CN102565675A - 一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及了一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法，该测试夹具有一个夹具底座，所述夹具底座上设置一个载片单元，该载片单元一侧设置左连接单元，该载片单元另一侧设置右连接单元；所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述竖直导轨支架与一个压紧单元连接，所述夹具底座下部设置散热器，所述的测试夹具还包括微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线。本发明的测试夹具操作方便，通用性强；测量精确；本发明采用压接的方式固定被测微波元件，不需要另外的固定或者焊接，并且保证了被测微波元件固定良好，一方面是对被测微波元件的无损伤测量，另一方面适用于大批量产品的测量。

Description

一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法

技术领域

本发明涉及一种微波元件测量装置，尤其涉及一种大功率功放管件的无损伤测量的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法。

背景技术

功放管也就是功率放大器，很多情况下主机的额定输出功率不能胜任带动整个音响系统的任务，这时就要在主机和播放设备之间加装功率放大器来补充所需的功率缺口，而功率放大器在整个音响系统中起到了“组织、协调”的枢纽作用，在某种程度上主宰着整个系统能否提供良好的音质输出。因此，对功放管的性能测试非常重要。如何准确的测试功放管的各种参数对于功放管的应用有着重要的意义。传统的测量方法是嵌入式测量法，该方法是制作一个完全对称的夹具，夹具采用同轴连接器和微带电路焊接的方式转成平面结构，待测微波元件一般通过焊接或者压紧在电路板上，一般是先对夹具本身进行测试，然后把测得的参数采用数学方法分成两份，作为附加在待测微波元件两端的参数，然后把夹具和待测微波元件连接进行测试，所得的数据使用数学方法扣除附加在待测微波元件两端的参数即可得到待测元件的参数；采用该方法的缺点主要有以下几个方面：（1）结构上采用焊接的方式，很难控制，使用焊锡焊接，在微波领域尤其是频率很高的时候，焊点会形成比较大的微波能量反射。焊点的形状，光洁度，大小等都会对微波能量的反射造成影响。这些显然不论是人工焊接还是其他手段都是不可控的因素，因此会对测量结果的不确定度起到无法避免的影响。另外待测件如果采用焊接的方式和电路板连接则会使得待测件成为拆装件而无法再使用，且不适合大批量产品测试；（2）在测量方式上，采用数学方式把夹具参数扣除，过程复杂且会造成多处误差叠加，很难保证测量精度。因为要先测量夹具的参数，因此已经多引入了一次测量误差；因为要把夹具的参数分成两半，所以要把夹具做成完全对称。但是无论多高精度的加工都会有公差存在，因此夹具不可能真的对称，由此带来的误差经过数学计算还会被放大。经过多处误差的重叠，测试精度会受很大影响。

中国专利2011201362340公开了一种用于通用功放管评估平台的测试工装，该测试工装主要由散热器、均设置在散热器上端的基板和测试基板、设置在测试基板上的测试头、以及固定在基板上的压块构成，所述测试基板设置在基板两端，所述测试头设置在远离基板的一端，所述测试基板与测试头之间设置有可调节支撑架，该测试工装使用时需要调节螺钉已使其符合不同功放管的要求，使用时较为复杂，测试结果人为因素影响较大，因此需要提供一种新的功放管测试夹具。

发明内容

本发明的目的在于提供一种操作方便、测量精度高、可以对功放管进行无损伤测量的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具及校准方法。该测试夹具采用双稳态操纵机构控制压紧单元，实现对微波元件的快速、精确测量，使用时可以提高工作效率，同时对微波元件无损伤。

本发明的目的是由下述技术方案实现的：

一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具，有一个夹具底座，所述夹具底座上设置一个载片单元，该载片单元一侧设置左连接单元，该载片单元另一侧设置右连接单元；所述载片单元上方设置压紧单元，所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述夹具底座下部设置散热器；

