CN102591762B - 一种自诊断plc存储芯片的方法、自诊断plc - Google Patents
一种自诊断plc存储芯片的方法、自诊断plc Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供一种自诊断PLC存储芯片的方法和一种自诊断PLC。所述方法之一包括：通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；通过所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；比较从所述地址读出的数据是否和之前写入的数据相同；若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号。实施本发明，可以快速的诊断PLC存储芯片数据线和/或地址线引脚存在的焊接问题，避免因此带来的数据读写错误的问题。
Description
技术领域
本发明涉及可编程控制技术领域，尤其涉及一种自诊断PLC存储芯片的方法和自诊断PLC。
背景技术
可编程逻辑控制器（Programmable Logic Controller, PLC）是一种用于实时控制的自动化控制装置，其广泛应用于工业控制领域。
现有技术中，PLC存储芯片的引脚焊接出现问题的时候，常常会导致数据读写错误。PLC存储芯片的引脚分为地址线引脚和数据线引脚两种，当PLC存储芯片的地址线引脚出现虚焊或者短接的时候，会导致数据存储到错误的地址，甚至覆盖掉其他地址的原有数据。
为了避免上述问题，现有技术中往往使用检测设备来检测PLC存储芯片的引脚的焊接品质，但是检测设备一般比较昂贵，并且检测时间较长。并且，检测设备一般在PLC存储芯片出厂前进行严格的品质检查，但是对于出厂后的PLC存储芯片却没有办法立即检查其是否有脱焊或者因为现场震动等各种原因导致的PLC存储芯片的引脚松动、短接等故障状态，因此，出厂之后发生的PLC存储芯片的引脚焊接问题不容易察觉，需要送回原厂检测，成本较高，耗费时间长，不利于及时排除问题。
发明内容
针对现有技术中存在的问题，本发明提供一种自诊断PLC存储芯片的方法和自诊断PLC，可以快速的自我诊断PLC存储芯片数据线和/或地址线引脚存在的焊接问题，避免因此带来的数据读写错误的问题。
为解决上述技术问题，本发明提供一种自诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法，包括：
通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；
通过所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；
比较从所述地址读出的数据是否和之前写入的数据相同；
若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；
若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号。
其中，对待测数据线进行检测时，分奇偶数据线分别进行诊断。
相应的，本发明还提供一种自诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法，包括：
通过数据线向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
比较所述写入的数据和所述读取的数据是否相同；
若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；
若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
其中，以由低位地址到高位地址的顺序，对所述PLC存储芯片的地址对应的地址线引脚进行诊断，直至检测完所有的地址线引脚。
相应的，本发明还提供了一种自诊断可编程逻辑控制器，包括，中央处理单元CPU，诊断装置和可编程逻辑控制器PLC存储芯片；
所述诊断装置位于所述CPU中，且与所述PLC存储芯片连接，用于诊断PLC存储芯片的数据线引脚是否正常，包括：
第一写数据模块，用于通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；
第一读数据模块，用于通过所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；
第一诊断模块，用于比较所述第一读数据模块读出的数据是否和之前第一写数据模块写入的数据相同；若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号。
其中，所述第一诊断模块在对所述PLC的待测数据线进行检测时，分奇偶数据线分别进行诊断。
相应的，本发明还提供一种自诊断可编程逻辑控制器，包括：中央处理单元CPU，诊断装置和可编程逻辑控制器PLC存储芯片；
所述诊断装置位于所述CPU中，且与所述PLC存储芯片连接，用于诊断PLC存储芯片的地址线引脚是否正常，包括：
第二写数据模块，用于向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
第二读数据模块，用于从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
第二诊断模块，用于比较所述第二写数据模块写入的数据和所述第二读数据模块读取的数据是否相同；若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
