能量的变化程度进行校正,来求出与判定对象期间中的能量对应的量即可。即,通过对如上所述计算出的能量的量,乘以与波形形状的上升程度对应的系数,求出对基于由于芯线和剥线刃14A、14B的接触而产生的波形形状的能量的量进行了强调的能量的量。
作为那样的系数,例如,采用如下那样的系数即可。即,鉴于能够从图20中的流程图,容易地取得时刻t1下的等级、时刻t2下的等级、呈现峰值的时刻,设为时刻t1下的波形点Q1、时刻t2下的波形点Q2、呈现峰值的时刻下的波形点Q3(参照图21)。然后,作为系数采用相对角Q2Q1Q3处于逆相关的关系的数。例如,如图22所示,采用在角Q2Q1Q3是90度时成为0或者接近0,在是0度时成为1或者接近1那样的系数即可。对于这样的系数,既可以通过以角Q2Q1Q3为变量的计算式来求出、或者、也可以事先保存对多个角Q2Q1Q3的值对应关联了系数的表格并根据该表格来求出。
<实施方式3B>
在实施方式3B中,说明根据对来自振动探测部42的输出信号波形数据进行加工而得到的数据、更具体而言实施了有效值运算处理(或者平均值运算)后的波形数据来判定有无接触的例子。
首先,鉴于有效值运算(或者平均值运算)后的值自身是根据规定的期间(例如,一个波长量)的数据运算出的值,如果扑捉为该规定的期间是判定对象期间,则能够认为有效值运算(或者平均值运算)后的值表示与具有宽度的该判定对象期间中的能量对应的量。
因此,能够确定上述某期间(例如,上述判定对象期间P中的有效值(或者平均值))的峰值(波峰值),并在该峰值超过了规定的阈值(判断基准)时判定为有接触。
另外,说明根据有效值运算处理(或者平均值运算)后的波形数据求出与判定对象期间P中的能量对应的量(实施方式1中的评价值、以下有时简称为“能量”),在该能量的值超过了规定的阈值(判断基准)时判定为有接触的例子。
对于判定对象数据的取得步骤(步骤T1)、是否满足判断基准的处理(步骤T3)等,与实施方式1中的图6相同,所以以根据有效值运算处理(或者平均值运算)后的波形数据求出判定对象期间中的能量的处理为中心而进行说明。
图23是示出根据有效值运算处理(或者平均值运算)后的波形数据求出判定对象期间P中的能量的处理的流程图,图24是示出来自振动探测部42的输出信号波形数据例子的图,图25是示出根据输出信号波形数据进行了有效值运算处理(或者平均值运算)后的波形数据例子的图。
即,如果对图24所示的输出信号波形数据进行有效值运算处理(或者平均值运算),则得到图25所示那样的波形数据。在本处理中,概略上在判定对象期间P中,求出超过规定的基准等级阈值的能量的量,根据该能量的量判定有无接触。基准等级阈值被设定为超过在电线剥线处理装置10的非动作状态下观察的能量(通过有效值或者平均值表示)的值。由此,主要求出以电线剥线处理装置10的动作为主要原因而发生的能量的量。另外,对于在判定对象期间P中,观察到多个超过规定的基准等级阈值的区域的情况的处理,与上述实施方式3A中说明的情况相同。
图23所示的流程图示出简略地求出等级(有效值或者平均值)超过规定的基准等级阈值的区域的面积的处理。即,如果将等级超过了上述基准等级阈值的时间轴上的位置设为t1、将之后等级低于基准等级阈值的时间轴上的位置设为t2、在t1至t2的期间中将波形的峰值设为h,则计算(t2-t1)×h÷2作为能量的量。另外,式中的值2是常数,所以如果在判定有无接触的阈值中预先考虑了该点,则也可以省略该值2。
说明图23所示的流程图。另外,在下述中,所谓时刻表示判定对象期间P中的波形的横轴的位置(时间、采样点等),在初期,被设定为判定对象期间的初期时刻。
在步骤S31中,判断变量t1是否记录结束。变量t1是用于保存具有超过了基准等级阈值的当前值的时刻的变量,初期是未记录状态(例如,0)。如果判断为不是变量t1记录结束(已保存某些时刻),则进入步骤S32,如果判断为记录结束,则进入步骤S38。
在步骤S32中,判断是否为基准等级阈值<当前值。如果判断为“是”则进入步骤S33,对变量t1写入当前的时刻,之后,进入步骤S34。另一方面,如果在步骤S32中,判断为“否”则进入步骤S34。另外,在基准等级阈值=当前值的情况下,可以进入任一处理。通过这些步骤S31~S33,将当前值超过了基准等级阈值的时刻记录到变量t1。
另一方面,在步骤S38中,判断是否为基准等级阈值>当前值。如果判断为“是”则进入步骤S39,对变量t2写入当前的时刻,之后,进入步骤S34。另外,在基准等级阈值=当前值的情况下,可以进入任一处理。通过这些步骤S38~S39,将当前值超过了基准等级阈值的时刻记录到变量t2。