    所述竖直导轨支架中有一个矩形框架，该矩形框架中央设置一个竖直导柱，所述竖直导柱上滑动安装一个升降滑套；所述升降滑套与所述载片单元相连，所述竖直导轨支架顶部设置水平悬臂托架，该水平悬臂托架上安装一个圆盘型旋转块，所述旋转块上设置一个曲柄轴孔，该曲柄轴孔与所述旋转块上的旋转轴孔位于同一条弦线上，所述旋转块上设置一个操作手柄、两个曲柄，所述曲柄的上端通过铰轴与所述曲柄轴孔铰接；由所述的旋转块、曲柄、曲柄轴孔、操作手柄构成双稳态操纵机构；

所述左连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接； 

所述右连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接；

所述载片单元中部设置一个凹槽，该凹槽两侧对称设置微波元件安置槽；

所述的压紧单元中有一个升降台板，该升降台板与所述竖直导轨支架中的升降滑套连接；所述升降台板底面上设置多个均衡压板，所述升降台板顶面上有一个铰座，该铰座通过铰轴与所述的双稳态操纵机构中的曲柄铰接。

本发明的另一目的是通过以下技术方案实现的：

一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的校准方法，校准方法所采用的测量系统包括网络分析仪、电源，所述的测量系统还包括标准件以及两个供电电路，所述的标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；

所述的标准件包括反射标准件、延时标准件和直通标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件为盒装式标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件的两端设置有同轴连接器，所述的校准方法包括下列步骤：

（1）将反射标准件连入测量系统，所述的反射标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行反射校准，保存网络分析仪的反射校准状态，反射校准完成，取出反射标准件；

（3）将直通标准件连入测量系统，所述的直通标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，，使用网络分析仪进行直通校准，保存网络分析仪的直通校准状态，直通校准完成，取出直通标准件；

（4）将延时标准件连入测量系统，所述的延时标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行延时校准，保存网络分析仪的延时校准状态，延时校准完成，取出延时标准件。

本发明的有益效果是：

1 本发明的测试夹具操作方便，使用时只需将被测微波元件放入测试夹具，将测试夹具连入测量系统中即可；

2 本发明的测试夹具的载片单元可以根据被测微波元件的尺寸等设计多个载片单元，根据被测微波元件的要求更换载片单元即可，通用性强；

3 本发明的测试夹具采用双稳态操纵机构，双稳态操纵机构操作简单，能够准确、稳定的控制压紧单元的上下运动，实现对微波元件的快速测量，使用时可以提高工作效率；

4 本发明的测试夹具自带标准件，标准件设计为盒装式标准件，校准时只需将标准件连入测量系统即可，可以通过微波测试仪表自身的TRL校准模式进行校准，保证了足够的精度；

5 本发明的测量夹具对同轴接头与微带电路的连接处进行了分布电容电感的补偿，使得连接处对微波能量的反射最小，保证了测量的精度；

6 本发明的测试夹具采用压接的方式固定被测微波元件，不需要另外的固定或者焊接，并且保证了被测微波元件固定良好，一方面是对被测微波元件的无损伤测量，另一方面适用于大批量产品的测量；并且在双稳态操纵机构的控制下，压紧单元可以压紧被测微波元件，防止被测微波元件移动，这样使得测量结果更加精确。

附图说明

图1为本发明的整体结构示意图；

图2为本发明的载片单元、左连接单元和右连接单元的相对位置关系图；

图3为本发明的竖直导轨支架的结构示意图；

图4为本发明的旋转块的结构示意图；

图5为本发明的左连接单元的结构示意图；

图6为图5的A-A剖面图；

图7为本发明的压紧单元的结构示意图；

图8为本发明的实施例1的均衡压板的结构示意图；

图9为本发明的实施例3的测量系统的框图。

具体实施方式

实施例1：

参见图1和图2，（图2是图1的俯视图，表示的是不包括竖直导轨支架的俯视图）；一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具，有一个夹具底座1，所述夹具底座上设置一个载片单元2，该载片单元一侧设置左连接单元3，该载片单元另一侧设置右连接单元4；所述载片单元上方设置压紧单元6，所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架5，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述夹具底座下部设置散热器7；

