CN109041392B - 灯丝校正方法、装置及电子设备 - Google Patents
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- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 264
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 70
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 31
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 18
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
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- H05G1/265—Measurements of current, voltage or power
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/34—Anode current, heater current or heater voltage of X-ray tube
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Abstract
本发明公开了一种灯丝校正方法、装置及电子设备，其中，方法包括获取当前灯丝电流；利用所述当前灯丝电流得到当前管电流；提取当前校正步长以及上一次管电流；根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长；基于所述当前灯丝电流以及所述下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。通过当前管电流的变化调整下一次校正步长，在管电流的变化越来越大时，校正步长自动调小，提高了管电流的精度；此外，通过变步长的灯丝校正方法，用最少的曝光次数保证了管电流的精度，进而能够提高射线管的使用寿命。
Description
技术领域
本发明涉及射线发生装置技术领域，具体涉及一种灯丝校正方法、装置及电子设备。
背景技术
射线发生装置是一种常用的医疗设备，其通过向待检测方照射射线，并接收穿透待检测方的射线，用以形成摄影图像。在射线发生装置中，射线是从射线管产生并发射出来的。
具体地，射线管为高真空的阴极射线二极管，具有阳极和阴极，在阴极上设置有灯丝。在射线管的工作过程中，通过向阴极灯丝加电流，使得灯丝加热并产生自由电子，再向阴极和阳极加高电压。由于阴阳两极的电势差陡增，在高压强电场驱动下，阴极灯丝上处于活跃状态的自由电子束将向阳极钨靶撞击并发生能量转换，一部分电能被转换成射线由窗口发射。其中，供给阴极灯丝的电流称之为灯丝电流，阴阳两极之间的电压成为管电压，而灯丝加热产生的电子在阴阳两极高压电场作用下向阳极高速运动而形成的电流成为管电流(也可称之为mA)。
由于射线发生装置的射线辐射量由射线管管电流决定，而管电流的大小由灯丝电流决定。因此，对灯丝电流的精准控制，直接决定了射线辐射量，即决定着诊断和治疗的质量。从而，每个射线管在使用之前，需要对管电流与灯丝电流之间的对应关系进行校准。
发明人在对灯丝电流进行校正时，采用的方式为从灯丝待机电流开始，对射线发生装置进行曝光，得到管电流；再按照固定步长，调整下一次灯丝电流，不断循环直至校正结束；在一次校正结束后，通过插值法找到灯丝电流与管电流的关系。然而，由于随着灯丝电流的增大，对应的管电流的变化率越大，发明人在实验过程中发现，在灯丝电流较大的电流区间，管电流变化率较大，导致线性插值得到的灯丝电流的偏差较大，进而导致管电流的精度较低。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了一种灯丝校正方法、装置及电子设备，以解决由于灯丝电流的偏差所导致的管电流的精度较低的问题。
根据第一方面，本发明实施例提供了一种灯丝校正方法，包括：
获取当前灯丝电流；
利用所述当前灯丝电流得到当前管电流；
提取当前校正步长以及上一次管电流；
根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长；
基于所述当前灯丝电流以及所述下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
本发明实施例提供的灯丝校正方法，通过当前管电流的变化调整下一次校正步长，在管电流的变化越来越大时，校正步长自动调小，提高了管电流的精度；此外，通过变步长的灯丝校正方法，用最少的曝光次数保证了管电流的精度，进而能够提高射线管的使用寿命。
结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长，包括：
利用所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，计算预设校正步长；
基于所述预设校正步长与所述当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长。