在步骤S34中,判定是否为h<当前值。如果步骤S34中的判定结果为“是”则进入步骤S35,在对变量h写入了当前值之后,进入步骤S36。另一方面,如果步骤S34中的判定结果为“否”,则进入步骤S36。变量h是用于保存具有超过基准等级阈值的当前值的时刻的变量,通过针对多个时刻反复上述步骤S34、S35,最终记录包括该多个时刻的期间中的峰值。
在步骤S36中,判断变量t2的记录是否结束,如果判断为“否”,则经由对时刻加上1(使时刻进入接下来的时刻)的步骤S40,返回步骤S31。另一方面,如果在步骤S36中判断为“是”,则进入步骤S37。
在步骤S37中,将各变量的值代入(t2-t1)×h÷2,计算能量的量。
然后,在该能量的量超过了规定的阈值(判断基准)时判定为有接触。在该能量的量等于规定的阈值的情况下,既可以判断为有接触、也可以判断为无接触。
在图23所示的流程图中,以等级低于基准等级阈值为前提,但还有可能判定对象期间P在等级低于基准等级阈值之前结束。在该情况下,也可以使处理在途中结束,而丢弃处理结果,但也可以如图26所示的流程图那样进行。
在图26所示的流程图中,步骤S51~S56的处理、步骤S62、S63的处理与图23所示的流程图的步骤S31~S36的处理、S38、S39所示的处理相同。
在步骤S56中,判断变量t2的记录是否结束,如果判断为“是”,则进入步骤S61。另一方面,如果在步骤S56中,判断为“否”,则经由对时刻加上1(使时刻进入接下来的时刻)的步骤S57,进入步骤S58。
在步骤S58中,根据时刻是否对应于判定对象期间的结束时刻等,来判断是否为判定波形结束。然后,如果判断为并非判定波形结束,则返回步骤S51,反复以后的处理。另一方面,如果在步骤S58中判断为并非判定波形结束,则进入步骤S59。
在步骤S59中,判断变量t1的记录是否结束,如果判断为“否”则结束处理,如果判断为“是”则进入步骤S60。
在步骤S60中,对变量t2,写入从当前的时刻减去1而得到的值(比当前时刻前一个的时刻),之后,进入步骤S61。
在步骤S61中,将各变量的值代入(t2-t1)×h÷2,计算能量的量。
然后,在该能量的量超过规定的阈值(判断基准)时判定为有接触。在该能量的量等于规定的阈值的情况下,既可以判断为有接触,也可以判断为无接触。
根据本处理,即使在判定对象期间P结束了的阶段,等级未低于基准等级阈值时,还能够将结束时刻的前一个时刻设为t2,而计算能量的量。
另外,关于可以将上述波形的峰值h出现的时刻设为t2这一点,以及可以根据判定对象期间P中的能量的变化程度进行校正来求出与判定对象期间中的能量对应的量这一点,与上述实施方式3A相同。
<与实施方式3相关的变形例子>
另外,在本实施方式中,也可以通过针对所分割的多个期间分别计算能量的量,并比较所计算出的多个能量的量的最大值(或者任意数位次的值)或者最小值(或者任意数位次的值)和作为判定基准的阈值,来判定有无接触。
进而,也可以通过求出针对所分割的多个期间分别计算出的能量的量的平均值,并比较该平均值和作为判定基准的阈值,来判定有无接触。
另外,也可以通过对针对所分割的多个期间计算出的能量的量的平均值分别乘以各期间宽度等来求出能量的总量,并比较该总量和作为判定基准的阈值,来判定有无接触。
另外,在这些情况下,也可以去掉针对所分割的期间求出的能量的量的最大值以及最小值中的某一方来进行上述判定处理。由此,能够去掉偶发的事情等所致的不稳定的主要原因,来更可靠地判定有无接触。
<实施方式4>
在本实施方式中,说明根据在判定对象期间中发生的能量的持续性来判定芯线Wa和剥线刃14A、14B有无接触的结构。
即,相对于如上所述芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所致的振动能量某种程度持续地发生,各种外来噪声一般是比较短时间。因此,能够通过判断在判定对象期间中发生的能量是否持续,来判定有无接触。
此处,说明根据振动探测部42的输出信号中包含的频率分量来判断判定对象期间中的能量有无持续性的例子。
图27是示出本实施方式中的判定处理的流程图。
即,如步骤S81所示,对由振动探测部42得到的判定对象波形进行频率能量变换,求出该判定波形中的每个频率分量的能量分布。本处理自身能够通过FFT(Fast Fourier Transform,快速傅立叶变换)等各种频率解析手法实现。图28示出每个频率分量的能量分布的一个例子。