参见图3，所述竖直导轨支架中有一个矩形框架501，该矩形框架中央设置一个竖直导柱502，所述竖直导柱上滑动安装一个升降滑套503，所述的升降滑套与所述压紧单元连接，所述的升降滑套可以在竖直导柱上滑动，所述的升降滑套的两翼与矩形框架滑动连接，这样可以防止升降滑套在竖直导柱上转动，使得升降滑套仅能在竖直导柱上做垂直上下运动；所述的升降滑套与压紧单元连接，在升降滑套的作用下，压紧单元只能上下垂直移动。

参见图1和图4，所述竖直导轨支架顶部设置水平悬臂托架8，该水平悬臂托架上安装一个圆盘型旋转块9，所述的旋转块通过旋转轴孔11安装在水平悬臂托架上；所述旋转块上设置一个曲柄轴孔10，该曲柄轴孔与所述旋转块上的旋转轴孔11位于同一条弦线上，所述旋转块上设置一个操作手柄13、两个曲柄12，所述曲柄的上端通过铰轴与所述曲柄轴孔铰接，所述的曲柄的下端与压紧单元铰接；由所述的旋转块、曲柄、曲柄轴孔、操作手柄构成双稳态操纵机构；双稳态操纵机构可以控制压紧单元的上下移动，操作手柄下压，旋转块向下旋转，带动曲柄向下运动，由于曲柄与压紧单元铰接，压紧单元向下运动压紧被测微波元件的四个引脚；操作手柄向上，旋转块向上运动，带动曲柄向上运动，压紧单元向上运动，这样可以放入被测微波元件或者取出载片单元上的被测微波元件。双稳态操纵机构结构简单、操作方便，通过双稳态操纵机构能够准确的、稳定的控制压紧单元，可以使压紧单元只能做垂直上下运动，防止压紧单元移位。

参见图5，图5为左连接单元的俯视图，所述左连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板301，该连接板上安装一个同轴连接器302，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板303，所述微带电路板中部设置宽型微带线304，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头305电连接；所述的同轴连接器可以是SMA型连接器，也可以是K型连接器，同轴连接器为现有产品，市场上均可以买到；本实施例中的同轴连接器为K型连接器，参见图6，图6为图3的A-A剖面图，所述的K型连接器包括外壳306、中间介质307和芯头305。所述的微带电路板包括宽型微带线304和介质板308，所述的微带电路板是带有微带线的微带电路，所述的微带电路板的尺寸与微带电路板安装槽的尺寸相当，所述的微带电路板的宽型微带线的长度与微带电路板的长度相当，所述的宽型微带线的宽度根据实际所需要测量的微波元件确定，同时，所述的微带电路板的参数例如宽型微带线的厚度、介质板的厚度需要根据实际需要确定。本实施例中，所述的宽型微带线的厚度为0.018毫米，长度为20毫米，宽度为12.8毫米，所述的介质板的厚度为4.5毫米，宽度为30毫米，长度为20毫米，介质板的材料为氧化铝陶瓷，所述的介质板的介电常数为9.6。

所述右连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接。所述的右连接单元与左连接单元结构相同；所述的同轴连接器可以是SMA型连接器，也可以是K型连接器，同轴连接器为现有产品，市场上均可以买到；本实施例中的同轴连接器为K型连接器；所述的宽型微带线的厚度为0.018毫米，长度为20毫米，宽度为12.8毫米，所述的介质板的厚度为4.5毫米，宽度为30毫米，长度为20毫米，介质板的材料为氧化铝陶瓷，所述的介质板的介电常数为9.6。