结合第一方面第一实施方式，在第一方面第二实施方式中，采用如下公式计算预设校正步长：
其中，ΔiF为所述预设校正步长；Imax为管电流最大值；
为所述当前校正步长；In为所述当前管电流；In-1为所述上一次管电流；C为常数。
本发明实施例提供的灯丝校正方法，将校正步长与管电流的变化率将结合，能够保证校正后得到的灯丝发射曲线的准确性。
结合第一方面第二实施方式，在第一方面第三实施方式中，所述基于所述预设校正步长与所述当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长，包括：
当所述预设校正步长大于所述当前校正步长时，所述下一次校正步长与所述当前校正步长相等；
当所述预设校正步长小于或等于所述当前校正步长时，所述下一次校正步长与所述预设校正步长相等。
结合第一方面，在第一方面第四实施方式中，还包括：
判断所述当前管电流是否达到所述管电流最大值；
当所述当前管电流达到所述管电流最大值时，结束当前灯丝校正。
结合第一方面，在第一方面第五实施方式中，还包括：
提取与所述当前管电流的差值最小的预设管电流；其中，所述预设管电流为管电流的分档点；
利用所述当前管电流以及所述当前灯丝电流，计算与提取出的所述预设管电流对应的灯丝电流。
本发明实施例提供的灯丝校正方法，利用变步长进行灯丝校正，使得曝光得到的管电流更加与管电流的分档点贴合；同时，利用管电流的分档点计算与其对应的灯丝电流，能够保证计算得到的灯丝发射曲线更准确，进一步提高了管电流的精度。
结合第一方面第五实施方式，在第一方面第六实施方式中，所述获取当前灯丝电流的步骤之前，还包括：
获取预设优先数系；其中，所述预设管电流是通过预设优先数系对管电流进行分档得到的；
基于所述预设优先数系，确定初始校正步长。
本发明实施例提供的灯丝校正方法，通过预设优先数系确定初始校正步长，能够保证后续校正过程中，得到的管电流以及灯丝电流与预设优先数系贴近；此外，利用优先数系对管电流进行分档，使得校正后得到的灯丝发射曲线的管电流的分档点能够与射线管的分档标准适应，使得该灯丝校正方法具有普适性。。
根据第二方面，本发明实施例还提供了一种灯丝校正装置，包括：
灯丝电流获取模块，用于获取当前灯丝电流；
管电流获取模块，用于利用所述当前灯丝电流得到当前管电流；
提取模块，用于提取当前校正步长以及上一次管电流；
调整模块，用于根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长；
灯丝校正模块，用于基于所述当前灯丝电流以及所述下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
本发明实施例提供的灯丝校正装置，通过当前管电流的变化调整下一次校正步长，在管电流的变化越来越大时，校正步长自动调小，提高了管电流的精度；此外，通过变步长的灯丝校正装置，用最少的曝光次数保证了管电流的精度，进而能够提高射线管的使用寿命。
根据第三方面，本发明实施例还提供了一种电子设备，包括：
存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行上述第一方面，或第一方面任一实施方式中所述的灯丝校正方法。
根据第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行上述第一方面，或第一方面任一实施方式中所述的灯丝校正方法。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例的灯丝校正方法的流程图；
图2是根据本发明实施例的灯丝校正方法的流程图；
图3是根据本发明实施例的灯丝校正方法的流程图；
图4是根据本发明实施例的灯丝发射曲线的示意图；
图5是根据本发明实施例的灯丝校正方法的流程图；
图6是根据本发明实施例的灯丝校正装置的结构框图；
图7是根据本发明实施例的灯丝校正装置的结构框图；
图8是本发明实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明实施例提供的灯丝校正方法，是一个管电压下的灯丝校正。具体地，通过灯丝电流曝光，采集管电流，再采用变校正步长的方法，计算下一次曝光的灯丝电流，不断重复上述步骤，从而能够建立一个灯丝电流与管电流的对应关系表(即，灯丝发射曲线)。在实际曝光或透视过程中，通过管电流参数，从灯丝发射曲线中即可找到相对应的灯丝电流进行曝光。例如，在高压发生器的不同管电压的灯丝校正中，一般只需校正几条管电压下的全部管电流点，其他的管电压曝光时，可以通过差值计算得到该管电流点的灯丝电流值。
根据本发明实施例，提供了一种灯丝校正方法的实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
在本实施例中提供了一种灯丝校正方法，可用于电子设备中，如X射线发生装置、高压发生器等，图1是根据本发明实施例的灯丝校正方法的流程图，如图1所示，该流程包括如下步骤：
S11，获取当前灯丝电流。
其中，当前灯丝电流为当前用于曝光的电流。电子设备可以通过电子电路采集到当前灯丝电流，也可以通过测量装置测量当前灯丝电流，只需保证电子设备能够获取到当前灯丝电流即可。