在下一步骤S82中,求出任意频率的能量。任意频率是预先设定的值,被设定为芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的振动频率中的被观测为最大的能量的频率(例如,200kHz)。
在下一步骤S83中,判断所求出的任意频率下的能量是否高于作为判断基准的阈值。如果判断结果为“是”,则判定为有接触(步骤S84),如果为“否”则判定为无接触(步骤S85),结束处理。另外,在所求出的任意频率下的能量等于作为判断基准的阈值的情况下,可以当做是任一判断。
如果由于芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触而发生能量,则上述任意频率中的振动频率分量的振动能量将持续。因此,上述任意频率分量的能量被观察为大的值。因此,通过如上所述判断,能够根据被认为是芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的振动频率分量的能量的持续性,判定有无接触。因此,能够更可靠地判定芯线Wa和剥线刃14A、14B有无接触。
图29是示出本实施方式的变形例子涉及的判定处理的流程图,图30是示出每个频率分量的能量分布的一个例子的图。
图29的步骤S91与上述步骤S81相同。
在下一步骤S92中,求出任意频率波段内的能量的最大值。任意频率波段是预先设定的波段,被设定为芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的振动频率中被认为是作为比较大的能量来被观察的频率波段(例如,180kHz~220kHz)。
在下一步骤S93中,判断所求出的能量的最大值是否高于作为判断基准的阈值。如果判断结果为“是”则判定为有接触(步骤S94),如果为“否”则判定为无接触(步骤S95),结束处理。另外,在所求出的任意频率下的能量等于作为判断基准的阈值的情况下,可以当做是任一判断。
根据本处理,从具有某种程度的幅度的频率波段中求出能量的最大值来判定有无接触,所以即使在芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的振动频率中被认为是作为最大的能量来被观测的频率与实际出现偏差那样的情况下,也能够更可靠地判定有无接触。
图31是示出本实施方式的其他变形例所涉及的判定处理的流程图。
图29的步骤S101与上述步骤S81相同。
在下一步骤S102中,对每个频率分量的能量分布波形(此处FFT波形),乘以与各频率分量对应的加权系数。如图32所示,加权系数被设定为比由芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的振动频率中有可能作为更大的能量来被观察的频率分量更大的值,且被设定为比芯线Wa和剥线刃14A、14B的接触所引起的振动频率中有可能作为更小的能量来被观察的频率分量更小的值。将该加权系数预先存储为表示与频率分量对应的值的表格或者计算式。例如,如果对图30所示的能量分布波形(FFT波形),乘以图32所示的加权系数,则如图33所示,得到有可能由于接触而产生的频率分量被强调了的能量分布波形。因此,能够更正确地判定有无接触。
之后,在下一步骤S103中,求出任意频率的能量。
在下一步骤S104中,判断所求出的任意频率下的能量是否高于作为判断基准的阈值。如果判断结果为“是”则判定为有接触(步骤S105),如果为“否”则判定为无接触(步骤S106),结束处理。另外,在所求出的任意频率下的能量等于作为判断基准的阈值的情况下,可以当做是任一判断。
图34是示出本实施方式的其他变形例涉及的判定处理的流程图。
本处理中的步骤S111、S112、S114~S116与图31所示的步骤S101、S102、S104~S106相同,不同点为步骤S113。
即,在步骤S113中,根据有可能由于接触而产生的频率分量被强调了的能量分布波形(参照图33),求出任意频率波段内的能量的最大值。任意频率波段如在图29所示的流程图的步骤S92中所说明的那样。
图35是示出本实施方式的其他变形例涉及的判定处理的流程图。在该流程图中,切换上述各处理。
即,在步骤S121中,对由振动探测部42得到的成为判定对象的测定波形进行频率能量变换,求出该测定波形中的每个频率分量的能量分布。
在下一步骤S122中,判断有无使用加权系数。本判断根据由利用者等针对本装置进行的设定指示等来进行。如果在本步骤S122中,判断为“否”,则进入步骤S124,如果判断为“是”,则进入步骤S123。