参见图2，所述载片单元中部设置一凹槽201，该凹槽两侧对称设置微波元件安置槽202；被测微波元件放置在凹槽内，此时被测微波元件的引脚与微带线接触；所述的凹槽两侧对称设置的微波元件安置槽用来放置被测微波元件的接地引脚；所述的凹槽的具体尺寸需要根据被测微波元件的具体尺寸设定，只要放置的被测微波元件的引脚与微带线接触即可。本实施例中的载片单元适用于功率比较大的功放管，该功放管的输入输出引脚的宽度为10~12毫米左右，所述的被测微波元件为BLF6G27-75。被测功放管放入载片单元后，功放管的栅极和漏极分别和左右两侧的微带线接触，源级放入微波元件安置槽。本实施例中，所述的载片单元的材料为金属材料，优选黄铜。

参见图1和图7，图7是本实施例的压紧单元的仰视图；所述的压紧单元中有一个升降台板601，该升降台板与所述竖直导轨支架中的升降滑套连接；所述升降台板底面上设置多个均衡压板602，所述升降台板顶面上一个铰座603，该铰座通过铰轴与所述的双稳态操纵机构中的曲柄铰接。本实施例中，所述的均衡压板的数量为4个，参见图8，所述的均衡压板由上下两部分组成的，所述的均衡压板的上部为圆柱形端头604，所述的圆柱形端头的一端安装于升降台板底面，另一端连接均衡压板下部；所述的均衡压板的下部605为立方体结构，所述的的均衡压板的下部与被测微波元件接触；更进一步的，所述的圆柱形端头内部设置有弹簧，所述的弹簧一端安装于升降台板的底面，另一端与均衡压板的下部连接，设置弹簧可以使均衡压板具有弹性，这样可以保证多个均衡压板均能与被测微波元件接触。本实施例中，压紧被测微波元件时，其中四个均衡压杆压紧被测微波元件的引脚。本实施例中，所述的均衡压板的材料为聚四氟乙烯。本实施例所采用的均衡压板的下部为立方体结构，与被测微波元件的接触面积大，可以更好的压紧被测微波元件。采用压紧单元压紧被测微波元件，改变了以往焊接的方式，可以实现对微波元件的无损测量。

本实施例中的散热器由若干个散热片组成，使用散热器可以使测量时测试夹具散热快，延长测试夹具的寿命，保护被测微波元件完好不受损坏。

本实施例中，所述的微带电路板分为左右两部分，左右两部分微带电路板大小、结构均相同，被测微波元件的引脚分别与微带线连接，本实施例的测试夹具是针对功放管这种微波元件设计的，功放管的体积相对较大，因此本实施例的测试夹具使被测微波元件的引脚与微带线接触，实现了将非同轴接口的被测微波元件转换为同轴接口的精密连接，并且对被测微波元件采用压接的方式，实现了对微波元件的无损测试。本发明的双稳态操纵机构和竖直导轨支架共同作用，使得压紧机构均衡下压，这样可以保证压紧机构压紧被测微波元件的引脚，防止被测微波元件移动而引起测量误差。

本发明的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具使用简单，使用时只需要将被测微波元件放入载片单元中，然后下压操作手柄，使压紧单元与被测微波元件接触即可。本发明的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具主要用于各种功放管的测试。

实施例2： 

本实施例是在实施例1的基础上进行的改进，本实施例中与实施例1相同的部分，请参照实施例1中公开的内容进行理解，实施例1公开的内容也应当作为本实施例的内容，此处不作重复描述。

在所述的同轴连接器的靠近芯头的部分填充介电常数为3.5的介质，所填充的介质的厚度为0.3~0.5毫米，具体的厚度根据被测微波元件确定。填充介电常数为3.5的中间介质后，可以对同轴连接器转微带线接头处的分布电容进行补偿，连接处对微波能量的反射最小，从而使测试结果更加精确。参见图6，本实施例中，所述的同轴连接器为K型连接器，只需在靠近芯头处的位置填充介电常数为3.5的介质即可，如果采用的同轴连接器为SMA型连接器，则需取出靠近芯头处部分的中间介质，然后填充介电常数为3.5的介质即可。

实施例3： 

本实施例是在实施例1的基础上进行的改进，本实施例中与实施例1相同的部分，请参照实施例1中公开的内容进行理解，实施例1公开的内容也应当作为本实施例的内容，此处不作重复描述。