S12，利用当前灯丝电流得到当前管电流。
电子设备利用所获取到的当前灯丝电流进行曝光，得到当前管电流。由于电子设备的固有特性，灯丝电流与管电流具有非线性，且一一对应，因此，用当前灯丝电流进行曝光，得到的当前管电流唯一。
S13，提取当前校正步长以及上一次管电流。
电子设备在灯丝校正过程中，不断地更新校正步长，即在每一次校正过程中，校正步长不同；每一次利用灯丝电流进行曝光，都能够得到与之对应的管电流，电子设备将当前校正步长、上一次曝光得到的管电流记录下来，用于后续校正步长的调整。
S14，根据当前管电流、当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长。
电子设备可以利用相邻两个管电流的变化率，对当前校正步长进行调整，以得到下一次校正步长；也可以是利用相邻两个管电流的差值，对当前校正步长进行调整；或者，在相邻两个管电流的基础上，再结合其他参数(例如，管电流最大值等等)，对当前校正步长进行调整。
S15，基于当前灯丝电流以及下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
在S14中得到下一次校正步长之后，在利用当前灯丝电流，即可计算出下一次灯丝电流。例如，下一次灯丝电流可以是当前灯丝电流与下一次校正步长之和；也可以计算下一次校正步长与第一次校正步长的变化率，在当前灯丝电流的基础上，利用计算出的变化率，得到下一次灯丝电流；或者采用其他方式计算，只需保证在计算下一次灯丝电流时，是基于当前灯丝电流以及下一次校正步长进行的即可。
本实施例提供的灯丝校正方法，通过当前管电流的变化调整下一次校正步长，在管电流的变化越来越大时，校正步长自动调小，提高了管电流的精度；此外，通过变步长的灯丝校正方法，用最少的曝光次数保证了管电流的精度，进而能够提高射线管的使用寿命。
本发明实施例还提供了一种灯丝校正方法，如图2所示，该方法包括：
S21，获取当前灯丝电流。详细请参见图1所示实施例的S11，在此不再赘述。
S22，利用当前灯丝电流得到当前管电流。详细请参见图1所示实施例的S12，在此不再赘述。
S23，提取当前校正步长以及上一次管电流。详细请参见图1所示实施例的S13，在此不再赘述。
S24，根据当前管电流、当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长。
在计算下一次校正步长时，需要获知管电流最大值，而管电流最大值是与电子设备的硬件有关，可以从电子设备的性能参数中获知，也可以是从其他地方获知，只需保证在下一次校正步长的调整之前，电子设备中保存有管电流最大值。具体地，包括以下步骤：
S241，利用当前管电流、当前校正步长以及上一次管电流，计算预设校正步长。
其中，采用如下公式计算预设校正步长：
其中，ΔiF为预设校正步长；Imax为管电流最大值；
为当前校正步长；In为当前管电流；In-1为上一次管电流；C为常数。例如，C的取值可以根据实际情况进行相应的设置，可以是10％、也可以是20％等等。
S242，基于预设校正步长与当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长。
具体地，
(1)当预设校正步长大于当前校正步长时，下一次校正步长与当前校正步长相等；即，
(2)当预设校正步长小于或等于当前校正步长时，下一次校正步长与预设校正步长相等；即，
其中，
为下一次校正步长，ΔiF为预设校正步长。
S25，基于当前灯丝电流以及下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
具体地，采用如下公式计算下一次灯丝电流：
其中，
为下一次灯丝电流；
为当前灯丝电流；
为下一次校正步长，其中下一次校正步长的具体数值在S24中具体确定。
S26，判断当前管电流是否达到管电流最大值。
电子设备在S22中得到当前管电流之后，判断当前管电流是否已经达到管电流最大值；当当前管电流达到管电流最大值时，执行S27；否则，执行S21。
S27，当当前管电流达到管电流最大值时，结束当前灯丝校正。
在当前管电流已经达到管电流最大值时，表示该管电压对应的灯丝校正结束；可以进行下一个管电压对应的灯丝校正，其中，灯丝校正方法相同，不同的是电子设备中所施加的管电压不同。
作为本实施例的一种可选实施方式，S26以及S27的步骤顺序不限于此，可以是在S23之后，也可以是在其它步骤之后，只需保证S26在S22之后即可。
与图1所示实施例相比，本实施例提供的灯丝校正方法，将校正步长与管电流的变化率将结合，能够保证校正后得到的灯丝发射曲线的准确性。
本发明实施例还提供了一种灯丝校正方法，如图3所示，该方法包括：
S31，获取当前灯丝电流。详细请参见图2所示实施例的S21，在此不再赘述。
S32，利用当前灯丝电流得到当前管电流。详细请参见图2所示实施例的S22，在此不再赘述。
S33，提取当前校正步长以及上一次管电流。详细请参见图2所示实施例的S23，在此不再赘述。
S34，根据当前管电流、当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长。详细请参见图2所示实施例的S24，在此不再赘述。
S35，基于当前灯丝电流以及下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。详细请参见图2所示实施例的S25，在此不再赘述。
S36，提取与当前管电流的差值最小的预设管电流。
其中，预设管电流为管电流的分档点。具体地，管电流的分档点为在实际曝光或透视过程中，电子设备可以设置的管电流值。例如，如图4所示，管电流的分档点分别为0，100，200，……，1000。若通过当前灯丝电流曝光，得到的当前管电流为230mA，则提取出与230mA最接近的管电流的分档点200mA。
可选地，预设管电流是通过预设优先数系对管电流进行分档得到的，例如可以是R’10数系(对应的分档点为：10，12.5，16，20，25，32，40，50，63，80，100，125，160，200，250，320，400，500，630，800，1000)，也可以是R’20数系(对应的分档点为：10，11，12.5，14，16，18，20，22，25，28，32，36，40，45，50，56，63，71，80，90，100，110，125，140，160，180，200，220，250，280，320，360，400，450，500，560，630，710，800，900，1000)。利用优先数系对管电流进行分档，使得校正后得到的灯丝发射曲线的管电流的分档点能够与射线管的分档标准适应，使得该灯丝校正方法具有普适性。
S37，利用当前管电流以及当前灯丝电流，计算与提取出的预设管电流对应的灯丝电流。
电子设备以当前管电流以及当前灯丝电流为数据基础，利用插值法计算与提取出的预设管电流对应的灯丝电流；或者，也可以采用其他方式计算对应的灯丝电流。
S38，判断当前管电流是否达到管电流最大值。详细请参见图2所示实施例的S26，在此不再赘述。
S39，当当前管电流达到管电流最大值时，结束当前灯丝校正。详细请参见图2所示实施例的S27，在此不再赘述。
需要说明的是，S36以及S37可以在每个管电压的灯丝校正过程中进行，也可以是在每个管电压的灯丝校正结束后进行。
作为本实施例的一种可选实施方式，在获取当前灯丝电流的步骤之前，还包括：
(1)获取预设优先数系。例如，可以是R’10数系，也可以是R’20数系。
(2)基于预设优先数系，确定初始校正步长。
例如，对于R’10数系，可以确定初始校正步长为70mA；对于R’20数系，可以确定初始校正步长为40mA。通过预设优先数系确定初始校正步长，能够保证后续校正过程中，得到的管电流以及灯丝电流与预设优先数系贴近。
灯丝校正就是通过灯丝电流曝光，采集管电流，通过插值计算出每个R’10或R’20的管电流对应的灯丝电流值，从而建立一个灯丝电流与管电流的对应关系表。例如，在高压发生器中，高压发生器电流板上有存储芯片，灯丝校正结束后，会把灯丝电流与管电流存储在存储芯片上，以后每次在曝光或透视时通过管电流参数，从表里找到相对应的灯丝电流值曝光。可选地，高压发生器上采用的是铁电存储芯片(FeRom)。
发明人在实验中所采用的灯丝校正方法从灯丝待机电流开始曝光，按照固定步长增加灯丝电流值(例如70mA)，记录每次曝光的灯丝电流和采集到的管电流。若采集到的管电流在R’10数系或R’20数系所划分出的两次分档点(或，曝光点)之间，就计算对应的灯丝电流值，并存储在表中。当管电流达到该管电压的最大管电流时，结束该管电压的灯丝校正，开始下一条管电压的校正，直到全部管电压的灯丝校正结束。
球管存在固有特性，灯丝电流与管电流非线性，具有一一对应的关系。在灯丝电流较小区间，管电流变化率较小，随着灯丝电流增大，管电流变化率也越来越大。所以，发明人发现按照固定步长做灯丝校正的话，随着灯丝电流的增大，到达大管电流区，增加一步灯丝电流，可能会导致曝光得到的管电流跨过2、3个R’10(4－6个R’20)的分档点，这样插值计算出的管电流与灯丝电流之间的关系就会偏差较大。如果为了减小大管电流区的管电流误差，较小灯丝电流步长，小管电流区的两个分档点点之间会曝光几次，这样就会增加无用的曝光点，曝光次数会增加，灯丝校正时间被拖长，损坏球管寿命。
因此，本实施例提供的灯丝校正方法，采用自适应步长的灯丝校正方式(即，在小管电流区间步长较大，大管电流区间自动减小步长)，使得每次曝光只跨过一个R’10(R’20)的管电流分档点，这样，灯丝校正的每次曝光都会用到，更贴近灯丝曲线，应用的曝光次数最少，最大限度的保护球管寿命。
与图2所示实施例相比，本实施例提供的灯丝校正方法，利用变步长进行灯丝校正，使得曝光得到的管电流更加与管电流的分档点贴合；同时，利用管电流的分档点计算与其对应的灯丝电流，能够保证计算得到的灯丝发射曲线更准确，进一步提高了管电流的精度。
作为本实施例的一种具体应用实施例，如图5所示，本实施例提供的灯丝校正方法，包括：
(1)判断管电流的分档数系是否为R’10。
当管电流的分档数系为R’10，则执行(2)，灯丝步长初始值为70mA；否则，执行(3)，灯丝步长初始值为40mA。
(2)灯丝步长初始值设置为70mA。
(3)灯丝步长初始值设置为40mA。
(4)给定管电压。
(5)取灯丝待机电流。
(6)计算当前灯丝电流；其中，在对应于每个管电压的第一曝光时，当前灯丝电流即为灯丝待机电流，即从灯丝待机电流开始曝光。
(7)利用当前灯丝电流，进行曝光，以得到当前管电流。
(8)记录当前灯丝电流以及当前管电流。
(9)计算分档点对应的灯丝电流。即，计算R’10，或R’20的管电流对应的灯丝电流。
(10)判断曝光得到的当前管电流是否为管电流最大值。
当管电流为管电流最大值时，执行(13)；否则，执行(11)。
(11)计算下一次校正步长。
首先，利用当前管电流、当前校正步长以及上一次管电流，计算预设校正步长。
其中，采用如下公式计算预设校正步长：
其中，ΔiF为预设校正步长；Imax为管电流最大值；
为当前校正步长；In为当前管电流；In-1为上一次管电流；C为常数。例如，C的取值可以根据实际情况进行相应的设置，可以是10％、也可以是20％等等。
其次，基于预设校正步长与当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长。
具体地，
(1)当预设校正步长大于当前校正步长时，下一次校正步长与当前校正步长相等；即，
(2)当预设校正步长小于或等于当前校正步长时，下一次校正步长与预设校正步长相等；即，
(12)计算下一次灯丝电流。
采用如下公式计算下一次灯丝电流：
其中，
为下一次灯丝电流；
为当前灯丝电流；为下一次校正步长，其中下一次校正步长的具体数值在步骤(11)中具体确定。
(13)判断所有管电压是否校正。
当所有管电压校正完成时，执行(15)；否则，执行(14)。
(14)切换到下一管电压，继续执行(1)。
(15)保存灯丝发射曲线，退出。其中，灯丝发射曲线为灯丝电流与管电流的对应关系。保存灯丝校正表供摄影曝光、透视曝光使用。
本实施例提供的灯丝校正方法，具有如下有益效果：
A.由于固定步长的灯丝校正，灯丝电流变化，管电流不断增大，这样导致两个曝光点间同时算几个管电流值，这样的线性区间过大，管电流误差较大。本发明实施例提供的灯丝校正方法，在管电流随灯丝电流的变化越来越大时，灯丝电流的步长自动调小，这样每个曝光点更能贴近管电流，插值算出的校正表更准确，管电流精度更高。
B.固定步长的灯丝校正时，如果灯丝电流步长小，曝光次数增加，校正时间增长，如果灯丝电流步长变大，管电流的误差变大，精度不能保证。本发明实施例提供的灯丝校正方法，用最少的曝光次数并保证了管电流精度，保护球管寿命。
C.本发明实施例提供的灯丝校正方法，根据管电流系数R’10、R’20自动切换灯丝步长初始值。
在本实施例中还提供了一种灯丝校正装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
本实施例提供一种灯丝校正装置，如图6所示，包括：
灯丝电流获取模块61，用于获取当前灯丝电流；
管电流获取模块62，用于利用所述当前灯丝电流得到当前管电流；
提取模块63，用于提取当前校正步长以及上一次管电流；
调整模块64，用于根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长；
灯丝校正模块65，用于基于所述当前灯丝电流以及所述下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
本实施例提供的灯丝校正装置，通过当前管电流的变化调整下一次校正步长，在管电流的变化越来越大时，校正步长自动调小，提高了管电流的精度；此外，通过变步长的灯丝校正装置，用最少的曝光次数保证了管电流的精度，进而能够提高射线管的使用寿命。
作为本实施例一种可选实施方式，如图7所示，其中，所述调整模块64，包括：
计算单元641，用于利用所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，计算预设校正步长。
调整单元642，用于基于所述预设校正步长与所述当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长。
进一步可选地，采用如下公式计算预设校正步长：
其中，ΔiF为所述下一次校正步长；Imax为管电流最大值；
为所述当前校正步长；In为所述当前管电流；In-1为所述上一次管电流；C为常数。
进一步可选地，当所述预设校正步长大于所述当前校正步长时，所述下一次校正步长与所述当前校正步长相等。
当所述预设校正步长小于或等于所述当前校正步长时，所述下一次校正步长与所述预设校正步长相等。
本实施例中的灯丝校正装置是以功能单元的形式来呈现，这里的单元是指ASIC电路，执行一个或多个软件或固定程序的处理器和存储器，和/或其他可以提供上述功能的器件。
上述各个模块的更进一步的功能描述与上述对应实施例相同，在此不再赘述。
本发明实施例还提供一种电子设备，具有上述图6或图7所示的灯丝校正装置。
请参阅图8图8是本发明可选实施例提供的一种电子设备的结构示意图，如图8所示，该电子设备可以包括：至少一个处理器71，例如CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，至少一个通信接口73，存储器74，至少一个通信总线72。其中，通信总线72用于实现这些组件之间的连接通信。其中，通信接口73可以包括显示屏(Display)、键盘(Keyboard)，可选通信接口73还可以包括标准的有线接口、无线接口。存储器74可以是高速RAM存储器(Random Access Memory，易挥发性随机存取存储器)，也可以是非不稳定的存储器(non－volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。存储器74可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器71的存储装置。其中处理器71可以结合图6或图7所描述的装置，存储器74中存储应用程序，且处理器71调用存储器74中存储的程序代码，以用于执行上述任一方法步骤。
