CN102457180B - 使电源的输入滤波器的电容器放电的装置和方法及电源 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种使电源的输入滤波器的电容器放电的装置和方法及电源。该供电电源包括输入滤波器和放电装置。所述输入滤波器包括电容器，交流电源被提供给所述电容器。所述放电装置对所述交流电源整流和采样。所述放电装置根据产生的采样信号的峰值电压产生基准电压，根据通过比较所述采样信号和基准电压产生的比较信号而产生交流电源中断检测信号，且根据所述交流电源中断信号通过放电电阻使所述电容器放电。

Description

使电源的输入滤波器的电容器放电的装置和方法及电源

技术领域

本发明涉及一种用于使供电电源的输入滤波器的电容器放电的装置和方法。具体地，本发明涉及一种用于提高电源效率且减少待机功率的电源。

背景技术

广泛使用供电电源为计算机、家用电器、通讯设备等提供稳定的电力。最近，随着诸如环境污染和能源耗尽的议题已经提出，供电电源的效率增加变得更重要。特别地，供电电源的待机功率一直倍受关注。

图1示出了传统的供电电源的电路图。

如图1所示，传统的供电电源具有交流电源Vac以产生可调节的直流电压Vdc，且包括输入滤波器10、桥式二极管BD、电容器Cin和直流-直流转换器(DC-DC转换器)20。

输入滤波器10使交流电源Vac稳定，且减少电磁干扰(EMI)，且输入滤波器10包括第一输入电容器C1、放电电阻Rd、抗流线圈L1和第二输入电容器C2。第一输入电容器C1的两端分别连接到交流电源Vac的两端。放电电阻Rd的两端也分别连接到交流电源Vac的两端。抗流线圈L1的两个输入端分别连接到交流电源Vac的两端。抗流线圈L1的两个输出端分别连接到第二电容器C2的两端。

桥式二极管BD由四个二极管组成，且包括两个输入端和两个输出端。桥式二极管BD的两个输入端分别连接到抗流线圈L1的两个输出端。桥式二极管BD的两个输出端分别连接到电容器Cin的两端。桥式二极管BD对EMI降低的交流电源整流。电容器C1使整流后的交流电源平滑，以产生DC-DC转换器20的输入电压Vin。

DC-DC转换器20将输入电压Vin转换成可调节的直流电压Vdc。

因为通过高电压为第一输入电容器C1和第二输入电容器C2充电，因此当交流电源Vac的供电停止时，需要使第一输入电容器C1和第二输入电容器C2放电。

为此目的，现有的供电电源具有放电电阻Rd以使第一输入电容器C1和第二输入电容器C2放电。然而，由于放电电阻Rd还被配备给交流电源Vac，它降低了供电电源的效率。同时，在没有负载的情况下，放电电阻Rd导致了大的待机功率。

此外，由于第一输入电容器C1的尺寸较大，第二输入电容器C2的尺寸也较大，或放电速度更快，因此要求放电电阻Rd的尺寸小，因此使得供电电源的效率更低。

发明内容

为提供一种用于使供电电源的输入滤波器的电容器放电的装置和方法，且提供一种具有减少待机功率且提高效率的优点的供电电源而做出本发明。

本发明的一个示例实施方式提供一种用于使供电电源的输入滤波器的第一电容器放电的装置，包括：整流器，所述整流器用于整流交流电源，以产生整流后的交流信号；采样器，所述采样器用于对整流后的交流信号采样，以产生采样信号；基准电压发生器，所述基准电压发生器用于根据所述采样信号的峰值电压产生基准电压；第一比较器，所述第一比较器用于比较所述采样信号与所述基准电压，以产生比较信号；电源中断检测器，所述电源中断检测器用于根据所述比较信号产生所述交流电源的中断检测信号；及第一放电电阻，所述第一放电电阻用于根据所述中断检测信号使所述第一电容器放电。

所述基准电压发生器可以以预定比率分压所述峰值电压，以产生所述基准电压。

所述预定比率可以对应于45°的正弦值，且所述采样器可以以对应于所述交流电源的四分之一周期的采样周期对所述整流后的交流信号采样。

所述电源中断检测器还可以包括：移位寄存器，所述移位寄存器用于存储N个比较信号；及门单元，所述门单元用于当所有的N个比较信号都具有相同的值时，输出用于通知所述交流电源的中断的电源中断信号。