参见图9，一种宽管脚低阻抗大功率功放管测量系统，包括网络分析仪、电源，所述的测量系统还包括宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具以及两个供电电路，所述的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；所述的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具是实施例1所述的测试夹具；本实施例中，所述的电源为直流电源，所述的供电电路的型号为LBT-10M5。

所述的测量系统的测量方法包括下列步骤：

（1）将被测功放管安装在载片单元上；

（2）连接测量系统的线路，启动网络分析仪进行校准；

（3）校准完成后，将安装好功放管的测试夹具安装于测量系统中，启动网络分析仪进行测试即可。

实施例4： 

本实施例是在实施例1的基础上进行的改进，本实施例中与实施例1相同的部分，请参照实施例1中公开的内容进行理解，实施例1公开的内容也应当作为本实施例的内容，此处不作重复描述。

一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的校准方法，校准方法所采用的测量系统包括网络分析仪、电源，所述的测量系统还包括标准件以及两个供电电路，所述的标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；

所述的标准件包括反射标准件、延时标准件和直通标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件为盒装式标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件的外形基本相同，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件的两端设置有同轴连接器。所述的直通标准件、延时标准件、反射标准件的内部均为微电电路板；直通标准件的微带电路板的尺寸与宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的微带电路板的尺寸相同，区别在于直通标准件的微带线是连续的微带线；延时标准件的宽度与直通标准件相同，但是延时标准件的长度比直通标准件的长度稍长（延时标准件的具体尺寸需要根据实际需要设计），也就是延时标准件的微带线的长度比测量单元的微带线的长度略长；反射标准件的长、高、宽等尺寸与直通标准件的尺寸相同，区别在于反射标准件上不设置微带线。

所述的校准方法包括下列步骤：

（1）将反射标准件连入测量系统，所述的反射标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行反射校准，保存网络分析仪的反射校准状态，反射校准完成，取出反射标准件；

（3）将直通标准件连入测量系统，所述的直通标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行直通校准，保存网络分析仪的直通校准状态，直通校准完成，取出直通标准件；

（4）将延时标准件连入测量系统，所述的延时标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，，使用网络分析仪进行延时校准，保存网络分析仪的延时校准状态，延时校准完成，取出延时标准件。

本实施例中，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件均按照校准要求设计其微带线的长度、宽度等参数，并且为了校准和保存的方便，将微带线路板安装于校准盒中，在校准盒的两端设置同轴连接器，这样设计使制成的校准件方便使用。

校准时使用网络分析仪的步骤包括设定频率范围、选择校准类型等，所述的校准步骤具体可以参考网络分析仪的使用说明书，本实施例中网络分析仪校准时所测定的参数为S参数，所使用的网络分析仪的型号为安捷伦E5061B ENA 网络分析仪。与以往使用网络分析仪自带的校准件时校准的端面在同轴连接器的两端相比，本发明的校准件的校准端面在待测件的两端，因此本发明校准时使用了测量系统内部的设备和软件进行了同一校准，使校准参考面所采集的参数从待测微波元件的两端开始，扣除了同轴连接器到待测微波元件之间的部分的误差，这样可以保证足够的测量精度，最大限度的降低测量误差，另外，将校准件设计为盒装，使用方便，校准更简单。

Claims (4)

1.一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具，有一个夹具底座，其特征在于：所述夹具底座上设置一个载片单元，该载片单元一侧设置左连接单元，该载片单元另一侧设置右连接单元；所述载片单元上方设置压紧单元；所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述夹具底座下部设置散热器；

    所述竖直导轨支架中有一个矩形框架，该矩形框架中央设置一个竖直导柱，所述竖直导柱上滑动安装一个升降滑套；所述升降滑套与所述压紧单元相连，所述竖直导轨支架顶部设置水平悬臂托架，该水平悬臂托架上安装一个圆盘型旋转块，所述旋转块上设置一个曲柄轴孔，该曲柄轴孔与所述旋转块上的旋转轴孔位于同一条弦线上，所述旋转块上设置一个操作手柄、两个曲柄，所述曲柄的上端通过铰轴与所述曲柄轴孔铰接；由所述的旋转块、曲柄、曲柄轴孔、操作手柄构成双稳态操纵机构；