在步骤S123中,对每个频率分量的能量分布波形(FFT波形),乘以与各频率分量对应的加权系数,得到有可能由于接触而产生的频率分量被强调了的能量分布波形(参照图33)。之后,进入步骤S124。
在步骤S124中,判断有无使用频率波段。本判断根据由利用者等针对本装置进行的设定指示等来进行。如果本步骤S124中的判断结果为“是”则进入步骤S125,如果为“否”则进入步骤S128。
在步骤S125中,在每个频率分量的能量分布(在经由步骤S123的情况下有可能由于接触而产生的频率分量被强调了的能量分布波形)中,求出任意频率波段内的能量的最大值。之后,进入步骤S126。
另一方面,在进入了步骤S128的情况下,在每个频率分量的能量分布(在经由步骤S123的情况下有可能是由于接触而产生的频率分量被强调了的能量分布波形)中,求出任意频率的能量之后,进入步骤S126。
在步骤S126中,判断所求出的能量是否高于作为判断基准的阈值。如果判断结果为“是”则判定为有接触(步骤S127),如果为“否”则判定为无接触(步骤S129),结束处理。另外,在所求出的频率下的能量等于作为判断基准的阈值的情况下,可以设为任一判断。
另外,在上述各处理中,也可以代替求出任意频率波段中的最大值而将反映了quasi-peak值(QP值:准峰值)等峰值的值与阈值进行比较来判定有无接触、或者、也可以比较任意频率波段中的能量的平均值或者总和和阈值来判定有无接触。
另外,对于成为上述各处理的基础的每个频率分量的能量分布,无需将判定对象期间P整体作为一个对象区间截出来进行。
例如,也可以如图36所示,作为将判定对象期间P分割为多个期间1~7而得到的期间截出,将各个期间作为对象而利用FFT变换等求出每个频率分量的能量分布,如图37所示,对该多个频率分量的每一个的能量分布进行平均化而得到噪声去除了的每个频率分量的能量分布,并根据该每个频率分量的能量分布来进行上述各处理。
另外,也可以根据剥线刃14A、14B、芯线WA的材质等,而能够将上述任意频率、任意频率波段、加权系数设定为不同的值。
<其他>
在上述实施方式中,以判定剥线刃14A、14B和芯线Wa有无接触的例子进行了说明,但不限于这样的例子。电线的导体接触状态检测装置自身不限于检测剥线刃和芯线的接触的情况,而能够应用于在切入刃切入到电线时检测切入刃和电线的导体的接触的各种结构。作为电线的导体,例如,除了电线的芯线以外,还假想夹着内部被覆而包围电线的芯线的屏蔽部分等由金属导体形成了的各种部分。
例如,也可以以电线200为对象,该电线200如图38以及图39所示在芯线201的外周围被覆了内部绝缘层202、在其外周围被覆了由金属网等编织层或者金属带等构成的屏蔽层203、进而在其外周围被覆了外部绝缘层204。针对那样的电线200,使切入刃210切入到外部绝缘层204,而去除该外部绝缘层204。在该情况下,需要使切入刃210不与屏蔽层203接触。在这样的情况下,作为探测切入刃210和屏蔽层203的接触的装置,能够应用上述接触状态检测装置。
另外,即使在针对用屏蔽层覆盖多个电线的外周围,并且进而用外部绝缘层覆盖其外周围的电线(还称为缆线),用切入刃来去除外部绝缘层的情况下,也能够同样地应用上述接触状态检测装置。
另外,上述实施方式是例示,本发明的内容不限于该实施方式说明的内容。例如,上述实施方式1~4以及各种变形例中说明的内容只要不是相反的内容,就能够适宜地组合。
Claims (18)
1.一种电线的导体接触检测装置,对切入电线的切入刃和电线的导体的接触进行检测,该电线的导体接触检测装置的特征在于,具备:
探测部,能够探测与由于电线的导体和切入刃的接触而发生的能量对应的物理量;以及
接触状态判定处理部,根据所述探测部的输出信号,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触。
2.根据权利要求1所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述探测部是能够对包含由于电线的导体和切入刃的接触而产生的振动频率在内的频带的振动进行探测的振动探测部。
3.根据权利要求1或者2所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述探测部是具有100kHz~300kHz的范围内的共振频率的共振型AE传感器。