其中，所述第二诊断模块以由低位地址到高位地址的顺序，对所述PLC存储芯片的地址对应的地址线的引脚进行诊断，直至检测完所有的地址线的引脚。
本发明还提供了本发明还提供一种自诊断可编程逻辑控制器，包括：中央处理单元CPU，诊断装置和可编程逻辑控制器PLC存储芯片；
所述诊断装置位于所述CPU中，且与所述PLC存储芯片连接，用于诊断所述PLC存储芯片的数据线引脚和地址线引脚是否正常，包括：
第一写数据模块，用于通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；
第一读数据模块，用于所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；
第一诊断模块，用于比较所述第一读数据模块读出的数据是否和之前第一写数据模块写入的数据相同；若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号；
第二写数据模块，用于向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
第二读数据模块，用于从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
第二诊断模块，用于比较所述第二写数据模块写入的数据和所述第二读数据模块读取的数据是否相同；若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
实施本发明，在PLC存储芯片出厂之后，仍然可以对PLC存储芯片的数据线和地址线引脚进行诊断，以便及时排除地址线和/或数据线引脚松动、短接等故障，大大提高PLC的可靠性。本发明实施成本非常低，耗费时间短，为诊断PLC存储芯片的故障提供了极大的方便。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种自诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法实施例一的流程示意图；
图2为本发明提供的一种自诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法实施例二的流程示意图；
图3为本发明提供的一种自诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法实施例一的流程示意图；
图4为本发明提供的一种自诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法实施例二的流程示意图；
图5为本发明提供的一种自诊断PLC实施例一的结构示意图；
图6为本发明提供的一种自诊断PLC实施例二的结构示意图；
图7为本发明提供的一种自诊断PLC实施例三的结构示意图；
图8为本发明提供的一种自诊断PLC实施例四的结构示意图。
具体实施方式
本发明提供一种自诊断PLC存储芯片的方法和自诊断PLC，可以快速的诊断PLC存储芯片数据线和/或地址线引脚存在的焊接问题，避免因此带来的数据读写错误的问题。
参见图1，为本发明提供的一种自诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法实施例一的流程示意图。
本实施例一提供的方法，包括：
步骤100，通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据。
步骤101，通过所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据。
步骤102，比较从所述地址读出的数据是否和之前写入的数据相同；若是，转入步骤103；若否，转入步骤104；
步骤103，判断待测数据线的引脚正常；
步骤104，判断待测数据线的引脚异常，并发出报警信号。
以上步骤在PLC运行中以一定时间间隔循环进行。
在一些实施例中，对所述PLC存储芯片的待测数据线进行检测时，分奇偶数据线分别进行诊断，以下将做详细描述。
参见图2，为本发明提供的一种自诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法实施例二的流程示意图。
本实施例二提供的方法包括：
步骤200，向通过待测数据线向地址2#00000000写入数据2#10101010。
其中，地址2#00000000是正常的地址，而数据2#10101010是用于测试的数据，该数据经过待测的数据线存储到PLC存储芯片的存储器中。
步骤201，从PLC存储芯片的地址2#00000000读数据；
步骤202，判断步骤201中读出的数据是否为2#10101010。若是，转入步骤203；若否转入步骤207；
步骤203，向地址2#11111111写入数据2#01010101。
其中，地址2#11111111是正常的地址，而数据2#01010101是用于测试的数据，该数据经过待测的数据线存储到PLC存储芯片的存储器中。
步骤204，从PLC存储芯片的地址2#11111111读数据；
步骤205，判断步骤204中读出的数据是否为2#01010101。若是，转入步骤206；若否转入步骤207；
步骤206，判断待测数据线的引脚正常。
步骤207，判断待测数据线的引脚异常，发出报警信号。
