CN102483638A - 提高/消退x射线管的灯丝电流 - Google Patents

提高/消退x射线管的灯丝电流 Download PDF

Info

Publication number
CN102483638A
CN102483638A CN2010800382970A CN201080038297A CN102483638A CN 102483638 A CN102483638 A CN 102483638A CN 2010800382970 A CN2010800382970 A CN 2010800382970A CN 201080038297 A CN201080038297 A CN 201080038297A CN 102483638 A CN102483638 A CN 102483638A
Authority
CN
China
Prior art keywords
current
tube
filament
ray
tube current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010800382970A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102483638B (zh
Inventor
T·斯特赖克
T·莱曼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of CN102483638A publication Critical patent/CN102483638A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102483638B publication Critical patent/CN102483638B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/34—Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30—Controlling
    • H05G1/46—Combined control of different quantities, e.g. exposure time as well as voltage or current
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/56—Switching-on; Switching-off
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05G—X-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08—Electrical details
    • H05G1/58—Switching arrangements for changing-over from one mode of operation to another, e.g. from radioscopy to radiography, from radioscopy to irradiation or from one tube voltage to another

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)

Abstract

为了提高/消退X射线管的阴极的灯丝电流，测量所述X射线管的管电流的时域变化并将所述时域变化存储在第一存储器中。之后执行迭代的提高/消退，其中在短的时间间隔(Δt)内向灯丝施加提高/消退电流，基于所存储的管电流的时域变化，确定在所述短的时间间隔(Δt)之后的管电流，并且将所述管电流存储在第二存储器中。基于所存储的管电流的时域变化，确定管电流(IE)是否小于其目标值(IE2)，如果是的话，在另外的时间间隔(Δt)内向灯丝施加提高/消退电流，否则确定所述管电流(IE)等于目标值(IE2)。因此，每个时间间隔(Δt)之后的管电流(IE)是已知的(可从存储在第二存储器中的管电流数据确定)，从而在任何时间中断迭代的提高/消退。

Description

提高/消退X射线管的灯丝电流
技术领域
本发明涉及X射线系统，更具体的，涉及X射线管。
背景技术
参考文献US5546441涉及一种X射线系统，该X射线系统包括X射线发生器，该X射线发生器用于操作具有能够被灯丝电流加热的阴极的X射线管，包括：用于在提高时间的持续时间内将灯丝电流提高到提高值的在曝光模式下操作的装置；以及在该曝光模式下操作以降低灯丝电流并接通管电压的装置。所述X射线发生器具有特殊模式，在该模式中，在接通管电压的同时将灯丝电流提高到提高值，提供用于测量在特殊模式下流过的管电流的装置，提供用于存储所测量的管电流的时域变化的第一存储器，以及提供用于从在第一存储器中存储的时域变化中导出提高时间的装置。可提供第二存储器，在第二存储器中存储针对各种管电压和管电流的灯丝电流的固定值，并且用于导出提高时间的装置执行对第一存储器和第二存储器的访问。
发明内容
在所述参考文献中描述的X射线发生器提供了提高时间，在按照上述确定该提高时间之后，提高时间被固定，从而在提高时间的整个持续时间内施加提高电流。
如果能够中断提高时间将是有利的，之后可以执行立即切换至提供新的管电流所需的新的提高时间。然而，当中断提高时间时，在中断发生时的时间点处的管电流(或灯丝温度，即灯丝电流)却是未知的。
换句话说，当执行从之前的管电流值切换到新的管电流值时，如果能够缩短X射线管的反应时间，将是有利的。
本发明基于上述提到的认识。
本发明的目的是缩短X射线管的反应时间。
独立权利要求限定了本发明。从属权利要求表明了本发明的有利的实施例。
根据本发明，在一系列的步骤中向灯丝迭代地施加提高/消退电流，在每个步骤中仅在短的时间间隔内施加。在每次在这种短的时间间隔内向灯丝施加提高/消退电流到之后，基于所存储的管电流的时域变化，确定该短的时间间隔后的管电流，并且将该管电流存储在第二存储器中。因此，在短的时间间隔内施加提高/消退电流之后的管电流是已知的。
之后，基于所存储的管电流的时域变化，确定在短的时间间隔内施加提高/消退电流之后的管电流是否小于管电流的目标值。如果是，在另一短的时间间隔内向灯丝重复施加提高/消退电流，如果否，确定管电流等于目标值。
以这种方式，执行迭代方法达到管电流的目标值。在向灯丝迭代施加提高/消退电流的每个步骤中，可基于所存储的管电流的时域变化，即基于所述短的时间间隔的次数来确定实际的管电流。可以在任意时间点处中断该提高/消退过程，并且在中断发生时的时间点处，管电流是已知的。之后，可从已知的管电流开始，换句话说，从已知的灯丝电流，即已知的灯丝的温度开始，立即执行切换到新的提高/消退时间。
根据本发明的实施例，与管电流的开始值和目标值之间的持续时间相比，时间间隔是短的。以这种方式，提高/消退过程迭代包括了大量的迭代步骤，从而提高/消退时间被精细分割。
如果管电流的时域变化由作为参数的管电压来测量，并且如果相应的多个时域变化被存储在第一存储器中，是有利的。对管电流的时域变化的测量可通过或者在制造所述X射线管的工厂处，或者在安装新的X射线管的地点处，对新的X射线管的校准过程来执行。也可定期执行这种校准过程以考虑X射线管的老化效应。
用于提高/消退X射线管的阴极的灯丝的灯丝电流的X射线发生器包括：电流测量单元，其用于测量X射线管的管电流；第一存储器，其用于存储管电流的时域变化；管电流控制单元，其用于生成规律的提高/消退灯丝电流；第二存储器，其用于存储在多个短的时间间隔的提高/消退电流的每个之后的管电流；以及控制单元，其用于控制X射线发生器和X射线管。
如果控制单元确定灯丝电流控制单元生成的灯丝电流，和/或控制单元确定短的时间间隔的持续时间，是有利的。
这种控制单元典型地包括处理器(或微处理器)。那么控制单元的操作可以容易地由其上存储有计算机程序产品的存储介质来确定，该计算机程序产品能够使得处理器执行根据本发明的方法。
包括根据本发明的X射线发生器和X射线管的X射线系统具有减少的反应时间，这是因为即使中断提高/消退过程，也可以立即执行切换至新的管电流值。
总的来说，为了提高/消退X射线管的阴极的灯丝电流，测量所述X射线管的管电流的时域变化并将所述时域变化存储在第一存储器中。之后执行迭代的提高/消退，其中在短的时间间隔内向灯丝施加提高/消退电流，基于所存储的管电流的时域变化，确定短的时间间隔后的管电流，并且将所述管电流存储在第二存储器中。基于所存储的管电流的时域变化，确定管电流是否小于其目标值，如果是的话，在另外的时间间隔内向灯丝施加提高/消退电流，否则，确定管电流等于目标值。因此，在每个时间间隔后的管电流是已知的(可由在第二存储器中存储的管电流数据确定)，从而可在任何时间中断迭代的提高/消退。
参考下面描述的实施例，本发明的这些和其他方面将会显而易见并得到说明。
附图说明
图1示出了根据本发明的X射线发生器和X射线管的示意性电路图；
图2示出了X射线管的发射电流的时域变化，即提高时间特性的示例；以及
图3示出了根据本发明的迭代的提高/消退过程。
具体实施方式
图1示出了用于提高/消退X射线管的阴极的灯丝的灯丝电流的X射线发生器和X射线管1的实施例的示意性电路图。
图1示意性示出了X射线管1，该X射线管包括阳极和具有灯丝的阴极，对该灯丝施加提高/消退电流。
图1所示的X射线发生器包括：第一高电压生成单元2，其用于生成针对X射线管1的阳极的正的高电压；以及第二高电压生成单元3，其用于生成针对X射线管1的阴极的负的高电压。所述X射线管1是双极X射线管。如果X射线管是单极X射线管，仅使用一个高电压生成单元。
两个高电压生成单元2、3通过电阻器4串联，电阻器4的一端接地。电阻器4用于测量流经X射线管1的管电流IE。将电阻器4两端的压降施加到模数转换器6，该模数转换器将与电阻器4两端的压降成比例的值，即，与管电流IE成比例的值供应至控制单元5。电阻器4和模数转换器6构成电流测量单元。
控制单元5确定针对X射线管1的阴极的由灯丝电流控制单元7生成的灯丝电流IF。
控制单元5与第一存储器8、第二存储器10以及另一存储器9配合，在第一存储器8中按照如下解释地存储动态数据，在第二存储器10中按照如下解释地存储在迭代提高/消退过程期间的管电流的值，在另一存储器9中存储静态或固定数据。
控制单元5，按照下面更详述的方式将具有针对X射线曝光给出的管电流IE值和管电压U值的数据组合。
关于图1中所示的X射线发生器的常规操作和功能的进一步的细节，可从以上提到的参考文献US5546441中获得。
图2示出了提高时间特性，即典型的X射线管1的发射电流的时域变化。
对于多个管电压U，针对特定的X射线管1测量提高时间特性，即发射电流的时域变化曲线，并将其存储在第一存储器8中。
图2所示的情况为在时间t1时从发射电流的开始值IE1开始，发射电流将在时间t2被提高至发射电流的目标值IE2。类似的考虑也适用于“消退”，其中发射电流IE从较高值减少到较低值，消退电流具有相当小但不可忽略值或非零值的值。
在根据本发明的迭代的提高过程的每一步骤中，如图2所示，在短的时间间隔Δt内向X射线管的阴极的灯丝施加提高电流。
在图2中示意性示出了根据本发明的迭代的提高过程。在迭代过程开始时，管电流(发射电流)IE1在时间点t1流经X射线管1。提高过程的目标值是图2所示的时间点t2的管电流IE2。因此，整个提高过程具有(t2-t1)的持续时间。
根据本发明，从时间t1开始，在短的时间间隔Δt内施加提高电流。之后，基于在第一存储器8中存储的管电流的时域变化确定(计算)在时间点(t1+Δt)的发射电流IE是否小于目标值IE2。如果否，在另外的时间间隔Δt内再次施加提高电流。这意味着，已经在(t1+2(Δt))的时间内施加了提高电流。
如果执行了足够次数的Δt的提高，达到管电流的目标值IE2，那么提高过程结束。
在整个提高过程期间的任何时间(从提高电流的开始值IE1到目标值IE2，即从时间t1到时间t2)，发射电流IE是已知的，这是因为对于迭代提高过程的每一步骤，对应的步骤数量，换句话说，时间间隔Δt的数量，被存储在第二存储器10中。因此，可以在t1和t2之间的任何时间点处中断提高过程，以及可以从自之前的提高/消退过程中获得的发射电流的已知值开始新的提高/消退过程。
虽然在附图和前述描述中已经详细地图示和描述了本发明，但这种图示和描述被视为图示性的或示范性的，而非限制性的；本发明不仅限于所公开的实施例。
例如，可能从发射电流测量或者从基于所存储的管电流的时域变化的模拟来确定在提高/消退过程的开始处的实际灯丝温度(管电流)。
本领域技术人员在实践所保护的发明时，从对附图、公开和从属权利要求的研究中，可以理解并实现所公开的实施例的其他变型。在权利要求中，词语“包括”并不排除其他元件或步骤，不定冠词“一”或“一个”并不排除多个。单个过程或其他单元也可实现权利要求中引用的多项功能。在互不相同的从属权利要求中引用某些措施这一事实并不表明使用这些措施的组合是不利的。计算机程序(产品)可以被存储/分布在适当的介质中，例如光学存储介质或与其他硬件一起供应或作为其他硬件的部分供应的固态介质，但也可能以其他形式分布，例如互联网或其他有线或无线通信系统。权利要求中的任何附图标记不应被解释为限制范围。