4.根据权利要求1~3中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述接触状态判定处理部针对分割所述判定对象期间而得到的多个判定期间的每一个判定是否满足每个期间的接触判定基准,根据每个期间的判定结果判定剥线刃和芯线有无接触。
5.根据权利要求4所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述接触状态判定处理部在基于所述探测部的输出信号的与每个期间的能量对应的量超过预先设定的能量阈值时,判定为满足每个期间的接触判定基准。
6.根据权利要求4或者5所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
在满足所述每个期间的接触判定基准的数量超过预先设定的接触判定数量时,所述接触状态判定处理部判定为电线的导体和切入刃有接触。
7.根据权利要求1~3中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述接触状态判定处理部根据与所述判定对象期间中的能量对应的量,判定电线的导体和切入刃有无接触。
8.根据权利要求7所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述接触状态判定处理部根据所述判定对象期间中的能量的变化程度进行校正,而求出与所述判定对象期间中的能量对应的量。
9.根据权利要求1~3中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述接触状态判定处理部根据所述判定对象期间中的能量的持续性,判定电线的导体和切入刃有无接触。
10.根据权利要求9所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述接触状态判定处理部根据所述探测部的输出信号中包含的频率分量,判定所述判定对象期间中的能量有无持续性。
11.根据权利要求1~10中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述判定对象期间包括所述切入刃切入所述电线的期间。
12.根据权利要求1~11中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述判定对象期间包括所述切入刃切入所述电线而停止之后的期间。
13.根据权利要求1~12中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述判定对象期间包括切入所述电线的切入刃向所述电线的端部侧相对移动而去除被覆时的期间。
14.根据权利要求1~13中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,还具备:
一对切入刃,能够切入电线的被覆;以及
刃驱动部,使所述一对切入刃接近以及远离移动。
15.根据权利要求14所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述探测部被设置为与所述一对切入刃的至少一方接触。
16.根据权利要求1~15中的任意一项所述的电线的导体接触检测装置,其特征在于,
所述探测部构成为能够探测与由于电线的芯线和作为对电线的被覆进行剥线的剥线刃的所述切入刃的接触而发生的能量对应的物理量。
17.一种电线的导体接触检测方法,对切入电线的切入刃和电线的导体的接触进行检测,该电线的导体接触检测方法的特征在于,具备:
(a)进行包括使切入刃切入电线的处理的加工处理的步骤;
(b)探测与在所述步骤(a)中发生的能量对应的物理量的步骤;以及
(c)根据所述步骤(b)中的探测结果,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触的步骤。
18.一种电线的导体接触状态检测程序,用于探测与在包括使切入刃切入电线的处理的加工处理中发生的能量对应的物理量,根据其探测结果,判定电线的导体和切入刃有无接触,该电线的导体接触状态检测程序的特征在于,用于使计算机实现如下步骤:
(A)取得与在包括使切入刃切入电线的处理的加工处理中发生的能量对应的物理量的探测结果的步骤;以及
(B)根据所述步骤(A)中的探测结果,依据判定对象期间中的能量发生状况,判定电线的导体和切入刃有无接触的步骤。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20121017 |