实施本发明提供的诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法，可以快速而准确的得到诊断结果，且不分场地进行，节省了检测成本和时间。
参见图3，为本发明提供的一种诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法实施例一的流程示意图。
本实施例一提供的方法，包括：
步骤300，通过数据线向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
步骤301，从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
步骤302，比较所述写入的数据和读取的数据是否相同；若是，转入步骤303，若否，转入步骤304；
步骤303，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；
步骤304，判断所述待测地址线的引脚正常。
在一些实施方式中，以由低位地址到高位地址的顺序对所述PLC存储芯片的地址对应的地址线引脚进行诊断，直至检测完所有的地址线引脚，以下的实施例中将详细描述。
参见图4，为本发明提供的一种诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法实施例二的流程示意图。
本实施例二提供的方法包括：
步骤400，确定待测地址线1：该待测地址线对应的地址的检测位为0，其他位都为1，例如地址2#11111110，并向地址2#11111110写入数据2#10101010。
步骤401，从PLC存储芯片的地址2#11111111读数据，判断该数据是否为2#10101010。若否转入步骤402；若是，转入步骤407；
步骤402，确定待测地址线2：该待测地址线对应的地址的检测位为1，其他位都为0；例如地址2#00000001，并向地址2#00000001写入数据2#01010101。
步骤403，从PLC存储芯片的地址2#00000000读数据，判断该数据是否为2#01010101。若否转入步骤404；若是，转入步骤407；
步骤404，是否检测完了待测地址线的所有位？若是转入步骤405；若否，转入步骤406；
步骤405，判断待测地址线的引脚正常。
步骤406，将检测位加1，继续检测；
步骤407，判断待测数据线的引脚异常，发出报警信号。
实施本发明提供的诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法，可以快速而准确的得到诊断结果，且不分场地进行，节省了检测成本和时间。
需要说明的是，上述实施例一和实施例二中提供的对PLC存储芯片的数据线引脚进行的检测和实施例三和实施例四中提供的对PLC存储芯片的地址线引脚进行的检测可以分别进行，也可以结合起来进行，也即先进行数据线的检测，再进行地址线的检测；或者先进行地址线的检测，再进行数据线的检测，其具体实现过程是以上对数据线引脚和对地址线引脚检测的方法步骤的综合，在此不再赘述。
参见图5，为本发明提供的一种自诊断PLC实施例一的结构示意图.
本实施例一提供的自诊断PLC，包括：诊断装置1、PLC存储芯片2、中央处理单元CPU3；
所述诊断装置1位于所述CPU3中，且与所述PLC存储芯片2连接，
所述PLC存储芯片2包括：多个数据线及其引脚，多个地址线及其引脚；存储器（图未示）；
所述诊断装置1的具体实现方式在图6至图8所示的实施例中详细描述。
参见图6，为本发明提供的一种自诊断PLC实施例二的结构示意图。
本实施例二主要描述诊断装置1的具体实现方式，在本实施例中，其用于诊断PLC存储芯片的数据线引脚是否正常，包括：
第一写数据模块10，用于通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；
第一读数据模块11，用于通过所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；
第一诊断模块12，用于比较所述第一读数据模块11读出的数据是否和之前第一写数据模块11写入的数据相同；若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号。
其中，所述第一诊断模块12在对所述PLC的待测数据线进行检测时，分奇偶数据线分别进行诊断。
本发明提供的诊断PLC存储芯片的装置进行PLC存储芯片的数据线引脚的诊断具体实现方式如图1和图2所示的诊断PLC存储芯片的数据线引脚的方法实施例一和实施例二对应的流程，在此不再赘述。
参见图7，为本发明提供的一种自诊断PLC的实施例三的结构示意图。
本实施例三主要描述诊断装置1的功能和结构，其位于PLC存储芯片中，用于诊断PLC存储芯片的地址线引脚是否正常，包括：
第二写数据模块20，用于向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
第二读数据模块21，用于从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
第二诊断模块22，用于比较所述第二写数据模块20写入的数据和所述第二读数据模块21读取的数据是否相同；若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
其中，所述第二诊断模块22以由低位地址到高位地址的顺序，对所述PLC存储芯片的地址线引脚进行诊断，直至检测完所有的地址线引脚。
