CN102374962A - 一种预应力钢绞线用盘条奥氏体晶粒度显示方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种能够完整清晰显示预应力钢绞线用盘条奥氏体晶粒度的方法。本发明按照如下步骤实现:待检测试样的制备:15cm长放在860±10℃的马弗炉中加热,然后室温的冷却水里淬火冷却;在200℃左右的炉子里回火1小时;腐蚀剂的配制:是在100毫升蒸馏水中加入6克苦味酸不断搅拌,再加入5滴洗洁精搅拌,最后加入3克的硫酸铜放置12小时;将腐蚀剂加热到60℃,放入待检测试样腐蚀1.5分钟取出,重复上述腐蚀和抛光步骤3~5次,最后用比较法对照标准图谱进行评定即可。本发明所提供的奥氏体晶粒度检测方法是一种简便和高效的82B钢奥氏体晶粒度检测方法。
Description
技术领域
本发明涉及金相分析领域,更具体地说,是涉及一种预应力钢绞线用盘条奥氏体晶粒度显示方法。
背景技术
目前对于预应力钢绞线用盘条(82B钢)奥氏体晶粒度检测都是采用直接淬硬法和梯度淬火法。梯度淬火法由于操作过程中很难保证冷却液内的部分总是相同,淬火界面总是由于手的抖动而上下晃动,所以最后淬出的奥氏体晶粒度断断续续,不能真实反映钢的实际热处理情况。直接淬火法操作起来相对容易些,但是由于82B钢的特殊性,一般的试剂显示方法很难将其奥氏体晶粒度清晰地显示出来。往往是黑乎乎的一片,境界处或被严重腐蚀,或模糊不清,给晶粒度的评定造成很大困难,进而影响结果。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,克服现有技术中存在的不足,提供一种能够完整清晰显示预应力钢绞线用盘条奥氏体晶粒度的方法。
本发明预应力钢绞线用盘条奥氏体晶粒度显示方法,按照如下步骤实现:待检测试样的制备:将待检的82B盘条用冷加工的方法切割成15cm长的条段,放在860±10℃的马弗炉中加热45-75分钟,然后用铁钳子夹着试样一段放在室温的冷却水里迅速淬火冷却;经淬火的试样放在200℃左右的炉子里回火1小时,将上述回火后的盘条段经过磨制、抛光、清洗吹干制为待检测试样;
腐蚀剂的配制:是在100毫升蒸馏水中加入6克苦味酸不断搅拌,再加入5滴洗洁精搅拌,最后加入3克的硫酸铜放置12小时;
进行腐蚀和抛光:将上述放置后的腐蚀剂加热到60℃,放入待检测试样腐蚀1.5分钟取出,用蒸馏水冲洗干净,滴上酒精吹干,然后用细的金丝绒抛光布滴上0.5微米的金刚石抛光膏和蒸馏水抛光;
重复上述腐蚀和抛光步骤3~5次,直到晶粒边界清晰显示出来为止;最后用比较法对照标准图谱进行评定即可。
预应力钢绞线盘条(82B钢)属于高端线材产品,其生产相当复杂,对工艺技术水平要求相当高,目前能够生产大规格预应力钢绞线盘条的厂家并不多,只有国内几家大型国企可以生产。随着市场需求的不断扩大及品质要求的不断提高,其生产工艺优化的频率也在逐步加快,工艺优化的依据就是各种理化检验数据。其中尤以奥氏体晶粒度的检测最为复杂,需要大量的淬火、腐蚀来保证准确度。本发明所提供的奥氏体晶粒度检测方法是一种简便和高效的82B钢奥氏体晶粒度检测方法。
具体实施方式
下面对本发明做进一步说明。
首先待检测试样的制备:将待检的82B盘条用冷加工的方法切割成15cm长的条段,放在860±10℃的马弗炉中加热45-75分钟,然后用铁钳子夹着试样一段放在室温的冷却水里迅速淬火冷却;经淬火的试样放在200℃左右的炉子里回火1小时,将上述回火后的盘条段经过磨制、抛光、清洗吹干制为待检测试样;
其次腐蚀剂的配制:是在100毫升蒸馏水中加入6克苦味酸不断搅拌,再加入5滴洗洁精搅拌,最后加入3克的硫酸铜放置12小时;
然后进行腐蚀和抛光:将上述放置后的腐蚀剂加热到60℃,放入待检测试样腐蚀1.5分钟取出,用蒸馏水冲洗干净,滴上酒精吹干,然后用细的金丝绒抛光布滴上0.5微米的金刚石抛光膏和蒸馏水抛光;
最后重复上述腐蚀和抛光步骤3~5次,直到晶粒边界清晰显示出来为止;最后用比较法对照标准图谱进行评定即可。
上面所述的实施例仅仅是对本发明的使用过程进行了简单描述,并非对本发明构思和使用范围进行限定,在不脱离本思路的前提下,本领域中普通工程技术人员对发明方案作出的各种变形和改进,均应属于本发明的保护范围。
Claims (1)
1.一种预应力钢绞线用盘条奥氏体晶粒度显示方法,其特征是,按照下述步骤进行:
a.待检测试样的制备:将待检的82B盘条用冷加工的方法切割成15cm长的条段,放在860±10℃的马弗炉中加热45-75分钟,然后用铁钳子夹着试样一段放在室温的冷却水里迅速淬火冷却;经淬火的试样放在200℃左右的炉子里回火1小时,将上述回火后的盘条段经过磨制、抛光、清洗吹干制为待检测试样;
b.腐蚀剂的配制:是在100毫升蒸馏水中加入6克苦味酸不断搅拌,再加入5滴洗洁精搅拌,最后加入3克的硫酸铜放置12小时;
c.进行腐蚀和抛光:将上述放置后的腐蚀剂加热到60℃,放入待检测试样腐蚀1.5分钟取出,用蒸馏水冲洗干净,滴上酒精吹干,然后用细的金丝绒抛光布滴上0.5微米的金刚石抛光膏和蒸馏水抛光;
d.重复上述腐蚀和抛光步骤3~5次,直到晶粒边界清晰显示出来为止;最后用比较法对照标准图谱进行评定即可。
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PB01 | Publication | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120314 |