所述门单元还可以包括：与门，所述与门的输入是所述N个比较信号；或非门，所述或非门的输入是所述N个比较信号；及或门，所述或门用于输出所述电源中断信号，所述或门以所述与门的输出和所述或非门的输出作为输入。

该装置还可以包括第二放电电阻，所述第二放电电阻的一端被提供整流后的交流信号。

所述采样器可以包括：高压开关，所述高压开关具有连接到所述第二放电电阻的另一端的漏电极；或门，所述或门的输入是时钟信号和所述电源中断信号；及第一晶体管，所述第一晶体管具有连接到所述高压开关的源电极的漏电极、连接到所述或门的输出的栅电极和连接到所述第二放电电阻的一端且输出所述采样信号的源电极。

所述采样器还可以包括：第二晶体管，所述第二晶体管具有连接到所述高压开关的源电极的源电极和连接到所述高压开关的栅电极的漏电极；第三晶体管，所述第三晶体管具有连接到所述第二晶体管的所述漏电极的漏电极和接地的源电极；第四晶体管，所述第四晶体管具有连接到所述高压开关的所述源电极的漏电极和连接到所述第二晶体管的所述漏电极的栅电极；第五晶体管，所述第五晶体管具有连接到所述高压开关的所述源电极的漏电极和连接到所述第二晶体管的所述漏电极的栅电极；二极管，所述二极管具有连接到所述第四晶体管的源电极的阳极；电阻，所述电阻的一端连接到所述第五晶体管的源电极；第二电容器，所述第二电容器的一端与所述电阻的另一端及所述二极管的阴极连接且另一端接地；及第二比较器，所述第二比较器的输入是所述第二电容器的所述一端和工作电压的基准电压，所述第二比较器的输出端与所述第二晶体管的栅电极和所述第三晶体管的栅电极连接。

本发明的另一实施方式提供一种使供电电源的输入滤波器的电容器放电的方法，包括：整流交流电源以产生整流后的交流信号；根据时钟信号对整流后的交流信号采样，以产生采样信号；产生根据所述采样信号的峰值电压变化的基准电压；比较所述采样信号与所述基准电压，以产生比较信号；根据所述比较信号产生所述交流电源的中断检测信号；及根据所述中断检测信号通过放电电阻使所述电容器放电。

产生所述基准电压的步骤可以包括：以预定比率分压所述峰值电压，以产生所述基准电压。

所述预定比率可以对应于45°的正弦值，且所述时钟信号的周期对应于所述交流电源的四分之一周期。

产生所述中断检测信号的步骤可以包括：当所有的N个比较信号都具有相同的值时，输出用于通知所述交流电源的中断的中断检测信号。

本发明的再一实施方式提供一种供电电源，包括：输入滤波器，所述输入滤波器具有电容器，所述电容器配备有交流电源；及放电装置，所述放电装置用于根据通过对所述交流电源整流和采样而产生的采样信号的峰值电压产生基准电压，根据通过比较所述采样信号和所述基准电压而产生的比较信号来产生所述交流电源的中断检测信号，且根据所述中断检测信号通过放电电阻使所述电容器放电。

所述放电装置可以以预定比率分压所述峰值电压，以产生所述基准电压。

所述预定比率对应于45°的正弦值，且所述放电装置以对应于所述交流电源的四分之一周期的采样周期对所述整流后的交流信号采样。

附图说明

图1示出传统的供电电源的电路图；

图2示出根据本发明的示例实施方式的供电电源的电路图；

图3示出根据本发明的示例实施方式的采样器的电路图；

图4示出根据本发明的示例实施方式的基准电压发生器的电路图；

图5示出根据本发明的示例实施方式的电源中断检测器的电路图；

图6是表示根据本发明的示例实施方式的交流电源和整流后的交流信号的波形图；

图7是表示根据本发明的示例实施方式的整流后的交流信号和第二采样信号的波形图；

图8是表示当交流电源中断时整流后的交流信号和第二采样信号的波形图。

具体实施方式

在如下的详细描述中，仅通过说明的方式示出和描述了本发明的具体示例实施方式。本领域技术人员将理解，描述的实施方式可以以各种不同方式改变，而不脱离本发明的精神或范围。因此，附图和说明书实际上是作为解释而非限制。整个说明书中，相同的附图标记表示相同的元件。

在说明书和随后的权利要求中，当描述部件“连接”到另一部件时，该部件可以“直接连接”到其它部件，或通过第三部件“电连接”到其它部件。

此外，除非有明确相反的描述，措辞“包括”及其变型将理解为暗示含有现有的部件，但不排除任意其它部件。

图2示出根据本发明的示例实施方式的供电电源的电路图。

如图2所示，根据本发明的示例实施方式的供电电源包括：输入滤波器100、桥式二极管BD、电容器Cin、DC-DC转换器200、整流器300、第一放电电阻R1、采样器400、基准电压发生器600、比较器700、电源中断检测器800和第二放电电阻R3。

除图1中输入滤波器10的放电电阻Rd外，根据本发明的示例实施方式的输入滤波器100与图1的输入滤波器10相同。为更好地理解且方便描述，参照图2的输入滤波器100，但不必须使用图2的输入滤波器100来实现本发明。本发明能够应用于包括电容器的供电电源，该电容器连接到交流电源Vac且需要放电。

由于根据本发明的示例实施方式的供电电源的输入滤波器100、桥式二极管BD、电容器Cin和DC-DC转换器200的结构和操作类似于图1，因此将省略它们的描述。

整流器300的输入端是交流电源Vac的两端，且整流器300产生整流后的交流信号V1。采样器400根据时钟信号CLK的周期Tsampling对整流后的交流信号V1采样，来产生第二采样信号V_S2。基准电压发生器600自第二采样信号产生基准电压Vref，且比较器700比较第二采样信号V_S2和基准电压Vref来输出比较信号Vcomp。电源中断检测器800根据比较信号Vcomp检查交流电源Vac是否中断而输出电源中断信号Vac_off。如果交流电源Vac被中断，通过第二放电电阻R3使第一输入电容器C1和第二输入电容器C2放电。

具体地，根据本发明的示例实施方式的整流器300包括第一二极管D1和第二二极管D2。第一二极管D1的阳极和第二二极管D2的阳极分别连接到交流电源Vac的两端。第一二极管D1的阴极和第二二极管D2的阴极都连接到第一放电电阻R1的一端。根据上述结构，第一放电电阻R1的另一端输出整流后的交流信号V1。

接着，参照图3，将描述根据本发明的示例实施方式的采样器400。

图3示出根据本发明的示例实施方式的采样器的电路图。

如图3所示，根据本发明的示例实施方式的采样器400包括高压开关J1、第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3、第四晶体管M4、二极管D3、电阻R2、电容器C3、比较器410、或门420和第五晶体管M5。

由结型场效应晶体管(JFET)形成的高压开关J1具有连接到第一放电电阻R1的另一端的漏电极和提供第一采样信号V_S1的源电极。第一晶体管M1具有源电极和漏电极，该源电极连接到高压开关J1的源电极，该漏电极连接到高压开关J1的栅电极。第二晶体管M2具有漏电极、栅电极和源电极，该漏电极连接到第一晶体管M1的漏电极且提供第二开关信号V_SW2，该栅电极连接到第一晶体管M1的栅电极，该源电极接地。第三晶体管M3具有漏电极和栅电极，该漏电极连接到高压开关J1的源电极，该栅电极连接到高压开关J1的栅电极。第四晶体管M4具有漏电极和栅电极，该漏电极连接到高压开关J1的源电极，该栅电极连接到高压开关J1的栅电极。二极管D3的阳极连接到第三晶体管M3的源电极且阴极连接到电容器C3的一端。电阻R2的一端连接到第四晶体管M4的源电极且另一端连接到电容器C3的一端。电容器C3的一端连接到二极管D3的阴极和电阻R2的另一端、且提供操作电压Vcc，且另一端接地。比较器410具有连接到操作电压Vcc的非反相端(+)、连接到基准电压V_UVLO的反相端(-)和输出第一开关信号V_SW1的输出端。基准电压V_UVLO可以对应于欠压锁定电压。或门420具有连接到时钟信号CLK的第一输入端和连接到电源中断信号Vac_off的第二输入端。第五晶体管M5具有连接到第一采样信号V_S1的漏电极、连接到或门420的输出端的栅电极和连接到第二放电电阻R3且提供第二采样信号V_S2的源电极。

接着，参照图4，将描述根据本发明的示例实施方式的基准电压发生器600。

图4示出根据本发明的示例实施方式的基准电压发生器的电路图。

如图4所示，根据本发明的示例实施方式的基准电压发生器600包括峰值检测器610和分压器620。峰值检测器610检测和输出第二采样信号V_S2的峰值V_{S2_PEAK}。根据本发明的示例实施方式的分压器620由两个串联电阻R4和R5组成，且对峰值检测器610的输出电压进行分压，以输出基准电压Vref。

再次参照图2，描述根据本发明的示例实施方式的比较器700。

根据本发明的示例实施方式的比较器700具有连接到第二采样信号V_S2的非反相端(+)、连接到基准电压Vref的反相端(-)和输出比较信号Vcomp的输出端。

接着，参照图5，将描述根据本发明的示例实施方式的电源中断检测器800。

图5示出根据本发明的示例实施方式的电源中断检测器的电路图。

如图5所示，根据本发明的示例实施方式的电源中断检测器800包括移位寄存器810和门单元820。门单元820包括与门822、或非门823和或门824。

根据本发明的示例实施方式的移位寄存器810对应于n-比特移位寄存器(n是整数)，且它对作为输入的比较信号Vcomp以每时钟信号1比特的方式移位n比特，且输出存储的n比特。当移位寄存器810内存储的所有n比特具有相同的值时，门单元820输出具有高电平的电源中断信号Vac_off。具体地，与门822对作为输入的移位寄存器810的n比特的输出进行与操作，且输出操作结果。或非门823对移位寄存器810的n比特的输出进行或非操作来输出操作结果。或门824对作为输入的与门822的操作结果和或非门823的操作结果进行或操作，且输出电源中断信号Vac_off。

接着，将参照图6到图8中表示的波形描述根据本发明的示例实施方式的供电电源的操作。

图6是表示根据本发明的示例实施方式的交流电源和整流后的交流信号的波形图。

提供具有如图6所示的正弦波形的电压信号作为交流电源Vac。

首先，如果交流电源Vac导通，整流器300对交流信号Vac整流，且第一放电电阻R1输出如图6所示的整流后的交流信号V1。接收此整流后的交流信号V1的高压开关J1的漏电极立即导通。高压开关J1的源电极输出整流后的交流信号V1作为第一采样信号V_S1。紧接于交流电源Vac导通后，电容器C3没有立即充分充电，因此操作电压Vcc低于基准电压V_UVLO。因此，比较器410输出低电平的第一开关信号V_SW1。正因为这个，第一晶体管M1导通且第二晶体管M2截止。当第一晶体管M1导通时，高压开关J1导通，因此第一采样信号V_S1具有高电平。由于第二开关信号V_SW2与第一采样信号V_S1相同，因此第三晶体管M3和第四晶体管M4导通。第三晶体管M3和第四晶体管M4提供分别通过二极管D3和电阻R2到电容器C3的充电电流。

在操作电压Vcc到达基准电压V_UVLO的情况下，比较器410输出高电平，第一晶体管M1截止，且第二晶体管M2导通。由于第二开关信号V_SW2具有低电平，第三晶体管M3和第四晶体管M4截止，且电容器C3的充电停止。另一方面，由于高压开关J1的栅电极具有低电平，因此高压开关J1的源-栅电压暂时高于阈值，且高压开关J1截止。

在时钟信号CLK对应于高电平的情况下，或门420输出高电平信号到第五晶体管M5的栅电极，因此第五晶体管M5导通。由于第二放电电阻R3的压降，因此高压开关J1的源-栅电压低于阈值，且高压开关J1导通。即，当交流电源Vac正常，电源中断信号Vac_off对应于低电平，且时钟信号CLK对应于高电平时，高压开关J1导通。另一方面，当交流电源Vac正常，电源中断信号Vac_off对应于低电平，且时钟信号CLK对应于低电平时，高压开关J1截止。通过这样操作高压开关J1，根据时钟信号CLK的周期Tsampling采样整流后的交流信号V1，且高压开关J1的源电极输出第一采样信号V_S1。同时，通过第五晶体管M5的导通操作，第一采样信号V_S1被传输给第二采样信号V_S2。

峰值检测器610检测和输出第二采样信号V_S2的峰值V_{S2_PEAK}。分压器620以如下的等式1所示对峰值检测器610的输出电压进行分压，以输出基准电压Vref。

(等式1)

$V_{\mathrm{ref}}=V_{S2\_\mathrm{PEAK}}\×\frac{R5}{R4+R5}$

比较器700比较第二采样信号V_S2与基准电压Vref。如果第二采样信号V_S2高于基准电压Vref，比较器700输出高电平的比较信号Vcomp。如果第二采样信号V_S2低于基准电压Vref，比较器700输出具有低电平的比较信号Vcomp。

如图6所示，如果适当地调整基准电压Vref和时钟信号CLK的周期Tsampling，则当交流电源Vac正常时，比较信号Vcomp既不总是具有高电平也不总是具有低电平。时钟信号CLK的周期Tsampling越短，高压开关J1的导通周期越短。因此，第一放电电阻R1和第二放电电阻R2增加了功耗。因为本发明的示例实施方式根据第二采样信号V_S2的峰值V_{S2_PEAK}来变化基准电压Vref，因此能够使功耗最小。

接着，参照图7，将描述用于适当地调节基准电压Vref和时钟信号CLK的周期Tsampling以使功耗最小的本发明的示例实施方式。

图7是示出根据本发明的示例实施方式的整流后的交流信号和第二采样信号的波形图。

图7中，实线表示整流后的交流信号V1，且虚线表示第二采样信号V_S2和基准电压Vref。

如图7所示，随着交流电压Vac的电平变化，整流后交流信号V1的电平变化。如果根据如下的等式2确定基准电压Vref，则时钟信号CLK的周期Tsampling能够变大到等式3中示出的最大值Tmax。

(等式2)

(等式3)

接着，参照图8，将描述根据本发明的示例实施方式的电源中断检测器800。

图8是表示当交流电源中断时整流后的交流信号和第二采样信号的波形图。

图8中，实线表示整流后的交流信号V1，且虚线表示第二采样信号V_S2和基准电压Vref。

如图8所示，在交流电源Vac中断的情况下，整流后的交流信号V1渐渐地放电，且自此，第二采样信号V_S2也渐渐地放电。取决于交流电源Vac的中断时间，第二采样信号V_S2一直保持比基准电压Vref高的电平(参见图8的上曲线图)，或一直保持比基准电压Vref低的电平(参见图8的下曲线图)。最终，在在n*Tmax期间比较信号Vcomp保持相同的电平(比基准电压Vref高的电平或比基准电压Vref低的电平)的情况下，电源中断检测器800能够检测交流电源Vac的中断，因此电源中断检测器800输出具有高电平的电源中断信号Vac_off。

具体地，移位寄存器810可能对应于n-比特移位寄存器。移位寄存器810对作为输入的比较信号Vcomp以每时钟信号1比特的方式移位n比特，且输出存储的n比特。在移位寄存器810内存储的所有n比特具有相同的值的情况下，门单元820输出具有高电平的电源中断信号Vac_off。与门822对作为输入的移位寄存器810的n比特的输出进行与操作，以输出操作结果。或非门823对移位寄存器810的n比特的输出进行或非操作，以输出操作结果。或门824对作为输入的与门822的操作结果和或非门823的操作结果进行或操作，以输出电源中断信号Vac_off。

在电源中断信号Vac_off对应于高电平的情况下，或门420总是为第五晶体管M5的栅电极提供高电平信号，而不管时钟信号CLK的电平，因此不管时钟信号CLK的电平如何，第五晶体管M5是导通的。由于第二放电电阻R3的压降，高压开关J1的源-栅电压低于阈值，且高压开关J1导通。由于第五晶体管M5的导通和高压开关J1的导通，第一输入电容器C1和第二输入电容器C2通过第一放电电阻R1和第二放电电阻R3而放电。

根据本发明的实施方式的各方面，即使输入交流电源的电平变化，也可能延长采样周期。因此，可能提高供电效率且降低待机功率。

本发明的示例实施方式不仅能通过装置和/或方法实施，而且能够通过实现对应于本发明的示例实施方式的结构的功能的程序和其上记录的该程序的记录介质实施。本领域技术人员自上述示例实施方式的描述中能够实现这些实施方式。

虽然已经结合现有的被认为是可行的示例实施方式描述了本发明，应理解本发明并不限于公开的实施方式，正相反，本发明意欲覆盖包括在所附权利要求中的各种改变和等同方案。

Claims (14)

1.一种用于使供电电源的输入滤波器的第一电容器放电的装置，所述装置包括：

整流器，所述整流器用于整流交流电源，以产生整流后的交流信号；

采样器，所述采样器用于对整流后的交流信号采样，以产生采样信号；

基准电压发生器，所述基准电压发生器用于根据所述采样信号的峰值电压产生基准电压；

第一比较器，所述第一比较器用于比较所述采样信号与所述基准电压，以产生比较信号；

电源中断检测器，所述电源中断检测器用于在预定的采样数期间维持所述比较信号的电平时产生所述交流电源的中断检测信号；及

第一放电电阻，所述第一放电电阻用于根据所述中断检测信号使所述第一电容器放电。

2.如权利要求1所述的装置，其中所述基准电压发生器以预定比率分压所述峰值电压，以产生所述基准电压。

3.如权利要求2所述的装置，其中所述预定比率对应于45°的正弦值，且

所述采样器以对应于所述交流电源的四分之一周期的采样周期对所述整流后的交流信号采样。

4.如权利要求1所述的装置，其中所述电源中断检测器还包括：

移位寄存器，所述移位寄存器用于存储N个比较信号；及

门单元，所述门单元用于当所有的所述N个比较信号都具有相同的值时，输出用于通知所述交流电源的中断的电源中断信号。

5.如权利要求4所述的装置，其中所述门单元还包括：

与门，所述与门的输入是所述N个比较信号；

或非门，所述或非门的输入是所述N个比较信号；及

或门，所述或门用于输出所述电源中断信号，所述或门以所述与门的输出和所述或非门的输出作为输入。

6.如权利要求1所述的装置，还包括：

第二放电电阻，所述第二放电电阻的一端被提供整流后的交流信号，

其中所述采样器包括：

高压开关，所述高压开关具有连接到所述第二放电电阻的另一端的漏电极；

或门，所述或门的输入是时钟信号和所述电源中断信号；及

第一晶体管，所述第一晶体管具有连接到所述高压开关的源电极的漏电极、连接到所述或门的输出的栅电极和连接到所述第二放电电阻的一端且输出所述采样信号的源电极。

7.如权利要求6所述的装置，其中所述采样器还包括：

第二晶体管，所述第二晶体管具有连接到所述高压开关的源电极的源电极和连接到所述高压开关的栅电极的漏电极；

第三晶体管，所述第三晶体管具有连接到所述第二晶体管的所述漏电极的漏电极和接地的源电极；

第四晶体管，所述第四晶体管具有连接到所述高压开关的所述源电极的漏电极和连接到所述第二晶体管的所述漏电极的栅电极；

第五晶体管，所述第五晶体管具有连接到所述高压开关的所述源电极的漏电极和连接到所述第二晶体管的所述漏电极的栅电极；

二极管，所述二极管具有连接到所述第四晶体管的源电极的阳极；

电阻，所述电阻的一端连接到所述第五晶体管的源电极；

第二电容器，所述第二电容器的一端与所述电阻的另一端及所述二极管的阴极连接，且所述第二电容器的另一端接地；及

第二比较器，所述第二比较器的输入是所述第二电容器的所述一端和工作电压的基准电压，所述第二比较器的输出端与所述第二晶体管的栅电极和所述第三晶体管的栅电极连接。

8.一种使供电电源的输入滤波器的电容器放电的方法，所述方法包括：

整流交流电源以产生整流后的交流信号；

根据时钟信号对整流后的交流信号采样，以产生采样信号；

产生根据所述采样信号的峰值电压变化的基准电压；

比较所述采样信号与所述基准电压，以产生比较信号；

在预定的采样数期间维持所述比较信号的电平时产生所述交流电源的中断检测信号；及

根据所述中断检测信号通过放电电阻使所述电容器放电。

9.如权利要求8所述的方法，其中产生所述基准电压的步骤包括：

以预定比率分压所述峰值电压，以产生所述基准电压。

10.如权利要求9所述的方法，其中所述预定比率对应于45°的正弦，且

所述时钟信号的周期对应于所述交流电源的四分之一周期。

11.如权利要求10所述的方法，其中产生所述中断检测信号的步骤包括：

当所有的N个比较信号都具有相同的值时，输出用于通知所述交流电源的中断的中断检测信号。

12.一种供电电源，所述供电电源包括：

输入滤波器，所述输入滤波器具有电容器，所述电容器配备有交流电源；及

放电装置，所述放电装置用于根据通过对所述交流电源整流和采样而产生的采样信号的峰值电压产生基准电压，在预定的采样数期间维持通过比较所述采样信号和所述基准电压而产生的比较信号的电平时产生所述交流电源的中断检测信号，且根据所述中断检测信号通过放电电阻使所述电容器放电。

13.如权利要求12所述的供电电源，其中所述放电装置以预定比率分压所述峰值电压，以产生所述基准电压。

14.如权利要求13所述的供电电源，其中所述预定比率对应于45°的正弦，且

所述放电装置以对应于所述交流电源的四分之一周期的采样周期对所述整流后的交流信号采样。