所述左连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接； 

所述右连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接；

所述载片单元中部设置一个凹槽，该凹槽两侧对称设置微波元件安置槽；

所述的压紧单元中有一个升降台板，该升降台板与所述竖直导轨支架中的升降滑套连接；所述升降台板底面上设置多个均衡压板，所述升降台板顶面上有一个铰座，该铰座通过铰轴与所述的双稳态操纵机构中的曲柄铰接。

2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于：在所述的同轴连接器的靠近芯头的部分填充介电常数为3.5的介质。

3.一种宽管脚低阻抗大功率功放管测量系统，包括网络分析仪、电源，其特征在于：所述的测量系统还包括宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具以及两个供电电路，所述的宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；

一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具，有一个夹具底座，所述夹具底座上设置一个载片单元，该载片单元一侧设置左连接单元，该载片单元另一侧设置右连接单元；所述载片单元上方设置压紧单元；所述载片单元的端头处设置一个竖直导轨支架，所述竖直导轨支架顶部设置双稳态操纵机构，所述夹具底座下部设置散热器；

    所述竖直导轨支架中有一个矩形框架，该矩形框架中央设置一个竖直导柱，所述竖直导柱上滑动安装一个升降滑套，所述升降滑套与所述压紧单元相连；所述竖直导轨支架顶部设置水平悬臂托架，该水平悬臂托架上安装一个圆盘型旋转块，所述旋转块上设置一个曲柄轴孔，该曲柄轴孔与所述旋转块上的旋转轴孔位于同一条弦线上，所述旋转块上设置一个操作手柄、两个曲柄，所述曲柄的上端通过铰轴与所述曲柄轴孔铰接；由所述的旋转块、曲柄、曲柄轴孔、操作手柄构成双稳态操纵机构；

所述左连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接； 

所述右连接单元中部设置微带电路板安装槽，该安装槽的端头部设置一个连接板，该连接板上安装一个同轴连接器，所述的同轴连接器一端延伸出所述连接板的外表面，所述的同轴连接器另一端延伸至所述连接板的内表面；所述微带电路板安装槽内设置微带电路板，所述微带电路板中部设置宽型微带线，所述宽型微带线的一端与所述的同轴连接器的芯头电连接；

所述载片单元中部设置一块凹槽，该凹槽两侧对称设置微波元件安置槽；

所述的压紧单元中有一个升降台板，该升降台板与所述竖直导轨支架中的升降滑套连接；所述升降台板底面上设置多个均衡压板，所述升降台板顶面上有一个铰座，该铰座通过铰轴与所述的双稳态操纵机构中的曲柄铰接。

4.一种宽管脚低阻抗大功率功放管测试夹具的校准方法，校准方法所采用的测量系统包括网络分析仪、电源，其特征在于：所述的测量系统还包括标准件以及两个供电电路，所述的标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，供电电路的另一端与网络分析仪连接，电源与供电电路连接；

所述的标准件包括反射标准件、延时标准件和直通标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件为盒装式标准件，所述的反射标准件、延时标准件和直通标准件的两端设置有同轴连接器，所述的校准方法包括下列步骤：

（1）将反射标准件连入测量系统，所述的反射标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行反射校准，保存网络分析仪的反射校准状态，反射校准完成，取出反射标准件；

（3）将直通标准件连入测量系统，所述的直通标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，，使用网络分析仪进行直通校准，保存网络分析仪的直通校准状态，直通校准完成，取出直通标准件；

（4）将延时标准件连入测量系统，所述的延时标准件的两个同轴连接器分别与两个供电电路连接，使用网络分析仪进行延时校准，保存网络分析仪的延时校准状态，延时校准完成，取出延时标准件。

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