Claims (8)

1.一种用于提高/消退X射线管(1)的阴极的灯丝的灯丝电流(IF)的提高/消退方法，包括如下步骤：
a)测量所述X射线管(1)的管电流(IE)的时域变化(IE(t))；
b)将时域变化(IE(t))存储在第一存储器(8)中；
c)在短的时间间隔(Δt)内向灯丝施加提高/消退电流；
d.1)基于所存储的管电流的时域变化(IE(t))，确定在所述短的时间间隔(Δt)之后的管电流(IE)，并将管电流存储在第二存储器(10)中，
d.2)基于所存储的管电流的时域变化(IE(t))，确定管电流(IE)是否小于管电流(IE)的目标值(IE2)，并且
d.3)如果是的话，返回到步骤c)
d.4)否则，确定管电流(IE)等于所述目标值(IE2)。
2.如权利要求1所述的方法，其中，与管电流(IE)的开始值(IE1)和所述目标值(IE2)之间的持续时间(t2-t1)相比，所述时间间隔(Δt)是短的。
3.如权利要求1所述的方法，其中，管电流的时域变化由作为参数的管电压(U)来测量，并且将多个时域变化(IE(t)；U)存储在所述第一存储器(8)中。
4.一种用于提高/消退X射线管(1)的阴极的灯丝的灯丝电流(IF)的X射线发生器，所述X射线发生器包括：
-电流测量单元(4，6)，其用于测量所述X射线管(1)的管电流(IE)；
-第一存储器(8)，其用于存储管电流(IE)的时域变化(IE(t))；
-灯丝电流控制单元(7)，其用于生成作为灯丝电流(IF)的提高/消退电流；
-第二存储器(10)，其用于存储在多个短的时间间隔(Δt)的所述提高/消退电流的每个之后的管电流(IE)；以及
-控制单元(5)，其用于控制所述X射线发生器和所述X射线管(1)。
5.如权利要求4所述的X射线发生器，其中，所述控制单元(5)确定由所述灯丝电流控制单元(7)生成的灯丝电流(IF)。
6.如权利要求4所述的X射线发生器，其中，所述控制单元(5)确定所述短的时间间隔(Δt)的持续时间。
7.一种X射线系统，其包括如权利要求4所述的X射线发生器和X射线管(1)。
8.一种存储介质，其上存储有计算机程序产品，该计算机程序产品能够使得处理器执行如权利要求1所述的方法。
CN201080038297.0A 2009-08-31 2010-08-26 提高/消退x射线管的灯丝电流 Active CN102483638B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09169005.7 2009-08-31
EP09169005 2009-08-31
PCT/IB2010/053837 WO2011024136A1 (en) 2009-08-31 2010-08-26 Boosting/blanking the filament current of an x-ray tube

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102483638A true CN102483638A (zh) 2012-05-30
CN102483638B CN102483638B (zh) 2015-01-28

Family

ID=43087448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201080038297.0A Active CN102483638B (zh) 2009-08-31 2010-08-26 提高/消退x射线管的灯丝电流

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9497839B2 (zh)
EP (1) EP2473892B1 (zh)
JP (1) JP5815527B2 (zh)
CN (1) CN102483638B (zh)
WO (1) WO2011024136A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104302081A (zh) * 2014-09-24 2015-01-21 沈阳东软医疗系统有限公司 一种ct球管中灯丝电流的控制方法和设备
CN104470175A (zh) * 2013-09-18 2015-03-25 锐珂（上海）医疗器材有限公司 X射线发生器的阴极灯丝发射特性曲线的校准方法
CN105430858A (zh) * 2015-11-06 2016-03-23 苏州博思得电气有限公司 一种x射线管的灯丝电流值校准方法及装置
CN107787107A (zh) * 2016-08-25 2018-03-09 株式会社蛟簿 X射线装置以及控制x射线装置的方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109041392B (zh) * 2018-09-28 2020-01-24 苏州博思得电气有限公司 灯丝校正方法、装置及电子设备
US11872072B2 (en) * 2018-11-19 2024-01-16 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Timer circuit for X-ray imaging system
CN111568457B (zh) * 2020-05-25 2023-08-04 明峰医疗系统股份有限公司 一种分段控制灯丝电流快速软启动的调节方法
DE102020212085A1 (de) * 2020-09-25 2022-03-31 Siemens Healthcare Gmbh System zur Regelung einer Hochspannung für Röntgenanwendungen, ein Röntgenerzeugungssystem und ein Verfahren zur Regelung einer Hochspannung

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5546441A (en) * 1994-05-11 1996-08-13 U.S. Philips Corporation X-ray system
JP2576178B2 (ja) * 1988-02-29 1997-01-29 株式会社島津製作所 Ｘ線管電流調整装置
JP2712311B2 (ja) * 1988-06-23 1998-02-10 株式会社島津製作所 Ｘ線管電源装置
CN1461144A (zh) * 2002-05-21 2003-12-10 佳能株式会社 移动型放射线摄影用的装置、系统、方法、程序和存储介质
CN1593345A (zh) * 2003-09-11 2005-03-16 西门子公司 使用单个内存储信息位置图控制x射线管电流调制的方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4775992A (en) 1986-09-19 1988-10-04 Picker International, Inc. Closed loop x-ray tube current control
US5077772A (en) 1990-07-05 1991-12-31 Picker International, Inc. Rapid warm-up x-ray tube filament power supply
US5430358A (en) 1994-05-11 1995-07-04 Thomson Consumer Electronics, Inc. High voltage vertical dynamic focus amplifier
JPH09313470A (ja) 1996-05-28 1997-12-09 Toshiba Corp Ｘ線診断装置
US7016468B1 (en) 2003-03-12 2006-03-21 Progeny, Inc. X-ray tube preheat control
FR2855360B1 (fr) 2003-05-20 2006-10-27 Ge Med Sys Global Tech Co Llc Procede d'alimentation d'un filament de chauffage d'un tube a rayons x et tube a rayons x correspondant
FR2880510B1 (fr) 2005-01-03 2007-03-16 Gen Electric Procede et systeme de regulation de courant de tube a rayon x
US7366283B2 (en) * 2006-03-28 2008-04-29 Gendex Corporation Method to control anodic current in an x-ray source

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2576178B2 (ja) * 1988-02-29 1997-01-29 株式会社島津製作所 Ｘ線管電流調整装置
JP2712311B2 (ja) * 1988-06-23 1998-02-10 株式会社島津製作所 Ｘ線管電源装置
US5546441A (en) * 1994-05-11 1996-08-13 U.S. Philips Corporation X-ray system
CN1461144A (zh) * 2002-05-21 2003-12-10 佳能株式会社 移动型放射线摄影用的装置、系统、方法、程序和存储介质
CN1593345A (zh) * 2003-09-11 2005-03-16 西门子公司 使用单个内存储信息位置图控制x射线管电流调制的方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104470175A (zh) * 2013-09-18 2015-03-25 锐珂（上海）医疗器材有限公司 X射线发生器的阴极灯丝发射特性曲线的校准方法
CN104470175B (zh) * 2013-09-18 2017-01-04 锐珂（上海）医疗器材有限公司 X射线发生器的阴极灯丝发射特性曲线的校准方法
CN104302081A (zh) * 2014-09-24 2015-01-21 沈阳东软医疗系统有限公司 一种ct球管中灯丝电流的控制方法和设备
CN104302081B (zh) * 2014-09-24 2017-06-16 沈阳东软医疗系统有限公司 一种ct球管中灯丝电流的控制方法和设备
US9974153B2 (en) 2014-09-24 2018-05-15 Shenyang Neusoft Medical Systems Co., Ltd. Controlling filament current of computed tomography tube
CN105430858A (zh) * 2015-11-06 2016-03-23 苏州博思得电气有限公司 一种x射线管的灯丝电流值校准方法及装置
CN107787107A (zh) * 2016-08-25 2018-03-09 株式会社蛟簿 X射线装置以及控制x射线装置的方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011024136A1 (en) 2011-03-03
CN102483638B (zh) 2015-01-28
EP2473892A1 (en) 2012-07-11
US9497839B2 (en) 2016-11-15
JP5815527B2 (ja) 2015-11-17
US20120163546A1 (en) 2012-06-28
EP2473892B1 (en) 2015-04-22
JP2013503429A (ja) 2013-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102483638A (zh) 提高/消退x射线管的灯丝电流
JP6190903B2 (ja) 書き込みおよびベリファイ回路、ならびにその抵抗性メモリの書き込みおよびベリファイ方法
KR101450459B1 (ko) 시험 장치용의 전원 장치 및 이를 이용한 시험 장치
JP2012032254A (ja) 電圧検出回路及びその制御方法
US10535482B2 (en) Calibration and use of mechanical relay at zero cross
KR101858258B1 (ko) 전원장치, 그 제어방법 및 이들을 이용한 시험장치
TWI530950B (zh) 電阻式記憶體及其修補方法
CN108918026B (zh) 一种热阴极电离真空计电参数校准装置及方法
TW200949263A (en) A method and system that determines the value of a resistor in linear and non-linear resistor sets
TW201210272A (en) DC offset calibration apparatus, DC offset calibration system and method thereof
CN102834995A (zh) 用于利用并联电源对输入电流进行平衡的系统和方法
CN104871020A (zh) 电子负载模块和方法及其系统
US8779953B1 (en) Fast test of digital-to-analog converters
CN111858203B (zh) 服务器性能检测方法、系统、可编程控制器及存储介质
TW202329116A (zh) 電源啟動讀取電路
US8106702B2 (en) Dynamic enabling pump for power control
US20220103093A1 (en) Power supply device
TW200935560A (en) System and apparatus for generating ideal rise and fall time
JP5582203B2 (ja) 電圧電流特性測定方法および電圧電流特性測定装置並びにソーラーシミュレータ
US11081305B2 (en) Method, controller and system for regulating a current of a coil
JP2014215048A (ja) 電源装置およびそれを用いた試験装置
JP2004295124A (ja) マイクロ放出源から放出される電子線量をスイッチングして制御するためのデバイスおよび方法
CN109559963B (zh) 离子源及离子源的运转方法
Choi et al. Auto-scaling overdrive method using adaptive charge amplification for PRAM write performance enhancement
JP2014074621A (ja) 電源装置、それを用いた試験装置、電源電圧の制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant