CN102466475A

CN102466475A - 液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法

Info

Publication number: CN102466475A
Application number: CN2010105446701A
Authority: CN
Inventors: 郭建; 周伟峰; 明星; 肖光辉
Original assignee: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: BOE Technology Group Co Ltd; Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2010-11-12
Filing date: 2010-11-12
Publication date: 2012-05-23

Abstract

本发明提供一种液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法，其中，液晶盒厚测量方法包括：在阵列基板和彩膜基板对盒后，测量封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；获取发生形变的多个盒厚测量物质中的形变物质最小初始尺寸，以及未发生形变的多个盒厚测量物质中的原状物质最大初始尺寸，所述液晶盒厚的数值则确定为位于所述形变物质最小初始尺寸和原状物质最大初始尺寸之间。本实施例的液晶盒厚测量方法，通过测量盒厚测量物质的尺寸变化而反应出液晶盒厚，解决了液晶材料变更影响液晶盒厚测量效果的问题，避免了液晶材料的变更对于液晶盒厚测量效果的影响，实现了准确测量和控制液晶盒厚。

Description

液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法

技术领域

本发明涉及液晶显示装置制造技术，特别涉及一种液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法。

背景技术

液晶显示装置因其体积小、功耗低等优点，在当前的平板显示器市场占据主导地位。该液晶显示装置由阵列基板和彩膜基板对盒形成，其间填充液晶，通过电场控制液晶偏转以控制光线的强弱，配合彩膜基板的功能显示出所要表达的图像。其中，阵列基板和彩膜基板之间的距离即液晶盒厚，其对液晶显示效果具有重要影响，因此，通常在液晶显示装置的对盒制作过程中需要准确控制液晶盒厚。

现有技术中，通常采用液晶盒厚测量设备，根据光线通过阵列基板和彩膜基板之间的液晶时的光学折射等原理进行液晶盒厚的测量，例如通过测量阵列基板和彩膜基板之间的纵向尺寸的方式即是根据光学原理进行的测量。在实际生产中，液晶的材料类型可能发生变更，使得液晶折射率等参数变化，从而影响光线的作用原理，但是，通常在不同的状态下均使用同一光学测量设备，导致液晶盒厚的最终测量结果会有一定的偏差，影响液晶显示装置的显示效果。

发明内容

本发明的目的是提供一种液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法，解决液晶盒厚测量不准确的问题，实现准确测量和控制液晶盒厚。

本发明提供一种液晶盒厚测量方法，包括：

在液晶显示装置的阵列基板和彩膜基板对盒后，测量用于密封所述阵列基板和彩膜基板的封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；

获取发生形变的多个盒厚测量物质中的形变物质最小初始尺寸，以及未发生形变的多个盒厚测量物质中的原状物质最大初始尺寸，所述液晶盒厚的数值则确定为位于所述形变物质最小初始尺寸和原状物质最大初始尺寸之间。

本发明提供一种液晶显示装置，包括对盒的阵列基板和彩膜基板，所述阵列基板和彩膜基板之间通过封框胶进行密封；所述封框胶中设置有多个盒厚测量物质，所述盒厚测量物质具有不同的初始尺寸。

本发明提供一种液晶显示装置的制造方法，包括：

制作阵列基板和彩膜基板；

利用封框胶对所述阵列基板和彩膜基板进行密封，并在所述封框胶中设置多个盒厚测量物质，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；

将所述阵列基板和彩膜基板进行对盒。

本发明的液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法，通过量盒厚测量物质的尺寸变化而反应出液晶盒厚，解决了液晶材料变更影响液晶盒厚测量效果的问题，避免了液晶材料的变更对于液晶盒厚测量效果的影响，实现了准确测量和控制液晶盒厚。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明液晶盒厚测量方法实施例的流程示意图；

图2为本发明液晶盒厚测量方法实施例中的盒厚测量物质未发生形变状态示意图；

图3为本发明液晶盒厚测量方法实施例中的盒厚测量物质发生形变状态示意图；

图4为本发明液晶显示装置实施例的结构示意图；

图5为本发明液晶显示装置的制造方法实施例的流程示意图。

附图标记说明：

11-阵列基板； 12-彩膜基板；13-封框胶；

14-盒厚测量物质；15-液晶。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的主要技术方案为，在液晶显示装置的封框胶中设置多个盒厚测量物质，该多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；在对盒阵列基板和彩膜基板后，测量上述的盒厚测量物质的对盒尺寸相对于初始尺寸是否发生变化，并选取发生形变的多个盒厚测量物质中的形变物质最小初始尺寸，以及未发生形变的多个盒厚测量物质中的原状物质最大初始尺寸，则液晶盒厚的数值则确定为位于所述形变物质最小初始尺寸和原状物质最大初始尺寸之间。该液晶盒厚测量方法可以使得盒厚测量时不受液晶材料变更的影响，准确控制液晶盒厚。

下面通过附图和具体实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

实施例一

图1为本发明液晶盒厚测量方法实施例的流程示意图，如图1所示，本实施例的液晶盒厚测量方法可以包括以下步骤：

步骤101、向封框胶中喷洒多个盒厚测量物质；

可参见图2，图2为本发明液晶盒厚测量方法实施例中的盒厚测量物质未发生形变状态示意图。在阵列基板11和彩膜基板12的对盒过程中，首先在显示区域周边位置设置封框胶13以密封该阵列基板11和彩膜基板12。

本实施例中，在封框胶13中设置有多个盒厚测量物质14，该盒厚测量物质14在阵列基板11和彩膜基板12对盒完成之前均具有一初始尺寸，该初始尺寸可以根据测量方便的需要进行选取，即为盒厚测量物质14在对盒完成前未发生形变时的尺寸。例如，盒厚测量物质14可以为球状，则其初始尺寸可以为盒厚测量物质14的直径或者半径。

此外，该盒厚测量物质14可以为树脂类物质，以使得其能够在阵列基板11和彩膜基板12对盒时发生变形。例如，其可以为与隔垫物相同材料的物质。该盒厚测量物质14的尺寸范围可以分布在2～5微米，此外还可以以公差为0.01～0.2微米之间任一值的等差数列来均布盒厚测量物质14的尺寸，采用上述的尺寸范围以及分布规律，可以使得盒厚的测量结果更加精确。

该多个盒厚测量物质14具有不同的初始尺寸，可以通过不同的颜色对不同初始尺寸的盒厚测量物质14进行区分。例如，半径R为3.2um的测量物质盒厚测量物质14设置为蓝色，半径R为3.4um的测量物质盒厚测量物质14设置为红色，半径R为3.6um的测量物质盒厚测量物质14设置为黄色等。

本实施例中，多个盒厚测量物质14可以是通过喷洒的方式设置在封框胶13中的。例如，可以利用彩膜工艺中的喷洒设备，将若干个初始尺寸为a的盒厚测量物质14、若干个初始尺寸为b的盒厚测量物质14、以及若干个初始尺寸为c的盒厚测量物质14等，均放置在上述的喷洒设备中，再混合后统一喷洒出来。具有不同初始尺寸大小的多个盒厚测量物质14将基本均匀的分布在显示区域周边的封框胶13中，被限制在封框胶13中而不会产生大范围的移动。其中，多个盒厚测量物质14可以设置在封框胶13中的某一区域，而不必要在全部的封框胶13中均喷洒该多个盒厚测量物质14。

例如，上述的多个盒厚测量物质可以喷洒在封框胶中的对应于阵列基板的未设置金属线图形的区域，在该位置处喷洒，由于没有金属走线的影响，可以使得盒厚的测量值更加精确。

步骤102、在阵列基板和彩膜基板对盒后，测量封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；

在步骤101中向封框胶13喷洒多个盒厚测量物质14后，进行阵列基板11和彩膜基板12的对盒。在对盒结束之后，阵列基板11和彩膜基板12相互之间会产生挤压效应。此时，如果假设液晶盒厚为a，那么径向尺寸(即上下表面之间的尺寸)小于a的盒厚测量物质14不会产生形变，其对盒尺寸(即对盒完成后的尺寸)相对于初始尺寸保持不变；而径向尺寸大于a的盒厚测量物质14就会产生形变，其对盒尺寸相对于初始尺寸发生变化。

可参见图3，图3为本发明液晶盒厚测量方法实施例中的盒厚测量物质发生形变状态示意图。此时，测量封框胶13中的多个盒厚测量物质14的对盒尺寸，可以通过光学线宽测量设备测量。例如，盒厚测量物质14的形状为半径为R的球状时，其径向尺寸为2R大于盒厚，因此，在对盒完成后，该盒厚测量物质14被压变形，通过光学线宽测量设备测量其对盒尺寸即为图3中所示的B的2倍即2B，该B可以称为横向尺寸，其大于未形变时的半径R。该光学线宽测量设备可以通过测量图形的灰度变化来判断图形的边界，本实施例中，该设备可以通过测量盒厚测量物质14的灰度变化得到盒厚测量物质14的直径2B。

步骤103、获取发生形变的多个盒厚测量物质中的形变物质最小初始尺寸，以及未发生形变的多个盒厚测量物质中的原状物质最大初始尺寸，所述液晶盒厚的数值则确定为位于所述形变物质最小初始尺寸和原状物质最大初始尺寸之间。

通过步骤102中的测量步骤，并将测量的盒厚测量物质14的对盒尺寸与其初始尺寸比较，可以得到多个发生形变的盒厚测量物质14，以及多个未发生形变的盒厚测量物质14。例如，初始尺寸R分别为4um和3.6um的盒厚测量物质14均被压变形，其横向尺寸B相对于初始尺寸R发生了变化，而初始尺寸为3.4um和3.2um的盒厚测量物质14均保持原状，尺寸未发生任何变化。则此时可以得到，在发生形变的多个盒厚测量物质14中的形变物质最小初始尺寸为3.6um，未发生形变的多个盒厚测量物质14中的原状物质最大初始尺寸为3.4um；液晶盒厚的数值则确定为3.4um和3.6um之间，即确定了液晶盒厚的数值范围。如果多个盒厚测量物质14的尺寸分布等差数列所取的公差愈小，如0.01um，则得到的液晶盒厚值越精确。

与传统的例如根据光学折反射机理通过测量纵向尺寸测量液晶盒厚的方法相比，本实施例的方法通过测量盒厚测量物质的横向直径的变化，使得液晶盒厚测量结果不再受液晶材料折射率等参数变化的影响，彻底避免了液晶材料的变更影响到液晶盒厚测量的效果；并且，该测量方法简单易行，提高了测试效率；此外，相对于现有技术中采用的昂贵的光学测量设备，本实施例的方法采用较为通用且价格便宜的光学线宽测量设备，从而大大节省了设备投资。

本实施例的液晶盒厚测量方法，通过测量盒厚测量物质的尺寸变化而反应出液晶盒厚，解决了液晶材料变更影响液晶盒厚测量效果的问题，避免了液晶材料的变更对于液晶盒厚测量效果的影响，实现了准确测量和控制液晶盒厚。

实施例二

图4为本发明液晶显示装置实施例的结构示意图，如图4所示，本实施例的液晶显示装置可以包括对盒的阵列基板11和彩膜基板12，该阵列基板11和彩膜基板12之间填充有液晶15，显示区域的周边通过封框胶13进行密封。

本实施例中，在封框胶13中设置有多个盒厚测量物质14，该多个盒厚测量物质14的设置结构和方式可以结合参见实施例一所述。盒厚测量物质14可以采用容易变形的树脂类物质，其具有不同的初始尺寸。可以只在封框胶13的部分区域中设置上述的盒厚测量物质14。

该盒厚测量物质14的尺寸范围可以分布在2～5微米，此外还可以以公差为0.01～0.2微米之间任一值的等差数列来均布盒厚测量物质14的尺寸，采用上述的尺寸范围以及分布规律，可以使得盒厚的测量结果更加精确。如果多个盒厚测量物质14的尺寸分布等差数列所取的公差愈小，如0.01um，则得到的液晶盒厚值越精确。

其中，可以通过不同的颜色对不同初始尺寸的多个盒厚测量物质14进行区分。例如，该盒厚测量物质14的形状可以为球状，其初始尺寸可以为其直径或者半径。半径R为3.6um的测量物质盒厚测量物质14设置为蓝色，半径R为3.4um的测量物质盒厚测量物质14设置为红色等。

此外，上述的多个盒厚测量物质可以喷洒在封框胶中的对应于阵列基板的未设置金属线图形的区域，在该位置处喷洒，由于没有金属走线的影响，可以使得盒厚的测量值更加精确。

本实施例的液晶显示装置，通过在封框胶中设置多个盒厚测量物质，使得该液晶显示装置的液晶盒厚可以精确控制，实现较好的显示效果。

实施例三

图5为本发明液晶显示装置的制造方法实施例的流程示意图，如图5所示，本实施例的液晶显示装置的制造方法可以包括：

步骤201、制作阵列基板和彩膜基板；

步骤202、利用封框胶对所述阵列基板和彩膜基板进行密封，并在所述封框胶中设置多个盒厚测量物质，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；

可以利用喷洒设备向封框胶中喷洒多个盒厚测量物质。此外，可以在喷洒之前对具有不同初始尺寸的盒厚测量物质用不同的颜色进行区分，将不同颜色的多个盒厚测量物质统一混合再入上述的喷洒设备中，再统一喷洒进封框胶中。可以只在封框胶的部分区域设置该多个盒厚测量物质。具体的设置方式可以结合参见实施例一所述。

步骤203、将所述阵列基板和彩膜基板进行对盒。

本实施例的液晶显示装置的制造方法，通过在封框胶中设置多个盒厚测量物质，使得该液晶显示装置的液晶盒厚可以精确控制，实现较好的显示效果。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims

1.一种液晶盒厚测量方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，所述测量用于密封所述阵列基板和彩膜基板的封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，具体为：

测量用于密封所述阵列基板和彩膜基板的封框胶中的多个盒厚测量物质的横向尺寸。

3.根据权利要求1或2所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，在所述测量用于密封所述阵列基板和彩膜基板的封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸之前，还包括：

向所述封框胶中喷洒多个所述盒厚测量物质。

4.根据权利要求3所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，所述向所述封框胶中喷洒多个所述盒厚测量物质，具体为：

向所述封框胶中的对应于阵列基板的未设置金属线图形的区域喷洒多个所述盒厚测量物质。

5.根据权利要求3所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，所述向所述封框胶中喷洒多个所述盒厚测量物质，之前还包括：

将具有不同的初始尺寸的所述多个盒厚测量物质以不同的颜色作为标记。

6.根据权利要求1或2所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，所述测量用于密封所述阵列基板和彩膜基板的封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，具体为：

通过光学线宽测量设备测量所述封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸。

7.根据权利要求1或2所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，所述盒厚测量物质的形状为球状，所述初始尺寸为所述盒厚测量物质的直径或者半径。

8.根据权利要求7所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，所述盒厚测量物质的初始尺寸为2～5微米。

9.根据权利要求8所述的液晶盒厚测量方法，其特征在于，多个所述盒厚测量物质的初始尺寸组成公差为0.01～0.2微米的等差数列。

10.一种液晶显示装置，包括对盒的阵列基板和彩膜基板，所述阵列基板和彩膜基板之间通过封框胶进行密封；其特征在于，所述封框胶中设置有多个盒厚测量物质，所述盒厚测量物质具有不同的初始尺寸。

11.根据权利要求10所述的液晶显示装置，其特征在于，具有不同的初始尺寸的多个所述盒厚测量物质具有不同的颜色。

12.根据权利要求10或11所述的液晶显示装置，其特征在于，所述盒厚测量物质的形状为球状，所述初始尺寸为所述盒厚测量物质的直径或者半径。

13.根据权利要求12所述的液晶显示装置，其特征在于，所述盒厚测量物质的初始尺寸为2～5微米。

14.根据权利要求13所述的液晶显示装置，其特征在于，多个所述盒厚测量物质的初始尺寸组成公差为0.01～0.2微米的等差数列。

15.一种液晶显示装置的制造方法，其特征在于，包括：

制作阵列基板和彩膜基板；

将所述阵列基板和彩膜基板进行对盒。

16.根据权利要求15所述的液晶显示装置的制造方法，其特征在于，所述在所述封框胶中设置多个盒厚测量物质，具体为：

利用喷洒设备向所述封框胶中喷洒多个所述盒厚测量物质。

17.根据权利要求16所述的液晶显示装置的制造方法，其特征在于，所述利用喷洒设备向所述封框胶中喷洒多个所述盒厚测量物质，具体为：

利用喷洒设备向所述封框胶中的对应于阵列基板的未设置金属线图形的区域喷洒多个所述盒厚测量物质。