本发明提供的诊断PLC存储芯片的装置进行PLC存储芯片的数据线引脚的诊断具体实现方式如图3和图4所示的诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法实施例一和实施例二对应的流程，在此不再赘述。
参见图8，为本发明提供的一种自诊断PLC的实施例四的结构示意图。
本实施例四主要描述诊断装置1的功能和结构，其位于PLC存储芯片中，用于诊断PLC存储芯片的数据线引脚和地址线引脚是否正常，包括：
第一写数据模块10，用于通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；
第一读数据模块11，用于通过所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；
第一诊断模块12，用于比较所述第一读数据模块11读出的数据是否和之前第一写数据模块11写入的数据相同；若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号。
第二写数据模块20，用于向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
第二读数据模块21，用于从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
第二诊断模块22，用于比较所述第二写数据模块20写入的数据和所述第二读数据模块21读取的数据是否相同；若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
需要说明的是，所述第一写数据模块10和第二写数据模块20在具体实现过程中，可以是相互独立的两个模块，也可以由一个写数据模块来实现两者的功能。所述第一读数据模块11和第二读数据模块21同理；所述第一诊断模块11和第二诊断模块21同理。
实施本发明提供的自诊断PLC，在PLC存储芯片出出厂之后，可以随时随地的对PLC存储芯片的数据线和地址线引脚进行诊断，以便及时排除地址线和/或数据线引脚松动、短接等故障。本发明实施成本非常低，耗费时间短，为诊断PLC存储芯片的故障提供了极大的方便。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体（Read-Only Memory，ROM）或随机存储记忆体（Random Access Memory，RAM）等。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (5)
1.一种自诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法，其特征在于，包括：
通过数据线向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
比较所述写入的数据和所述读取的数据是否相同；
若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；
若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
2.如权利要求1所述的诊断PLC存储芯片的地址线引脚的方法，其特征在于，以由低位地址到高位地址的顺序，对所述PLC存储芯片的地址对应的地址线引脚进行诊断，直至检测完所有的地址线引脚。
3.一种自诊断可编程逻辑控制器，其特征在于，包括：中央处理单元CPU，诊断装置和可编程逻辑控制器PLC存储芯片；
所述诊断装置位于所述CPU中，且与所述PLC存储芯片连接，用于诊断PLC存储芯片的地址线引脚是否正常，包括：
第二写数据模块，用于向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
第二读数据模块，用于从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
第二诊断模块，用于比较所述第二写数据模块写入的数据和所述第二读数据模块读取的数据是否相同；若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
4.如权利要求3所述的自诊断可编程逻辑控制器，其特征在于，所述第二诊断模块以由低位地址到高位地址的顺序，对所述PLC存储芯片的地址对应的地址线引脚进行诊断，直至检测完所有的地址线引脚。
5.一种自诊断可编程逻辑控制器，其特征在于，包括：中央处理单元CPU，诊断装置和可编程逻辑控制器PLC存储芯片；
所述诊断装置位于所述CPU中，且与所述PLC存储芯片连接，用于诊断所述PLC存储芯片的数据线引脚和地址线引脚是否正常，包括：
第一写数据模块，用于通过待测数据线在所述PLC存储芯片的一地址中写入数据；
第一读数据模块，用于所述待测数据线从所述PLC存储芯片的所述地址中读出数据；
第一诊断模块，用于比较所述第一读数据模块读出的数据是否和之前第一写数据模块写入的数据相同；若是，则判断所述待测数据线的引脚正常；若否，则判断所述待测数据线的引脚异常，并发出报警信号；
第二写数据模块，用于向PLC存储芯片的待测地址线对应的地址写入数据；
第二读数据模块，用于从与所述待测地址线相邻的地址线对应的地址读取数据；
第二诊断模块，用于比较所述第二写数据模块写入的数据和所述第二读数据模块读取的数据是否相同；若是，判断所述待测地址线的引脚异常，并发出报警信号；若否，判断所述待测地址线的引脚正常。
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