其中，通信总线72可以是外设部件互连标准(peripheral componentinterconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(extended industry standardarchitecture，简称EISA)总线等。通信总线72可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图8中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
其中，存储器74可以包括易失性存储器(英文：volatile memory)，例如随机存取存储器(英文：random－access memory，缩写：RAM)；存储器也可以包括非易失性存储器(英文：non－volatile memory)，例如快闪存储器(英文：flash memory)，硬盘(英文：harddisk drive，缩写：HDD)或固态硬盘(英文：solid－state drive，缩写：SSD)；存储器74还可以包括上述种类的存储器的组合。
其中，处理器71可以是中央处理器(英文：central processing unit，缩写：CPU)，网络处理器(英文：network processor，缩写：NP)或者CPU和NP的组合。
其中，处理器71还可以进一步包括硬件芯片。上述硬件芯片可以是专用集成电路(英文：application－specific integratedcircuit，缩写：ASIC)，可编程逻辑器件(英文：programmable logic device，缩写：PLD)或其组合。上述PLD可以是复杂可编程逻辑器件(英文：complex programmable logic device，缩写：CPLD)，现场可编程逻辑门阵列(英文：field－programmable gate array，缩写：FPGA)，通用阵列逻辑(英文：generic arraylogic，缩写：GAL)或其任意组合。
可选地，存储器74还用于存储程序指令。处理器71可以调用程序指令，实现如本申请图1至图3实施例中所示的灯丝校正方法。
本发明实施例还提供了一种非暂态计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令，该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的灯丝校正方法。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard DiskDrive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。
Claims (10)
1.一种灯丝校正方法，其特征在于，包括：
获取当前灯丝电流；
利用所述当前灯丝电流得到当前管电流；
提取当前校正步长以及上一次管电流；
根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长；
基于所述当前灯丝电流以及所述下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长，包括：
利用所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，计算预设校正步长；
基于所述预设校正步长与所述当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，采用如下公式计算预设校正步长：
其中，ΔiF为所述预设校正步长；Imax为管电流最大值；
为所述当前校正步长；In为所述当前管电流；In-1为所述上一次管电流；C为常数。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述预设校正步长与所述当前校正步长的大小关系，调整下一次校正步长，包括：
当所述预设校正步长大于所述当前校正步长时，所述下一次校正步长与所述当前校正步长相等；
当所述预设校正步长小于或等于所述当前校正步长时，所述下一次校正步长与所述预设校正步长相等。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
判断所述当前管电流是否达到所述管电流最大值；
当所述当前管电流达到所述管电流最大值时，结束当前灯丝校正。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提取与所述当前管电流的差值最小的预设管电流；其中，所述预设管电流为管电流的分档点；
利用所述当前管电流以及所述当前灯丝电流，计算与提取出的所述预设管电流对应的灯丝电流。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取当前灯丝电流的步骤之前，还包括：
获取预设优先数系；其中，所述预设管电流是通过所述预设优先数系对管电流进行分档得到的；
基于所述预设优先数系，确定初始校正步长。
8.一种灯丝校正装置，其特征在于，包括：
灯丝电流获取模块，用于获取当前灯丝电流；
管电流获取模块，用于利用所述当前灯丝电流得到当前管电流；
提取模块，用于提取当前校正步长以及上一次管电流；
调整模块，用于根据所述当前管电流、所述当前校正步长以及上一次管电流，调整下一次校正步长；
灯丝校正模块，用于基于所述当前灯丝电流以及所述下一次校正步长，计算下一次灯丝电流。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行权利要求1－7任一所述的灯丝校正方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求1－7任一所述的灯丝校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811143758.5A CN109041392B (zh) | 2018-09-28 | 2018-09-28 | 灯丝校正方法、装置及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201811143758.5A CN109041392B (zh) | 2018-09-28 | 2018-09-28 | 灯丝校正方法、装置及电子设备 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109041392A CN109041392A (zh) | 2018-12-18 |
| CN109041392B true CN109041392B (zh) | 2020-01-24 |
Family
ID=64614845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811143758.5A Active CN109041392B (zh) | 2018-09-28 | 2018-09-28 | 灯丝校正方法、装置及电子设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN109041392B (zh) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113347770B (zh) * | 2020-02-18 | 2024-01-09 | 苏州博思得电气有限公司 | 一种球管保护方法、装置及电子设备 |
| CN111568457B (zh) * | 2020-05-25 | 2023-08-04 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种分段控制灯丝电流快速软启动的调节方法 |
| CN113411941B (zh) * | 2021-06-18 | 2022-05-24 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 一种ct灯丝电流校准方法及系统 |
| CN116403875B (zh) * | 2023-06-06 | 2023-08-08 | 有方（合肥）医疗科技有限公司 | X射线球管的管电流快速调节方法及装置、ct设备 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9497839B2 (en) * | 2009-08-31 | 2016-11-15 | Koninklijke Philips N.V. | Boosting/blanking the filament current of an X-ray tube |
| CN105430858B (zh) * | 2015-11-06 | 2017-06-23 | 苏州博思得电气有限公司 | 一种x射线管的灯丝电流值校准方法及装置 |
| JP6615719B2 (ja) * | 2016-08-25 | 2019-12-04 | 株式会社ジョブ | Ｘ線装置およびｘ線装置の制御方法 |
| CN106645227B (zh) * | 2017-01-20 | 2020-05-12 | 深圳市深图医学影像设备有限公司 | 一种x射线管灯丝电流的校准方法及系统 |
| CN106851951B (zh) * | 2017-02-21 | 2019-04-23 | 联影（贵州）医疗科技有限公司 | X射线管灯丝电流数据校正方法及系统 |
-
2018
- 2018-09-28 CN CN201811143758.5A patent/CN109041392B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN109041392A (zh) | 2018-12-18 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |